JPH04323732A - 周辺装置の試験方式 - Google Patents
周辺装置の試験方式Info
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- JPH04323732A JPH04323732A JP3092519A JP9251991A JPH04323732A JP H04323732 A JPH04323732 A JP H04323732A JP 3092519 A JP3092519 A JP 3092519A JP 9251991 A JP9251991 A JP 9251991A JP H04323732 A JPH04323732 A JP H04323732A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 title claims abstract description 43
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、周辺装置の試験方式に
関し、特に優先順位を持った走行レベルを有するシステ
ムにおける複数種類の周辺装置に対して同時に試験を行
う試験方式に関する。
関し、特に優先順位を持った走行レベルを有するシステ
ムにおける複数種類の周辺装置に対して同時に試験を行
う試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の周辺装置の試験方式は、
複数の試験プログラムを実行させることによってシステ
ムに接続されている周辺装置を可能な限り同時に動作さ
せ、各周辺装置の正常性のみならず、システム全体の周
辺装置の同時動作における正常性を確認するようにして
いる。試験プログラムは周辺装置の種類別に作成されて
おり、同一種別の複数の周辺装置の試験が１プログラム
で可能であるのが普通である。それぞれの試験プログラ
ムの実行時間は、試験対象とする周辺装置の種類と数に
よって決まるので、それぞれの試験プログラムの試験時
間は試験プログラム毎及びシステム毎に異なる。従って
、最長の試験時間を要する試験プログラムが終了するま
では、他のプログラムは繰り返して実行されることにな
る。
複数の試験プログラムを実行させることによってシステ
ムに接続されている周辺装置を可能な限り同時に動作さ
せ、各周辺装置の正常性のみならず、システム全体の周
辺装置の同時動作における正常性を確認するようにして
いる。試験プログラムは周辺装置の種類別に作成されて
おり、同一種別の複数の周辺装置の試験が１プログラム
で可能であるのが普通である。それぞれの試験プログラ
ムの実行時間は、試験対象とする周辺装置の種類と数に
よって決まるので、それぞれの試験プログラムの試験時
間は試験プログラム毎及びシステム毎に異なる。従って
、最長の試験時間を要する試験プログラムが終了するま
では、他のプログラムは繰り返して実行されることにな
る。
【０００３】また、複数のプログラムを同時に動作させ
るためには、ある１つの試験プログラムが周辺装置へ入
出力命令を発行した後、周辺装置の命令終了の割り込み
待を行っているときには、他の試験プログラムの動作も
可能ならしめるために、一般的な多重プログラミングの
技術を用いる。この多重プログラミングは、優先順位を
持った走行レベルという形でハードウェアの機能によっ
て実現されており、この種の試験方式はこの機能を用い
ることが多い。
るためには、ある１つの試験プログラムが周辺装置へ入
出力命令を発行した後、周辺装置の命令終了の割り込み
待を行っているときには、他の試験プログラムの動作も
可能ならしめるために、一般的な多重プログラミングの
技術を用いる。この多重プログラミングは、優先順位を
持った走行レベルという形でハードウェアの機能によっ
て実現されており、この種の試験方式はこの機能を用い
ることが多い。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の周辺装
置の試験方式では、各周辺装置に対応した試験プログラ
ムの試験実行時間に着目した走行レベルの割当を行って
いないので、システム構成によっては試験時間の短い試
験プログラムが高い優先レベルに割り当てられ、試験時
間の長いプログラムが低い優先レベルに割り当てられて
しまうことがある。即ち、高い走行レベルに割り当てら
れた試験時間の短いプログラムが何度も繰り返し実行さ
れてしまい、低い走行レベルに割り当てられた試験時間
の長いプログラムの実行が迅速には進まず、同時動作試
験の試験時間が不必要に長くなることがあるという欠点
がある。
置の試験方式では、各周辺装置に対応した試験プログラ
ムの試験実行時間に着目した走行レベルの割当を行って
いないので、システム構成によっては試験時間の短い試
験プログラムが高い優先レベルに割り当てられ、試験時
間の長いプログラムが低い優先レベルに割り当てられて
しまうことがある。即ち、高い走行レベルに割り当てら
れた試験時間の短いプログラムが何度も繰り返し実行さ
れてしまい、低い走行レベルに割り当てられた試験時間
の長いプログラムの実行が迅速には進まず、同時動作試
験の試験時間が不必要に長くなることがあるという欠点
がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明による周辺装置の
試験方式は、周辺装置識別子に対応する試験プログラム
名と該試験プログラムが１周辺装置当りに要する試験時
間を、周辺装置識別子毎に格納するための試験プログラ
ム管理手段と、それぞれの試験プログラムの試験対象と
する装置の数を、システムの構成と上記試験プログラム
管理手段から求め、さらに試験大正とする装置の数と、
上記試験プログラム管理手段より得られる１周辺装置当
りに要する試験時間から、システム内でのそれぞれの試
験プログラム個別の実行に要する時間を計算した上で、
試験時間の長い試験プログラムから優先順位の高い走行
レベルを割り当てて、各周辺装置に対応した試験プログ
ラムを同時に実行する試験制御手段とを有することを特
徴とする。
試験方式は、周辺装置識別子に対応する試験プログラム
名と該試験プログラムが１周辺装置当りに要する試験時
間を、周辺装置識別子毎に格納するための試験プログラ
ム管理手段と、それぞれの試験プログラムの試験対象と
する装置の数を、システムの構成と上記試験プログラム
管理手段から求め、さらに試験大正とする装置の数と、
上記試験プログラム管理手段より得られる１周辺装置当
りに要する試験時間から、システム内でのそれぞれの試
験プログラム個別の実行に要する時間を計算した上で、
試験時間の長い試験プログラムから優先順位の高い走行
レベルを割り当てて、各周辺装置に対応した試験プログ
ラムを同時に実行する試験制御手段とを有することを特
徴とする。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を用い
て説明する。
て説明する。
【０００７】図１は本発明の一実施例の構成を示し、試
験制御手段１１と、プログラム名ＴＥＳＴＤＫであると
ころの磁気ディスク装置用試験プログラム１２と、プロ
グラム名ＴＥＳＴＭＴであるところの磁気テープ装置用
試験プログラム１３と、試験プログラム管理手段１４と
、システム全体のハードウェアの構成情報を格納してい
る構成記憶１５とを含む中央処理装置１と、磁気ディス
ク装置用Ｉ／Ｏコントローラ１６と、磁気テープ装置用
Ｉ／Ｏコントローラ１７と、磁気ディスク装置用Ｉ／Ｏ
コントローラ１６に接続された磁気ディスク装置１６１
と、磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコントローラ１７に接続さ
れた磁気テープ装置１７１からなる。磁気ディスク装置
や磁気テープ装置は複数台がそれぞれ磁気ディスク装置
用Ｉ／Ｏコントローラ１６，磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコ
ントローラ１７に接続されてもよい。
験制御手段１１と、プログラム名ＴＥＳＴＤＫであると
ころの磁気ディスク装置用試験プログラム１２と、プロ
グラム名ＴＥＳＴＭＴであるところの磁気テープ装置用
試験プログラム１３と、試験プログラム管理手段１４と
、システム全体のハードウェアの構成情報を格納してい
る構成記憶１５とを含む中央処理装置１と、磁気ディス
ク装置用Ｉ／Ｏコントローラ１６と、磁気テープ装置用
Ｉ／Ｏコントローラ１７と、磁気ディスク装置用Ｉ／Ｏ
コントローラ１６に接続された磁気ディスク装置１６１
と、磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコントローラ１７に接続さ
れた磁気テープ装置１７１からなる。磁気ディスク装置
や磁気テープ装置は複数台がそれぞれ磁気ディスク装置
用Ｉ／Ｏコントローラ１６，磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコ
ントローラ１７に接続されてもよい。
【０００８】磁気ディスク装置１６１は周辺装置識別子
として‘ＤＫ’を有している。また、磁気テープ装置１
７１は周辺装置識別子として‘ＭＴ’を有している。図
２は図１における試験プログラム管理手段１４のフォー
マットを示しており、参照番号３４，３５で示す行がそ
れぞれ１周辺装置識別子に対する記憶単位であることを
意味し、参照番号３１で示す列が周辺装置識別子の記述
位置であり、参照番号３２で示す列が試験プログラム名
の記述位置であり、参照番号３３で示す列が１周辺装置
当りに要する試験時間の記述位置である。本例では磁気
ディスク装置用試験プログラム１２（ＴＥＳＴＤＫ）を
１台の磁気ディスク装置に対して実行するのに３０秒、
磁気テープ装置用試験プログラム１３（ＴＥＳＴＭＴ）
を１台の磁気テープ装置に対して実行するのに５０秒必
要になることにしている。
として‘ＤＫ’を有している。また、磁気テープ装置１
７１は周辺装置識別子として‘ＭＴ’を有している。図
２は図１における試験プログラム管理手段１４のフォー
マットを示しており、参照番号３４，３５で示す行がそ
れぞれ１周辺装置識別子に対する記憶単位であることを
意味し、参照番号３１で示す列が周辺装置識別子の記述
位置であり、参照番号３２で示す列が試験プログラム名
の記述位置であり、参照番号３３で示す列が１周辺装置
当りに要する試験時間の記述位置である。本例では磁気
ディスク装置用試験プログラム１２（ＴＥＳＴＤＫ）を
１台の磁気ディスク装置に対して実行するのに３０秒、
磁気テープ装置用試験プログラム１３（ＴＥＳＴＭＴ）
を１台の磁気テープ装置に対して実行するのに５０秒必
要になることにしている。
【０００９】次に、図３に示す試験制御手段１１のフロ
ーチャートを参照しながら本発明の動作を説明する。
ーチャートを参照しながら本発明の動作を説明する。
【００１０】図１の構成では、最初に、試験制御手段１
１は、図３のステップ４２０で示すように試験開始より
も以前に、構成記憶１５を参照し、システムに接続され
ている周辺装置の構成情報を試験制御手段１１自身の内
部に確保する。
１は、図３のステップ４２０で示すように試験開始より
も以前に、構成記憶１５を参照し、システムに接続され
ている周辺装置の構成情報を試験制御手段１１自身の内
部に確保する。
【００１１】次にステップ４３０に示すように試験制御
手段１１は、試験プログラム管理手段１４から、構成情
報中に存在する周辺装置に対する試験プログラムを捜し
出す。即ち、構成情報中の周辺装置識別子と、試験プロ
グラム管理手段１４中の周辺装置識別子と一致するもの
を捜し出す。
手段１１は、試験プログラム管理手段１４から、構成情
報中に存在する周辺装置に対する試験プログラムを捜し
出す。即ち、構成情報中の周辺装置識別子と、試験プロ
グラム管理手段１４中の周辺装置識別子と一致するもの
を捜し出す。
【００１２】次に、構成情報から、その試験プログラム
が試験を行う装置数が得られ、試験プログラム管理手段
１４中より１装置の試験に要する試験時間を得る（図２
の３３ａ列）。図１に当てはめれば、周辺装置識別子‘
ＤＫ’を有する磁気ディスク装置１６１が１台存在する
ので、磁気ディスク装置用試験プログラム１２が実行さ
れるべきであり、その実行時間が、３０秒であることと
、周辺装置識別子‘ＭＴ’を有する磁気テープ装置１７
１が１台存在するので、磁気テープ装置用試験プログラ
ム１３が実行されるべきであり、その実行時間が、５０
秒であるという結果が得られる。
が試験を行う装置数が得られ、試験プログラム管理手段
１４中より１装置の試験に要する試験時間を得る（図２
の３３ａ列）。図１に当てはめれば、周辺装置識別子‘
ＤＫ’を有する磁気ディスク装置１６１が１台存在する
ので、磁気ディスク装置用試験プログラム１２が実行さ
れるべきであり、その実行時間が、３０秒であることと
、周辺装置識別子‘ＭＴ’を有する磁気テープ装置１７
１が１台存在するので、磁気テープ装置用試験プログラ
ム１３が実行されるべきであり、その実行時間が、５０
秒であるという結果が得られる。
【００１３】次にステップ４４０で示すごとく、試験制
御手段１１は各試験プログラムの走行レベルを試験プロ
グラムの試験時間の長い順に割り当てる。つまり、磁気
ディスク装置用試験プログラム１２の試験時間が３０秒
であり、磁気テープ装置用試験プログラム１３の試験時
間が５０秒であるから、走行レベルは、後者が優先され
ることになる。走行レベルが割り当てられた状況を図４
に示す。
御手段１１は各試験プログラムの走行レベルを試験プロ
グラムの試験時間の長い順に割り当てる。つまり、磁気
ディスク装置用試験プログラム１２の試験時間が３０秒
であり、磁気テープ装置用試験プログラム１３の試験時
間が５０秒であるから、走行レベルは、後者が優先され
ることになる。走行レベルが割り当てられた状況を図４
に示す。
【００１４】一方、磁気ディスク装置が１台増えれば磁
気ディスク装置用試験プログラム１２の実行時間が長く
なることは容易に予測がつく。試験制御手段２１の動作
も、既に説明済みの試験制御手段１１と同じ動作を行う
が、ステップ４３０により、周辺装置識別子‘ＤＫ’を
有する磁気ディスク装置が２台存在するので、磁気ディ
スク装置用試験プログラム１２が実行されるべきであり
、その実行時間が、２台分で６０秒であることと、周辺
装置識別子‘ＭＴ’を有する磁気テープ装置は１台であ
るので、磁気テープ装置用試験プログラム１３が実行さ
れるべきであり、その実行時間が、５０秒であるという
結果が得られる。
気ディスク装置用試験プログラム１２の実行時間が長く
なることは容易に予測がつく。試験制御手段２１の動作
も、既に説明済みの試験制御手段１１と同じ動作を行う
が、ステップ４３０により、周辺装置識別子‘ＤＫ’を
有する磁気ディスク装置が２台存在するので、磁気ディ
スク装置用試験プログラム１２が実行されるべきであり
、その実行時間が、２台分で６０秒であることと、周辺
装置識別子‘ＭＴ’を有する磁気テープ装置は１台であ
るので、磁気テープ装置用試験プログラム１３が実行さ
れるべきであり、その実行時間が、５０秒であるという
結果が得られる。
【００１５】つまり、ステップ４４０では、試験制御手
段２１により、この場合には磁気ディスク装置用試験プ
ログラム１２の試験時間が６０秒であり、磁気テープ装
置用試験プログラム１３の試験時間が５０秒であるから
、走行レベルは、前者が優先されることになる。走行レ
ベルが割り当てられた状況を図５に示す。
段２１により、この場合には磁気ディスク装置用試験プ
ログラム１２の試験時間が６０秒であり、磁気テープ装
置用試験プログラム１３の試験時間が５０秒であるから
、走行レベルは、前者が優先されることになる。走行レ
ベルが割り当てられた状況を図５に示す。
【００１６】この様にして、システムの構成に応じた各
試験プログラムの試験時間を計算することによって、各
試験プログラムの試験時間の長い順に、優先順位の高い
走行レベルを割り当てることができる。
試験プログラムの試験時間を計算することによって、各
試験プログラムの試験時間の長い順に、優先順位の高い
走行レベルを割り当てることができる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、以上の
ような構成の採用により、システム構成の如何に関わら
ず、各試験プログラムをそれぞれの試験時間に応じた適
切な走行レベルに割り当てることができ、複数種類の周
辺装置の効率的な同時動作の試験を可能とする効果があ
る。
ような構成の採用により、システム構成の如何に関わら
ず、各試験プログラムをそれぞれの試験時間に応じた適
切な走行レベルに割り当てることができ、複数種類の周
辺装置の効率的な同時動作の試験を可能とする効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す。
【図２】図１における試験プログラム管理手段のフォー
マットを示す。
マットを示す。
【図３】図１における試験制御手段のフローチャートで
ある。
ある。
【図４】図１の構成例における走行レベルの割当状況を
示す。
示す。
【図５】他の構成例における走行レベルの割当状況を示
す。
す。
１ 中央処理装置
１１，２１ 試験制御手段
１２ 磁気ディスク装置用試験プログラム１３
磁気テープ装置用試験プログラム１４ 試
験プログラム管理手段 １５ 構成記憶 １６ 磁気ディスク装置用Ｉ／Ｏコントローラ１
７ 磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコントローラ１６１
磁気ディスク装置 １７１ 磁気テープ装置
磁気テープ装置用試験プログラム１４ 試
験プログラム管理手段 １５ 構成記憶 １６ 磁気ディスク装置用Ｉ／Ｏコントローラ１
７ 磁気テープ装置用Ｉ／Ｏコントローラ１６１
磁気ディスク装置 １７１ 磁気テープ装置
Claims (1)
- 【請求項１】 周辺装置識別子に対応する試験プログ
ラム名と該試験プログラムが１周辺装置当りに要する試
験時間を、周辺装置識別子毎に格納するための試験プロ
グラム管理手段と、それぞれの試験プログラムの試験対
象とする装置の数を、システムの構成と上記試験プログ
ラム管理手段から求め、さらに試験対象とする装置の数
と、上記試験プログラム管理手段より得られる１周辺装
置当りに要する試験時間から、システム内でのそれぞれ
の試験プログラム個別の実行に要する時間を計算した上
で、試験時間の長い試験プログラムから優先順位の高い
走行レベルを割り当てて、各周辺装置に対応した試験プ
ログラムを同時に実行する試験制御手段とを有すること
を特徴とする周辺装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3092519A JPH04323732A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 周辺装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3092519A JPH04323732A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 周辺装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04323732A true JPH04323732A (ja) | 1992-11-12 |
Family
ID=14056582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3092519A Pending JPH04323732A (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 周辺装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04323732A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106598840A (zh) * | 2016-10-25 | 2017-04-26 | 南京航空航天大学 | 基于软件自测试技术的慢速外设高效测试架构及方法 |
-
1991
- 1991-04-24 JP JP3092519A patent/JPH04323732A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106598840A (zh) * | 2016-10-25 | 2017-04-26 | 南京航空航天大学 | 基于软件自测试技术的慢速外设高效测试架构及方法 |
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