JPH04219645A - 光ディスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光によって情報を記
録再生する光ディスクに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図３は、例えば特開昭６０−１９７９６
４号公報、または特開平１−２９２６３９号公報に示さ
れる従来の光ディスクを示す断面図である。図において
、１は例えばポリカーボネートよりなるプラスチック基
板、２はＳｉ３　Ｎ４　エンハンス層、３はＴｂＦｅＣ
ｏ磁性層、４はＳｉ３　Ｎ４　保護層である。５はエポ
キシ系の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３　Ｎ４　誘電体
膜であり、基板１の損傷および吸湿による反りを防止す
る膜である。

【０００３】一般に、光ディスクの基板材料には、透明
プラスチック基板１が量産性に優れるのでよく用いられ
る。ところが、プラスチック基板１の場合、長期間湿度
の高い状態に置かれると基板１の加水分解により反りが
発生したり、周囲の環境が変化すると、一時的な基板の
吸湿過程により反ったりする。大きな反りが発生すると
、アクチュエーターのフォーカスサーボが安定に追従で
きなくなり、誤動作やエラーを生じるという問題があっ
た。また、傷つき易いという問題もあった。そこで、防
止膜６にて基板１の損傷および吸湿を防止していた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、長期的
にみた場合、プラスチック基板１の表面が基板内部の水
分により加水分解して変質したり、損傷および吸湿防止
膜６自体が劣化して剥離しやすいという問題点があった
。

【０００５】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたものであり、損傷および吸湿防止膜６
の剥離を防止することで長期信頼性が得られる光ディス
クを提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
は、透明プラスチック基板の一面に形成され光によって
情報を記録再生する記録膜、上記透明プラスチック基板
の上記記録膜と反対側の面に形成され上記基板の損傷お
よび吸湿を防止する膜、および上記防止膜を覆うように
形成される保護膜を備えたものである。

【０００７】また、本発明のさらに別の発明に係る光デ
ィスクは、透明プラスチック基板の一面に形成され光に
よって情報を記録再生する記録膜、上記透明プラスチッ
ク基板の上記記録膜と反対側の面で記録再生に利用する
領域に相対する領域よりも広く形成され上記基板の損傷
および吸湿を防止する膜、並びに記録再生に利用しない
領域に相対する領域で上記防止膜の境界を被覆する保護
膜を備えたものである。

【０００８】

【作用】この発明における光ディスクは、記録膜を形成
する面と反対側の基板表面に形成した損傷および吸湿防
止膜を覆うようにさらに保護膜を形成することにより、
長期使用においても、損傷および吸湿防止膜が剥離しな
い高信頼性光ディスクが得られる。

【０００９】さらに、本発明の別の発明における光ディ
スクは、基板の損傷および吸湿を防止する膜を記録再生
に利用する領域に相対する領域よりも広く形成すると共
に、記録再生に利用しない領域に相対する領域で上記防
止膜の境界を被覆する保護膜を備えたので、特に剥離し
易い防止膜の境界を記録再生に影響のないように、保護
膜で保護することが可能である。

【００１０】

【実施例】実施例１．以下、この発明の一実施例を図を
もとに説明する。図１はこの発明の一実施例による光デ
ィスクを示す断面図であり、図において、１は透明プラ
スチック基板、２はＳｉ３　Ｎ４　エンハンス層、３は
ＴｂＦｅＣｏ磁性層、４はＳｉ３　Ｎ４　保護層、５は
エポキシ系の樹脂保護層、６は例えばＳｉ３　Ｎ４　誘
電体膜であり、基板１の損傷および吸湿防止膜、７は損
傷および吸湿防止膜６を覆うように形成された保護膜で
ある。

【００１１】次に製造方法について説明する。透明プラ
スチック基板１の案内溝が形成された面に、Ｓｉ３　Ｎ
４　エンハンス層２、ＴｂＦｅＣｏ磁性層３、Ｓｉ３　
Ｎ４　保護層４をこの順に、マグネトロンスパッタ法に
より成膜し、これらの層を覆うようにエポキシ系の樹脂
保護層５をスピンコートにより形成した。次に、記録膜
３と反対側の基板面の記録膜３が形成された領域より広
い領域に、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりなる損傷および吸
湿防止膜６を２１００オングストローム形成した。

【００１２】このようにして得られた光ディスクについ
て、波長８３０ｎｍのレーザー光にて、記録再生特性を
調べたところ、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりなる損傷およ
び吸湿防止膜６が形成されていないディスクとほぼ同様
の記録再生特性が得られた。これは一般に表面反射率を
最小にする条件

【００１３】膜厚ｔ＝λ／２ｎ×ｍ

【００１４】（λ：波長、ｎ：屈折率：ｍ：整数）

【０
０１５】の関係にてｍ＝１とした場合に相当する。

【００１６】次に、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりなる損傷
および吸湿防止膜６の全面を覆うように保護膜７として
紫外線硬化樹脂をスピンコートにより形成した後、紫外
線照射装置により硬化させた。

【００１７】なお、保護膜７としては屈折率が基板１に
用いたポリカーボネートと同等のものが好ましいが紫外
線硬化樹脂以外にもエポキシ樹脂などの熱硬化樹脂を用
いることもできる。

【００１８】このディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０
００時間投入したところ、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷お
よび吸湿防止膜６に剥離は見られず、良好な信頼性を示
した。

【００１９】実施例２．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約１．６のＡｌ２Ｏ３
　膜２６００オングストロームを用いた以外、実施例１
と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００
時間投入したところ、Ａｌ２　Ｏ３　膜６に剥離は見ら
れず、良好な信頼性を示した。

【００２０】実施例３．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約１．７のＳｉＯ膜２
５００オングストロームを用いた以外、実施例１と同様
にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時間投
入したところ、ＳｉＯ膜６に剥離は見られず、良好な信
頼性を示した。

【００２１】実施例４．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約１．５のＳｉＯ２　
膜２８００オングストロームを用いた以外、実施例１と
同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時
間投入したところ、ＳｉＯ２　膜６に剥離は見られず、
良好な信頼性を示した。

【００２２】実施例５．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約１．６のＳｉＯＮ膜
２６００オングストロームを用いた以外、実施例１と同
様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時間
投入したところ、ＳｉＯＮ膜６に剥離は見られず、良好
な信頼性を示した。

【００２３】実施例６．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．１のＴａ２Ｏ５
　膜２０００オングストロームを用いた以外、実施例１
と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００
時間投入したところ、Ｔａ２　Ｏ５　膜に剥離は見られ
ず、良好な信頼性を示した。

【００２４】実施例７．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約１．８のＡｌＮ膜２
３００オングストロームを用いた以外、実施例１と同様
にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時間投
入したところ、ＡｌＮ膜６に剥離は見られず、良好な信
頼性を示した。

【００２５】実施例８．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．１のＡｌＳｉＮ
膜２０００オングストロームを用いた以外、実施例１と
同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時
間投入したところ、ＡｌＳｉＮ膜６に剥離は見られず、
良好な信頼性を示した。

【００２６】実施例９．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷およ
び吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．０のＳｉＡｌＯ
Ｎ膜２１００オングストロームを用いた以外、実施例１
と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００
時間投入したところ、ＳｉＡｌＯＮ膜６に剥離は見られ
ず、良好な信頼性を示した。

【００２７】実施例１０．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷お
よび吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．３のＺｎＳ膜
１８００オングストロームを用いた以外、実施例１と同
様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００時間
投入したところ、ＺｎＳ膜６に剥離は見られず、良好な
信頼性を示した。

【００２８】実施例１１．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷お
よび吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．０のＺｎＳー
ＳｉＯ２　膜２１００オングストロームを用いた以外、
実施例１と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに
１０００時間投入したところ、ＺｎＳーＳｉＯ２膜６に
剥離は見られず、良好な信頼性を示した。

【００２９】実施例１２．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷お
よび吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．０のＺｎＳｅ
ーＳｉＯ２　膜２１００オングストロームを用いた以外
、実施例１と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨ
に１０００時間投入したところ、ＺｎＳｅーＳｉＯ２　
膜６に剥離は見られず、良好な信頼性を示した。

【００３０】実施例１３．Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体損傷お
よび吸湿防止膜６の代わりに屈折率約２．１のＡｌＧｅ
Ｎ膜２０００オングストロームを用いた以外、実施例１
と同様にしたディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０００
時間投入したところ、ＡｌＧｅＮ膜６に剥離は見られず
、良好な信頼性を示した。

【００３１】なお、上記実施例ではＴｂＦｅＣｏ磁性層
３の両側にＳｉ３Ｎ４　エンハンス層２とＳｉ３　Ｎ４
　保護層４が設けられている場合について説明したが、
磁性層のみの場合にも上記実施例と同様の効果が得られ
るのは明白である。

【００３２】実施例１４．図２はこの発明の他の実施例
による光ディスクの片側断面を示している。この例では
、防止膜６は基板１の記録膜３と反対側の面で記録再生
に利用する領域に相対する領域よりも広く形成されてお
り、保護膜７は記録再生に利用しない領域に相対する領
域で防止膜６の境界を被覆するように形成されている。 このため、特に剥離し易い防止膜６の境界を記録再生に
影響のないように、保護膜７で保護することが可能であ
る。

【００３３】次に製造方法について説明する。まず、直
径９０ｍｍの透明プラスチック基板１の案内溝が形成さ
れた面に、Ｓｉ３　Ｎ４　エンハンス層２、ＴｂＦｅＣ
ｏ磁性層３、およびＳｉ３　Ｎ４　保護層４をこの順に
、マグネトロンスパッタ法により、半径１８ｍｍ〜４３
ｍｍの領域に成膜し、これらの層を覆うようにエポキシ
系の樹脂保護層５をスピンコートにより形成した。この
うち、情報の記録再生に利用する領域は半径２３ｍｍ〜
４０ｍｍである。次に、記録膜３と反対側の基板面の半
径１８ｍｍ〜４３ｍｍの領域に、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体
よりなる損傷および吸湿防止膜６を２１００オングスト
ローム形成した。

【００３４】このようにして得られた光ディスクについ
て、波長８３０ｎｍのレーザー光にて、記録再生特性を
調べたところ、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりなる損傷およ
び吸湿防止膜６が形成されていないディスクとほぼ同様
の記録再生特性が得られた。これは一般に表面反射率を
最小にする条件

【００３５】膜厚ｔ＝λ／２ｎ×ｍ

【００３６】（λ：波長、ｎ：屈折率：ｍ：整数）

【０
０３７】の関係にてｍ＝１とした場合に相当する。

【００３８】次に、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりなる損傷
および吸湿防止膜６の境界を被覆するように半径１５ｍ
ｍ〜２２ｍｍと４１ｍｍ〜４４ｍｍの円環状に、あらか
じめこの形に切り抜いた圧着性接着剤のついたフィルム
をはりつけ保護膜７とした。

【００３９】このディスクを、８０℃９０％ＲＨに１０
００時間投入したところ、Ｓｉ３　Ｎ４　誘電体よりな
る損傷および吸湿防止膜６に剥離は見られず、良好な信
頼性を示した。

【００４０】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、透明プ
ラスチック基板の一面に形成され光によって情報を記録
再生する記録膜、上記透明プラスチック基板の上記記録
膜と反対側の面に形成され上記基板の反りを防止する膜
、および上記損傷および吸湿防止膜を覆うように形成さ
れた保護膜を備えたので、上記損傷および吸湿防止膜の
剥離を防止することで長期信頼性が得られる効果がある
。

【００４１】また、本発明の別の発明によれば、透明プ
ラスチック基板の一面に形成され光によって情報を記録
再生する記録膜、上記透明プラスチック基板の上記記録
膜と反対側の面で記録再生に利用する領域に相対する領
域よりも広く形成され上記基板の損傷および吸湿を防止
する膜、並びに上記記録再生に利用しない領域に相対す
る領域で上記防止膜の境界を被覆する保護膜を備えたの
で、特に剥離し易い防止膜の境界を記録再生に影響のな
いように、保護膜で保護することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による光ディスクを示す断
面図である。

【図２】この発明の他の実施例による光ディスクを示す
断面図である。

【図３】従来の光ディスクを示す断面図である。

【符号の説明】

１　　透明プラスチック基板 ３　　記録膜 ６　　損傷および吸湿防止膜 ７　　保護膜

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　透明プラスチック基板の一面に形成さ
   れ光によって情報を記録再生する記録膜、上記透明プラ
   スチック基板の上記記録膜と反対側の面に形成され上記
   基板の損傷および吸湿を防止する膜、並びに上記防止膜
   を覆うように形成される保護膜を備えた光ディスク。
2. 【請求項２】　　透明プラスチック基板の一面に形成さ
   れ光によって情報を記録再生する記録膜、上記透明プラ
   スチック基板の上記記録膜と反対側の面で記録再生に利
   用する領域に相対する領域よりも広く形成され上記基板
   の損傷および吸湿を防止する膜、並びに記録再生に利用
   しない領域に相対する領域で上記防止膜の境界を被覆す
   る保護膜を備えた光ディスク。