JPH0435940B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0435940B2 JPH0435940B2 JP56102569A JP10256981A JPH0435940B2 JP H0435940 B2 JPH0435940 B2 JP H0435940B2 JP 56102569 A JP56102569 A JP 56102569A JP 10256981 A JP10256981 A JP 10256981A JP H0435940 B2 JPH0435940 B2 JP H0435940B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interface
- switch module
- test
- highway
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はデイジタル交換機、さらに詳しくいえ
ば、２重化されたスイツチ・モジユールと２重化
されない回線対応部のインタフエース共通部とを
有するデイジタル交換機に関する。
ば、２重化されたスイツチ・モジユールと２重化
されない回線対応部のインタフエース共通部とを
有するデイジタル交換機に関する。
デイイジタル交換機において、スイツチ・モジ
ユールの障害に対処するため、これを２重化し、
一方を現用、他方を予備とし、現用のスイツチ・
モジユールに障害が発生すると直ちに予備のスイ
ツチ・モジユールを現用に切替え、交換機の動作
に支障を生じないようにし、かつ交換機の信頼性
を高めることが行なわれている。
ユールの障害に対処するため、これを２重化し、
一方を現用、他方を予備とし、現用のスイツチ・
モジユールに障害が発生すると直ちに予備のスイ
ツチ・モジユールを現用に切替え、交換機の動作
に支障を生じないようにし、かつ交換機の信頼性
を高めることが行なわれている。
一方、デイジタル交換機において、対応するハ
イウエイの特定のタイム・スロツトを試験用に割
り当て、対をなすハイウエイの下り側に上記試験
用タイム・スロツトに試験用データを送出し、上
り側のハイウエイの試験用タイム・スロツトに折
返し、送出した試験用データと折返して受信され
たデータとを照合して通話路の試験を行なうこと
が行なわれている。
イウエイの特定のタイム・スロツトを試験用に割
り当て、対をなすハイウエイの下り側に上記試験
用タイム・スロツトに試験用データを送出し、上
り側のハイウエイの試験用タイム・スロツトに折
返し、送出した試験用データと折返して受信され
たデータとを照合して通話路の試験を行なうこと
が行なわれている。
上記のようにスイツチ・モジユールを２重化し
た交換機に、従来の考え方に従つて上記のような
折返し試験を行なう場合、現用系側の試験のみな
ので、予備系の正常性、あるいは障害切分け等で
問題がある。
た交換機に、従来の考え方に従つて上記のような
折返し試験を行なう場合、現用系側の試験のみな
ので、予備系の正常性、あるいは障害切分け等で
問題がある。
第１図は、２重化したスイツチ・モジユールと
２重化されない回線対応部のインタフエース共通
部を有するデイジタル交換機の構成を示す図であ
る。
２重化されない回線対応部のインタフエース共通
部を有するデイジタル交換機の構成を示す図であ
る。
図において、SHC0〜SHCi〜はそれぞれ回線対
応部のインタフエース共通部、SM0，SMiはそれ
ぞれスイツチ・モジユールであり、両者は同一の
構成を有し、２重化されており、一方が現用とし
て使用され、他方は予備として待機し、現用スイ
ツチ・モジユールが障害となれば、予備用が現用
に切替えられる。
応部のインタフエース共通部、SM0，SMiはそれ
ぞれスイツチ・モジユールであり、両者は同一の
構成を有し、２重化されており、一方が現用とし
て使用され、他方は予備として待機し、現用スイ
ツチ・モジユールが障害となれば、予備用が現用
に切替えられる。
回線対応部のインタフエース共通部SHC0〜
SHCi等はそれぞれスイツチ・モジユールSM0，
SM1とインタフエース・ハイウエイにより接続さ
れる。インタフエース共通部は同様に構成され同
様に動作するのでSHC0について説明する。
SHCi等はそれぞれスイツチ・モジユールSM0，
SM1とインタフエース・ハイウエイにより接続さ
れる。インタフエース共通部は同様に構成され同
様に動作するのでSHC0について説明する。
電話機あるいは回線から送られてくるデイジタ
ル化された信号は、回線対応部LINE0〜LINEoに
おいて多重化されてインタフエース共通部SHC0
に入り、さらにマルチプレクサMPXにおいて上
りハイウエイFW−HW0に多重化され、２つに分
流し、それぞれドライバＤを経てインタフエー
ス・ハイウエイである上りハイウエイFW−
HW00およびFW−HW10を経て、それぞれスイツ
チ・モジユールSM0およびSM1に達する。
ル化された信号は、回線対応部LINE0〜LINEoに
おいて多重化されてインタフエース共通部SHC0
に入り、さらにマルチプレクサMPXにおいて上
りハイウエイFW−HW0に多重化され、２つに分
流し、それぞれドライバＤを経てインタフエー
ス・ハイウエイである上りハイウエイFW−
HW00およびFW−HW10を経て、それぞれスイツ
チ・モジユールSM0およびSM1に達する。
スイツチ・モジユールSM0，SM1において、後
述するように、それぞれ交換が行なわれ、それぞ
れからインタフエース・ハイウエイである下りハ
イウエイBW−HW00およびBW−HW10を経て出
力され、この出力は、インタフエース共通部
SHC0において、それぞれレシーバＲで受信さ
れ、ルート・セレクタRSELに入る。
述するように、それぞれ交換が行なわれ、それぞ
れからインタフエース・ハイウエイである下りハ
イウエイBW−HW00およびBW−HW10を経て出
力され、この出力は、インタフエース共通部
SHC0において、それぞれレシーバＲで受信さ
れ、ルート・セレクタRSELに入る。
ルート・セレクタRSELは現用のスイツチ・モ
ジユールの信号受信配分装置SRDの出力により
制御されるルート・フリツプフロツプＲ−FFに
より制御される。すなわち、スイツチ・モジユー
ルSM0が現用ならば、ルート・フリツプフロツプ
Ｒ−FFは、現用スイツチ・モジユールSM0の信
号受信配分装置SRDの出力によりセツトされ、
“１”を出力し、これによりルート・セレクタ
RSELを制御して、現用スイツチ・モジユール
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00を選択して、これをインタフエース共通
部SHC0の下りハイウエイBW−HW0に接続す
る。この際、予備用のスイツチ・モジユールSM1
からの下りインタフエース・ハイウエイBW−
HW10のデータは捨てられる。
ジユールの信号受信配分装置SRDの出力により
制御されるルート・フリツプフロツプＲ−FFに
より制御される。すなわち、スイツチ・モジユー
ルSM0が現用ならば、ルート・フリツプフロツプ
Ｒ−FFは、現用スイツチ・モジユールSM0の信
号受信配分装置SRDの出力によりセツトされ、
“１”を出力し、これによりルート・セレクタ
RSELを制御して、現用スイツチ・モジユール
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00を選択して、これをインタフエース共通
部SHC0の下りハイウエイBW−HW0に接続す
る。この際、予備用のスイツチ・モジユールSM1
からの下りインタフエース・ハイウエイBW−
HW10のデータは捨てられる。
なお、この際、スイツチ・モジユールSM1が現
用、スイツチ・モジユールSM0が予備用に切替え
られると、現用となつたスイツチ・モジユール
SM1の信号受信配分装置SRDから上記ルート・
フリツプフロツプＲ−FFに信号が与えられ、こ
れをリセツトする。そうするとルート・フリツプ
フロツプＲ−FFの出力は“０”となり、この出
力“０”によりルート・セレクタRSELは入力を
切替え、現用となつたスイツチ・モジユールSM1
よりの下りのインタフエース・ハイウエイBW−
HW10を選択して、インタフエース共通部SHC0
の下りハイウエイBW−HW0に接続する。
用、スイツチ・モジユールSM0が予備用に切替え
られると、現用となつたスイツチ・モジユール
SM1の信号受信配分装置SRDから上記ルート・
フリツプフロツプＲ−FFに信号が与えられ、こ
れをリセツトする。そうするとルート・フリツプ
フロツプＲ−FFの出力は“０”となり、この出
力“０”によりルート・セレクタRSELは入力を
切替え、現用となつたスイツチ・モジユールSM1
よりの下りのインタフエース・ハイウエイBW−
HW10を選択して、インタフエース共通部SHC0
の下りハイウエイBW−HW0に接続する。
インタフエース共通部SHC0においては、その
下りハイウエイBW−HW0の信号をデマルチプ
レクサDMPXにより対応する回線対応部
（LINE0〜LINEo）に至るハイウエイに分離し、
各回線対応部（LINE0〜LINEo）において、さら
に着信電話機あるいは回線に分離する。
下りハイウエイBW−HW0の信号をデマルチプ
レクサDMPXにより対応する回線対応部
（LINE0〜LINEo）に至るハイウエイに分離し、
各回線対応部（LINE0〜LINEo）において、さら
に着信電話機あるいは回線に分離する。
スイツチ・モジユールSM0およびSM1はそれぞ
れ同一の構成を有するので、スイツチ・モジユー
ルSM0について説明する。
れ同一の構成を有するので、スイツチ・モジユー
ルSM0について説明する。
スイツチ・モジユールSM0はマルチプレクサ
MPX0〜MPXo、デマルチプレクサDMPX0〜
DMPXo、フオワード時間スイツチTSWF0〜
TSWFo、バツクワード時間スイツチTSWB0〜
TSWBo、空間スイツチSSW、信号受信配分装置
SRD等を具備する。２個のスイツチ・モジユー
ルSM0およびSM1は共通のプロセツサMPRによ
つて制御される。
MPX0〜MPXo、デマルチプレクサDMPX0〜
DMPXo、フオワード時間スイツチTSWF0〜
TSWFo、バツクワード時間スイツチTSWB0〜
TSWBo、空間スイツチSSW、信号受信配分装置
SRD等を具備する。２個のスイツチ・モジユー
ルSM0およびSM1は共通のプロセツサMPRによ
つて制御される。
なお、公知のように、時間スイツチTSWF0〜
TSWFo、TSWB0〜TSWBoにおける通話路保持
メモリおよび空間スイツチSSWのゲツト制御メ
モリは信号受信分配装置SRDよりの信号により
制御され、必要とする通話路（通話チヤネル）が
設定される。
TSWFo、TSWB0〜TSWBoにおける通話路保持
メモリおよび空間スイツチSSWのゲツト制御メ
モリは信号受信分配装置SRDよりの信号により
制御され、必要とする通話路（通話チヤネル）が
設定される。
インタフエース共通部SHC0〜SHCiよりの上り
インタフエース・ハイウエイFW−HW00〜FW−
HW0iはマルチプレクサMPX0で多重化されフオ
ワード時間スイツチTSWF0に入力する。上記以
外のインタフエース共通部においても、SHC0〜
SHCiと同様に、相当数例えばｉ＋１個ずつ纏め
られ、その上りインタフエース・ハイウエイがマ
ルチプレクサMPX1〜MPXoに入力する。マルチ
プレクサMPX0において多重化された信号はフオ
ワード時間スイツチTSWF0において必要なタイ
ム・スロツト変換が行なわれジヤツクタ・ハイウ
エイを経て空間スイツチSSWに入力し、ここで
ハイウエイ間の変換が行なわれ、バツクワード時
間スイツチTSWB0〜TSWBoに入力し、さらに
タイム・スロツトの変換が行なわれて、デマルチ
プレクサDMPX0〜DMPXoに送られて、ここで
所要のインタフエース共通部SHC0〜SHCiに至る
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00〜
BW−HW0iに分離される。
インタフエース・ハイウエイFW−HW00〜FW−
HW0iはマルチプレクサMPX0で多重化されフオ
ワード時間スイツチTSWF0に入力する。上記以
外のインタフエース共通部においても、SHC0〜
SHCiと同様に、相当数例えばｉ＋１個ずつ纏め
られ、その上りインタフエース・ハイウエイがマ
ルチプレクサMPX1〜MPXoに入力する。マルチ
プレクサMPX0において多重化された信号はフオ
ワード時間スイツチTSWF0において必要なタイ
ム・スロツト変換が行なわれジヤツクタ・ハイウ
エイを経て空間スイツチSSWに入力し、ここで
ハイウエイ間の変換が行なわれ、バツクワード時
間スイツチTSWB0〜TSWBoに入力し、さらに
タイム・スロツトの変換が行なわれて、デマルチ
プレクサDMPX0〜DMPXoに送られて、ここで
所要のインタフエース共通部SHC0〜SHCiに至る
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00〜
BW−HW0iに分離される。
他のマルチプレクサ（MPX1〜MPXo）への入
力も上記と同様に処理される。
力も上記と同様に処理される。
既に述べたように、インタフエース・ハイウエ
イ（上記のFW−HW00〜等およびBW−HW00〜
等）の特定のタイム・スロツトを試験用に割当
て、上記試験用タイム・スロツトに挿入した試験
用データを折返し、送出したデータと折返し受信
したデータとを比較照合して試験を行なうが、こ
の場合、第１図において、従来の考え方によりイ
ンタフエース共通部SHC0における上りおよび下
りハイウエイFW−HW0およびBW−HW0を選
び、試験用タイム・スロツトにのせて下りハイウ
エイに送出された試験用データと上りハイウエイ
に折返された試験用データとの一致を検出して試
験用データが伝送された径路の正常性を試験する
場合、現用系からの試験しかできないため、予備
系バツクワード時間スイツチ、特にインタフエー
ス部の試験が行なえないので、障害切分け、また
系の再構成等に問題があつた。
イ（上記のFW−HW00〜等およびBW−HW00〜
等）の特定のタイム・スロツトを試験用に割当
て、上記試験用タイム・スロツトに挿入した試験
用データを折返し、送出したデータと折返し受信
したデータとを比較照合して試験を行なうが、こ
の場合、第１図において、従来の考え方によりイ
ンタフエース共通部SHC0における上りおよび下
りハイウエイFW−HW0およびBW−HW0を選
び、試験用タイム・スロツトにのせて下りハイウ
エイに送出された試験用データと上りハイウエイ
に折返された試験用データとの一致を検出して試
験用データが伝送された径路の正常性を試験する
場合、現用系からの試験しかできないため、予備
系バツクワード時間スイツチ、特にインタフエー
ス部の試験が行なえないので、障害切分け、また
系の再構成等に問題があつた。
さらに、この点について詳しく説明する。第１
図に示すように、インタフエース共通部SHC0に
おいて、試験用データは下りハイウエイBW−
HW0より上りハイウエイFW−HW0へ折返しル
ートRRを経て折返すものとする。スイツチ・モ
ジユールSM0およびSM1において、それぞれ、空
間スイツチSSWよりバツクワード時間スイツチ
TSWB0に到るジヤンクタ・ハイウエイにインサ
ータＩを、またフオワード時間スイツチTSWF0
より空間スイツチSSWに到るジヤンクタ・ハイ
ウエイにドロツパDRを設置し、信号受信配分装
置SRDから送られる試験用データをインサータ
Ｉよりバツクワード時間スイツチTSWB0へ送出
し、フオワード時間スイツチTSWF0からの上記
折返された試験用データを同じくドロツパをDR
を経て信号受信配分装置SRDに取出して、両者
を比較照合し得るよう構成する。
図に示すように、インタフエース共通部SHC0に
おいて、試験用データは下りハイウエイBW−
HW0より上りハイウエイFW−HW0へ折返しル
ートRRを経て折返すものとする。スイツチ・モ
ジユールSM0およびSM1において、それぞれ、空
間スイツチSSWよりバツクワード時間スイツチ
TSWB0に到るジヤンクタ・ハイウエイにインサ
ータＩを、またフオワード時間スイツチTSWF0
より空間スイツチSSWに到るジヤンクタ・ハイ
ウエイにドロツパDRを設置し、信号受信配分装
置SRDから送られる試験用データをインサータ
Ｉよりバツクワード時間スイツチTSWB0へ送出
し、フオワード時間スイツチTSWF0からの上記
折返された試験用データを同じくドロツパをDR
を経て信号受信配分装置SRDに取出して、両者
を比較照合し得るよう構成する。
折返し試験に当つては、現用スイツチ・モジユ
ール、例えばSM0において、特定のパターンＡの
試験用データＡ（ハイウエイの１つのタイム・ス
ロツトには普通８ビツトをのせるので、この試験
用データも８ビツト構成である。）を信号受信分
配装置SRDからインサータＩに送出して、ある
タイム・スロツトに挿入し、バツクワード時間ス
イツチTSWB0に入力させる。該時間スイツチ
TSWB0においてタイム・スロツトの入れ替えを
行なつて、上記挿入された試験用データをインタ
フエース・ハイウエイBW−HW00の試験用に割
当てられた特定のタイム・スロツトTS0にのせる
ようにする。
ール、例えばSM0において、特定のパターンＡの
試験用データＡ（ハイウエイの１つのタイム・ス
ロツトには普通８ビツトをのせるので、この試験
用データも８ビツト構成である。）を信号受信分
配装置SRDからインサータＩに送出して、ある
タイム・スロツトに挿入し、バツクワード時間ス
イツチTSWB0に入力させる。該時間スイツチ
TSWB0においてタイム・スロツトの入れ替えを
行なつて、上記挿入された試験用データをインタ
フエース・ハイウエイBW−HW00の試験用に割
当てられた特定のタイム・スロツトTS0にのせる
ようにする。
この試験用データは、ルート・セレクタRSEL
を経て、下りハイウエイBW−HW0の試験用タ
イム・スロツトTS0に現れる。この試験用データ
は試験用タイム・スロツトTS0において有効とな
る折返しルートRRを経て上りハイウエイFW−
HW0に折返され、タイム・スロツトTS0にのせ
られ、２分岐し、その一方は、現用スイツチ・モ
ジユールSM0に到る上りインタフエース・ハイウ
エイFW−HW00より、マルチプレクサMPX0、
フオワード時間スイツチTSWF0、ジヤンクシヨ
ン・ハイウエイを経てドロツパDRに達し、ここ
こで抽出されて信号受信分配装置SRDに受信さ
れる。それからさらにプロセツサMPRに送られ、
ここで試験用データとして先に送出された特定の
パターンＡと比較照合される。
を経て、下りハイウエイBW−HW0の試験用タ
イム・スロツトTS0に現れる。この試験用データ
は試験用タイム・スロツトTS0において有効とな
る折返しルートRRを経て上りハイウエイFW−
HW0に折返され、タイム・スロツトTS0にのせ
られ、２分岐し、その一方は、現用スイツチ・モ
ジユールSM0に到る上りインタフエース・ハイウ
エイFW−HW00より、マルチプレクサMPX0、
フオワード時間スイツチTSWF0、ジヤンクシヨ
ン・ハイウエイを経てドロツパDRに達し、ここ
こで抽出されて信号受信分配装置SRDに受信さ
れる。それからさらにプロセツサMPRに送られ、
ここで試験用データとして先に送出された特定の
パターンＡと比較照合される。
なお、他方は予備のスイツチ・モジユールSM1
に到る上りインタフエース・ハイウエイFW−
HW10より予備のスイツチ・モジユールSM1に入
力し、予備のフオワード時間スイツチTSWF0を
通過し、現用スイツチ・モジユールSM0における
と全く同様な比較照合が行なわれる。
に到る上りインタフエース・ハイウエイFW−
HW10より予備のスイツチ・モジユールSM1に入
力し、予備のフオワード時間スイツチTSWF0を
通過し、現用スイツチ・モジユールSM0における
と全く同様な比較照合が行なわれる。
上記の従来の折返し試験方式では、試験用デー
タの伝送される現用系（SM0）のバツクワード時
間スイツチTSWB0とフオワード時間スイツチ
TSWF0ならびにインタフエース共通部SHC0を
含む径路の正常性、および現用系（SM0）のバツ
クワード時間スイツチTSWB0と予備系（SM1）
のフオワード時間スイツチTSWF0ならびにイン
タフエース共通部SHC0を含む系路の正常性は試
験されるが、試験用データの伝送されない予備系
（SM1）のバツクワード時間スイツチTSWB0の
試験はできない。なお異常を検出しても異常個所
がどのインタフエース・ハイウエイにあるのか、
インタフエース共通部（SHC0〜SHCi等）にある
のか、何れのスイツチ・モジユール（SM0，
SM1）にあるのか、何れの時間スイツチ
（TSWF0…TSWB0…等）にあるのか、およその
見当はつくとしても高い硬度で判定及び確認する
ことは困難であつた。
タの伝送される現用系（SM0）のバツクワード時
間スイツチTSWB0とフオワード時間スイツチ
TSWF0ならびにインタフエース共通部SHC0を
含む径路の正常性、および現用系（SM0）のバツ
クワード時間スイツチTSWB0と予備系（SM1）
のフオワード時間スイツチTSWF0ならびにイン
タフエース共通部SHC0を含む系路の正常性は試
験されるが、試験用データの伝送されない予備系
（SM1）のバツクワード時間スイツチTSWB0の
試験はできない。なお異常を検出しても異常個所
がどのインタフエース・ハイウエイにあるのか、
インタフエース共通部（SHC0〜SHCi等）にある
のか、何れのスイツチ・モジユール（SM0，
SM1）にあるのか、何れの時間スイツチ
（TSWF0…TSWB0…等）にあるのか、およその
見当はつくとしても高い硬度で判定及び確認する
ことは困難であつた。
従来の方式においては、現用スイツチ・モジユ
ールよりの下りのインタフエース・ハイウエイ
（BW−HW00〜等）上に送られる試験用データの
みを、下りハイウエイBW−HW0〜等において
現用および予備スイツチ・モジユールの両方に折
返した。これは、交換機の稼働中に、試験のため
とはいえ、動作が安定しているとは必ずしも言え
ない予備機を現用に切替えることを避けたこと、
および予備スイツチ・モジユールよりの下りのイ
ンタフエース・ハイウエイ（BW−HW10〜等）
上に送られるデータは総べてルート・セレクタ
RSELにおいて阻止されるため、下りハイウエイ
BW−HW0〜等から折り返すことが困難であつ
たことによるものである。
ールよりの下りのインタフエース・ハイウエイ
（BW−HW00〜等）上に送られる試験用データの
みを、下りハイウエイBW−HW0〜等において
現用および予備スイツチ・モジユールの両方に折
返した。これは、交換機の稼働中に、試験のため
とはいえ、動作が安定しているとは必ずしも言え
ない予備機を現用に切替えることを避けたこと、
および予備スイツチ・モジユールよりの下りのイ
ンタフエース・ハイウエイ（BW−HW10〜等）
上に送られるデータは総べてルート・セレクタ
RSELにおいて阻止されるため、下りハイウエイ
BW−HW0〜等から折り返すことが困難であつ
たことによるものである。
本発明は、従来の方式の上記の欠点を除き、か
つ、折返し試験のために予備機を現用に切替える
ことなく、しかも上記の困難に打克つて、上記し
た現用および予備として切替可能な２重化された
スイツチ・モジユールを持つデイジタル交換機に
おいて、現用および予備スイツチ・モジユールの
両方から送られる試験データをともに折り返し可
能に構成し、多くの障害情報を得ることを可能と
し、これ等から従来に比してさらに高い確度を以
つて障害個所を判定し、保守の簡単化、容易化を
図ることを目的とする。
つ、折返し試験のために予備機を現用に切替える
ことなく、しかも上記の困難に打克つて、上記し
た現用および予備として切替可能な２重化された
スイツチ・モジユールを持つデイジタル交換機に
おいて、現用および予備スイツチ・モジユールの
両方から送られる試験データをともに折り返し可
能に構成し、多くの障害情報を得ることを可能と
し、これ等から従来に比してさらに高い確度を以
つて障害個所を判定し、保守の簡単化、容易化を
図ることを目的とする。
本発明によれば、上記の目的は、２重化された
スイツチ・モジユールと、２重化されない回線対
応部のインタフエース共通部と、上記スイツチ・
モジユールのそれぞれと上記インタフエース共通
部とを接続するインタフエース・ハイウエイとを
有し、上記インタフエース・ハイウエイの特定タ
イム・スロツトを折返し試験用タイム・スロツト
として割当て、スイツチ・モジユールから上記タ
イム・スロツトに送られた試験用データを上記イ
ンタフエース共通部において折返して試験を行な
う構成のデイジタル交換機において、 平常は現用スイツチ・モジユールから上記試験
用タイム・スロツトに試験データを送出させて該
試験データと折返されたデータとを照合し、照合
の結果異常を検出した時は、現用スイツチ・モジ
ユールから上記試験用タイム・スロツトに予備ス
イツチ・モジユールからの上記試験用タイム・ス
ロツトを選択させる指示データを送出させると共
に予備スイツチ・モジユールから試験データを送
出させて該試験データと折返されたデータとを照
合する手段を設け、 またインタフエース共通部には、現用スイツ
チ・モジユールからのインタフエース・ハイウエ
イの試験用タイム・スロツトの内容が上記指示デ
ータであるか否かを判別する判別手段と、 上記判別手段により上記指示データでないと判
別した場合には現用スイツチ・モジユールからの
インタフエース・ハイウエイの試験用タイム・ス
ロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユー
ルへのインタフエース・ハイウエイに折返し、 上記判別手段により上記指示データであると判
別した場合には、予備スイツチ・モジユールから
のインタフエース・ハイウエイの試験用タイム・
スロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユ
ールへのインタフエース・ハイウエイに折返すよ
う切替える折返し手段とを設けた ことを特徴とするデイジタル交換機によつて達成
される。
スイツチ・モジユールと、２重化されない回線対
応部のインタフエース共通部と、上記スイツチ・
モジユールのそれぞれと上記インタフエース共通
部とを接続するインタフエース・ハイウエイとを
有し、上記インタフエース・ハイウエイの特定タ
イム・スロツトを折返し試験用タイム・スロツト
として割当て、スイツチ・モジユールから上記タ
イム・スロツトに送られた試験用データを上記イ
ンタフエース共通部において折返して試験を行な
う構成のデイジタル交換機において、 平常は現用スイツチ・モジユールから上記試験
用タイム・スロツトに試験データを送出させて該
試験データと折返されたデータとを照合し、照合
の結果異常を検出した時は、現用スイツチ・モジ
ユールから上記試験用タイム・スロツトに予備ス
イツチ・モジユールからの上記試験用タイム・ス
ロツトを選択させる指示データを送出させると共
に予備スイツチ・モジユールから試験データを送
出させて該試験データと折返されたデータとを照
合する手段を設け、 またインタフエース共通部には、現用スイツ
チ・モジユールからのインタフエース・ハイウエ
イの試験用タイム・スロツトの内容が上記指示デ
ータであるか否かを判別する判別手段と、 上記判別手段により上記指示データでないと判
別した場合には現用スイツチ・モジユールからの
インタフエース・ハイウエイの試験用タイム・ス
ロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユー
ルへのインタフエース・ハイウエイに折返し、 上記判別手段により上記指示データであると判
別した場合には、予備スイツチ・モジユールから
のインタフエース・ハイウエイの試験用タイム・
スロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユ
ールへのインタフエース・ハイウエイに折返すよ
う切替える折返し手段とを設けた ことを特徴とするデイジタル交換機によつて達成
される。
次に本発明を図面について説明する。
本発明は第１図に示す回線対応部のインタフエ
ース共通部SHC0〜SHCi〜が２重化されておらず
スイツチ・モジユールSM0，SM1が２重化構成の
デイジタル交換機に実施するものであつて、第２
図に本発明を実施することが可能な回線対応部の
インタフエース共通部の構成の一例を示す。
ース共通部SHC0〜SHCi〜が２重化されておらず
スイツチ・モジユールSM0，SM1が２重化構成の
デイジタル交換機に実施するものであつて、第２
図に本発明を実施することが可能な回線対応部の
インタフエース共通部の構成の一例を示す。
第２図において、MPX，DMPX，RSEL，Ｒ
−FF，Ｄ，Ｒは第１図と同一のものを示す。な
お、SELはセレクタ、Ｇはゲート、PMはパター
ン・マツチヤ、REG1，REG2はレジスタ、RSル
ート・セレクタである。入力端TS0は試験用タイ
ム・スロツトTS0中入力が与えられ、これによ
り、セレクタSELが制御され、レジスタREG1お
よびREG2が活性化される。
−FF，Ｄ，Ｒは第１図と同一のものを示す。な
お、SELはセレクタ、Ｇはゲート、PMはパター
ン・マツチヤ、REG1，REG2はレジスタ、RSル
ート・セレクタである。入力端TS0は試験用タイ
ム・スロツトTS0中入力が与えられ、これによ
り、セレクタSELが制御され、レジスタREG1お
よびREG2が活性化される。
いま、スイツチ・モジユールSM0が現用とすれ
ば、前記のようにルート・フリツプフロツプＲ−
FFはセツトされ、ルート・セレクタRSELは現
用スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフ
エース・ハイウエイBW−HW00を選択し、下り
ハイウエイBW−HW0に接続された状態にある。
試験用タイム・スロツトTS0以外の時点において
は入力端TS0に入力が与えられていないので、セ
レクタSELはマルチプレクサMPXよりの上りハ
イウエイFW−HW0を選択して、２個のドライバ
Ｄに接続する。
ば、前記のようにルート・フリツプフロツプＲ−
FFはセツトされ、ルート・セレクタRSELは現
用スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフ
エース・ハイウエイBW−HW00を選択し、下り
ハイウエイBW−HW0に接続された状態にある。
試験用タイム・スロツトTS0以外の時点において
は入力端TS0に入力が与えられていないので、セ
レクタSELはマルチプレクサMPXよりの上りハ
イウエイFW−HW0を選択して、２個のドライバ
Ｄに接続する。
従つて、回線対応部（LINE0〜LINEo）から送
られてくる信号は、前記と同様に、マルチプレク
サMPXで上りハイウエイFW−HW0に多重化さ
れ、セレクタSELを経て現用および予備スイツ
チ・モジユールSM0，SM1へ到る上りインタフエ
ース・ハイウエイFW−HW00およびFW−HW10
に分岐して各スイツチ・モジユールSM0，SM1に
入力する。
られてくる信号は、前記と同様に、マルチプレク
サMPXで上りハイウエイFW−HW0に多重化さ
れ、セレクタSELを経て現用および予備スイツ
チ・モジユールSM0，SM1へ到る上りインタフエ
ース・ハイウエイFW−HW00およびFW−HW10
に分岐して各スイツチ・モジユールSM0，SM1に
入力する。
現用および予備スイツチ・モジユールSM0，
SM1において交換された出力は、下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00およびBW−HW10
に出力するが、ルート・セレクタRSELは、現用
スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00よりの信号のみを
通過させて、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
よりの信号を阻止する。
SM1において交換された出力は、下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00およびBW−HW10
に出力するが、ルート・セレクタRSELは、現用
スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00よりの信号のみを
通過させて、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
よりの信号を阻止する。
上記のようにして、ルート・セレクタRSELの
出側にある下りハイウエイBW−HW0に送られ
た信号は、デマルチプレクサDMWPXで分離さ
れ、所定の回線対応部（LINE0〜LINEo）に送ら
れる。
出側にある下りハイウエイBW−HW0に送られ
た信号は、デマルチプレクサDMWPXで分離さ
れ、所定の回線対応部（LINE0〜LINEo）に送ら
れる。
ここに現用スイツチ・モジユールからの指示に
より予備スイツチ・モジユールから送られてくる
試験用データを現用および予備スイツチ・モジユ
ールの両方に折返すよう切替可能な折返し手段と
しては、ルート・セレクタRS、レジスタREG1，
REG2、パターン・マツチヤPMおよびゲートＧ
から構成される。
より予備スイツチ・モジユールから送られてくる
試験用データを現用および予備スイツチ・モジユ
ールの両方に折返すよう切替可能な折返し手段と
しては、ルート・セレクタRS、レジスタREG1，
REG2、パターン・マツチヤPMおよびゲートＧ
から構成される。
前述の現用スイツチ・モジユールSM0から送ら
れた試験用データ（パターンＡ）の折返しは、次
のようにして行われる。
れた試験用データ（パターンＡ）の折返しは、次
のようにして行われる。
前記したように、現用スイツチ・モジユール
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00の試験用タイム・スロツトTS0にのつて
送られた試験用データはルート・セレクタRSEL
を通り、下りハイウエイBW−HW0に送られる。
試験用タイム・スロツトTS0の時刻において、入
力端TS0に信号が与えられると、レジスタREG1
が活性化され、下りハイウエイBW−HW0上の、
当該時刻（タイム・スロツトTS0）の試験用デー
タ（パターンＡ）がレジスタREG1に格納され
る。このときは、レジスタREG1の内容は、パタ
ーン・マツチヤPMの比較対象とは異るので、パ
ターン・マツチヤPMは出力を送出せず、ゲート
ＧはレジスタREG1の内容を通過させて出力する
よう制御される。次のタイム・スロツトTS0にお
いて、セレクタSELが活性化されると、レジスタ
REG1の内容、すなわち、試験用データ（パター
ンＡ）がゲートＧおよびセレクタSELを経て、現
用および予備スイツチ・モジユールSM0，SM1へ
の上りインタフエース・ハイウエイFW−HW00
およびFW−HW10にそれぞれ送出される。この
ようにして、既に、第１図について説明した試験
用データの折返しが行なわれる。
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00の試験用タイム・スロツトTS0にのつて
送られた試験用データはルート・セレクタRSEL
を通り、下りハイウエイBW−HW0に送られる。
試験用タイム・スロツトTS0の時刻において、入
力端TS0に信号が与えられると、レジスタREG1
が活性化され、下りハイウエイBW−HW0上の、
当該時刻（タイム・スロツトTS0）の試験用デー
タ（パターンＡ）がレジスタREG1に格納され
る。このときは、レジスタREG1の内容は、パタ
ーン・マツチヤPMの比較対象とは異るので、パ
ターン・マツチヤPMは出力を送出せず、ゲート
ＧはレジスタREG1の内容を通過させて出力する
よう制御される。次のタイム・スロツトTS0にお
いて、セレクタSELが活性化されると、レジスタ
REG1の内容、すなわち、試験用データ（パター
ンＡ）がゲートＧおよびセレクタSELを経て、現
用および予備スイツチ・モジユールSM0，SM1へ
の上りインタフエース・ハイウエイFW−HW00
およびFW−HW10にそれぞれ送出される。この
ようにして、既に、第１図について説明した試験
用データの折返しが行なわれる。
上記折返し試験において異常が検出されれば、
本発明により、上記とは代つて予備スイツチ・モ
ジユールSM1より、その下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10に試験用データを送り、こ
の試験用データを現用および予備スイツチ・モジ
ユールSM0およびSM1に折返すことにより試験を
行なう。
本発明により、上記とは代つて予備スイツチ・モ
ジユールSM1より、その下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10に試験用データを送り、こ
の試験用データを現用および予備スイツチ・モジ
ユールSM0およびSM1に折返すことにより試験を
行なう。
第１図について説明したように、上記の従来の
折返し試験において、プロセツサMPRが異常を
検出すれば、プロセツサMPRは、予備スイツ
チ・モジユールSM1に対して、試験用タイムスロ
ツトTS0に試験用データの送出を指示し、また現
用スイツチ・モジユールSM0に同じく試験用タイ
ム・スロツトTS0に特定のパターンの指示用デー
タ（パターンＢ）の送出を指示する。これによ
り、第１図において説明したのと同様に上記試験
用および指示用データが下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10およびBW−HW00にそれぞ
れ送出される。
折返し試験において、プロセツサMPRが異常を
検出すれば、プロセツサMPRは、予備スイツ
チ・モジユールSM1に対して、試験用タイムスロ
ツトTS0に試験用データの送出を指示し、また現
用スイツチ・モジユールSM0に同じく試験用タイ
ム・スロツトTS0に特定のパターンの指示用デー
タ（パターンＢ）の送出を指示する。これによ
り、第１図において説明したのと同様に上記試験
用および指示用データが下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10およびBW−HW00にそれぞ
れ送出される。
さて、第２図において、ルート・セレクタRS
は、ルート・フリツプフロツプＲ−FFの出力に
より制御され、ルート・セレクタRSELとは逆
に、現用スイツチ・モジユールよりの下りインタ
フエース・ハイウエイ上の信号を阻止し、予備ス
イツチ・モジユールよりの下りインタフエース・
ハイウエイ上の信号を通過させる。すなわち、こ
の場合、予備スイツチ・モジユールSM1よりの下
りインタフエース・ハイウエイBW−HW10の信
号を通過させ、レジスタREG2に送る。
は、ルート・フリツプフロツプＲ−FFの出力に
より制御され、ルート・セレクタRSELとは逆
に、現用スイツチ・モジユールよりの下りインタ
フエース・ハイウエイ上の信号を阻止し、予備ス
イツチ・モジユールよりの下りインタフエース・
ハイウエイ上の信号を通過させる。すなわち、こ
の場合、予備スイツチ・モジユールSM1よりの下
りインタフエース・ハイウエイBW−HW10の信
号を通過させ、レジスタREG2に送る。
試験用タイムスロツトTS0の時刻において、入
力端TS0に入力が与えられるとレジスタREG2が
活性化され、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
の試験用タイム・スロツトTS0にのせられてる試
験用データ（パターンＡ）がレジスタREG2にラ
ツチされる。
力端TS0に入力が与えられるとレジスタREG2が
活性化され、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
の試験用タイム・スロツトTS0にのせられてる試
験用データ（パターンＡ）がレジスタREG2にラ
ツチされる。
この時、現用スイツチ・モジユールSM0からの
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00の
試験用タイム・スロツトTS0にのせられて送出さ
れた特定のパターンの指示用データ（パターン
Ｂ）は前記と同様にレジスタREG1にラツチされ
る。この内容（パターンＢのデータ）はパター
ン・マツチヤPMに送られ、パターン・マツチヤ
PMにおいて比較照合され、パターンＢであるこ
とが識別されるとゲートＧに信号が送られ、これ
によりゲートＧはレジスタREG1の内容の信号の
通過を阻止し、レジスタREG2の内容の信号の通
過させるよう切替えられる。次の試験用タイム・
スロツトTS0においてセレクタSELが切替えられ
ると、レジスタREG2の内容、すなわち予備スイ
ツチ・モジユールSM1よりの下りインタフエー
ス・ハイウエイBW−HW10から送られた試験用
データが、セレクタSELを経て現用および予備ス
イツチ・モジユールSM0，SM1への上りインタフ
エース・ハイウエイFW−HW00およびFW−
HW10に送られる。指示用データは試験用データ
とは異なるパターンとする。なお、指示用データ
は特定パターンのものに限らない。例えば特定の
ビツト位置のビツトを割当てておいてもよい。
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00の
試験用タイム・スロツトTS0にのせられて送出さ
れた特定のパターンの指示用データ（パターン
Ｂ）は前記と同様にレジスタREG1にラツチされ
る。この内容（パターンＢのデータ）はパター
ン・マツチヤPMに送られ、パターン・マツチヤ
PMにおいて比較照合され、パターンＢであるこ
とが識別されるとゲートＧに信号が送られ、これ
によりゲートＧはレジスタREG1の内容の信号の
通過を阻止し、レジスタREG2の内容の信号の通
過させるよう切替えられる。次の試験用タイム・
スロツトTS0においてセレクタSELが切替えられ
ると、レジスタREG2の内容、すなわち予備スイ
ツチ・モジユールSM1よりの下りインタフエー
ス・ハイウエイBW−HW10から送られた試験用
データが、セレクタSELを経て現用および予備ス
イツチ・モジユールSM0，SM1への上りインタフ
エース・ハイウエイFW−HW00およびFW−
HW10に送られる。指示用データは試験用データ
とは異なるパターンとする。なお、指示用データ
は特定パターンのものに限らない。例えば特定の
ビツト位置のビツトを割当てておいてもよい。
この折返された試験用データは、上記と同様
に、現用および予備スイツチ・モジユールSM0，
SM1のそれぞれにおいて、ドロツパDRで抽出さ
れ信号受信配分装置SRDに達し、さらにプロセ
ツサMPRに送られ、送出した試験用データと受
信したデータとの照合が行なわれ、上記試験用デ
ータの伝送された径路の正常性が検出される。
に、現用および予備スイツチ・モジユールSM0，
SM1のそれぞれにおいて、ドロツパDRで抽出さ
れ信号受信配分装置SRDに達し、さらにプロセ
ツサMPRに送られ、送出した試験用データと受
信したデータとの照合が行なわれ、上記試験用デ
ータの伝送された径路の正常性が検出される。
上記の本発明のデイジタル交換機における折返
し試験方法を要約すれば、まず、現用スイツチ・
モジユールSM0よりの下りのインタフエース・ハ
イウエイ（BW−HW00）を経て送られた試験用
データをインタフエース共通部SHC0において、
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ（FW−HW00）および（FW−HW10）
の両方に折返して、それぞれの径路の正常性を検
出し、少くとも一方に異常を検出すれば、さら
に、予備スイツチ・モジユールを現用に切替える
ことなく、予備スイツチ・モジユールSM1よりの
下りインタフエース・ハイウエイ（BW−HW10）
を経て試験用データを送り、これを上記と同様に
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ（FW−HW00）および（FW−HW10）
の両方に折返し、それぞれの径路の正常性を検出
する。
し試験方法を要約すれば、まず、現用スイツチ・
モジユールSM0よりの下りのインタフエース・ハ
イウエイ（BW−HW00）を経て送られた試験用
データをインタフエース共通部SHC0において、
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ（FW−HW00）および（FW−HW10）
の両方に折返して、それぞれの径路の正常性を検
出し、少くとも一方に異常を検出すれば、さら
に、予備スイツチ・モジユールを現用に切替える
ことなく、予備スイツチ・モジユールSM1よりの
下りインタフエース・ハイウエイ（BW−HW10）
を経て試験用データを送り、これを上記と同様に
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ（FW−HW00）および（FW−HW10）
の両方に折返し、それぞれの径路の正常性を検出
する。
上記の、試験用データを現用系から送出し現用
系および予備系で受信させて行なう折返し試験に
おいて、 (a) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、現用系のバツクワード時
間スイツチTSWB0、フオワード時間スイツチ
TSWF0およびインタフエース共通部SHC0は
正常、（予備系はフオワード時間スイツチ
TSWF0のみ正常）と判断。
系および予備系で受信させて行なう折返し試験に
おいて、 (a) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、現用系のバツクワード時
間スイツチTSWB0、フオワード時間スイツチ
TSWF0およびインタフエース共通部SHC0は
正常、（予備系はフオワード時間スイツチ
TSWF0のみ正常）と判断。
(b) 試験用データが現用系あるいは予備系の一方
のみで正常に受信されれば、正常に受信されな
かつた系のフオワード時間スイツチが不良と判
断。
のみで正常に受信されれば、正常に受信されな
かつた系のフオワード時間スイツチが不良と判
断。
(c) 試験用データが両系とも正常に受信されなけ
れば、現用系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
れば、現用系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
さらに上記の試験用データを予備系から送出
して現用系および予備系で受信させて行なう折
返し試験において、 (d) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、予備系のバツクワード時
間スイツチTSWB0およびインタフエース共通
部SHC0は正常と判断。
して現用系および予備系で受信させて行なう折
返し試験において、 (d) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、予備系のバツクワード時
間スイツチTSWB0およびインタフエース共通
部SHC0は正常と判断。
(e) 上記(b)と同様。
(f) 試験用データが両系ともに正常に受信されな
ければ予備系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
ければ予備系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
さらに、プロセツサMPRは上記の試験の結
果得られた情報をプログラムにより処理し、イ
ンタフエース共通部、スイツチ・モジユール、
フオワード時間スイツチ、バツクワード時間ス
イツチ等何れの個所に障害があるかを判別す
る。
果得られた情報をプログラムにより処理し、イ
ンタフエース共通部、スイツチ・モジユール、
フオワード時間スイツチ、バツクワード時間ス
イツチ等何れの個所に障害があるかを判別す
る。
本発明は、上記実施例に限定されるものではな
く、その技術的範囲で種々の変形が可能である。
２重化されていない回線対応部のインタフエース
共通部と２重化されたスイツチ・モジユールを有
するデイジタル交換機において、従来は現用スイ
ツチ・モジユールから試験データを送出し、上記
のインタフエース共通部で現用および予備スイツ
チ・モジユールの両方に折返し、折返し試験を行
なつていたが、上記インタフエース共通部と２重
化されたスイツチ・モジユールとの間のインタフ
エース部の正常、異常に関する情報は既述のよう
に少く、上記試験結果から障害個所の推定は行う
ことができたが高い確度を以て判別することは不
可能であつた。本発明によれば、従来の上記折返
し試験の他に、さらに予備のスイツチ・モジユー
ルから試験用データを送出して上記と同様の折返
し試験を行なうようにしたので、上記インタフエ
ース部その他における正常、異常に関する情報が
多く得られ、これにより従来方式に比して高い確
度で障害個所を別し得られ、この種の交換機の保
守を簡単化、容易化することができる効果があ
る。さらに稼働中の交換機において、動作が安定
しているとは必ずしも言えない予備スイツチ・モ
ジユールを現用に切替えずに試験が可能であるの
で、この試験に際し、交換機の動作に悪影響を及
ぼさない利点がある。
く、その技術的範囲で種々の変形が可能である。
２重化されていない回線対応部のインタフエース
共通部と２重化されたスイツチ・モジユールを有
するデイジタル交換機において、従来は現用スイ
ツチ・モジユールから試験データを送出し、上記
のインタフエース共通部で現用および予備スイツ
チ・モジユールの両方に折返し、折返し試験を行
なつていたが、上記インタフエース共通部と２重
化されたスイツチ・モジユールとの間のインタフ
エース部の正常、異常に関する情報は既述のよう
に少く、上記試験結果から障害個所の推定は行う
ことができたが高い確度を以て判別することは不
可能であつた。本発明によれば、従来の上記折返
し試験の他に、さらに予備のスイツチ・モジユー
ルから試験用データを送出して上記と同様の折返
し試験を行なうようにしたので、上記インタフエ
ース部その他における正常、異常に関する情報が
多く得られ、これにより従来方式に比して高い確
度で障害個所を別し得られ、この種の交換機の保
守を簡単化、容易化することができる効果があ
る。さらに稼働中の交換機において、動作が安定
しているとは必ずしも言えない予備スイツチ・モ
ジユールを現用に切替えずに試験が可能であるの
で、この試験に際し、交換機の動作に悪影響を及
ぼさない利点がある。
第１図は、本発明の実施が可能なスイツチ・モ
ジユールを２重化した従来のデイジタル交換機の
一例の接続構成図、第２図は本発明を実施するた
めの回線対応部のインタフエース共通部の一例の
接続図である。 SHC0〜SHCi……回線対応部のインタフエース
共通部、SM0，SM1……２重化されたスイツチ・
モジユール、MPR……プロセツサ、MPX，
MPX0〜MPXo……マルチプレクサ、DMPX，
DMPX0〜DMPXo……デマルチプレクサ、Ｄ…
…ドライバ、Ｒ……レシーバ、RSEL……ルー
ト・セレクタ、Ｒ−FF……ルート・フリツプフ
ロツプ、TSWF0〜TSWFo……フオワード時間ス
イツチ、TSWB0〜TSWBo……バツクワード時
間スイツチ、SSW……空間スイツチ、SRD……
信号受信分配装置、DR……ドロツパ、Ｉ……イ
ンサータ、REG1，REG2……レジスタ、RS……
ルート・セレクタ、SEL……セレクタ、Ｇ……ゲ
ート、PM……パターン・マツチヤ。
ジユールを２重化した従来のデイジタル交換機の
一例の接続構成図、第２図は本発明を実施するた
めの回線対応部のインタフエース共通部の一例の
接続図である。 SHC0〜SHCi……回線対応部のインタフエース
共通部、SM0，SM1……２重化されたスイツチ・
モジユール、MPR……プロセツサ、MPX，
MPX0〜MPXo……マルチプレクサ、DMPX，
DMPX0〜DMPXo……デマルチプレクサ、Ｄ…
…ドライバ、Ｒ……レシーバ、RSEL……ルー
ト・セレクタ、Ｒ−FF……ルート・フリツプフ
ロツプ、TSWF0〜TSWFo……フオワード時間ス
イツチ、TSWB0〜TSWBo……バツクワード時
間スイツチ、SSW……空間スイツチ、SRD……
信号受信分配装置、DR……ドロツパ、Ｉ……イ
ンサータ、REG1，REG2……レジスタ、RS……
ルート・セレクタ、SEL……セレクタ、Ｇ……ゲ
ート、PM……パターン・マツチヤ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ２重化されたスイツチ・モジユールと、２重
化されない回線対応部のインタフエース共通部
と、上記スイツチ・モジユールのそれぞれと上記
インタフエース共通部とを接続するインタフエー
ス・ハイウエイとを有し、上記インタフエース・
ハイウエイの特定タイム・スロツトを折返し試験
用タイム・スロツトとして割当て、スイツチ・モ
ジユールから上記タイム・スロツトに送られた試
験用データを上記インタフエース共通部において
折返して試験を行なう構成のデイジタル交換機に
おいて、 平常は現用スイツチ・モジユールから上記試験
用タイム・スロツトに試験データを送出させて該
試験データと折返されたデータとを照合し、照合
の結果異常を検出した時は、現用スイツチ・モジ
ユールから上記試験用タイム・スロツトに予備ス
イツチ・モジユールからの上記試験用タイム・ス
ロツトを選択させる指示データを送出させると共
に予備スイツチ・モジユールから試験データを送
出させて該試験データと折返されたデータとを照
合する手段を設け、 またインタフエース共通部には、現用スイツ
チ・モジユールからのインタフエース・ハイウエ
イの試験用タイム・スロツトの内容が上記指示デ
ータであるか否かを判別する判別手段と、 上記判別手段により上記指示データでないと判
別した場合には現用スイツチ・モジユールからの
インタフエース・ハイウエイの試験用タイム・ス
ロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユー
ルへのインタフエース・ハイウエイに折返し、 上記判別手段により上記指示データであると判
別した場合には、予備スイツチ・モジユールから
のインタフエース・ハイウエイの試験用タイム・
スロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユ
ールへのインタフエース・ハイウエイに折返すよ
う切替える折返し手段とを設けた ことを特徴とするデイジタル交換機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56102569A JPS583452A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 折返し試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56102569A JPS583452A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 折返し試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS583452A JPS583452A (ja) | 1983-01-10 |
| JPH0435940B2 true JPH0435940B2 (ja) | 1992-06-12 |
Family
ID=14330848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56102569A Granted JPS583452A (ja) | 1981-06-30 | 1981-06-30 | 折返し試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS583452A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61251397A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Fujitsu Ltd | 交換機の試験方法 |
| JPH0479594A (ja) * | 1990-07-20 | 1992-03-12 | Fujitsu Ltd | 通信チャネル試験装置及び通信チャネル試験システム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS552113A (en) * | 1978-06-19 | 1980-01-09 | Japan Styrene Paper Corp | Method and metal member for securing heattinsulating board |
-
1981
- 1981-06-30 JP JP56102569A patent/JPS583452A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS583452A (ja) | 1983-01-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4228535A (en) | Dual TDM switching apparatus | |
| US4601028A (en) | Method of and apparatus for checking datapath failure in a communication muldem | |
| US5265089A (en) | Loopback test circuit | |
| JPH09507982A (ja) | 信号保護及び監視システム | |
| US4485467A (en) | Digital information switch matrix with on-line/off-line diagnostic features | |
| JPS6148266A (ja) | 時分割多重回線折返試験方法 | |
| US5146474A (en) | Circuit arrangement for the routine testing of an interface between line terminator groups and the switching matrix network of a PCM telecommunication switching system | |
| JPH0435940B2 (ja) | ||
| JP2847388B2 (ja) | データ伝送路の保護装置 | |
| JP3270924B2 (ja) | リング型伝送装置のバイパス制御方式 | |
| SE461432B (sv) | Tidsmultiplexkopplingssystem med utrustning foer testning av ledig tidsluckevaeg | |
| JP3156465B2 (ja) | 自動診断機能付多重化装置 | |
| JPH07321810A (ja) | 経路切替方式 | |
| JP2635733B2 (ja) | 保守試験方法 | |
| JPH0398320A (ja) | 冗長系を構成する現用、待機パッケージの切替制御方式 | |
| JPH11220515A (ja) | バス二重化装置及びその試験方法 | |
| JPH1168691A (ja) | 交換機−ｓｄｈ回線カード間回線試験方式 | |
| JPH1188234A (ja) | 光加入者線伝送装置および予備系光伝送路監視方法 | |
| JPH03104366A (ja) | 予備系通話路折り返し試験方式 | |
| JPS6242421B2 (ja) | ||
| JPH0759002B2 (ja) | 時分割通話路スイツチ方式 | |
| KR19980069185A (ko) | 교환시스템의 트렁크 루프백 시험방법 | |
| JPS61230447A (ja) | ル−プネツトワ−クの試験方式 | |
| JPS58205354A (ja) | 交換装置試験方式 | |
| JPS58171161A (ja) | デイジタル・タ−ミナル・モジユ−ル予備試験方式 |