JPH0433528Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この考案は、複数トラツクを有する薄膜磁気ヘ
ツドに係り、特に、薄膜磁気ヘツドの製造工程に
おいて、各トラツクのデプス量を均一に加工する
ための研摩をマークを設けた薄膜磁気ヘツドに関
するものである。

(ロ) 従来技術 複数トラツクを有する薄膜磁気ヘツドの研摩マ
ークとしては、例えば、第３図および第４図の要
部拡大平面図に示すように形成されたものがあ
る。

第３図の研摩マーク１は、薄膜磁気ヘツドのコ
アまたはヨーク２の位置する箇所の両端の外側
に、それぞれ設けられている。この研摩マーク１
はコアまたはヨーク２を研摩する方向（矢印で
示している）に、それぞれ階段状に突出させたマ
ーク部分１ａ〜１ｅが形成されている。このよう
に表示されている研摩マーク１の例えば、マーク
部分１ｅが所定のデプス量の位置と仮定すると、
この研摩マーク１を、順次確認をしながら研摩加
工を施し、マーク部分１ｅの先端が削り取られ完
全にみえなくなつた時に、研摩加工を終了する。
このように、研摩マーク１の各マーク部分１ａ〜
１ｅの先端が、研摩加工の進行に伴なつて順次削
り取られ消えて行く状態を確認しながら、各トラ
ツクのデプス量が均一になるように加工を施する
ようになつている。

第４図は、三角形状をした研摩マーク１１を、
薄膜磁気ヘツドのコアまたはヨークの位置する箇
所の両端の外側に、それぞれ設けたものである。
この三角形状の研摩マーク１１の頂点１１ａを所
定のデプス量の位置とし、この研摩マーク１１が
削り取られて行く状態、すなわち、三角形の底面
１１ｂ側から順次研摩されて、その三角形が次第
に小さくなつて行く状態を確認しながら、頂点１
１ａが見えなくなる位置まで研摩加工を施し、各
トラツクのデプス量を均一にするものである。

(ハ) 考案が解決しようとする問題点 しかし、上記した従来のものにおいては、その
いずれもがコアまたはヨークの位置する箇所の両
端の外側に研摩マークがそれぞれ設けられている
ため、研摩加工時において、この両研摩マークに
合せても、各トラツクのデプス量が均一に加工で
きない場合がある。

すなわち、第５図の平面図に示すように、コア
またはヨーク２の位置する箇所の両端の外側に設
けられている研摩マーク１，１に位置合せを行な
い、矢印方向から研摩加工を開始する。この研
摩加工は、研摩マーク１の○イの位置から○ロの位置
に至るまでの間は、機械研摩によつて行なわれ、
次の○ロの位置から○ハの所定のデプス量の位置まで
を、テープ研摩による加工を行なつている。

しかし、このテープ研摩による仕上げの段階に
おいて、研摩マーク１に近い両端では、所定のデ
プス量の位置に研摩されるが、中央付近に配列さ
れたコアまたはヨーク２においては、研摩用テー
プの弛み等によつて、所定のデプス量の位置○ハに
研摩されず、例えば、○ニで示すような研摩状態と
なる虞れがあつた。また、このような研摩状態が
生じても、研摩マーク１が両側に設けられている
ために、研摩加工時に、その状態を確認すること
がむずかしく、各トラツク間において特性のばら
つきが生じるという欠点があつた。

さらに、上記した、研摩マーク１が両端に離れ
て設けられているために研摩時に正確に確認しに
くいという欠点に加えて研摩マーク自体の読み取
りがむずかしいという欠点があつた。

この考案の目的は、上記従来例の欠点を解消し
た研摩マークを設けた薄膜磁気ヘツドを提供する
ことにある。

(ニ) 問題点を解決するための手段 この考案に係る薄膜磁気ヘツドは、複数トラツ
クを有する薄膜磁気ヘツドにおいて、コアまたは
ヨークに階段状に形成され、かつ最下段のステツ
プが、所定のデプス量の位置を表示するように形
成される研磨マークを有することを特徴とするも
のである。

(ホ) 作用 コアまたはヨーク自体に階段状の研摩マークを
形成することにより各コアまたヨークを、所定の
デプス量の位置に研摩加工を施すことができ、各
トラツク間における特性のばらつきをなくすこと
ができる。

(ヘ) 実施例 この考案に係る薄膜磁気ヘツドの実施例を第１
図および第２図に基づいて説明する。第１図は薄
膜磁気ヘツドの構成の要部を示す平面図、第２図
は第２図のＡ−Ａ線を断面した側面図である。

薄膜磁気ヘツドの製造工程のコアまたはヨーク
２を形成する時に、研摩マーク１２の部分を各コ
アまたはヨーク２自体に形成する。この各コアま
たはヨーク２に形成された研摩マーク１２は、階
段状に形成されていて、研摩加工する際に、その
研摩加工の度合を確認するための第１，第２のス
テツプ１２ａ，１２ｂと、所定のデプス量の位置
を表す第３のステツプ１２ｃとを設けている。こ
の実施例では、３つのステツプからなる研摩マー
ク１２を形成しているが、これは、必要に応じて
増減させることができる。

なお、図において、３はコイル、４は下部磁性
層、５はギヤツプである。また、点線○ハは、所定
のデプス量の位置、すなわち、研摩によつて、こ
の位置までデプスを削り込むようになつている。

以上の実施例から明らかなように、階段状の研
摩マーク１２を形成したコアまたはヨーク２は、
複数トラツクを有する薄膜磁気ヘツドの最下段の
ステツプが所定のデプス量のコア長（またはヨー
ク長）に設定されているから、この位置○ハまでデ
プスを削り込むことにより、各コアまたはヨーク
を均一に研摩加工することができる。

(ト) 考案の効果 この考案に係る薄膜磁気ヘツドによれば、コア
またはヨーク自体に階段状の研摩マークを構成し
ているので、デプス量が明確化でき、各トラツク
のデプス量が均一に加工することができ、記録、
再生ヘツド特性の向上を図ることができ、かつト
ラツク間のばらつきをおさえることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は、この考案の実施例を示
すもので、第１図は平面図、第２図は第１図のＡ
−Ａ線断面側面図である。第３図乃至第５図は、
従来例を示すもので、第３図および第４図は要部
拡大平面図、第５図は研摩状態を説明するための
平面図である。 １，１１……研摩マーク、１２……研摩マー
ク、１２ａ，１２ｂ，１２ｃ……ステツプ、２…
…コアまたはヨーク、３……コイル、４……下部
磁性層。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 複数トラツクを有する薄膜磁気ヘツドにおい
   て、コアまたはヨークに階段状に形成され、かつ
   最下段のステツプが、所定のデプス量の位置を表
   示するように形成される研磨マークを有すること
   を特徴とする薄膜磁気ヘツド。