JPH04365873A - ポリイミド樹脂のエッチング法 - Google Patents

ポリイミド樹脂のエッチング法

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JPH04365873A
JPH04365873A JP29983590A JP29983590A JPH04365873A JP H04365873 A JPH04365873 A JP H04365873A JP 29983590 A JP29983590 A JP 29983590A JP 29983590 A JP29983590 A JP 29983590A JP H04365873 A JPH04365873 A JP H04365873A
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JP
Japan
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etching
polyimide resin
plating
film
aminosulfonic acid
Prior art date
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Pending
Application number
JP29983590A
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English (en)
Inventor
Hidenori Kato
英規 加藤
Shuichi Ogasawara
修一 小笠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/032Organic insulating material consisting of one material
    • H05K1/0346Organic insulating material consisting of one material containing N
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/381Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the substrate

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  • Chemically Coating (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野]  本発明は、ポリイミド樹脂に無電解めっき被膜を形成
する際のめっき前処理法におけるポリイミド樹脂のエッ
チング法の改善に関する。
[従来の技術]  ポリイミド樹脂は優れた耐熱性を有し、また機械的、
電気的、化学的特性においても他のプラスチック材料と
同等以上であるため、電子機器等の素材として良く用い
られている。例えば、フレキシブルプリント回路(FP
C)やテープ自動ボンディング(TAB)実装等はこの
ポリイミド樹脂フィルムやその上に銅被膜を形成された
銅ポリイミド基板にフォトエッチングを施して製造され
るが、この銅ポリイミド基板は従来、ポリイミド樹脂フ
ィルムと銅箔とを接着剤を用いて貼り合わせるラミネー
ト法で得るのが一般的である。
しかしラミネート法では接着剤の耐熱性や耐薬品性が充
分でなく、ボンディングの際に発生する熱衝撃によって
銅箔が樹脂部から剥離したり、銅被膜のエッチング処理
の際にイオン吸着が起こり、形成された回路間隔が狭い
場合に絶縁不良を起こす恐れがあった。
[発明が解決しようとする課題]  この欠点を解消すべくポリイミド樹脂フィルム表面を
エッチングし親水化した後、パラジウム(Pd)、銀(
Ag)等でプラスチック材料表面を触媒活性化し無電解
めっきを施したものをポリイミド基板とすることが検討
されている。
この方法ではポリイミド樹脂フィルム表面はヒドラジン
等の還元剤、エチレンジアミン等のアミン化合物、アル
カリ金属水酸化物の水溶液等のアルカリ、エチルアルコ
ール等の水溶性アルコールのいずれか単独であるいは2
種類以上の混合液を用いてエッチングされる。しかしこ
れらの薬品は総じて人体に対する毒性が高く、作業環境
を著しく悪化させる。このため、作業性を犠牲にして良
好な作業環境の維持を図っていてるのが実情である。
本発明の目的は、ポリイミド樹脂表面にエッチング処理
を施すに際し、作業性や作業環境を悪化させることなく
、且つ人体に悪影響を及ぼさない方法の提供にある。
[課題を解決するための手段]  上記目的を達成するため本発明の方法は、その温度が
40〜90℃、濃度5重量%以上のアミノスルフォン酸
水溶液を用いてポリイミド樹脂表面をエッチング処理す
る点に特徴がある。
[作用]  本発明によりポリイミド樹脂表面に均一な無電解めっ
き被膜を形成することが可能となるのは、アミノスルフ
ォン酸がポリイミドと親和性の高いアミノ基を有するた
めポリイミド樹脂表面に厚さ0.01〜0.1μm程度
のエッチング処理層が均一に形成され、引き続く触媒活
性化処理によって該処理層中にPdやAgのような触媒
金属が浸入、吸着して核となり、これにめっき金属が結
合することによるものと考えられる。
本発明において用いるエッチング液中のアミノスルフォ
ン酸の濃度が5重量%未満となるとエッチング能力が著
しく低下し、エッチング時間の増加、液の早期劣化を招
く。そのため、該濃度は5重量%以上とすることが必要
である。
本発明において、エッチング処理温度を40〜90℃と
するのは、該温度が40℃未満の場合はアミノスルフォ
ン酸の水に対する溶解度が充分でなく長時間のエッチン
グ処理を施しても充分なエッチングの効果が得られず、
また該温度が90℃を超えると作業性が低下し実用に向
かないからである。
本発明の方法において、エッチングの時間は、エッチン
グの過不足が無いようにアミノスルフォン酸の濃度およ
びエッチング温度に応じて適宜設定すればよい。アミノ
スルフォン酸が高濃度の場合あるいは高温でエッチング
する場合には、時間は短くてよいが、過剰エッチングに
よるめっき被膜のムラが起こり易く、低濃度あるいは低
温度でエッチングする場合にはエッチング不足によるめ
っき被膜の密着強度低下や長時間処理による作業性の低
下の原因となるので予備実験で好適条件を求めておくと
よい。例えばアミノスルフォン酸20重量%の水溶液を
用い、温度50℃でエッチングする場合、エッチング時
間は5〜10分程度が適当である。
ポリイミド樹脂フィルムにこのような前処理を施した後
、常法に従って活性化処理及び無電解めっきを施せば、
密着強度の良好なめっき被膜が得られる。例えば活性化
処理として通常無電解めっきで行われている公知のキャ
タライジング、アクセレーティング法などを用いれば良
く、更に無電解めっきには一般に用いられているめっき
液を適用でき、めっき条件も通常の方法で差し支えない
[実施例1] 東レ・デュポン社製 Kapton 200H型のポリ
イミド樹脂フィルム30×30cm試料の片面をシール
し20重量%のアミノスルフォン酸水溶液に50℃で1
0分間浸漬した後、水洗し、奥野製薬製OPC−80キ
ャタリストMを使用して25℃で5分間キャタライジン
グを行い、水洗後奥野製薬製OPC−555アクセレー
ターを使用して25℃で7分間アクセレーティングを行
い充分水洗する。以上の前処理工程を経た後片面に施し
たシールを除去し以下に示す条件で銅の無電解めっきを
行った。
浴組成をCuSO4.5H2O 10g/l、EDTA
.2Na 30g/l、37%HCHO 5ml/l、
ジピリジル10mg/l、PEG#1000(製品名:
和光純薬製ポリエチレングリコール)0.5g/lとし
、浴のpHを12.5とし、空気攪拌しつつ65℃で5
分間めっきを行った。
得られた無電解銅めっき被膜の厚さは0.2μmであり
、めっき被膜の膨れやはげ、ムラはなく良好な外観を呈
していた。
その後さらに該基板に厚さ35μmの銅被膜を電解めっ
きにより施し、JIS C−6481法(巾1cmの銅
のめっき層を90度上方に引き剥がし、その時必要とさ
れる力を密着強度とする。)によりめっき被膜の密着強
度を測定したところ1.2kg/cmの値が得られた。
この値はFPCやTAB用の基板として求められている
密着強度を満足する。
[実施例2] ポリイミド樹脂フィルムのエッチングを25重量%のア
ミノスルフォン酸水溶液を用い40℃で20分間行った
以外は実施例1と同様な手順で無電解銅めっきを行った
得られた無電解銅めっき被膜の厚さは0.2μmであり
、めっき被膜の膨れやはげ、ムラはなく良好な外観を呈
していた。
その後さらに該基板に厚さ35μmの銅被膜を電解めっ
きにより施し、実施例1と同様にめっき被膜の密着強度
を測定したところ1.0kg/cmの値が得られた。こ
の値はFPCやTAB用の基板として求められている密
着強度を満足する。
[実施例3] ポリイミド樹脂フィルムのエッチングを5重量%のアミ
ノスルフォン酸水溶液を用い90℃で5分間行った以外
は実施例1と同様な手順で無電解銅めっきを行った。
得られた無電解銅めっき被膜の厚さは0.2μmであり
、めっき被膜の膨れやはげ、ムラはなく良好な外観を呈
していた。
その後さらに該基板に厚さ35μmの銅被膜を電解めっ
きにより施し、実施例1と同様にめっき被膜の密着強度
を測定したところ1.1kg/cmの値が得られた。こ
の値はFPCやTAB用の基板として求められている密
着強度を満足する。
[比較例1] ポリイミド樹脂フィルムのエッチングを2重量%のアミ
ノスルフォン酸水溶液を用い90℃で1時間行った以外
は実施例1と同様な手順で無電解銅めっきを行った。
得られた無電解銅めっき被膜の一部分に膨れが発生して
おり、使用できないものであった。
[比較例2] ポリイミド樹脂フィルムのエッチングを20重量%のア
ミノスルフォン酸水溶液を用い30℃で1時間行った以
外は実施例1と同様な手順で無電解銅めっきを行った。
得られた無電解銅めっき被膜の一部分に膨れが発生して
おり、使用できないものであった。
以上述べたように本発明によれば良好なエッチング状態
を得ることができ、且つ用いるアミノスルフォン酸は人
体に対する毒性も低く、使用に際して水溶液として用い
るため取扱いも用意であり、作業性や作業環境を悪化さ
せることがない。
[発明の効果]  本発明の方法によれば、従来作業性良く且つ人体に悪
影響を及ぼさずにエッチング処理を施すことが困難だっ
たポリイミド樹脂に作業性良く且つ安全にエッチング処
理を施すことが可能となる。
更に、本発明の方法で処理された基板に無電解めっきを
施すことによって得られた銅ポリイミド基板はFPCや
TAB実装用の基板として用いることが可能となる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  アミノスルフォン酸水溶液を用いてポリイミド樹脂表
    面をエッチング処理する方法において、アミノスルフォ
    ン酸の濃度を5重量%以上とし、エッチング処理時の水
    溶液温度を40〜90℃とすることを特徴とするポリイ
    ミド樹脂のエッチング法。
JP29983590A 1990-11-07 1990-11-07 ポリイミド樹脂のエッチング法 Pending JPH04365873A (ja)

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