JPH0433772B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0433772B2 JPH0433772B2 JP1134087A JP1134087A JPH0433772B2 JP H0433772 B2 JPH0433772 B2 JP H0433772B2 JP 1134087 A JP1134087 A JP 1134087A JP 1134087 A JP1134087 A JP 1134087A JP H0433772 B2 JPH0433772 B2 JP H0433772B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- diethynylbenzene
- benzene
- ppm
- proton
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 12
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 33
- -1 resists Substances 0.000 description 32
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 30
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 27
- CBYDUPRWILCUIC-UHFFFAOYSA-N 1,2-diethynylbenzene Chemical class C#CC1=CC=CC=C1C#C CBYDUPRWILCUIC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 21
- 239000010408 film Substances 0.000 description 19
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N monobenzene Natural products C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 9
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 9
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 7
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 7
- 238000000425 proton nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 7
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical class C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 6
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- YYROPELSRYBVMQ-UHFFFAOYSA-N 4-toluenesulfonyl chloride Chemical compound CC1=CC=C(S(Cl)(=O)=O)C=C1 YYROPELSRYBVMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UEXCJVNBTNXOEH-UHFFFAOYSA-N Ethynylbenzene Chemical compound C#CC1=CC=CC=C1 UEXCJVNBTNXOEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N Trichloro(2H)methane Chemical compound [2H]C(Cl)(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000005103 alkyl silyl group Chemical group 0.000 description 3
- IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N chlorotrimethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)Cl IJOOHPMOJXWVHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018540 Si C Inorganic materials 0.000 description 2
- UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M Sodium bicarbonate Chemical compound [Na+].OC([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- DCFKHNIGBAHNSS-UHFFFAOYSA-N chloro(triethyl)silane Chemical compound CC[Si](Cl)(CC)CC DCFKHNIGBAHNSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229940125782 compound 2 Drugs 0.000 description 2
- 238000005828 desilylation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- DVSDBMFJEQPWNO-UHFFFAOYSA-N methyllithium Chemical compound C[Li] DVSDBMFJEQPWNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AOXOMZYRICNLQZ-UHFFFAOYSA-N trimethyl-[2-[2-(2-trimethylsilylethynyl)phenyl]ethynyl]silane Chemical compound C[Si](C)(C)C#CC1=CC=CC=C1C#C[Si](C)(C)C AOXOMZYRICNLQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000026 trimethylsilyl group Chemical group [H]C([H])([H])[Si]([*])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MVLGANVFCMOJHR-UHFFFAOYSA-N 1,4-diethynylbenzene Chemical compound C#CC1=CC=C(C#C)C=C1 MVLGANVFCMOJHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GIEMHYCMBGELGY-UHFFFAOYSA-N 10-undecen-1-ol Chemical compound OCCCCCCCCCC=C GIEMHYCMBGELGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 125000006417 CH Chemical group [H]C* 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000001555 benzenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- HIFGEPYDMHCIMG-UHFFFAOYSA-N chloro(triheptyl)silane Chemical compound CCCCCCC[Si](Cl)(CCCCCCC)CCCCCCC HIFGEPYDMHCIMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002633 crown compound Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- GNOIPBMMFNIUFM-UHFFFAOYSA-N hexamethylphosphoric triamide Chemical compound CN(C)P(=O)(N(C)C)N(C)C GNOIPBMMFNIUFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical group 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000012280 lithium aluminium hydride Substances 0.000 description 1
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- FRIJBUGBVQZNTB-UHFFFAOYSA-M magnesium;ethane;bromide Chemical compound [Mg+2].[Br-].[CH2-]C FRIJBUGBVQZNTB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000017557 sodium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000030 sodium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 125000002088 tosyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1C([H])([H])[H])S(*)(=O)=O 0.000 description 1
- 125000002306 tributylsilyl group Chemical group C(CCC)[Si](CCCC)(CCCC)* 0.000 description 1
- UZIXCCMXZQWTPB-UHFFFAOYSA-N trimethyl(2-phenylethynyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C#CC1=CC=CC=C1 UZIXCCMXZQWTPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YHMJZIJXVNRXIN-UHFFFAOYSA-N trimethyl-(2-trimethylsilylphenyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C1=CC=CC=C1[Si](C)(C)C YHMJZIJXVNRXIN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/075—Silicon-containing compounds
- G03F7/0755—Non-macromolecular compounds containing Si-O, Si-C or Si-N bonds
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Non-Silver Salt Photosensitive Materials And Non-Silver Salt Photography (AREA)
Description
(技術分野)
本発明はレジスト材料、有機半導体、導電材料
等の電子材料として有用な新規ジエチニルベンゼ
ン誘導体に関する。 (産業上の利用分野) ベンゼン環に2個のエチニル基が直接結合して
いるジエチニルベンゼン化合物は、一般に、γ
線、電子線、X線、紫外線、可視光線、赤外線
(熱)等のエネルギー照射に対して極めて高感度
であり、かつエネルギー照射により得られる重合
体は、耐エツチング性に優れるため、電子線レジ
スト、X線レジスト、フオトレジストのようなパ
ターン形成材料、又は感熱材料として有用であ
る。また、前記のエネルギー照射により与えられ
る重合体は、C≡C三重結合が開いて共役二重結
合を形成した共役高分子となるため有機半導体、
導電性材料の電子材料として用いることもでき
る。 又、本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、た
とえば分子末端のビニル基を酸化してカルボン酸
に変換することにより、両親媒性化合物を製造す
ることができる。分子内に適当な数のメチレン基
からなる長鎖状構造のような疎水性構造部分と、
アミノ基、水酸基、カルボキシル基のような親水
性構造部分の両方を兼ねそなえた両親媒性化合物
は、水面上に単分子膜を形成する。この単分子膜
は、ラングミユアーブロジエツト法(以下、“LB
法”という。また、この方法により製造した膜を
“LB膜”という。)により、適当な基板上に累積
し、高配向性の分子累積膜を形成することができ
る。特に分子内にジエチニルベンゼンのような構
造部分を有する両親媒性分子のLB膜は、レジス
トのようなパターン形成材料や有機半導体、導電
材料などの電子材料、非線形光学材料のようなオ
プトエレクトロニクス材料への応用が考えられ、
産業上非常に有用である。 (従来技術及び問題点) これまで、ジエチニルベンゼン
等の電子材料として有用な新規ジエチニルベンゼ
ン誘導体に関する。 (産業上の利用分野) ベンゼン環に2個のエチニル基が直接結合して
いるジエチニルベンゼン化合物は、一般に、γ
線、電子線、X線、紫外線、可視光線、赤外線
(熱)等のエネルギー照射に対して極めて高感度
であり、かつエネルギー照射により得られる重合
体は、耐エツチング性に優れるため、電子線レジ
スト、X線レジスト、フオトレジストのようなパ
ターン形成材料、又は感熱材料として有用であ
る。また、前記のエネルギー照射により与えられ
る重合体は、C≡C三重結合が開いて共役二重結
合を形成した共役高分子となるため有機半導体、
導電性材料の電子材料として用いることもでき
る。 又、本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、た
とえば分子末端のビニル基を酸化してカルボン酸
に変換することにより、両親媒性化合物を製造す
ることができる。分子内に適当な数のメチレン基
からなる長鎖状構造のような疎水性構造部分と、
アミノ基、水酸基、カルボキシル基のような親水
性構造部分の両方を兼ねそなえた両親媒性化合物
は、水面上に単分子膜を形成する。この単分子膜
は、ラングミユアーブロジエツト法(以下、“LB
法”という。また、この方法により製造した膜を
“LB膜”という。)により、適当な基板上に累積
し、高配向性の分子累積膜を形成することができ
る。特に分子内にジエチニルベンゼンのような構
造部分を有する両親媒性分子のLB膜は、レジス
トのようなパターン形成材料や有機半導体、導電
材料などの電子材料、非線形光学材料のようなオ
プトエレクトロニクス材料への応用が考えられ、
産業上非常に有用である。 (従来技術及び問題点) これまで、ジエチニルベンゼン
【式】又は一般式
【式】(nは1
以上4以下の整数)で表される化合物、および
【式】のような化
合物はすでに知られている〔J.K.Crandallら、
Joural of American Chemical Society,97
(24),7171−2(1975);E.A.Runovaら、Vestn.
Mosk.Univ.,Ser.2:Khim.,24(3),299−300
(1983)等〕。 ジエチニルベンゼン化合物は、γ線、電子線、
紫外線、可視光線、赤外線(熱)等のエネルギー
照射に対して感受性を有しているが、分子量が小
さいため良質な薄膜の作製が困難であり、また昇
華性のため減圧下で取扱いが困難であつた。 ジエチニルベンゼン構造を有する化合物の薄膜
作製にLB法の適用が考えられるが、LB膜作製上
必要な両親媒性を有するジエチニルベンゼン化合
物は知られておらず、その製造原料も知られてい
ない。 (問題を解決するための手段) このような問題点に鑑み、本発明者らは、薄膜
の作製が可能であり、非昇華性のジエチニルベン
ゼン化合物であり、またLB技術に適用可能な両
親媒性化合物の製造原料となるジエチニルベンゼ
ン化合物を得るべく鋭意検討を重ねた結果、本発
明のジエチニルベンゼン誘導体を得るに至つた。 すなわち、本発明は分子内にジエチニルベンゼ
ン構造、及びメチレン鎖、及び一方の分子末端に
ビニル基、他方の分子末端に水素又はアルキルシ
リル基を有する下記の一般式で表される新規なジ
エチニルベンゼン誘導体に関する。 〔式中のRは水素又は−SiX1X2X3で、X1,X2,
X3はそれぞれ独立に水素又は炭素数が1〜7の
アルキル基(ただし、X1,X2,X3がすべて水素
の場合は除く)で、かつnは9以上21以下の整数
である。〕 本発明のジエチニルベンゼン誘導体はその分子
構造特性から、IR吸収スペクトルにおいて、ベ
ンゼン環およびビニル基のC−H伸縮振動、メチ
レン基のC−H伸縮振動、C≡C伸縮振動がそれ
ぞれ3000〜3080cm-1,2850〜2960cm-1,2010〜
2260cm-1Iに観測される。また、ベンゼン環特有
の吸収が1600cm-1付近、1500cm-1付近に、ベンゼ
ン環のC−H面外変角振動が690〜860cm-1に観測
される。 また、1H−NMRスペクトルにおいては、ベン
ゼン環、ビニル基の=CH2及び−CH=Cのプロ
トンがそれぞれ、6.9〜7.8ppm、3.9〜6.4ppm,
5.3〜7.3ppmに、またC≡Cに隣接するメチレン
基、ビニル基に隣接するメチレン基、その他のメ
チレン基のプロトロンがそれぞれ、2.2〜
2.5ppm,1.8〜2.2ppm,0.6〜1.9ppmに観測され
る。また、置換基Rの構造に起因するIR吸収、1
H−NMRシグナルもそれぞれのスペクトルにお
いて認められる。 本発明のジエチニルベンゼン誘導体の一般式に
おいて、置換基Rは水素又は−SiX1X2X3である
が、−SiX1X2X3の例として、トリメチルシリル
基、トリエチルシリル基、メチルジエチルシリル
基、トリブチルシリル基、トリヘプチルシリル
基、ジエチルシリル基等を挙げることができる。 又、ベンゼン環への二つのエチニル基の置換様
式は、オルト、メタ、パラのいずれであつてもよ
い。 本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、15℃で
固体であり、アセトン、メチルエチルケトン、エ
タノール、酢酸エチル、クロロホルム、ベンゼ
ン、ヘキサン等の溶媒に可溶である。 次に、本発明のジエチニルベンゼン誘導体の合
成法の一例を説明する。まず、合成反応のスキー
ムを以下に示す。 まず、ジエチニルベンゼン1を出発原料の一つ
として、グリニヤール法によりジエチニルベンゼ
ンの二つのエチニル基を金属ハロゲン化させ、化
合物2を得る。この化合物2をX1X2X3SiCl(X1,
X2,X3はそれぞれ独立に水素又は炭素数が1〜
7のアルキル基のいずれかであり、X1,X2,X3
は同時にすべては水素ではない)と反応させて、
ビスアルキルシリル化エチニルベンゼン3 を合成する。 一方、アルケニルアルコール4 CH2=CH−(CH2)o−OH (ただし、nは9
以上21以下の整数)をもう一つの出発原料とし
て、トシルクロリドと反応させて、アルケニルト
シレート5 CH2=CH−(CH2)o−OTs (ただ
し、nは9以上21以下の整数、Tsはトシル基)
を合成する。上記のビスアルキルシリル化エチニ
ルベンゼン3とアルケニルトシレート5を、メチ
ルリチウム等を用いて、一方のアルキルシリル基
を脱シリル化して有機金属化合物6とし、アルケ
ニルトシレート5と反応させることにより、本発
明のRが−SiX1X2X3(X1,X2,X3はそれぞれ独
立に水素又は炭素数1〜7のアルキル基で、X1,
X2,X3は同時にすべては水素ではない)の場合
のジエチニルベンゼン誘導体7を合成することが
できる。 また、Rが水素の場合の本発明のジエチニルベ
ンゼン誘導体は、Rがアルキルシリル基、−SiX1
X2X3の前記誘導体を、R′4NF,KF,R″Li等
(R′,R″は炭素数が1〜5個のアルキル基又はフ
エニル基)の脱シリル化剤の存在下で脱シリル化
させることにより得ることができる。ただし、脱
シリル化剤としてKFを用いる場合は、クラウン
化合物とともに使用することが好ましい。 以上、本発明のジエチニルベンゼン誘導体を与
える方法の一例を述べたが、これにより製造方法
を限定するものではない。 (発明の効果) 本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、薄膜形
成が可能であり、又非昇華性である。従つて本発
明のジエチニルベンゼン誘導体は、薄膜にするこ
とにより、パターン形成材料、感熱材料として使
用することがてき、また重合体にすることによ
り、有機半導体、導電材料等の電子材料としての
応用に用いることができる。 また、本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、
たとえばオゾン酸化等の酸化反応により、分子末
端のビニル基をカルボキシル基に変換して両親媒
性化合物を製造することができ、この両親媒性化
合物を用いて、LB膜を作製することにより、パ
ターン形成材料、導電材料のような電子材料、或
いは非線形光学材料のようなオプトエレクトロニ
クス材料へ応用することができる。 以下実施例により本発明をさらに詳細に説明す
る。 実施例 1 パラージエチニルベンゼン0.2モルを充分に脱
水したテトラヒドロフラン350mlに溶かし、−78℃
でエチルマグネシウムプロミド0.4モルを添加し
て25℃で1時間反応させた。次にこの反応液を再
び−78℃に冷却し、トリメチルシリルクロリド
0.4モルを添加して25℃で2時間反応させ、ビス
−(トリメチルシリルエチニル)−ベンゼンを得
た。 またω−ヘプタデセニルアルコール0.04モルを
ビリジン30mlに溶かし、反応容器を氷浴に浸しな
がら、トリエンスルホニルクロリド(トシルクロ
リド)0.045モルを加えて15℃で24時間反応させ
て、ヘプタデセニルトシレートを得た。 次にビス−(トリメチルシリル)−ベンゼン0.01
モルを十分に脱水したテトラヒドロフラン60mlに
溶かし、−78℃でメチルリチウム0.01モルを添加
して25℃で2時間反応させた。この反応液を再び
−78℃に冷却し、ヘキサメチルホスホルアミド35
mlとヘプタデセニルトシレート0.01モルを添加し
て25℃で1時間反応させた。この反応液に、炭酸
水素ナトリウム飽和水溶液250mlとジエチルエー
テル180mlを加えて充分に振とうしエーテル相に
生成物を抽出した。エーテル相を塩化ナトリウム
飽和水溶液で洗浄した後、硫酸マグネシウムで脱
水した。このエーテル溶液を濃縮して白黄色結晶
を得た。GPCによる精製により,1−(18−ノナ
デセン−1−イニル)−4−(トリメチルシリルエ
チニル)−ベンゼン の白色結晶40m molを得た。 この結晶についてIRスペクトル、1H−NMRス
ペクトルを測定し、その構造について調べた。
KBr錠剤法によるIRスペクトル、を第1図に示
した。このスペクトルからわかるように、ベンゼ
ン環及び分子末端のビニル基、のC−H伸縮振動
が3020〜3080cm-1に、メチレル基のC−H伸縮振
動が28502920cm-1にメチル基のC−H伸縮振動が
2960cm-1に、−C≡C−のC≡C伸縮振動が2150
cm-1に、ビニル基、のC=Cの伸縮振動が1640cm
−1に、ベンゼン環の骨格振動が1490cm-1に、ベン
ゼン環のC−H面外変角振動が、840cm-1に観測
された。また、Si−CH3のメチル基由来の1400cm
−1,1240cm-1,Si−C伸縮振動由来の860cm-1K
吸収が観測された。 重クロロホルム溶液で測定した1H−NMRス
ペクトルを第2図に示した。このスペクトルから
わかるように、ベンゼン環のプロトンが7.44ppm
に、ビニル基の=CH−のプロトンが5.9ppmに、
ビニルの=CH2のプロトンが5.2ppmに、−C≡C
−基に隣接するメチレン基のプロトンが2.4ppm
に、ビニル基に隣接するメチレン基のプロトンが
2.0ppmに、その他のメチレン基のプロトンが0.8
〜1.8ppmに、トリメチルシリル基のプロトンが
0.04ppmにそれぞれ4:1:2:2:2:26:9
のシグナル積分度比で観測された。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハ−上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用にマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型パターンを形成することができ
た。 実施例 2 実施例1の方法で得た1−(18−ノナデセン−1
−イニル)−4−(トリメチルシリルエチニル)−
ベンゼン20m molのテトラヒドロフラン溶液に、
(C4H9)4NFのテトラヒドロフラン溶液を、(C4
H9)4NFがトリメチルシリル基の25当量となるよ
うに加えて、25℃で20時間攪拌して脱シリル化反
応を行つた。次に、この反応液中に少量の水を加
えて充分に振盪した後エーテル層を分離した。こ
の操作を繰り返してエーテル層を合わせ、濃縮し
て1−エチニル−4−(18ノナデセン−1−イニ
ル)−ベンゼン の白色結晶30m molを得た。IRスペクトルから、
ベンゼン環及びビニル基のC−H伸縮振動が3020
〜3080cm-1に、メチレン基のC−H伸縮振動が
28502920cm-1に、エチニル基のC−H伸縮振動及
びC≡C伸縮振動がそれぞれ3300cm-1,2150cm-1
に、ビニル基のC=C伸縮振動が1640cm-1に、ベ
ンゼン環の骨格振動及びC−H面外変角振動がそ
れぞれ1490cm-1,840cm-1I観測された。 1H−NMRスペクトルを第3図に示した。こ
のスペクトルからわかるように、ベンゼン環のプ
ロトンが7.44ppmに、ビニル基の=CH−プロト
ン及び=CH2のプロトンがそれぞれ5.0ppm,
5.2ppmに、分子末端のエチニル基のプロトンが
3.1ppmに、−C≡C−に隣接するメチレン基のプ
ロトンが2.4ppmに、ビニル基に隣接するメチレ
ン基のプロトンが2.0ppmに、その他のメチレン
基のプロトンが0.8〜1.8ppmに、それぞれ4:
1:2:1:2:2:26のシグナル積分強度比で
観測された。当該化合物をオゾン酸化してビニル
基をカルボキシル基に変換することにより、両親
媒性のジエチニルベンゼン誘導体のカルボン酸を
合成することができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 3 実施例1において、ω−ヘプタデセニルアルコ
ールの代わりにω−ウンデシレニルアルコールを
用いて同様の反応を行い、まず1−(12−トリデ
セン−1−イニル)−4−トリメチルシリルエチ
ニル)−ベンゼン 46m molを得た。この化合物を実施例2におい
て1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−(ト
リメチルシリルエチニル)−ベンゼンの代わりに
用いて、1−エチニル−4−(12−トリデセン−
1−イニル)−ベンゼン 34m molを得た。IRスペクトルから、ベンゼン
環及びビニル基のC−H伸縮振動が3020〜3080cm
−1に、メチレン基のC−H伸縮振動が28502920cm
−1に、エチニル基のC−H伸縮振動及びC≡C伸
縮振動がそれぞれ3300cm-1,2150cm-1に、ビニル
基のC≡C伸縮振動が1640cm-1に、ベンゼン環の
骨格振動及びC−H面外変角振動がそれぞれ1490
cm-1,840cm-1に観測された。1H−NMRスペクト
ルから、ベンゼン環のプロトンが7.44ppmに、ビ
ニル基の=CH−のプロトン及び=CH2のプロト
ンがそれぞれ5.9ppm,5.2ppmに、分子末端のエ
チニル基のプロトンが3.1ppmに、−C≡C−に隣
接するメチレン基のプロトンが2.4ppmに、ビニ
ル基に隣接するメチレン基のプロトンが2.0ppm
に、その他のメチレン基のプロトンが0.8〜
1.8ppmに、それぞれ4:1:2:1:2:2:
14のシグナル積分強度比で観測された。当該化合
物をオゾン酸化してビニル基をカルボキシル基に
変換することにより、両親媒性のジエチニルベン
ゼン誘導体のカルボン酸を合成することができ
た。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いてLB法によりSiO2被覆シリコ
ンウエハ−上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクを覆い、100w
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 4 実施例1において、トリメチルシリルクロリド
の代わりにクロロトリエチルシランを用いて同様
の反応を行い、ビス−(トリエチルシリルエチニ
ル)−ベンゼンを得た。この化合物を実施例1に
おいて、ビス−(トリメチルシリルエチニル)−ベ
ンゼンの代わりに用いて同様の反応を行い、1−
(18−シナデセン−1−イニル)−4−(トリエチ
ルシリルエチニル)−ベンゼンの白色結晶38m
molを得た。 KBr錠剤法によるIRスペクトルからベンゼン
環及び分子末端のビニル基のC−H伸縮振動が
3020〜3080cm-1に、メチレン基のcC−H伸縮振
動が28502920cm-1に、メチル基のC−H伸縮振動
が2960cm-1に、−C≡C−のC≡C伸縮振動が
1640cm-1に、ビニル基のC=C伸縮振動が1640cm
−1にベンゼン環の骨格振動が1490cm-1に、ベンゼ
ン環のC−H面外変角振動が840cm-1に観測され
た。また、Si−CH2CH3のメチレン基由来の1408
cm-1,1234cm-1,Si−C伸縮振動由来の860cm-1
の吸収が観測された。また1H−NMRスペクト
ルから、ベンゼン環のプロトンが7.44ppmに、ビ
ニル基の=CH−のプロトンが5.9ppmに、ビニル
基の=CH2のプロトンが5.2ppmに、−C≡C−基
に隣接するメチレン基のプロトンが2.4ppmに、
ビニル基に隣接するメチレン基のプロトンが
2.0ppmに、その他のメチレン基のプロトンが0.8
〜1.8ppmに、トリエチルシリル基のメチル基及
びメチレン基のプロトンがそれぞれ0.9ppm,
0.6ppmに、それぞれ4:1:2:2:2:26:
9:6シグナル積分強度比で観測された。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型パターンを形成することができ
た。 実施例 5 実施例1において、トリメチルシリルクロリド
の代わりにクロロトリヘプチルシランを用いて同
様の反応を行い、ビス−(トリヘプチルシリルエ
チニル)−ベンゼンを得た。この化合物を実施例
1において、ビス−(トリメチルシリルエチニル)
−ベンゼンの代わりに用いて同様の反応を行い、
1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−(トリ
ヘプチルシクルエチニル)−ベンゼンの白色結晶
24m molを得た。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができる。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に39層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 6 まず、ω−トリコセノイツクアシド CH2=CH−(CH2)20−COOHをリチウムアルミ
ニウムハイドライドで還元して、ω−トリコセニ
ルアルコールCH2=CH−(CH2)21−OHを得た。
このω−トリコセニルアルコールを、実施例1に
おいてω−ヘプタデセニルアルコールの代わりに
用いて同様の反応を行い、まず1−(24−ペンタ
コセン−1−イニル)−4−トリメチルシリルエ
チニル)−ベンゼン 40m molを得た。この化合物を実施例2におい
て、1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−
(トリメチルシリルエチニル)−ベンゼンの代わり
に用いて同様の反応を行い、1−エチニル−4−
(24−ペンタコセン−1−イニル)−ベンゼン 15m mol得た。当該化合物をオゾン酸化してビ
ニル基をカルボキシル基に変換することにより、
両親媒性のジエチニルベンゼン誘導体のカルボン
酸を合成することができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。
Joural of American Chemical Society,97
(24),7171−2(1975);E.A.Runovaら、Vestn.
Mosk.Univ.,Ser.2:Khim.,24(3),299−300
(1983)等〕。 ジエチニルベンゼン化合物は、γ線、電子線、
紫外線、可視光線、赤外線(熱)等のエネルギー
照射に対して感受性を有しているが、分子量が小
さいため良質な薄膜の作製が困難であり、また昇
華性のため減圧下で取扱いが困難であつた。 ジエチニルベンゼン構造を有する化合物の薄膜
作製にLB法の適用が考えられるが、LB膜作製上
必要な両親媒性を有するジエチニルベンゼン化合
物は知られておらず、その製造原料も知られてい
ない。 (問題を解決するための手段) このような問題点に鑑み、本発明者らは、薄膜
の作製が可能であり、非昇華性のジエチニルベン
ゼン化合物であり、またLB技術に適用可能な両
親媒性化合物の製造原料となるジエチニルベンゼ
ン化合物を得るべく鋭意検討を重ねた結果、本発
明のジエチニルベンゼン誘導体を得るに至つた。 すなわち、本発明は分子内にジエチニルベンゼ
ン構造、及びメチレン鎖、及び一方の分子末端に
ビニル基、他方の分子末端に水素又はアルキルシ
リル基を有する下記の一般式で表される新規なジ
エチニルベンゼン誘導体に関する。 〔式中のRは水素又は−SiX1X2X3で、X1,X2,
X3はそれぞれ独立に水素又は炭素数が1〜7の
アルキル基(ただし、X1,X2,X3がすべて水素
の場合は除く)で、かつnは9以上21以下の整数
である。〕 本発明のジエチニルベンゼン誘導体はその分子
構造特性から、IR吸収スペクトルにおいて、ベ
ンゼン環およびビニル基のC−H伸縮振動、メチ
レン基のC−H伸縮振動、C≡C伸縮振動がそれ
ぞれ3000〜3080cm-1,2850〜2960cm-1,2010〜
2260cm-1Iに観測される。また、ベンゼン環特有
の吸収が1600cm-1付近、1500cm-1付近に、ベンゼ
ン環のC−H面外変角振動が690〜860cm-1に観測
される。 また、1H−NMRスペクトルにおいては、ベン
ゼン環、ビニル基の=CH2及び−CH=Cのプロ
トンがそれぞれ、6.9〜7.8ppm、3.9〜6.4ppm,
5.3〜7.3ppmに、またC≡Cに隣接するメチレン
基、ビニル基に隣接するメチレン基、その他のメ
チレン基のプロトロンがそれぞれ、2.2〜
2.5ppm,1.8〜2.2ppm,0.6〜1.9ppmに観測され
る。また、置換基Rの構造に起因するIR吸収、1
H−NMRシグナルもそれぞれのスペクトルにお
いて認められる。 本発明のジエチニルベンゼン誘導体の一般式に
おいて、置換基Rは水素又は−SiX1X2X3である
が、−SiX1X2X3の例として、トリメチルシリル
基、トリエチルシリル基、メチルジエチルシリル
基、トリブチルシリル基、トリヘプチルシリル
基、ジエチルシリル基等を挙げることができる。 又、ベンゼン環への二つのエチニル基の置換様
式は、オルト、メタ、パラのいずれであつてもよ
い。 本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、15℃で
固体であり、アセトン、メチルエチルケトン、エ
タノール、酢酸エチル、クロロホルム、ベンゼ
ン、ヘキサン等の溶媒に可溶である。 次に、本発明のジエチニルベンゼン誘導体の合
成法の一例を説明する。まず、合成反応のスキー
ムを以下に示す。 まず、ジエチニルベンゼン1を出発原料の一つ
として、グリニヤール法によりジエチニルベンゼ
ンの二つのエチニル基を金属ハロゲン化させ、化
合物2を得る。この化合物2をX1X2X3SiCl(X1,
X2,X3はそれぞれ独立に水素又は炭素数が1〜
7のアルキル基のいずれかであり、X1,X2,X3
は同時にすべては水素ではない)と反応させて、
ビスアルキルシリル化エチニルベンゼン3 を合成する。 一方、アルケニルアルコール4 CH2=CH−(CH2)o−OH (ただし、nは9
以上21以下の整数)をもう一つの出発原料とし
て、トシルクロリドと反応させて、アルケニルト
シレート5 CH2=CH−(CH2)o−OTs (ただ
し、nは9以上21以下の整数、Tsはトシル基)
を合成する。上記のビスアルキルシリル化エチニ
ルベンゼン3とアルケニルトシレート5を、メチ
ルリチウム等を用いて、一方のアルキルシリル基
を脱シリル化して有機金属化合物6とし、アルケ
ニルトシレート5と反応させることにより、本発
明のRが−SiX1X2X3(X1,X2,X3はそれぞれ独
立に水素又は炭素数1〜7のアルキル基で、X1,
X2,X3は同時にすべては水素ではない)の場合
のジエチニルベンゼン誘導体7を合成することが
できる。 また、Rが水素の場合の本発明のジエチニルベ
ンゼン誘導体は、Rがアルキルシリル基、−SiX1
X2X3の前記誘導体を、R′4NF,KF,R″Li等
(R′,R″は炭素数が1〜5個のアルキル基又はフ
エニル基)の脱シリル化剤の存在下で脱シリル化
させることにより得ることができる。ただし、脱
シリル化剤としてKFを用いる場合は、クラウン
化合物とともに使用することが好ましい。 以上、本発明のジエチニルベンゼン誘導体を与
える方法の一例を述べたが、これにより製造方法
を限定するものではない。 (発明の効果) 本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、薄膜形
成が可能であり、又非昇華性である。従つて本発
明のジエチニルベンゼン誘導体は、薄膜にするこ
とにより、パターン形成材料、感熱材料として使
用することがてき、また重合体にすることによ
り、有機半導体、導電材料等の電子材料としての
応用に用いることができる。 また、本発明のジエチニルベンゼン誘導体は、
たとえばオゾン酸化等の酸化反応により、分子末
端のビニル基をカルボキシル基に変換して両親媒
性化合物を製造することができ、この両親媒性化
合物を用いて、LB膜を作製することにより、パ
ターン形成材料、導電材料のような電子材料、或
いは非線形光学材料のようなオプトエレクトロニ
クス材料へ応用することができる。 以下実施例により本発明をさらに詳細に説明す
る。 実施例 1 パラージエチニルベンゼン0.2モルを充分に脱
水したテトラヒドロフラン350mlに溶かし、−78℃
でエチルマグネシウムプロミド0.4モルを添加し
て25℃で1時間反応させた。次にこの反応液を再
び−78℃に冷却し、トリメチルシリルクロリド
0.4モルを添加して25℃で2時間反応させ、ビス
−(トリメチルシリルエチニル)−ベンゼンを得
た。 またω−ヘプタデセニルアルコール0.04モルを
ビリジン30mlに溶かし、反応容器を氷浴に浸しな
がら、トリエンスルホニルクロリド(トシルクロ
リド)0.045モルを加えて15℃で24時間反応させ
て、ヘプタデセニルトシレートを得た。 次にビス−(トリメチルシリル)−ベンゼン0.01
モルを十分に脱水したテトラヒドロフラン60mlに
溶かし、−78℃でメチルリチウム0.01モルを添加
して25℃で2時間反応させた。この反応液を再び
−78℃に冷却し、ヘキサメチルホスホルアミド35
mlとヘプタデセニルトシレート0.01モルを添加し
て25℃で1時間反応させた。この反応液に、炭酸
水素ナトリウム飽和水溶液250mlとジエチルエー
テル180mlを加えて充分に振とうしエーテル相に
生成物を抽出した。エーテル相を塩化ナトリウム
飽和水溶液で洗浄した後、硫酸マグネシウムで脱
水した。このエーテル溶液を濃縮して白黄色結晶
を得た。GPCによる精製により,1−(18−ノナ
デセン−1−イニル)−4−(トリメチルシリルエ
チニル)−ベンゼン の白色結晶40m molを得た。 この結晶についてIRスペクトル、1H−NMRス
ペクトルを測定し、その構造について調べた。
KBr錠剤法によるIRスペクトル、を第1図に示
した。このスペクトルからわかるように、ベンゼ
ン環及び分子末端のビニル基、のC−H伸縮振動
が3020〜3080cm-1に、メチレル基のC−H伸縮振
動が28502920cm-1にメチル基のC−H伸縮振動が
2960cm-1に、−C≡C−のC≡C伸縮振動が2150
cm-1に、ビニル基、のC=Cの伸縮振動が1640cm
−1に、ベンゼン環の骨格振動が1490cm-1に、ベン
ゼン環のC−H面外変角振動が、840cm-1に観測
された。また、Si−CH3のメチル基由来の1400cm
−1,1240cm-1,Si−C伸縮振動由来の860cm-1K
吸収が観測された。 重クロロホルム溶液で測定した1H−NMRス
ペクトルを第2図に示した。このスペクトルから
わかるように、ベンゼン環のプロトンが7.44ppm
に、ビニル基の=CH−のプロトンが5.9ppmに、
ビニルの=CH2のプロトンが5.2ppmに、−C≡C
−基に隣接するメチレン基のプロトンが2.4ppm
に、ビニル基に隣接するメチレン基のプロトンが
2.0ppmに、その他のメチレン基のプロトンが0.8
〜1.8ppmに、トリメチルシリル基のプロトンが
0.04ppmにそれぞれ4:1:2:2:2:26:9
のシグナル積分度比で観測された。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハ−上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用にマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型パターンを形成することができ
た。 実施例 2 実施例1の方法で得た1−(18−ノナデセン−1
−イニル)−4−(トリメチルシリルエチニル)−
ベンゼン20m molのテトラヒドロフラン溶液に、
(C4H9)4NFのテトラヒドロフラン溶液を、(C4
H9)4NFがトリメチルシリル基の25当量となるよ
うに加えて、25℃で20時間攪拌して脱シリル化反
応を行つた。次に、この反応液中に少量の水を加
えて充分に振盪した後エーテル層を分離した。こ
の操作を繰り返してエーテル層を合わせ、濃縮し
て1−エチニル−4−(18ノナデセン−1−イニ
ル)−ベンゼン の白色結晶30m molを得た。IRスペクトルから、
ベンゼン環及びビニル基のC−H伸縮振動が3020
〜3080cm-1に、メチレン基のC−H伸縮振動が
28502920cm-1に、エチニル基のC−H伸縮振動及
びC≡C伸縮振動がそれぞれ3300cm-1,2150cm-1
に、ビニル基のC=C伸縮振動が1640cm-1に、ベ
ンゼン環の骨格振動及びC−H面外変角振動がそ
れぞれ1490cm-1,840cm-1I観測された。 1H−NMRスペクトルを第3図に示した。こ
のスペクトルからわかるように、ベンゼン環のプ
ロトンが7.44ppmに、ビニル基の=CH−プロト
ン及び=CH2のプロトンがそれぞれ5.0ppm,
5.2ppmに、分子末端のエチニル基のプロトンが
3.1ppmに、−C≡C−に隣接するメチレン基のプ
ロトンが2.4ppmに、ビニル基に隣接するメチレ
ン基のプロトンが2.0ppmに、その他のメチレン
基のプロトンが0.8〜1.8ppmに、それぞれ4:
1:2:1:2:2:26のシグナル積分強度比で
観測された。当該化合物をオゾン酸化してビニル
基をカルボキシル基に変換することにより、両親
媒性のジエチニルベンゼン誘導体のカルボン酸を
合成することができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 3 実施例1において、ω−ヘプタデセニルアルコ
ールの代わりにω−ウンデシレニルアルコールを
用いて同様の反応を行い、まず1−(12−トリデ
セン−1−イニル)−4−トリメチルシリルエチ
ニル)−ベンゼン 46m molを得た。この化合物を実施例2におい
て1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−(ト
リメチルシリルエチニル)−ベンゼンの代わりに
用いて、1−エチニル−4−(12−トリデセン−
1−イニル)−ベンゼン 34m molを得た。IRスペクトルから、ベンゼン
環及びビニル基のC−H伸縮振動が3020〜3080cm
−1に、メチレン基のC−H伸縮振動が28502920cm
−1に、エチニル基のC−H伸縮振動及びC≡C伸
縮振動がそれぞれ3300cm-1,2150cm-1に、ビニル
基のC≡C伸縮振動が1640cm-1に、ベンゼン環の
骨格振動及びC−H面外変角振動がそれぞれ1490
cm-1,840cm-1に観測された。1H−NMRスペクト
ルから、ベンゼン環のプロトンが7.44ppmに、ビ
ニル基の=CH−のプロトン及び=CH2のプロト
ンがそれぞれ5.9ppm,5.2ppmに、分子末端のエ
チニル基のプロトンが3.1ppmに、−C≡C−に隣
接するメチレン基のプロトンが2.4ppmに、ビニ
ル基に隣接するメチレン基のプロトンが2.0ppm
に、その他のメチレン基のプロトンが0.8〜
1.8ppmに、それぞれ4:1:2:1:2:2:
14のシグナル積分強度比で観測された。当該化合
物をオゾン酸化してビニル基をカルボキシル基に
変換することにより、両親媒性のジエチニルベン
ゼン誘導体のカルボン酸を合成することができ
た。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いてLB法によりSiO2被覆シリコ
ンウエハ−上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクを覆い、100w
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 4 実施例1において、トリメチルシリルクロリド
の代わりにクロロトリエチルシランを用いて同様
の反応を行い、ビス−(トリエチルシリルエチニ
ル)−ベンゼンを得た。この化合物を実施例1に
おいて、ビス−(トリメチルシリルエチニル)−ベ
ンゼンの代わりに用いて同様の反応を行い、1−
(18−シナデセン−1−イニル)−4−(トリエチ
ルシリルエチニル)−ベンゼンの白色結晶38m
molを得た。 KBr錠剤法によるIRスペクトルからベンゼン
環及び分子末端のビニル基のC−H伸縮振動が
3020〜3080cm-1に、メチレン基のcC−H伸縮振
動が28502920cm-1に、メチル基のC−H伸縮振動
が2960cm-1に、−C≡C−のC≡C伸縮振動が
1640cm-1に、ビニル基のC=C伸縮振動が1640cm
−1にベンゼン環の骨格振動が1490cm-1に、ベンゼ
ン環のC−H面外変角振動が840cm-1に観測され
た。また、Si−CH2CH3のメチレン基由来の1408
cm-1,1234cm-1,Si−C伸縮振動由来の860cm-1
の吸収が観測された。また1H−NMRスペクト
ルから、ベンゼン環のプロトンが7.44ppmに、ビ
ニル基の=CH−のプロトンが5.9ppmに、ビニル
基の=CH2のプロトンが5.2ppmに、−C≡C−基
に隣接するメチレン基のプロトンが2.4ppmに、
ビニル基に隣接するメチレン基のプロトンが
2.0ppmに、その他のメチレン基のプロトンが0.8
〜1.8ppmに、トリエチルシリル基のメチル基及
びメチレン基のプロトンがそれぞれ0.9ppm,
0.6ppmに、それぞれ4:1:2:2:2:26:
9:6シグナル積分強度比で観測された。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型パターンを形成することができ
た。 実施例 5 実施例1において、トリメチルシリルクロリド
の代わりにクロロトリヘプチルシランを用いて同
様の反応を行い、ビス−(トリヘプチルシリルエ
チニル)−ベンゼンを得た。この化合物を実施例
1において、ビス−(トリメチルシリルエチニル)
−ベンゼンの代わりに用いて同様の反応を行い、
1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−(トリ
ヘプチルシクルエチニル)−ベンゼンの白色結晶
24m molを得た。 当該化合物をオゾン酸化してビニル基をカルボ
キシル基に変換することにより、両親媒性のジエ
チニルベンゼン誘導体のカルボン酸を合成するこ
とができる。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に39層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。 実施例 6 まず、ω−トリコセノイツクアシド CH2=CH−(CH2)20−COOHをリチウムアルミ
ニウムハイドライドで還元して、ω−トリコセニ
ルアルコールCH2=CH−(CH2)21−OHを得た。
このω−トリコセニルアルコールを、実施例1に
おいてω−ヘプタデセニルアルコールの代わりに
用いて同様の反応を行い、まず1−(24−ペンタ
コセン−1−イニル)−4−トリメチルシリルエ
チニル)−ベンゼン 40m molを得た。この化合物を実施例2におい
て、1−(18−ノナデセン−1−イニル)−4−
(トリメチルシリルエチニル)−ベンゼンの代わり
に用いて同様の反応を行い、1−エチニル−4−
(24−ペンタコセン−1−イニル)−ベンゼン 15m mol得た。当該化合物をオゾン酸化してビ
ニル基をカルボキシル基に変換することにより、
両親媒性のジエチニルベンゼン誘導体のカルボン
酸を合成することができた。 こうして得られたジエチニルベンゼン誘導体の
カルボン酸を用いて、LB法によりSiO2被覆シリ
コンウエハー上に59層の累積膜を作製した。この
LB膜をフオトレジスト用のマスクで覆い、100W
低圧水銀灯で1分間露光した後、エタノールで1
分間現像した結果、未露光部分のみエタノールに
溶解し、ネガ型のパターンを形成することができ
た。
第1図はKBr錠剤法により測定した1−(18−
ノナデセン−1−イニル)−4−(トリトメチルシ
リルエチニル)−ベンゼンのIRスペクトル、第2
図は重クロロホルム中での1−(18−ノナデセン
−1−イニル)−4−(トリメチルシリルエチニ
ル)−ベンゼンの1H−NMRスペクトル、第3図
は重クロロホルム中での1−エチニル−4−(18
−ノナデセン−1−イニル)−ベンゼンの1H−
NMRスペクトルである。
ノナデセン−1−イニル)−4−(トリトメチルシ
リルエチニル)−ベンゼンのIRスペクトル、第2
図は重クロロホルム中での1−(18−ノナデセン
−1−イニル)−4−(トリメチルシリルエチニ
ル)−ベンゼンの1H−NMRスペクトル、第3図
は重クロロホルム中での1−エチニル−4−(18
−ノナデセン−1−イニル)−ベンゼンの1H−
NMRスペクトルである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一般式 〔式中のRは水素又は−SiX1X2X3で、X1,
X2,X3はそれぞれ独立に水素又は炭素数が1〜
7のアルキル基(ただし、X1,X2,X3がすべて
水素の場合は除く)で、かつnは9以上21以下の
整数である〕で表されるジエチニルベンゼン誘導
体
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1134087A JPS63179836A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | ジエチニルベンゼン誘導体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1134087A JPS63179836A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | ジエチニルベンゼン誘導体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63179836A JPS63179836A (ja) | 1988-07-23 |
| JPH0433772B2 true JPH0433772B2 (ja) | 1992-06-04 |
Family
ID=11775301
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1134087A Granted JPS63179836A (ja) | 1987-01-22 | 1987-01-22 | ジエチニルベンゼン誘導体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63179836A (ja) |
-
1987
- 1987-01-22 JP JP1134087A patent/JPS63179836A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63179836A (ja) | 1988-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4642860B2 (ja) | フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体 | |
| EP1444550B1 (en) | Polycarbocyclic derivatives for modification of resist, optical and etch resistance properties | |
| JP2005053832A (ja) | フラーレン誘導体およびフラーレン複合化レジスト | |
| WO2021054337A1 (ja) | 組成物、レジスト下層膜、レジスト下層膜の形成方法、パターニングされた基板の製造方法及び化合物 | |
| JPH01100179A (ja) | 有機金属含有化合物 | |
| JPH0433772B2 (ja) | ||
| KR102894992B1 (ko) | 주석-사이클로 실록산 화합물 및 이를 포함하는 포토레지스트 조성물 | |
| JPH0244826B2 (ja) | ||
| KR100712473B1 (ko) | 규소(Si)를 포함하는 다기능 반사방지막 | |
| CN104144908A (zh) | 螺芴衍生物分子玻璃及其制备方法和光刻中的应用 | |
| JP2705432B2 (ja) | メタクリル基含有ビス(4’−フタル酸無水物)シロキサン誘導体及びその製造方法 | |
| KR102686010B1 (ko) | 신규한 유기스태닐 실리케이트 화합물, 이들의 제조 방법 및 이들을 포함하는 포토레지스트 조성물 | |
| JPH0412884B2 (ja) | ||
| JP5292771B2 (ja) | フラーレン誘導体並びにその溶液及び膜 | |
| JP4371402B2 (ja) | ハロゲン化アリール置換環状テトラシロキサンの製法 | |
| SU1073248A1 (ru) | Карбазол- и антраценсодержащие полисилоксаны в качестве основы электрофотографических слоев и способ их получени | |
| JP2682417B2 (ja) | 珪素含有スルホニウム塩化合物 | |
| JP3997387B2 (ja) | 脂環構造を有する新規テトラヒドロフラン化合物 | |
| JP4058597B2 (ja) | 新規なインデン誘導体 | |
| JPH07117751B2 (ja) | 感光剤 | |
| JP2543122B2 (ja) | 感光性重合体とその製造方法及びパタ―ン形成方法 | |
| WO2007029442A1 (ja) | アダマンタン誘導体及びその製造方法 | |
| JPH09110882A (ja) | ベンゾシラシクロブテン類及びジベンゾシラシクロブテン類の製造方法 | |
| JPS6313446B2 (ja) | ||
| JP2023166174A (ja) | かご構造を有するシルセスキオキサン及びレジスト組成物 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |