JPH0433886A - 情報記録媒体 - Google Patents

情報記録媒体

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JPH0433886A
JPH0433886A JP2139778A JP13977890A JPH0433886A JP H0433886 A JPH0433886 A JP H0433886A JP 2139778 A JP2139778 A JP 2139778A JP 13977890 A JP13977890 A JP 13977890A JP H0433886 A JPH0433886 A JP H0433886A
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recording layer
laser beam
phase
amorphous
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JP2139778A
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Inventor
Katsumi Suzuki
克己 鈴木
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、レーザビーム等の光ビームがその照射条件を
変えて交互に照射されることにより結晶相と非晶質相が
所定の幅て交互に可逆的に形成される記録層を有し、こ
の記録層に形成された異なる相をそれぞれ透過する光信
号の強度の違いから記録層に記録された情報を読み取る
ことができる情報記録媒体に関する。
(従来の技術) 従来から、情報を高密度に記憶でき且つ随時情報の消去
書き込みか可能な光デイスク材料として光の透過率が固
体の相に依存する相変化型のものが知られている。
この相変化型の材料はレーザビームをその照射条件、例
えは照射エネルギー、照射強度、あるいは照射時間を変
え照射すると、照射された部分が相異なる相の間で可逆
的に変化するものである。
上記の相変化型の材料としては、例えばテルル(Te>
、ゲルマニウム(Ge)、これらの化合物であるT c
 G e 、インジウム(In)とセレン(Se)の化
合物であるT n S c 、アンチモン(Sb)とセ
レンの化合物である5bSe、あるいはアンチモンとテ
ルルの化合物である5bTe等の半導体、半導体化合物
、あるいは金属間化合物が知られている。
上記材料は、レーザビームの照射を受けると、その照射
条件に応して結晶相あるいは非晶質相の2つの状態のい
づれかを形成するもので、上記2つの状態は複素屈折率
N=口(1−ik)(ここで、nは屈折率、kは吸収指
数)が相違する。即ち、相に応じて屈折率nのみならず
吸収指数には異なる値を示すので、上記材料に入射する
光は異なる透過率を示す。
それで、上記特質を持つ材料を情報の消去、書き込み可
能な光メモリとして用いる着想は、5Rovshins
ky等によって提案されている(HetallurQi
cal Transac目ons 2.641(197
1) )。
この提案によれば、上記材料からなる記録層を挟み込ん
だディスクを回転させながら照射条件を変えたレーザビ
ームを上記ディスクに交互に照射し、結晶相及び非晶質
相が交互に配列してなる所定の相パターンを可逆的に形
成する。次いて照射エネルギーの小さい再生用レーザビ
ームが上記結晶相及び非晶質相に順次照射される。この
照射された再生用レーザビームは上記結晶相あるいは非
晶質相のいずれかを交互に透過@後方に適宜設けられた
反射層で反射され、次いて反射された再生用レーザビー
ムは再生信号として適宜の光電変換器で変換され、相に
応した透過率の違いかj)相状態を判別することにより
上記相パターンからなる情報を再生するものである。
さらに詳しくは、上記材料からなる記録層に情報を記録
する場合、記録層にその融点を超える温度に加熱可能な
高パワーで且つパルス幅の短いレザビームが照射され、
次いて照射部分が溶融急冷され、非晶質相からなる記録
マークが形成される。また、記録層に記録された情報を
消去する場合、記録層材料の結晶化温度を超える程度の
温度(融点よりも低い温度)に加熱可能なパワーて且つ
比較的パルス幅の長いレーザビームが照射され、次いで
照射部分が徐冷され、非晶質相は結晶相に変化する。即
ち、記録マークが消去される。
このような情報の記録、消去においては、照射部分を溶
融急冷し非晶質化するための円形スポットのレーザビー
ムと、照射部分を徐冷結晶化するための長楕円形スポッ
トのレーザビームとを互いに独立に用いる2ヒ一ム方式
が採用されている。
しかしながら、上記の2ビ一ム方式ではレーザビームを
照射するための光字系か複雑となる。特に、記録層が挟
み込まれたディスクの回転に合わせ、非晶質相と結晶相
が交互に並へられてなるディスク内のスパイラル状のト
ラックに長楕円形スポットのレーザビームを追従させる
ことは困離であり、複雑なサーボ機槽が必要となる。
そこで、情報の記録、消去とを1つのレーザビームで行
う1ビ一ム方式の研究が行われている。
この1ビ一ム方式においては、ディスク内のトラックに
追従させるレーザビーム源は単一であるので、記録層に
既に記録されている情報分消去し、次いで新しい情報を
書き込むオーバライドを容易に行うことができる。
即ち、単一のレーザビーム源から照射される1つのレー
ザビームを2段階のパワーレヘル、つまり消去用レーザ
ビームのパワーレベルPeあるいは記録用レーザビーム
のパワ〜レヘルPw(Pe< P w )にパワー変調
し、既に情報が記録されている記録層に」1記の2種の
レーザビームを所定の幅で交互に照射し、古い情報を消
去すると同時に新しい情報を重ね書きするものである。
このように1ビームのレーザてオーバライドを行う方式
は1ビ一ムオーベライト方式と称され、上述した2ビ一
ム方式の欠点である複雑なサーボ機構の必要性か無く、
レーザビームの位置設定が容易である。
しかしながら、1ビ一ムオーバライド方式を相変化型記
録層に適用する場合、他の困難性を伴うことになる。
即ち、非晶質相及び結晶相からなる相パターンを形成す
l\きディスクの回転速度は一定であるので、所定間隔
をおいて非晶質相あるいは結晶相を形成するべく記録層
に照射されたレーザビーム熱が放出される時間はディス
クが上記所定間隔を移動する時間になる。換言すれは、
レーザビーム熱の放出時間は形成される相に依存せず、
レーザビムが照射される記録層部分が非晶質相になるか
結晶相になるかは照射されるレーザビームのパワの大き
さのみて決まる。
従って、非晶質化と同程度の短い時間で結晶化を行わな
けれはならないので、情報の消去において徐冷に充分な
時間をかけて結晶化を行うことができない。
また、情報を記録する場合、非晶質相からなる記録マー
クが形成されるべき部分の端部を非晶質相に変化させる
のは困難である。その理由は、上記非晶質相形成直前に
結晶相を形成すべく照射された消去用レーザビームによ
って記録層に与えられた熱の一部が放熱されること無く
残っており、この余熱により上記記録マークが形成され
るべき部分の端部の急冷が損なわれるからである。
従って、非晶質相と結晶相を所定の幅で交互に形成する
ことができなくなり、誤った情報が読み取られる原因に
なる。
そこで近年、上述の1ビ一ムオーバライド方式を相変化
型記録層に適用することが可能な材料として、インジウ
ム(In)とアンチモン(Sb)からなる化合物In、
、Sb、。が知られている。
本願発明者の実験によれは上記化合物Tn、。Sb、。
の結晶化速度は450secに過ぎない。それで、上記
化合fq I n 5゜Sb、。は1ビ一ムオーバライ
ド方式における必要条件の1っである短時間に結晶化す
る特性(以下、高速結晶化特性と呼称する)を満足する
。しかも、上記化合物In5.Sb%、の組成に対しイ
ンジウムを過剰にした合金、即ちZ原子%のアンチモン
及び100−Z原子%のインジウムからなるIrl+o
。−zSbz(式中Zは30≦Zく50とする)でも速
い結晶化速度が維持されるので、In−5b系の合金製
造時において厳密に組成配分を決める必要性がなく、上
記合金の製造は容易であり実用に適する。
しかしながら、上記化合物Ir+、。sb、。あるいは
合金Inu。。−28b2は結晶化速度が速い反面非晶
質化が困難であり、1ビ一ムオーバライド方式における
他の必要条件である急冷することなく非晶質化する特性
(以下、非晶質化容易特性と呼称する)を得ることがで
きない。
(発明が解決しようとする課題) 上記の如く、1ビ一ムオーバライド方式で記録層にレー
ザビームを照射し非晶質相及び結晶相を形成する場合、
非晶質化と同程度の短い時間で結晶化を行わなければな
らない。また、非晶質相からなる記録マークの端部を非
晶質相に変化させるのは難しいという問題があった。
この問題を解決すべく、短時間に結晶化するIn+oo
 −2Sbz  (式中Zは30≦Z≦50である)を
記録層の材料とすることが考えられたが、依然として非
晶質化容易特性を満足させることができないという問題
があった。
そこで、本発明は上記従来技術の問題点を解消するもの
で、その目的とするところは、高速結晶化特性及び非晶
質化容易特性に代表されるオーバライド特性が良好な情
報記録媒体を提供することである。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 上記課題を解決するための本発明は、基板と、該基板上
に設けられ光ビームの照射を受けたときその照射ニオ・
ルキ−の条件に応じて結晶相と非晶質相との間で可逆的
に相変化する記録層から構成される情報記録媒体におい
て、前記記録層はくIn (1oo−Xl/1005 
bx/+ao ) 100−Y T e y  C式中
X、)′は35≦X≦45.25≦Y≦40とする)で
表される組成の合金からなることを特徴とする。
(作用) 本発明の情報記録媒体では、記録層はインジウム(In
)、アンチモン′(Sb)、及びテルル(Te)を上述
した組成,即ち( I n uao−x+7+。
o S b xy%oo ) IQ(1−Y T e 
Y  (式中X.Yは35≦X≦45、25≦Y≦40
とする)からなる合金であるのて、■丁],。。−zs
bz(式中Zは30≦Z≦50である)が有する速やか
に結晶化する特性を生かしつつ、テルルの容易に非晶質
化する特性を得ることができる。
従って、1ビ一ムオーバライド方式における必要条件で
ある高速結晶化特性及び非晶質化容易特性を有する記録
層を得ることかできるので、上記組成からなる記録層に
光ビームをそのエネルギ条件を変えて照射して結晶相と
非晶質相の配列からなる相パターンを形成し、この相パ
ターンを2進符号のデータとみなすことにより上記記録
層に情報を記録できる。
(実施例) 以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例に係わる情報記録媒体の断面
図である。
図示するように、本実施例の情報記録媒体は記録用及び
消去用レーザビーム並びに情報再生用レーザビームを透
過する基板1と、該基板1上に設けられ熱的に安定な保
護層2と、該保護層2上に設けられ情報を記録する記録
層3と、該記録層3上に設けられ保護層2と共に記録層
3を密封して保護する保護層4と、該保護層4上に積層
され情報再生用レーザビームを反射する反射層5と、該
反射層5上に設けられた樹脂層6から構成される。
ここで、基板1は、経時変化が少ない材料であるポリカ
ーボネイト製の直径5インチのディスク状基板である。
記録層3は、インジウム(In)及びアンチモン(sb
)並びにテルル(Tぐ)の合金、即ちインジウムが(1
00−X)・ (100−Y)/100原子%、アンチ
モンかX  (100−Y)、/100原子%、テルル
カバ′原子%である( I n c、oo−x+z+o
o S bx、z+oo > l06−Y T e Y
(式中X、)′は30≦X≦50.20≦)”≦50と
する)を300Aの厚みに形成したちのである。
上記合金からなる記録層3は所定のパワーレベルを有す
る記録用レーザビームの照射を受けると融点(500乃
至600°C)を越える温度に加熱され、次いて保護層
2.4にレーザビーム熱が放出され非晶質化し、非晶質
相7を形成するものである。また、記録層3は所定のパ
ワーレベルを有する消去用レーザビームの照射を受ける
と結晶化温度を越える程度の温度に加熱され、次いて保
護層2.4にレーザビーム熱か放出され結晶化し、結晶
相8を形成するものである。
保護層2.4は、100OA厚みの酸化アルミニウム(
A l 20.)の結晶からなる誘電体で熱的に安定(
融点は1300°C程度である。)であると共に、レー
ザビームに対し透明であり保護層2.4に挟まれた記録
層3を保護するものである。
即ち、保護層2.4は記録層3を熱的に安定した物質で
密封することにより、記録用あるいは消去用レーザビー
ムが記録層3に照射され、照射された部分が蒸発したと
き空洞部が形成されるのを防ぐ。また、保護層2.4は
上記し〜ザビームの照射で熱ぜられな記録層3が融点あ
るいは結晶化温度を越える程度に昇温すると共に、放熱
して非晶質相あるいは結晶相を形成する程度の熱伝導度
を有し、昇温した記録層3がら熱を適度に吸収する。
さらに、波長830nmの半導体レーザからなる記録再
生用レーザビームが記録層3に照射された後、記録層3
及び反射層5でそれぞれ反射されて基板1から出射され
たとき、保護層4はこの保護層4を透過する一方のレー
ザビーム、即ち反射層5で反射したレーザビームのみに
光学的伝播距離を与え、出射する上記2つのレーザビー
ムに干渉を生じせしめてエンハンスし、このレーザビー
ムの強度測定を容易ならしめる。
反射層5は本実施例では500Aの厚みを有する金(A
u)の薄膜からなる。
樹脂層6は10μmの厚みを有する紫外線硬化樹脂から
形成され、表面に傷などが発生するのを防止している。
次に、上記構成を有する情報記録媒体の製造方法につい
て説明する。
まず、ディスク状の基板1を酸化アルミニウム(A12
0.)なとのターゲットを有するスパッタリング装置の
真空チャンバ内に設置し、次いてチャンバ内を適宜の真
空装置を用いて高真空にする。
次に、チャンバ内にアルゴンガスを導入し、このアルゴ
ンガスて上記酸化アルミニウムのターゲットをラジオフ
リークエンシーパワー(以下、R8F、パワーと称する
。)を投入してスパッタリングし基板1上に保護層2を
形成する。
次に、チャンバ内をアルゴンガス雰囲気に維持した状態
で、化合物In、。。−zSbz(式中Zは30≦Z≦
50である)及び単体であるテルルの各ターゲットを同
時にアルゴンガスてスバ・ツタリングし記録層3を成膜
する。
ここで、上記操作でスパッタリングされる各タゲットの
スパッタリング量は予め調製されており、後述する所望
の組成からなる記録層3を得ることができる。
なお、上記各ターゲットを交互にスパッタリングしても
良い。
また、インジウム(In)及びアンチモン(Sb)並び
にテルル(Te)の各単体からなるタゲットに対し同時
にスパッタリングしても同しことである。
次に、保護層2と同様に保護層4を形成する。
次いで、金(Au)のターゲットにRF、パワを投入し
てスパッタリングし反射層5を積層する。
最後に、上記操作で得られたディスクをスパッタリング
装置から取り出し、次いてスピナーにセットし、紫外線
硬化樹脂をスピンコードした後紫外線を照射して硬化さ
せ、樹脂層6を形成する。
以上説明した情報記録媒体の製造方法を用い第2図に示
される本実施例における情報記録媒体の記録層材の組成
範囲9内でサンプルA群乃至サンプルE群からなる30
枚のディスクサンプルを作成した。
サンプルA群 ; (I no、tosbo、io> 100−Y Tev
¥=20.25.30.35.40.50サンプルB群
 ; (I n O,65S b o、 is) too−y
 T e v¥=20.25.30.35.40.50
サンプルC群 ; (I no、60s bo4o) too −v Te
Y¥=20.25 30 35 40 50サンプルD
群 (I no6,5bo4s) Iao −y Tey¥
=20.25.30.35.4050サンプルE群 (T no  5osbo  、a) Iao−v T
eY¥−20,25,30,35,40,50即ち、サ
ンプルA群ではIn、。。−28b2としてZ−30原
子%の合金を用いた。また同様に、サンプル8群ではZ
=35原子%、サンプルC群ではZ=40原子%、サン
プル0群ではZ−45原子%、サンプルE群ではz=5
0原子%の合金あるいは化合物を用いた。
次に、このようにして得られた情報記録媒体の初期化、
情報のオーバライド、及び情報の再生について説明する
記録層3はスパッタリングで成膜され基板1上に堆積す
るとき急冷されるので非晶質相になる。
それて、所定の幅からなる非晶質相の記録マークを形成
するため、記録層3を全て結晶相に相変化させなければ
ならない。これが情報記録媒体の初期化である。
本実施例では、前述した製造方法で作成されたテ゛イス
クサンプルを1800 r、p、gnで回転させ、記録
層面におけるパワーが14mWでかつ連続発光するレ−
づ光を記録層3のスパイラル状になった所定のトラック
に照射し、上記初期化を行った。
ここで、スパッタリングで基板1上に成膜された非晶質
相は熱的に非常に安定であるので、特にパワーが大きい
14mWの記録用レーザビームを用いた。また、記録層
3の結晶化を完全に行うため、同一トラ・ツクを3回レ
ーザ光で照射した。
初期化が終了した後、上記トラックに沿って非晶質相及
び結晶相か所定の幅で交互に配列されてなる相パターン
を形成し、この相パターンを読み取ることにより情報を
得ることができる。上記相パターンの形成が情報のオー
ツ〈ライトである。
本実施例では、第31T8Iに示すようにパワーレベル
が最も高いP w ” 14 m Wである記録用レー
ザビームと、この記録用レーザビームよりも低いパワー
レベルPI!=8mWである消去用レーザヒムとを用い
た。つまり、4MH2あるいは5M82周波数に相当す
る周期、即ち周波数の逆数からなる周期で切り替えた上
記2種のレーザビームを記録層3のトラックに照射し上
記オーバライドを行った。
即ち、ディスクサンプルは所定速度で回転しているので
、例えば記録用レーザビームの照射を受けた部分は非晶
質相になり記録マークが形成される。次いで、レーザビ
ームの上記切り替え周期経過後消去用レーザビームの照
射に切り替えられたときには、上記非晶質相部は移動し
、新たな被照射部が消去用レーザビームの照射を受は結
晶相となる。このようにして、非晶質相及び結晶相がレ
ザビームの切り替え周期に対応した所定の幅で交互に配
列されてなる相パターンが形成される。
なお、最初のオーバライド時は初期化が既になされ、記
録層3は結晶相化しているので消去用レザビームを用い
る必要はなく、記録用レーザビムのみを断続的に照射す
れば良い。
また、パワーレベルの切り替えは等間隔であるので、デ
ユーティ比は50%である。
オーバライドの終了後、記録層3を照射しても相変化を
生しせしめない程度に照射エネルギーの小さい再生用レ
ーザビームで記録層3を照射し、次いで非晶質相及び結
晶相をそれぞれ交互に透過する上記レーザビ一ムのエネ
ルギー強度の違いを測定し相パターンを読み取る。この
非晶質相及び結晶相が所定の幅で交互に配列してなる相
パタンは2進符号系列からなるデータとみなすことがで
き、このデータを記録層3に書き込まれた情報として得
る。これが情報の再生である。
本実施例では、再生用レーザビームとして0゜8 m 
Wのパワーレベルを有する半導体レーザビム(波長83
0nm)を用いた。即ち、ディスクサンプルをオーバラ
イド時の所定速度で回転させ、上記レーザビームを基板
1がら保護層2,4及び記録層3に入射し、記録層3及
び反射層5で反射したレーザビームを再び記録層3及び
保護層2.4を透過させ、基[1から出射した反射光を
光電変換素子で検出した。検出された反射光は再生信号
としてA/D変換され、スペクトロアナライザにて上記
サンプルA群乃至サンプルE群の各ディスクサンプルご
とに周波数分布が測定された。
即ち、非晶質相あるいは結晶相を透過した再生信号は、
上記各相が4MHzあるいは5MHz周波数でレーザビ
ームパワーを切り替えて形成されたものであるので、各
相のレーザに対する特有の透過率に基づきエネルギー強
度が変動し、その変動周期はレーザビームパワーの切り
替え周期に一致する。つまり、再生信号は4MHzある
いは5MHzの周波数になる。
次いで、各ディスクサンプルの記録層3に記録された情
報の再生特性の評価を行った。即ち、測定された周波数
分布から再生信号のC/N値及び消去度を算出した。
ここで、C/N値は様々な周波数からなる雑音の大きさ
に対する特定周波数(4MHzあるいは5MHz)から
なる再生信号の大きさの比であり、対数化したデンベル
(dB)単位で表現される。
丈な、消去度は以下のように定義される。即ち、初期化
後4MH2周波数の記録用レーザビームで第1回目の記
録を行い、第5図(A>に示すように得られた再生信号
10のC/N値が例えばAてあり、次いで5MHz周波
数の記録用及び消去用レーザビームを用い相)(ターン
を変えてオーバライドしたとき、第5図(B)に示すよ
うに前回の再生信号10が完全に消去されずに残った消
去残り信号11のC/N値が例えばBであった場合、再
生信号10の大きさに対する消去残り信隊11の大きさ
の比を対数化して得られるB−Aの値が消去度である。
なお、第5図(B)に上記オーバライドで新しく書き込
才れた情報に対応する再生信号12が消去残り信号11
と共に示されている。
第4図(A>乃至第4図(E)に情報の再生特性の評価
として再生信号12のC/N値C1及び消去度B−Aを
サンプル群ことに示す。
即ち、横軸に記録層3におけるテルルの含有量が原子%
で示される。また、左側の縦軸にC/N値が示され各デ
ータを実線で結んだ祈れ線に対応し、右側の縦軸に消去
度が示され各データを破線で結んだ折れ線に対応する。
図示されるように、サンプルA群を除く他のサンプル群
、即ちサンプル8群乃至サンプルE群においてテルル含
有量が25乃至40原子%の場合、C/N値は35dB
以上を示し、消去度は一20dB以下を示す。これは、
誤信号による雑音の影響を受けることなく明瞭な再生信
号が得られることを意味し、高速結晶化特性及び非晶質
化容易特性に代表される良好なオーバライド特性が得ら
れたと判断できる。
このようにオーバライド特性が良好である理由は、従来
の技術で説明したようにIn+oo−2sb(式中Zは
30≦Z≦50とする)の高速結晶化特性を生かしつつ
、テルルの非晶質化容易特性を生かすことができるから
である。
また、テルルの単体は結晶化速度が速く約15nsec
であるので、このテルルの特性も生かされるからである
次に、上記サンプルA群乃至サンプルE群の各ディスク
サンプルに対しオーバライドを多数回繰り返した後間ら
れる再生信号のC/N値及び消去度による特性評価の結
果を第2図に示す情報記録媒体の記録層材の組成範囲9
を抜き出し拡大して第6図に示す。
即ち、30枚のディスクサンプルが有する各組成に対応
する位置に○記号あるいはム記号を記した。ここで、○
記号は良好なオーバライド特性を示しC/N値が35d
B以上で、消去度が一20dB以下である。ム記号は○
記号で示される特性評価規準に達せずオーバライド特性
が不良であることを示す。
図示するように、サンプル8群乃至サンプル0群におい
てテルルの含有量が25乃至40原子%の場合良好なオ
ーバライド特性を示す○記号となっている。
即ち、オーバライドを多数回繰り返すことによりサンプ
ルE群の全てのディスクサンプルはC/N値ないし消去
度が劣化しオーバライド特性は不良となったが、サンプ
ル8群乃至サンプル0群におけるテルルの含有量が25
乃至40原子%の範囲では依然として良好なオーバライ
ド特性を得ることができる。
従って、アンチモンが35乃至45原子%占めるIn−
5b系の合金に対しテルルを添加し、添加して得られる
Tn−5b−Te系の合金に対しテルルが25乃至40
原子%占める合金(I n ++。o−x+z+oo 
Sbx/loo ) 100−Y TeY(式中X、Y
は35≦X≦45.25≦Y≦40とする)と同一の組
成からなる合金を用いて記録層3を形成すれば、オーバ
ライドを多数回繰り返しても高速結晶化特性及び非晶質
化容易特性に代表されるオバライト特性が維持され、誤
信号による雑音の影響を受けることなく明瞭な再生信号
が得られる情報記録媒体を得ることができる。
以上において、本実施例における情報記録媒体では保護
層2及び樹脂層6を設けたが必ずしも必要はない。
また、本実施例では情報記録媒体の特性評価のために、
4MHzあるいは5MHz周波数からなるレーザビーム
のパワーを切り替えることにより第3図に示されるレー
ザビームのパワーパターンを得、デユーティ比50%で
レーザビームを記録層に照射したが、レーザビームの周
波数及びパワパターンは上記に限られることなく自在に
変えることができ、デユーティ比も同様に変えても良い 本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、適宜
の設計的変更により、適宜の態様で実施し得るものであ
る。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、基板と、該基板上
に設けられ光ビームの照射を受けたときその照射エネル
ギーの条件に応して結晶相と非晶質相との間で可逆的に
相変化する記録層から機成される情報記録媒体において
、前記記録層は(In zoo−x+、z+ao S 
bx/+oo ) IoO−Y T e Y  (式中
X、Yは35≦X≦45.25≦¥≦40とする)で表
される組成の合金からなるので、高速結晶化特性及び非
晶質化容易特性に代表されるオーバライド特性が良好で
、かつオーバライドを多数回繰り返しても上記オーバラ
イド特性を維持てきる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる情報記録媒体の断面
図、 第2図は第1図に示した情報記録媒体の記録層の組成範
囲を示すIn−3b−Te組成図、第3図は消去用レー
ザビーム及び記録用レーザビームを交互に切り替えてな
るビームパワーのパタンに関する説明図。 第4図<A)乃至第4図(E)は作成したディスクサン
プルのC/N値及び消去度を示す特性図、第5図(A>
及び第5図(B)は消去度を説明するための再生信号表
示図、 第6図はオーバライドを繰り返しな場合における再生特
性の評価図である。 1・・・基板       2.4・保護層3・・・記
録層      5・・反射層6・・樹脂層     
 7・非晶質相8・・結晶相 代理ノ諮[±三好秀和 第2図 第3図 1・基板 3・・記録層 6・樹脂層 8・・・結晶相 2.4・・保護層 5・反射層 7・・非晶質相 第1図 号ン7°ルD群 号)プルE群 チル&(Te)含有!!(原子2) 第4図(E) ′!F:也郵毛 0\′z、垣 、y@郵毛 Q\Z壇毛 P廻亘 Q\2場も

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板と、該基板上に設けられ光ビームの照射を受けたと
    きその照射エネルギーの条件に応じて結晶相と非晶質相
    との間で可逆的に相変化する記録層から構成される情報
    記録媒体において、前記記録層は(In_(_1_0_
    0_−_X_)_/_1_0_0Sb_X_/_1_0
    _0)_1_0_0_−_YTe_Y(式中X、Yは3
    5≦X≦45、25≦Y≦40とする)で表される組成
    の合金からなることを特徴とする情報記録媒体。
JP2139778A 1990-05-31 1990-05-31 情報記録媒体 Pending JPH0433886A (ja)

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