JPH04372874A - 歪率測定装置 - Google Patents

歪率測定装置

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JPH04372874A
JPH04372874A JP3151401A JP15140191A JPH04372874A JP H04372874 A JPH04372874 A JP H04372874A JP 3151401 A JP3151401 A JP 3151401A JP 15140191 A JP15140191 A JP 15140191A JP H04372874 A JPH04372874 A JP H04372874A
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JP
Japan
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input
distortion
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output
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Pending
Application number
JP3151401A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Tsuboi
坪井 立男
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、音響機器や無線機器の
音声帯域部などの増幅、伝送系における忠実度を示す指
標の一つである歪率の測定に利用する歪率測定装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、音響機器分野ではディジタル化が
進み、高忠実度録音・再生・伝送が可能となり、これを
計測する歪率測定装置に対しても、より高い測定精度が
要求されている。
【0003】以下に従来の歪率測定装置について説明す
る。図2は従来の歪率測定装置の構成を示している。
【0004】図2に示すように、入力端子201に入力
された被測定信号は入力レンジを設定する第1の可変減
衰器202と第1の可変ゲイン増幅器203を経て入力
信号レベル検出用の検波器207および基本波除去フィ
ルタ204に入力される。基本波除去フィルタ204は
ウィーンブリッジ回路やツインT型回路等で構成され、
被測定信号の基本波周波数成分のみを除去し、歪成分、
すなわち、被測定信号に含まれる高調波成分および雑音
成分を出力する。この歪成分の出力は、測定レンジを設
定する第2の可変減衰器205と第2の可変ゲイン増幅
器206を経て歪信号レベル検出用の検波器208に入
力される。スイッチ209は入力信号レベル検出用の検
波器207の出力と、歪信号レベル検出用の検波器20
8の出力とを交互に選択してA/D変換器210に入力
する。A/D変換器210はアナログ信号である入力信
号レベル検出用検波器207の出力と歪信号レベル検出
用検波器208の出力とを交互にディジタル値に変換し
て出力する。なお、変換時のスケーリングの基準となる
電源Vrefは固定されている。演算処理・表示装置2
11はA/D変換器210から出力された2つのディジ
タル値データ間の比較演算および演算結果の表示機能を
有している。
【0005】以上の従来例の構成について、以下、その
動作と共に更に詳細に説明する。入力端子201に信号
を入力し、第1の可変減衰器202、第1の可変ゲイン
増幅器203を適正な入力レンジになるように設定し、
また、第2の可変減衰器205、第2の可変ゲイン増幅
器206を適正な測定レンジとなるように設定する。こ
れにより第1の可変減衰器202、第1の可変ゲイン増
幅器203を介して入力信号レベル検出用の検波器20
7から入力信号レベルに応じた出力が得られ、基本波除
去フィルタ204、第2の可変減衰器205、第2の可
変ゲイン増幅器206を介して歪信号レベル検出用の検
波器208から歪信号レベルに応じた出力が得られる。 この2つの出力をスイッチ209で選択することにより
、交互にA/D変換器210に入力してディジタル値に
変換し、演算処理・表示装置211で2つの出力の比を
求め、これを歪率の測定値として表示する。ここで測定
される歪率Aは(数1)で表わされる。
【0006】
【数1】
【0007】 ここで、E0:入力信号の実効値 D:高調波と雑音の実効値 e2〜eN:第2、第3、…第N高調波の実効値en:
含有雑音の実効値
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の歪率測定装置では、次に示すような問題がある。
【0009】(1)演算処理・表示装置211において
、上記(数1)の比率演算処理を行うとき、入力信号の
実効値E0を与えるときの比例係数は、第1の可変減衰
器202に設定された減衰量および第1の可変ゲイン増
幅器203に設定されたゲインとして、それぞれの理想
値が与えられる。また、歪である高調波と雑音の実効値
Dを与えるときの比例係数は、第2の可変減衰器205
に設定された減衰量および第2の可変ゲイン増幅器20
6に設定されたゲインとして、それぞれの理想値が与え
られる。このため、それぞれの減衰量およびゲインの誤
差が、減衰量、ゲインの種々の組合せにより相乗して測
定精度の悪化を招くことになる。
【0010】(2)上記(1)項の問題は可変減衰器2
02、205および可変ゲイン増幅器203、206に
使用される素子の精度を上げることにより解決すること
ができるが、非常に高価なものになってしまう。また、
可変素子等を用いて調整するのも大変な作業を伴う。
【0011】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、可変減衰器の減衰量および可変ゲイン増
幅器のゲインに高い精度を必要とすることなく、安価で
測定精度を向上させることができるようにした歪率測定
装置を提供することを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、入力信号のレベルに応じて減衰量及び増
幅度を操作し得る第1の可変手段と、この第1の可変手
段の出力から上記入力信号レベルを検出する第1の検波
器と、上記第1の可変手段の出力から入力信号の基本波
成分を除去して歪信号を取り出す基本波除去フィルタと
、この基本波除去フィルタの出力を受け上記歪信号レベ
ルに応じて減衰量及び増幅度を操作し得る第2の可変手
段と、この第2の可変手段の出力を受けて歪信号レベル
を検出する第2の検波器と、上記第1および第2の検波
器の出力を選択するスイッチと、このスイッチにより選
択された上記第1および第2の検波器の出力をディジタ
ル値に変換するA/D変換器と、このA/D変換器の基
準電圧を可変するD/A変換器と、上記A/D変換器に
よりディジタル値化された歪信号レベルと入力信号レベ
ルの比較演算処理を行ない、歪率を得る演算処理手段と
、上記D/A変換器に補正データを与える補正手段とを
備えたものである。
【0013】
【作用】したがって、本発明によれば、被測定信号の入
力により第1の可変手段を介して入力信号レベル検出用
の検波器から入力信号レベルが得られ、基本波除去フィ
ルタ、第2の可変手段を介して歪信号レベルに応じた出
力が得られ、これらの出力がスイッチにより選択されて
A/D変換器でディジタル値に変換され、演算処理手段
で比較演算処理され、歪率が測定される。このとき、A
/D変換時のスケーリング値が固定でなく、すなわち、
A/D変換器の基準電圧が固定でなく、D/A変換器に
補正手段から補正データを与えて上記基準電圧を各レン
ジに対して修正し、各可変減衰器の減衰量と可変ゲイン
増幅器のゲインの誤差を除去する。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
【0015】図1は本発明の一実施例における歪率測定
装置を示す概略ブロック図である。図1に示すように、
入力端子1に入力された被測定信号は、入力レンジを設
定する第1の可変減衰器2と第1の可変ゲイン増幅器3
を経て入力信号レベル検出用の検波器7および基本波除
去フィルタ4に入力される。基本波除去フィルタ4は被
測定信号の基本波周波数成分のみを除去し、歪成分、す
なわち、被測定信号に含まれる高調波成分および雑音成
分を出力する。この歪成分の出力は、測定レンジを設定
する第2の可変減衰器5と第2の可変ゲイン増幅器6を
経て歪信号レベル検出用の検波器8に入力される。スイ
ッチ9は入力信号レベル検出用の検波器7の出力と、歪
信号レベル検出用の検波器8の出力とを交互に選択して
A/D変換器10に入力する。A/D変換器10はアナ
ログ信号である入力信号レベル検出用検波器7の出力と
歪信号レベル検出用検波器8の出力とを交互にディジタ
ル値に変換して出力し、演算処理・表示装置11に入力
する。A/D変換器10のスケーリング端子である基準
電圧入力端子は、D/A変換器13の出力に接続され、
スケーリング値が電圧制御されるように構成されている
。演算処理・表示装置11は入力された2つのディジタ
ル値データ間の比率演算と、演算結果を測定値として表
示する機能を持つと共に、補正データを作る機能を有し
ている。演算処理・表示装置11は電気的消去可能なリ
ードオンリメモリ12とリードライト制御線(R/W)
、アドレスバスおよびデータバスで接続されている。ま
た、電気的消去可能なリードオンリメモリ12の上記デ
ータバスはD/A変換器13のデータ入力端子に接続さ
れている。
【0016】以上のように構成された歪率測定装置につ
いて、以下、その動作と共に更に詳細に説明する。
【0017】本発明装置の動作については以下の2つの
動作モードに分けられる。 (1)補正データ書込み動作モード(校正モード)(2
)補正データ読出し動作モード(測定モード)補正デー
タ書込み動作モードは、本発明装置に電圧や歪の校正信
号を加え、本発明装置の各レンジの誤差を調べ、これに
対する補正データをメモリに書込む動作モードである。 また、補正データ読出し動作モードは、実際の歪率を測
定する動作モードで、メモリより補正データを読出し、
上記誤差を補正しながら測定を行う動作モードである。 それぞれの動作モードについて、以下に説明する。
【0018】(1)補正データ書込み動作モード入力端
子1に入力レベルの基準となる校正信号を入力し、第1
の可変減衰器2、第1の可変ゲイン増幅器3を入力レベ
ルに対応した適正な入力レンジになるように設定すると
、第1の可変減衰器2、第1の可変ゲイン増幅器3を介
して入力信号レベル検出用の検波器7から入力信号レベ
ルに応じた出力が得られる。また、第2の可変減衰器5
、第2の可変ゲイン増幅器6を適正な測定レンジとなる
ように設定すると、基本波除去フィルタ4、第2の可変
減衰器5、第2のゲイン増幅器6を介して歪信号レベル
検出用の検波器8から歪信号レベルに応じた出力が得ら
れる。なお、上記校正信号としては、例えば、入力レン
ジ1V、測定レンジ0.1%が本発明装置に存在し、こ
れを校正しようとする場合、基本波レベル1V、高調波
レベル1mVの2信号混合波を用いる。そして、まず、
入力信号レベル検出用の検波器7の出力をスイッチ9で
選択することにより、A/D変換器10でディジタル値
に変換されて演算処理・表示装置11に加えられる。A
/D変換器10の出力データは、基準電圧が後述のよう
にD/A変換器13の出力電圧、すなわち、D/A変換
器13の入力データによって制御されているので、入力
された校正信号の入力レベルに相当する数値となるよう
にすることが可能である。演算処理・表示装置11は入
力されたA/D変換器10のデータが、入力された校正
信号の入力レベルに相当する数値となるようにD/A変
換器13に入力補正データを送り、この動作により入力
レンジに関する誤差を知ることができる。次に、歪信号
検出用の検波器8の出力をスイッチ9で選択することに
より、A/D変換器10でディジタル値に変換されて演
算処理・表示装置11に加えられる。A/D変換器10
の出力データは、上記のようにD/A変換器13の入力
データによって制御されているので、入力された校正信
号の歪信号レベルに相当する数値となるようにすること
が可能である。演算処理・表示装置11は、入力された
A/D変換器10のデータが入力された校正信号の歪信
号レベルに相当する数値となるようにD/A変換器13
に歪補正データを送り、この動作により測定レンジに関
する誤差を知ることができる。このようにして得られた
入力補正データと歪補正データとを、それぞれ電気的消
去可能なリードオンリメモリ12の別のアドレスに格納
する。
【0019】以下、順次、すべての第1の可変減衰器2
、第1の可変ゲイン増幅器3、第2の可変減衰器5、第
2の可変ゲイン増幅器6の組合せに対し、それぞれ校正
信号を加えて入力補正データと歪補正データを作り、そ
れぞれリードオンリメモリ12の別々のアドレスに格納
する。これらの動作により、可変減衰器2、5および可
変ゲイン増幅器3、6に係る誤差情報はすべてリードオ
ンリメモリ12内に格納されており、したがって、リー
ドオンリメモリ12からこの情報を呼び出して用いるこ
とにより、測定時の誤差を修正することができることに
なる。
【0020】(2)補正データ読出し動作モード入力端
子1に被測定信号を入力し、第1の可変減衰器2、第1
の可変ゲイン増幅器3を適正な入力レンジになるように
設定し、また、第2の可変減衰器5、第2の可変ゲイン
増幅器6を適正な測定レンジとなるように設定する。こ
れにより第1の可変減衰器2、第1の可変ゲイン増幅器
3を介して入力信号レベル検出用の検波器7から入力信
号レベルに応じた出力が得られ、基本波除去フィルタ4
、第2の可変減衰器5、第2の可変ゲイン増幅器6を介
して歪信号レベル検出用の検波器8から歪信号レベルに
応じた出力が得られる。この2つの出力をスイッチ9で
選択することにより、交互にA/D変換器10に入力し
てディジタル値に変換し、演算処理・表示装置11で2
つの出力の比を求め、これを歪率の測定値として表示す
る。そして、上記のように交互にA/D変換を行う際、
補正データが登録されている電気的消去可能なリードオ
ンリメモリ12に格納されている入力レンジと測定レン
ジのアドレスの入力補正データおよび歪補正データを交
互に読み出し、D/A変換器13の入力データとして与
えることにより、A/D変換器10の基準電圧を操作し
、各可変減衰器2、5、可変ゲイン増幅器3、6の誤差
を除去することができる。
【0021】このように上記実施例によれば、入力端子
1に校正信号を加えることによって、各入力レンジの誤
差、各測定レンジの誤差を知ることができ、各レンジに
対する誤差を補正するデータを電気的消去可能なリード
オンリメモリ12に格納させておくことができる。そし
て、A/D変換時のスケーリング値が固定でなく、すな
わち、A/D変換器10の基準電圧が固定でなく、上記
補正データをもとに上記基準電圧を各レンジに対して修
正することができる。したがって、個々の歪率測定装置
に対して個別の補正データを格納させることができ、ま
た、特別なデータ書換えの機器を用いることなく、必要
に応じて歪率測定装置自体でデータの書換えが可能であ
る。また、歪率測定装置に電源を供給しなくても、デー
タが消失することはない。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
測定信号の入力により第1の可変手段を介して入力信号
レベル検出用の検波器から入力信号レベルが得られ、基
本波除去フィルタ、第2の可変手段を介して歪信号レベ
ルに応じた出力が得られ、これらの出力がスイッチによ
り選択されてA/D変換器でディジタル値に変換され、
演算処理手段で比較演算処理され、歪率が測定される。 このとき、A/D変換時のスケーリング値が固定でなく
、すなわち、A/D変換器の基準電圧が固定でなく、D
/A変換器に補正手段から補正データを与えて上記基準
電圧を各レンジに対して修正し、各可変減衰器の減衰量
と可変ゲイン増幅器のゲインの誤差を除去することがで
きる。したがって、可変減衰器の減衰量や可変ゲイン増
幅器のゲイン精度を向上させる必要がなく、安価で測定
精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における歪率測定装置を示す
概略ブロック図
【図2】従来の歪率測定装置を示す概略ブロック図
【符号の説明】
1  入力端子 2  第1の可変減衰器 3  第1の可変ゲイン増幅器 4  基本波除去フィルタ 5  第2の可変減衰器 6  第2の可変ゲイン増幅器 7  入力信号レベル検出用の検波器 8  歪信号レベル検出用の検波器 9  スイッチ 10  A/D変換器 11  演算処理・表示装置 12  電気的消去可能なリードオンリメモリ13  
D/A変換器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  入力信号のレベルに応じて減衰量及び
    増幅度を操作し得る第1の可変手段と、この第1の可変
    手段の出力から上記入力信号レベルを検出する第1の検
    波器と、上記第1の可変手段の出力から入力信号の基本
    波成分を除去して歪信号を取り出す基本波除去フィルタ
    と、この基本波除去フィルタの出力を受け上記歪信号レ
    ベルに応じて減衰量及び増幅度を操作し得る第2の可変
    手段と、この第2の可変手段の出力を受けて歪信号レベ
    ルを検出する第2の検波器と、上記第1および第2の検
    波器の出力を選択するスイッチと、このスイッチにより
    選択された上記第1および第2の検波器の出力をディジ
    タル値に変換するA/D変換器と、このA/D変換器の
    基準電圧を可変するD/A変換器と、上記A/D変換器
    によりディジタル値化された歪信号レベルと入力信号レ
    ベルの比較演算処理を行ない、歪率を得る演算処理手段
    と、上記D/A変換器に補正データを与える補正手段と
    を備えた歪率測定装置。
JP3151401A 1991-06-24 1991-06-24 歪率測定装置 Pending JPH04372874A (ja)

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