JPH0432025A - 光ディスクの信頼性評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスクの寿命を推定する信頼性評価方法
に関し、特に、記録位置に関係なく一定の回転数で駆動
されるＣＡＶ方式の光ディスクの自己録Ｃ／Ｎ値（キャ
リア対ノイズ比）の評価方法に関する。

従来の技術 この種の光ディスクの信頼性評価の項目の一つに自己録
Ｃ／Ｎ値がある。従来、この自己録Ｃ／Ｎ値の評価方法
は次のようなものであった。

まず、初期時点すなわち初期状態の光ディスクのあるト
ラックＡについて、常温常湿の環境条件（例えば２３Ｃ
，５５％ＲＨ）の下で自己録Ｃ／Ｎ値を測定する。次に
、この光ディスクを高温高湿の環境条件（例えば８０Ｃ
，８５％ＲＨ）の下に一定期間放置したのち、常温常湿
条件下でトラックＡと異なるトラックＢの自己録Ｃ／Ｎ
値を測定することによシ、初期時点の自己録Ｃ／Ｎ値と
の変化量（劣化量）を評価する。

この自己録Ｃ／Ｎ値の評価を、例えば１０００時間経過
後、２０００時間経過後、３０００時間経過後というよ
うに複数の評価時点で行い、光ディスクの寿命判定に利
用する。各評価時点の自己録Ｃ／Ｎ値の測定は当然に異
なったトラックで行う必要がちる。

発明が解決しようとする課題 しかし、かかる評価方法によれば、同一記録位置での自
己録Ｃ／Ｎ値の変化（劣化）を直接評価できないだめ、
ＣＡＶ方式の光ディスクの場合に評価精度を上げること
が困難であった。その原因について以下説明する。

ＣＡＶ方式の光ディスクは、内周部のトラックと外周部
のトラックとで線速度が異なるので、光ディスクの全周
にわた９安定した信号記録を行うために、第２図に示す
ように、記録トラック位置が内周部から外周部へ移動す
るに従って記録パワーを比例的に増加させる。これは自
己録Ｃ／Ｎ値測定のだめの信号（キャリア）の記録の場
合も同様であるので、このトラック位置による記録パワ
ーの違いは、当然に光ディスクの信号品質評価の一つの
目安である自己録Ｃ／Ｎ値の違いとして現れ、測定位置
すなわち記録トラック位置によって自己録Ｃ／Ｎ値は第
３図のように変化する。

しかるに従来は、異なったトラック位置で測定した自己
録Ｃ／Ｎ値の測定値を直接的に比較して劣化量を評価せ
ざるを得ないため、トラック位置の違いによるＣ７Ｎ値
の増減分に対応した評価誤差が必然的に生じる。しかも
、トラック間のタロストークを避けるために初期時点及
び各測定時点のトラック位置を数トラツク程度ずらす必
要があるので、トラック位置の違いによる評価誤差はか
なシ大きく、これを無視したのでは高い評価精度を期待
できない。

本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、ＣＡ
Ｖ方式の光ディスクの場合でも自己録ＣＺＮ値を高い精
度で評価する方法を提供することを目的とする。

課題を解決するだめの手段 本発明は上述の課題を解決するため、初期時点において
評価対象光ディスクの２以上の特定トラックの自己録Ｃ
／Ｎ値を測定し、この測定値から初期時点における他の
トラックの自己録Ｃ／Ｎ値を計算によって求め、各評価
時点において前記光ディスクの前記特定トラック以外の
、それぞれ異なったトラックの自己録Ｃ／Ｎ値を測定し
、この測定値と、同一トラックに対し算出された初期時
点の自己録Ｃ／Ｎ値との差を調べるというものである。

作用 本発明は上述の構成によって、初期時点におけるＣ／Ｎ
値測定トラックを例えば最内周トラックと最外周トラッ
クとするならば、その測定値よシ各評価時点での測定ト
ラック位置に対する初期時点の自己録Ｃ／Ｎ値を正確に
算出することができるので、各評価時点に任意のトラッ
ク位置でＣ／Ｎ値を測定しても、同一トラック位置につ
いてＣ／Ｎ値の変化量を正確に求めることが可能となシ
、ＣＡＶ方式の光ディスクのＣ／Ｎ値の評価精度を従来
よシ大幅に改善できる。

実施例 第１図は本発明の一実施例に係る光デイスク信頼性評価
装置の概略構成図である。なお、この光デイスク信頼性
評価装置は、厚みや反シ等の物理的評価も可能であるが
、それに関連する構成は第１図では省略されている。

第１図において、ｌは評価対象の光ディスク、２はセッ
トされた光ディスク１を一定回転数で回転させるエンコ
ーダ付きモータ、３はモータ２を駆動するディスク駆動
回路である。４はトラッキング機構、フォーカス機構及
び光デイスク半径方向の移動機構を備えた光学ヘッド、
５は光学ヘッド４を介し光ディスク１に対する信号の記
録再生を行う記録再生回路、６は記録再生回路５からの
再生信号を入力として自己録Ｃ／Ｎ値を測定するＣ／Ｎ
値測定回路、７は光学ヘッド４のトラッキング及びフォ
ーカス制御のだめのトラッキング／フォーカスサーボ回
路である。８は初期時点の自己録Ｃ／Ｎ値の計算や自己
録Ｃ／Ｎ値の劣化量の計算等を行う演算部、９は評価デ
ータ等を記憶するだめのデータ記憶部、１０は評価デー
タ等を出力するためのプリンタ、１１は操作者が装置に
操作指示やデータを入力するための操作部、１２は装置
各部の動作及び装置全体の動作シニケンスを制御する制
御部である。

以上のように構成された光デイスク信頼性評価装置によ
る自己録Ｃ／Ｎ値の評価処理と手順を脱明する。

まず初期時点について説明する。

評価すべき光ディスク１をセットし、操作部１１よシ光
ディスク％等の必要なデータを入力して起動する。制御
部１２は、ディスク駆動回路３にモータ２の駆動を指示
した後、トラッキング／フォーカスサーボ回路７に最内
周トラックを指定し、光学ヘッド４を最内周トラックへ
移動させる。次に制御部１２は、記録再生回路５にキャ
リア記録を指示することにより、光ディスク１の最内周
トラックにキャリア信号を記録させる。なお、ＣＡｖ方
式であるので、記録パワーは第２図に示したようにトラ
ック位置に応じて制御される。このキャリア記録が終了
すると、制御部１２は記録再生回路５に最内周トラック
の信号再生を指示する。再生信号がＣ／Ｎ値測定回路６
に入力し、初期時点における最内周トラックの自己録Ｃ
／　Ｎ　（ＯＥが求められる。

制御部１２は、この自己録Ｃ／Ｎ値をデータ記憶部９に
格納したのち、光ディスク１の最外周トラックへの光学
ヘッド４の移動、キャリア記録、再生を順次行わせ、測
定された最外周トラックの自己録Ｃ／Ｎ値をデータ記憶
部９に格納する。

次に、制御部１２は最内周トラック及び最外周トラック
の自己録Ｃ／Ｎ値を演算部８に与えて、必要な他のトラ
ックの自己録Ｃ／Ｎ値を演算させ、演算結果をデータ記
憶部９に格納する。

この演算は、第３図に示した記録位置（トラック位置）
と自己録Ｃ／Ｎ値との比例関係に基づき行われる。すな
わち、最外周トラックの自己録Ｃ／Ｎ値と最内周トラッ
クの自己録Ｃ／Ｎ値との差を、予め定められた総トラッ
ク数で除算することによシ、最内周から最外周までの１
トラツク当たりの自己録Ｃ／Ｎ値の増加量を算出できる
ので、比例計算によシ必要なトラックに対応した増加量
を求めて最内周トラックの自己録Ｃ／Ｎ値に加算するこ
とによ弘必要トラックの自己録Ｃ／Ｎ値を得られる。

なお、この演算は最内周トラック及び最外周トラック以
外の全トラックについて行ってもよいが、評価の対象と
して予め選定した特定のトラックについてだけ行えば十
分である。

このようにして、データ記憶部９には、初期時点におけ
る最内周トラック及び最外周トラックの自己録Ｃ／Ｎ値
、算出された他のトラックの自己録Ｃ／Ｎ値がディスク
Ｍに対応付けて保存される。

なお、この初期時点のデータをプリンタ１０よりプリン
トアウトさせることも可能である。

次に評価時点について説明する。高温高湿の加速環境に
例えば１０００時間放置した後の光ディスク１をセット
し、操作部１１よシディスクＭや評価時点の指定データ
（例えば１０００時間後であることを示す）などを入力
し起動する。なお、ディスクＭを予め光ディスク１に記
録しておき、評価時にディスク％を自動的に読み取らせ
たり、あるいは評価を行う順番とディスク％とを対応さ
せることにより、ディスク遅の入力操作を不要とするこ
ともできる。

これは初期時点においても同様である。

制御部１２は、トラッキング／フォーカスサーボ回路７
によシ光学ヘッド４を必要なトラックに移動させ、記録
再生回路５によシキャリア信号の記録及び再生を行わせ
、Ｃ／Ｎ値測定回路６により求められた自己録Ｃ／Ｎ値
をデータ記憶部９に格納する。必要なトラックについて
同様の処理を繰シ返す。この処理と並行し、あるいは、
この処理が完了後に、制御部１２は、測定した自己録Ｃ
／Ｎ値と、同一トラックについて算出されている初期時
点の自己録Ｃ／Ｎ値とを、データ記憶部９よシ演算回路
８へ転送し、その差すなわち劣化量を計算させ、その結
果をデータ記憶部９にディスク位置と対応させて格納す
る。

例えば２０００時間後、３０００時間後といった各評価
時点において同様の測定（トラック位置は異なる）と演
算を行うことによシ、第１図に示すような評価データ１
３がディスク番号毎にデータ記憶部９に得られる。この
データは、操作部１１より指示することによシプリンタ
１０にブーリントアウトさせることができる。

なお、評価装置で初期時点と各評価時点の自己録Ｃ／Ｎ
値の劣化量の演算を行わず、自己録Ｃ／Ｎ値だけをプリ
ントアウトして入手によシ劣化量を計算させたシ、自己
録Ｃ／Ｎ値のデータを外部のコンビーータに入力して劣
化量を計算させるように変更することもできる。

また、初期時点の自己Ｃ／Ｎ値の測定を３以上の特定ト
ラックについて行い、その測定値を用いて他のトラック
の自己Ｃ／Ｎ値の算出を行うこともできる。

発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明は、初期時点に
おいて例えば最内周トラック及び最外周トラックの自己
録Ｃ／Ｎ値を測定し、この測定値から初期時点における
他のトラックの自己Ｃ／Ｎ値を計算によって求め、各評
価時点において他のトラックの自己録Ｃ／Ｎ値を測定し
、この測定値と、同一トラックに対し算出された初期時
点の自己録Ｃ／Ｎ値との差を調べることによって、従来
のような測定トラック位置の違いによる誤差を排除した
正確な自己録Ｃ／Ｎ値の劣化量を調べることが可能とな
ｐ、ＣＡＶ方式の光ディスクの自己録Ｃ／Ｎ値の評価精
度を大幅に改善できるという効果を有するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係る光デイスク信頼性評価
装置の概略構成図、第２図は記録位置と記録パワーの関
係を示す特性線図、第３図は記録位置と自己録Ｃ／Ｎ値
との関係を示す特性線図である。 １・・・光ディスク、２・・・モータ、３・・・ディス
ク駆動回路、４・・・光学ヘッド、５・・・記録再生回
路、６・・Ｃ／Ｎ値測定回路、７・・・トラッキング／
フォーカスサーボ回路、８・・・演算部、９・・・デー
タ記憶部、１０・・・プリントアウト、１１・・・操作
部、１２・・・制御部。 代理人の氏名　弁理士　粟　野　重　孝　ほか１名１図 り 第２図 第３１ ／３ｔ１助グ一メ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 初期時点において評価対象光ディスクの２以上の特定ト
   ラックの自己録Ｃ／Ｎ値を測定し、この測定値から初期
   時点における他のトラックの自己録Ｃ／Ｎ値を算出し、
   各評価時点において前記光ディスクの前記特定トラック
   以外の、それぞれ異なったトラックの自己録Ｃ／Ｎ値を
   測定し、この測定値と、同一トラックに対し算出された
   初期時点における自己録Ｃ／Ｎ値との差を調べることを
   特徴とする、光ディスクの信頼性評価方法。