JPH04321950A - 光ディスク - Google Patents
光ディスクInfo
- Publication number
- JPH04321950A JPH04321950A JP3079784A JP7978491A JPH04321950A JP H04321950 A JPH04321950 A JP H04321950A JP 3079784 A JP3079784 A JP 3079784A JP 7978491 A JP7978491 A JP 7978491A JP H04321950 A JPH04321950 A JP H04321950A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- substrate
- film
- opposite
- recording film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光によって情報を記
録再生する光ディスクに関するものである。
録再生する光ディスクに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は、例えば特開昭６０−１９７９６
４号公報、または特開平１−２９２６３９号公報に示さ
れる従来の光ディスクを示す断面図である。なお、光デ
ィスクは左右対称であるので、図では片側のみを示して
いる。図において、１は例えばポリカーボネートよりな
るプラスチック基板、３は記録膜であるＴｂＦｅＣｏ磁
性層、５はエポキシ系の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３
Ｎ４ 誘電体膜であり、基板１の損傷および吸湿によ
る反りを防止する保護膜である。また、プラスチック基
板１には記録膜３が形成される面に案内溝１ａが形成さ
れている。
４号公報、または特開平１−２９２６３９号公報に示さ
れる従来の光ディスクを示す断面図である。なお、光デ
ィスクは左右対称であるので、図では片側のみを示して
いる。図において、１は例えばポリカーボネートよりな
るプラスチック基板、３は記録膜であるＴｂＦｅＣｏ磁
性層、５はエポキシ系の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３
Ｎ４ 誘電体膜であり、基板１の損傷および吸湿によ
る反りを防止する保護膜である。また、プラスチック基
板１には記録膜３が形成される面に案内溝１ａが形成さ
れている。
【０００３】一般に、光ディスクの基板材料には、透明
プラスチック基板１が量産性に優れるのでよく用いられ
る。ところが、プラスチック基板１の場合、長期間湿度
の高い状態に置かれると基板１の加水分解により反りが
発生したり、周囲の環境が変化すると、一時的な基板の
吸湿過程により反ったりする。大きな反りが発生すると
、アクチュエーターのフォーカスサーボが安定に追従で
きなくなり、誤動作やエラーを生じるという問題があっ
た。また、傷つき易いという問題もあった。そこで、保
護膜６にて基板１の損傷および吸湿を防止していた。
プラスチック基板１が量産性に優れるのでよく用いられ
る。ところが、プラスチック基板１の場合、長期間湿度
の高い状態に置かれると基板１の加水分解により反りが
発生したり、周囲の環境が変化すると、一時的な基板の
吸湿過程により反ったりする。大きな反りが発生すると
、アクチュエーターのフォーカスサーボが安定に追従で
きなくなり、誤動作やエラーを生じるという問題があっ
た。また、傷つき易いという問題もあった。そこで、保
護膜６にて基板１の損傷および吸湿を防止していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、長期的
にみた場合、プラスチック基板１の表面が基板内部の水
分により加水分解して変質したり、表面硬化膜６自体が
劣化して剥離しやすいという問題があった。
にみた場合、プラスチック基板１の表面が基板内部の水
分により加水分解して変質したり、表面硬化膜６自体が
劣化して剥離しやすいという問題があった。
【０００５】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、良好な保護膜６の付着力と長
期信頼性が得られる光ディスクを得ることを目的とする
。
るためになされたもので、良好な保護膜６の付着力と長
期信頼性が得られる光ディスクを得ることを目的とする
。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
は、記録膜を形成する面と反対側の基板表面が、微小凹
凸の粗面であるものである。
は、記録膜を形成する面と反対側の基板表面が、微小凹
凸の粗面であるものである。
【０００７】また、本発明の別の発明に係る光ディスク
は、記録膜を形成する面と反対側の基板表面における、
記録再生に利用しない領域に相対する領域の面が、微小
凹凸の粗面であるものである。
は、記録膜を形成する面と反対側の基板表面における、
記録再生に利用しない領域に相対する領域の面が、微小
凹凸の粗面であるものである。
【０００８】
【作用】本発明における光ディスクは、記録膜を形成す
る面と反対側の基板表面が、微小凹凸の粗面であるので
、記録膜と反対側に形成する保護膜の密着性が向上する
。
る面と反対側の基板表面が、微小凹凸の粗面であるので
、記録膜と反対側に形成する保護膜の密着性が向上する
。
【０００９】さらに、本発明の別の発明における光ディ
スクは、記録膜を形成する面と反対側の基板表面におけ
る、記録再生に利用しない領域に相対する領域の面が、
微小凹凸の粗面であるので、情報を記録再生する際の入
射光の特性に影響を与えることなく、記録膜と反対側に
形成する保護膜の密着性が改善され、長期信頼性が得ら
れる。
スクは、記録膜を形成する面と反対側の基板表面におけ
る、記録再生に利用しない領域に相対する領域の面が、
微小凹凸の粗面であるので、情報を記録再生する際の入
射光の特性に影響を与えることなく、記録膜と反対側に
形成する保護膜の密着性が改善され、長期信頼性が得ら
れる。
【００１０】
実施例１．本発明の一実施例を図にもとずいて説明する
。図１はこの発明の一実施例による光ディスクの片側断
面を示しており、図において、１は透明プラスチック基
板、２はＳｉ３ Ｎ４ エンハンス層、３はＴｂＦｅＣ
ｏ磁性層、４はＳｉ３ Ｎ４ 保護層、５はエポキシ系
の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３ Ｎ４ 誘電体膜であ
り、基板１の損傷および吸湿を防止する保護膜である。 １ｂは基板１に設けられた微小凹凸であり、例えば基板
１を射出成形する際に、金型の鏡面側すなわち記録膜３
が形成されるのと反対側の面をあらかじめ微小凹凸の粗
面にしておくことにより、基板の鏡面側に微小凹凸１ｂ
が設けられる。
。図１はこの発明の一実施例による光ディスクの片側断
面を示しており、図において、１は透明プラスチック基
板、２はＳｉ３ Ｎ４ エンハンス層、３はＴｂＦｅＣ
ｏ磁性層、４はＳｉ３ Ｎ４ 保護層、５はエポキシ系
の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３ Ｎ４ 誘電体膜であ
り、基板１の損傷および吸湿を防止する保護膜である。 １ｂは基板１に設けられた微小凹凸であり、例えば基板
１を射出成形する際に、金型の鏡面側すなわち記録膜３
が形成されるのと反対側の面をあらかじめ微小凹凸の粗
面にしておくことにより、基板の鏡面側に微小凹凸１ｂ
が設けられる。
【００１１】次に製造方法について説明する。透明プラ
スチック基板１の案内溝１ａが形成された面に、Ｓｉ３
Ｎ４ エンハンス層２、ＴｂＦｅＣｏ磁性層３、Ｓｉ
３ Ｎ４ 保護層４をこの順に、マグネトロンスパッタ
法により成膜し、これらの層を覆うようにエポキシ系の
樹脂保護層５をスピンコートにより形成した。次に、記
録膜３と反対側の面に、Ｓｉ３ Ｎ４ 誘電体よりなる
保護膜６を２１００オングストローム形成した。
スチック基板１の案内溝１ａが形成された面に、Ｓｉ３
Ｎ４ エンハンス層２、ＴｂＦｅＣｏ磁性層３、Ｓｉ
３ Ｎ４ 保護層４をこの順に、マグネトロンスパッタ
法により成膜し、これらの層を覆うようにエポキシ系の
樹脂保護層５をスピンコートにより形成した。次に、記
録膜３と反対側の面に、Ｓｉ３ Ｎ４ 誘電体よりなる
保護膜６を２１００オングストローム形成した。
【００１２】このようにして得られた光ディスクについ
て、波長８３０ｎｍのレーザー光にて、記録再生特性を
調べたところ、微小凹凸１ｂが形成されていない従来の
ディスクとほぼ同様の記録再生特性が得られた。これは
一般に表面反射率を最小にする条件
て、波長８３０ｎｍのレーザー光にて、記録再生特性を
調べたところ、微小凹凸１ｂが形成されていない従来の
ディスクとほぼ同様の記録再生特性が得られた。これは
一般に表面反射率を最小にする条件
【００１３】膜厚ｔ＝λ／２ｎ×ｍ
【００１４】（λ：波長、ｎ：屈折率：ｍ：整数）
【０
０１５】の関係にてｍ＝１とした場合に相当する。
０１５】の関係にてｍ＝１とした場合に相当する。
【００１６】このディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０
００時間投入したところ、Ｓｉ３ Ｎ４ 誘電体よりな
る保護膜６に剥離は見られず、良好な信頼性を示した。
００時間投入したところ、Ｓｉ３ Ｎ４ 誘電体よりな
る保護膜６に剥離は見られず、良好な信頼性を示した。
【００１７】実施例２．図２はこの発明の他の実施例に
よる光ディスクを示す断面図である。この例では、記録
膜３を形成する面と反対側の基板表面における、記録再
生に利用しない領域に相対する領域の面が、微小凹凸の
粗面１ｂであるので、情報を記録再生する際の入射光の
特性に影響を与えることなく、記録膜３と反対側に形成
する保護膜６の密着性が改善され、長期信頼性が得られ
る。
よる光ディスクを示す断面図である。この例では、記録
膜３を形成する面と反対側の基板表面における、記録再
生に利用しない領域に相対する領域の面が、微小凹凸の
粗面１ｂであるので、情報を記録再生する際の入射光の
特性に影響を与えることなく、記録膜３と反対側に形成
する保護膜６の密着性が改善され、長期信頼性が得られ
る。
【００１８】なお、上記実施例ではＴｂＦｅＣｏ磁性層
３の両側にＳｉ３Ｎ４ エンハンス層２とＳｉ３ Ｎ４
保護層４が設けられている場合について説明したが、
磁性層３のみの場合にも上記実施例と同様の効果が得ら
れるのは明白である。
３の両側にＳｉ３Ｎ４ エンハンス層２とＳｉ３ Ｎ４
保護層４が設けられている場合について説明したが、
磁性層３のみの場合にも上記実施例と同様の効果が得ら
れるのは明白である。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、記録
膜を形成する面と反対側の基板表面が、微小凹凸の粗面
であるので、その上に形成する保護膜の密着性が向上し
、長期信頼性が得られる効果がある。
膜を形成する面と反対側の基板表面が、微小凹凸の粗面
であるので、その上に形成する保護膜の密着性が向上し
、長期信頼性が得られる効果がある。
【００２０】また、本発明の別の発明によれば、記録膜
を形成する面と反対側の基板表面における、記録再生に
利用しない領域に相対する領域の面が、微小凹凸の粗面
であるので、情報を記録再生する際の入射光の特性に影
響を与えることなく、記録膜と反対側に形成する保護膜
の密着性が改善され、長期信頼性が得られる。
を形成する面と反対側の基板表面における、記録再生に
利用しない領域に相対する領域の面が、微小凹凸の粗面
であるので、情報を記録再生する際の入射光の特性に影
響を与えることなく、記録膜と反対側に形成する保護膜
の密着性が改善され、長期信頼性が得られる。
【図１】この発明の一実施例による光ディスクを示す断
面図である。
面図である。
【図２】この発明の他の実施例による光ディスクを示す
断面図である。
断面図である。
【図３】従来の光ディスクを示す断面図である。
１ 透明プラスチック基板
１ｂ 微小凹凸
３ 記録膜
６ 保護膜
Claims (2)
- 【請求項１】 透明プラスチック基板に、少なくとも
光によって情報を記録再生する記録膜を形成し、この記
録膜と反対側の面に基板の損傷および吸湿を防止する保
護膜を形成する構成の光ディスクにおいて、上記記録膜
を形成する面と反対側の基板表面が、微小凹凸の粗面で
あることを特徴とする光ディスク。 - 【請求項２】 透明プラスチック基板に、少なくとも
光によって情報を記録再生する記録膜を形成し、この記
録膜と反対側の面に基板の損傷および吸湿を防止する保
護膜を形成する構成の光ディスクにおいて、上記記録膜
を形成する面と反対側の基板表面における、記録再生に
利用しない領域に相対する領域の面が、微小凹凸の粗面
であることを特徴とする光ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3079784A JPH04321950A (ja) | 1990-08-29 | 1991-04-12 | 光ディスク |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23197590 | 1990-08-29 | ||
| JP2-231975 | 1990-08-29 | ||
| JP24502190 | 1990-09-13 | ||
| JP2-245021 | 1990-09-13 | ||
| JP2-315184 | 1990-11-19 | ||
| JP31518490 | 1990-11-19 | ||
| JP3079784A JPH04321950A (ja) | 1990-08-29 | 1991-04-12 | 光ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04321950A true JPH04321950A (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=27466354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3079784A Pending JPH04321950A (ja) | 1990-08-29 | 1991-04-12 | 光ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04321950A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6716505B2 (en) | 2001-08-31 | 2004-04-06 | General Electric Company | Storage medium for data with improved dimensional stability |
| JP2007226932A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-09-06 | Sony Disc & Digital Solutions Inc | ディスク製造方法、ディスク記録媒体 |
-
1991
- 1991-04-12 JP JP3079784A patent/JPH04321950A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6716505B2 (en) | 2001-08-31 | 2004-04-06 | General Electric Company | Storage medium for data with improved dimensional stability |
| US6893700B2 (en) | 2001-08-31 | 2005-05-17 | General Electric Company | Storage medium for data with improved dimensional stability |
| JP2007226932A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-09-06 | Sony Disc & Digital Solutions Inc | ディスク製造方法、ディスク記録媒体 |
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