JPH04323570A - Ａ／ｄコンバータの試験装置 - Google Patents
Ａ／ｄコンバータの試験装置Info
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- JPH04323570A JPH04323570A JP9249591A JP9249591A JPH04323570A JP H04323570 A JPH04323570 A JP H04323570A JP 9249591 A JP9249591 A JP 9249591A JP 9249591 A JP9249591 A JP 9249591A JP H04323570 A JPH04323570 A JP H04323570A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＡ／Ｄコンバータの試験
装置に関する。詳しくは、アナログ・ディジタル回路が
混在する各種電子機器に用いる半導体ＩＣからなるＡ／
Ｄコンバータを高速、かつ，容易に試験するＡ／Ｄコン
バータの試験装置の構成に関する。
装置に関する。詳しくは、アナログ・ディジタル回路が
混在する各種電子機器に用いる半導体ＩＣからなるＡ／
Ｄコンバータを高速、かつ，容易に試験するＡ／Ｄコン
バータの試験装置の構成に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、マイクロプロセッサやメモリに代
表されるディジタルＬＳＩの飛躍的な普及につれて、計
測，制御，通信，家電などあらゆる分野でシステムのデ
ィジタル化が進められている。しかし、これらシステム
の入出力の多くはアナログ信号であるため、アナログ信
号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータやその
逆のＤ／Ａコンバータが不可欠となっており、いずれも
半導体技術の進歩によりＬＳＩ化された小型製品が実用
化されている。
表されるディジタルＬＳＩの飛躍的な普及につれて、計
測，制御，通信，家電などあらゆる分野でシステムのデ
ィジタル化が進められている。しかし、これらシステム
の入出力の多くはアナログ信号であるため、アナログ信
号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータやその
逆のＤ／Ａコンバータが不可欠となっており、いずれも
半導体技術の進歩によりＬＳＩ化された小型製品が実用
化されている。
【０００３】一般に、Ｄ／Ａコンバータの試験は比較的
容易で試験時間も短時間で済ますことができ余り問題に
ならないが、Ａ／Ｄコンバータの試験は複雑で試験時間
も長時間を要している。
容易で試験時間も短時間で済ますことができ余り問題に
ならないが、Ａ／Ｄコンバータの試験は複雑で試験時間
も長時間を要している。
【０００４】図２は従来の試験装置の例を示す図である
。従来、一般的にはＬＳＩテスタを用いることが多く、
たとえば，図のＬＳＩテスタ１００の端子接続器１０３
，たとえば、プローバに被試験試料１，すなわち、Ａ／
Ｄコンバータを接続する。そして、ＬＳＩテスタ１００
の安定化可変電圧電源１０１から被試験試料１のアナロ
グ端子に所定の入力電圧を印加し、ディジタル出力をＬ
ＳＩテスタ１００のレベル判別器１０２に入力してディ
ジタル出力のビットパターンが許容誤差範囲内であるか
否かを判定し、たとえば，緑色の表示器ＬＥＤ−Ｇ が
点灯すれば合格、赤色の表示器ＬＥＤ−Ｒ が点灯すれ
ば不合格としている。
。従来、一般的にはＬＳＩテスタを用いることが多く、
たとえば，図のＬＳＩテスタ１００の端子接続器１０３
，たとえば、プローバに被試験試料１，すなわち、Ａ／
Ｄコンバータを接続する。そして、ＬＳＩテスタ１００
の安定化可変電圧電源１０１から被試験試料１のアナロ
グ端子に所定の入力電圧を印加し、ディジタル出力をＬ
ＳＩテスタ１００のレベル判別器１０２に入力してディ
ジタル出力のビットパターンが許容誤差範囲内であるか
否かを判定し、たとえば，緑色の表示器ＬＥＤ−Ｇ が
点灯すれば合格、赤色の表示器ＬＥＤ−Ｒ が点灯すれ
ば不合格としている。
【０００５】通常、入力電圧に複数のレベル（たとえば
，Ｎレベル）を設定し、かつ，電圧レベル毎にディジタ
ル出力のビットパターンを複数の判定パターン（たとえ
ば，Ｍ個）と比較して所望の要求精度の合否判定をする
試験が行われている。
，Ｎレベル）を設定し、かつ，電圧レベル毎にディジタ
ル出力のビットパターンを複数の判定パターン（たとえ
ば，Ｍ個）と比較して所望の要求精度の合否判定をする
試験が行われている。
【０００６】たとえば、被試験試料１が８ビットのＡ／
Ｄコンバータで、理想的には５ｖ入力でＡＬＬ‘１’，
すなわち、［１１１１１１１１］が出力され、０ｖ入力
でＡＬＬ‘０’，すなわち、［００００００００］が出
力される場合、２．５ ｖ入力では［１０００００００
］が出力される。
Ｄコンバータで、理想的には５ｖ入力でＡＬＬ‘１’，
すなわち、［１１１１１１１１］が出力され、０ｖ入力
でＡＬＬ‘０’，すなわち、［００００００００］が出
力される場合、２．５ ｖ入力では［１０００００００
］が出力される。
【０００７】しかし、実際には製品精度のバラツキによ
って下位ビットに誤差が生じ、その許容誤差を何ビット
まで認めるかは使用目的によって決められる。たとえば
、試験電圧レベルを３レベルとし１．５ 〜２％程度の
誤差を許容するとすれば、５ｖ入力の場合に［１１１１
１１００ 〜１１１１１１１１］ の４判定パターン，
０ｖ入力で［００００００００ 〜００００００１１］
の４判定パターン，２．５ ｖ入力の場合で［０１１
１１１０１ 〜１０００００１１］ の７判定パターン
で試験することが必要となり、したがって，合計１５回
の試験を行って合否の判定をしている。
って下位ビットに誤差が生じ、その許容誤差を何ビット
まで認めるかは使用目的によって決められる。たとえば
、試験電圧レベルを３レベルとし１．５ 〜２％程度の
誤差を許容するとすれば、５ｖ入力の場合に［１１１１
１１００ 〜１１１１１１１１］ の４判定パターン，
０ｖ入力で［００００００００ 〜００００００１１］
の４判定パターン，２．５ ｖ入力の場合で［０１１
１１１０１ 〜１０００００１１］ の７判定パターン
で試験することが必要となり、したがって，合計１５回
の試験を行って合否の判定をしている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来のＬ
ＳＩテスタによる試験では、入力電圧に複数のレベル，
たとえば、Ｎレベルを設定し、各電圧レベル毎にディジ
タル出力のビットパターンを複数の判定パターン，たと
えば、平均Ｍ個の判定パターンと比較するので、合計で
Ｎ×Ｍ通り，たとえば、Ｎ＝３，Ｍ＝５の場合には１５
通りの試験を行わなければならず試験に極めて長時間を
要するという問題があり、その解決が求められている。
ＳＩテスタによる試験では、入力電圧に複数のレベル，
たとえば、Ｎレベルを設定し、各電圧レベル毎にディジ
タル出力のビットパターンを複数の判定パターン，たと
えば、平均Ｍ個の判定パターンと比較するので、合計で
Ｎ×Ｍ通り，たとえば、Ｎ＝３，Ｍ＝５の場合には１５
通りの試験を行わなければならず試験に極めて長時間を
要するという問題があり、その解決が求められている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、被試験試
料１を接続する端子接続器１６と、反転増幅器１３と、
該反転増幅器１３と前記端子接続器１６の入力端に接続
された安定化可変電圧電源１０と、前記端子接続器１６
の出力端に接続された標準Ｄ／Ａコンバータ１１と、該
標準Ｄ／Ａコンバータ１１と前記反転増幅器１３のそれ
ぞれの出力電圧が入力される加算器１４と、該加算器１
４の出力電圧が入力される標準Ａ／Ｄコンバータ１２と
、該標準Ａ／Ｄコンバータ１２のディジタル出力が入力
され、該ディジタル出力のビットパターンと予め設定さ
れた判定パターンを比較して、前記被試験試料１の合否
の判定を行うレベル判別器１５とを少なくとも備えたＡ
／Ｄコンバータの試験装置によって解決することができ
る。
料１を接続する端子接続器１６と、反転増幅器１３と、
該反転増幅器１３と前記端子接続器１６の入力端に接続
された安定化可変電圧電源１０と、前記端子接続器１６
の出力端に接続された標準Ｄ／Ａコンバータ１１と、該
標準Ｄ／Ａコンバータ１１と前記反転増幅器１３のそれ
ぞれの出力電圧が入力される加算器１４と、該加算器１
４の出力電圧が入力される標準Ａ／Ｄコンバータ１２と
、該標準Ａ／Ｄコンバータ１２のディジタル出力が入力
され、該ディジタル出力のビットパターンと予め設定さ
れた判定パターンを比較して、前記被試験試料１の合否
の判定を行うレベル判別器１５とを少なくとも備えたＡ
／Ｄコンバータの試験装置によって解決することができ
る。
【００１０】
【作用】本発明によれば、被試験試料１の入力電圧のレ
ベルの如何によらず加算器１４の出力は０ｖとなる。し
たがって、標準Ａ／Ｄコンバータ１２のディジタル出力
の，少なくとも、上位ビットは０となる。
ベルの如何によらず加算器１４の出力は０ｖとなる。し
たがって、標準Ａ／Ｄコンバータ１２のディジタル出力
の，少なくとも、上位ビットは０となる。
【００１１】何ビットまでを０にするかは被試験試料１
に対する要求精度により決めればよいので、結局，所望
の要求精度の試料群に対しては合否判定の判定パターン
は１種類あればよい。
に対する要求精度により決めればよいので、結局，所望
の要求精度の試料群に対しては合否判定の判定パターン
は１種類あればよい。
【００１２】すなわち、従来はＮ×Ｍの試験に対してＮ
×１となって、試験時間は１／Ｍと大巾に短縮されるの
である。
×１となって、試験時間は１／Ｍと大巾に短縮されるの
である。
【００１３】
【実施例】図１は本発明の実施例を示す図である。図中
、１６は端子接続器，たとえば、プローバであり、被試
験試料１，すなわち、これから試験されるＡ／Ｄコンバ
ータが接続される。１３は反転増幅器で、たとえば，＋
電圧が入力されると同一の大きさの−電圧が出力される
もので、その入力端と端子接続器１６の入力端子とは何
れも安定化可変電圧電源１０に接続されている。
、１６は端子接続器，たとえば、プローバであり、被試
験試料１，すなわち、これから試験されるＡ／Ｄコンバ
ータが接続される。１３は反転増幅器で、たとえば，＋
電圧が入力されると同一の大きさの−電圧が出力される
もので、その入力端と端子接続器１６の入力端子とは何
れも安定化可変電圧電源１０に接続されている。
【００１４】１１は標準Ｄ／Ａコンバータで既に特性が
よくわかった高精度の標準品であり、その入力端子は端
子接続器１６の出力端子に接続されている。１４は加算
器で反転増幅器１３と標準Ｄ／Ａコンバータ１１の出力
電圧が入力されるように接続されている。
よくわかった高精度の標準品であり、その入力端子は端
子接続器１６の出力端子に接続されている。１４は加算
器で反転増幅器１３と標準Ｄ／Ａコンバータ１１の出力
電圧が入力されるように接続されている。
【００１５】１２は標準Ａ／Ｄコンバータで既に特性が
よくわかった高精度の標準品であり、その入力端子は加
算器１３の出力端に接続されている。１５はレベル判別
器でパターンジェネレータ，コンパレータ，増幅器，表
示および記録計などからなり、標準Ａ／Ｄコンバータ１
２のディジタル出力が入力され、そのビットパターンが
許容誤差範囲内であるか否かを判定し、たとえば，緑色
の表示器ＬＥＤ−Ｇ が点灯すれば合格、赤色の表示器
ＬＥＤ−Ｒ が点灯すれば不合格と判定するように構成
されている。
よくわかった高精度の標準品であり、その入力端子は加
算器１３の出力端に接続されている。１５はレベル判別
器でパターンジェネレータ，コンパレータ，増幅器，表
示および記録計などからなり、標準Ａ／Ｄコンバータ１
２のディジタル出力が入力され、そのビットパターンが
許容誤差範囲内であるか否かを判定し、たとえば，緑色
の表示器ＬＥＤ−Ｇ が点灯すれば合格、赤色の表示器
ＬＥＤ−Ｒ が点灯すれば不合格と判定するように構成
されている。
【００１６】以上の構成において、端子接続器１６に被
試験試料１，たとえば、８ビットのＡ／Ｄコンバータを
接続し、安定化可変電圧電源１０から所定の電圧，たと
えば、５ｖ，２．５ ｖ，０ｖの３レベルの電圧を印加
して試験する。
試験試料１，たとえば、８ビットのＡ／Ｄコンバータを
接続し、安定化可変電圧電源１０から所定の電圧，たと
えば、５ｖ，２．５ ｖ，０ｖの３レベルの電圧を印加
して試験する。
【００１７】いま、たとえば，５ｖ印加の場合を考える
と、反転増幅器１３の出力は−５ｖであり、標準Ｄ／Ａ
コンバータ１１の出力電圧はほゞ＋５ｖとなる。したが
って、加算器１４の出力電圧はほゞ０ｖとなる。
と、反転増幅器１３の出力は−５ｖであり、標準Ｄ／Ａ
コンバータ１１の出力電圧はほゞ＋５ｖとなる。したが
って、加算器１４の出力電圧はほゞ０ｖとなる。
【００１８】以上の関係は、安定化可変電圧電源１０か
ら印加される電圧が２．５ ｖあるいは０ｖの場合でも
同様であり、さらに，その他の印加電圧であっても全く
同様である。すなわち、標準Ａ／Ｄコンバータ１２に入
力される電圧は、全ての被試験試料で、いずれの印加電
圧レベルでもほゞ０ｖとなるので、標準Ａ／Ｄコンバー
タ１２のディジタル出力のビットパターンの上位ビット
は何れも‘０’となる。
ら印加される電圧が２．５ ｖあるいは０ｖの場合でも
同様であり、さらに，その他の印加電圧であっても全く
同様である。すなわち、標準Ａ／Ｄコンバータ１２に入
力される電圧は、全ての被試験試料で、いずれの印加電
圧レベルでもほゞ０ｖとなるので、標準Ａ／Ｄコンバー
タ１２のディジタル出力のビットパターンの上位ビット
は何れも‘０’となる。
【００１９】そこで、レベル判別器１５の判定パターン
を所要の許容誤差によって設定，たとえば、高精度（０
．５％程度） の場合には［０００００００Ｘ］とし、
中精度（１％程度）の場合には［００００００ＸＸ］と
し、低精度（１．５〜２％程度） でもよい場合には［
０００００ＸＸＸ］のように設定して合否の判定を行う
ことができる。
を所要の許容誤差によって設定，たとえば、高精度（０
．５％程度） の場合には［０００００００Ｘ］とし、
中精度（１％程度）の場合には［００００００ＸＸ］と
し、低精度（１．５〜２％程度） でもよい場合には［
０００００ＸＸＸ］のように設定して合否の判定を行う
ことができる。
【００２０】以上本発明によれば、一電圧レベルで一判
定パターンの試験をすればよいので、試験は極めて簡単
で試験時間も１／５〜１／１０で済み大巾な短縮が可能
となった。
定パターンの試験をすればよいので、試験は極めて簡単
で試験時間も１／５〜１／１０で済み大巾な短縮が可能
となった。
【００２１】上記実施例では８ビットのＡ／Ｄコンバー
タの場合について説明したが、その他のビット数，たと
えば、１０，１６ビットなどの場合も同様であることは
言うまでもない。
タの場合について説明したが、その他のビット数，たと
えば、１０，１６ビットなどの場合も同様であることは
言うまでもない。
【００２２】なお、上記実施例の構成のうち安定化可変
電圧電源１０やレベル判別器１５を通常のＬＳＩテスタ
内蔵のものを利用して本発明の試験装置を構成してもよ
い。また、上記実施例は一例を示したものであり、本発
明の趣旨に添うものである限り、使用する部品や構成な
ど適宜好ましいもの、あるいはその組み合わせを用いて
よいことは勿論である。
電圧電源１０やレベル判別器１５を通常のＬＳＩテスタ
内蔵のものを利用して本発明の試験装置を構成してもよ
い。また、上記実施例は一例を示したものであり、本発
明の趣旨に添うものである限り、使用する部品や構成な
ど適宜好ましいもの、あるいはその組み合わせを用いて
よいことは勿論である。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば被
試験試料１の入力電圧のレベルの如何によらず加算器１
４の出力は０ｖとなる。したがって、標準Ａ／Ｄコンバ
ータ１２のディジタル出力のビットパターンの，少なく
とも、上位ビットは０となる。
試験試料１の入力電圧のレベルの如何によらず加算器１
４の出力は０ｖとなる。したがって、標準Ａ／Ｄコンバ
ータ１２のディジタル出力のビットパターンの，少なく
とも、上位ビットは０となる。
【００２４】何ビットまでを０にするかは被試験試料１
に対する要求精度により決めればよいので、結局，所望
の要求精度の試料群に対しては合否判定の判定パターン
は１種類あればよく、Ａ／Ｄコンバータの試験時間の短
縮に寄与するところが極めて大きい。
に対する要求精度により決めればよいので、結局，所望
の要求精度の試料群に対しては合否判定の判定パターン
は１種類あればよく、Ａ／Ｄコンバータの試験時間の短
縮に寄与するところが極めて大きい。
【図１】本発明の実施例を示す図である。
【図２】従来の試験装置の例を示す図である。
１は被試験試料、
１０は安定化可変電圧電源、
１１は標準Ｄ／Ａコンバータ、
１２は標準Ａ／Ｄコンバータ、
１３は反転増幅器、
１４は加算器、
１５はレベル判別器、
１６は端子接続器、
Claims (1)
- 【請求項１】被試験試料（１）を接続する端子接続器（
１６）と、反転増幅器（１３）と、該反転増幅器（１３
）と前記端子接続器（１６）の入力端に接続された安定
化可変電圧電源（１０）と、前記端子接続器（１６）の
出力端に接続された標準Ｄ／Ａコンバータ（１１）と、
該標準Ｄ／Ａコンバータ（１１）と前記反転増幅器（１
３）のそれぞれの出力電圧が入力される加算器（１４）
と、該加算器（１４）の出力電圧が入力される標準Ａ／
Ｄコンバータ（１２）と、該標準Ａ／Ｄコンバータ（１
２）のディジタル出力が入力され、該ディジタル出力の
ビッドパターンと予め設定された判定パターンを比較し
て、前記被試験試料（１）の合否の判定を行うレベル判
別器（１５）とを少なくとも備えることを特徴としたＡ
／Ｄコンバータの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9249591A JPH04323570A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | Ａ／ｄコンバータの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9249591A JPH04323570A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | Ａ／ｄコンバータの試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04323570A true JPH04323570A (ja) | 1992-11-12 |
Family
ID=14055882
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9249591A Withdrawn JPH04323570A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | Ａ／ｄコンバータの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04323570A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103529367A (zh) * | 2013-10-17 | 2014-01-22 | 上海斐讯数据通信技术有限公司 | 一种DSL Modem抗雷击测试方法 |
-
1991
- 1991-04-24 JP JP9249591A patent/JPH04323570A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103529367A (zh) * | 2013-10-17 | 2014-01-22 | 上海斐讯数据通信技术有限公司 | 一种DSL Modem抗雷击测试方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980711 |