JPH0437721A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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Publication number
JPH0437721A
JPH0437721A JP14366990A JP14366990A JPH0437721A JP H0437721 A JPH0437721 A JP H0437721A JP 14366990 A JP14366990 A JP 14366990A JP 14366990 A JP14366990 A JP 14366990A JP H0437721 A JPH0437721 A JP H0437721A
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JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
liquid crystal
film
layer
crystal display
Prior art date
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Pending
Application number
JP14366990A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Nomoto
野本 勉
Tamahiko Nishiki
玲彦 西木
Masaharu Nobori
正治 登
Shigeki Ogura
小椋 茂樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0437721A publication Critical patent/JPH0437721A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、液晶表示装置に関するものである。
[従来の技術] 第2図は、従来のアクティブマトリクス液晶デイスプレ
ィの構成例を模式的に示す断面図である。
従来のアクティブマトリクス液晶デイスプレィは、第2
図に示すように、シール層21により貼り合わされた前
面ガラス基板22と薄膜トランジスタ23及び画素電極
24が備えられている背面ガラス基板25とか、スペー
サ26を介して液晶層27を挟持している構成となって
いる。
上記シール層21は、高分子樹脂にスペーサを混合した
絶縁材料を背面ガラス基板23上に厚膜のスクリーン印
刷することにより形成されている。
上記高分子樹脂としてはエポキシ系、アクリル系、ポリ
エステル系のいずれか一つの樹脂か使用されている。ま
た、上記スペーサ24としては3〜10μmの範囲でほ
ぼ均一な直径を有する球形または円筒形状でガラスファ
イバー、セラミックまたは樹脂からなる成形体が使用さ
れており、シール層21を形成する絶縁材料にも同一の
スペーサか混合されている。
上記前面ガラス基板22上にはITOなど透明な電極材
料からなる対向電極28か備えられ、対向電極28上に
はブラックマトリクス29か備えられ、さらにブラック
マトリクス29上には配向膜30か備えられている。
一方、上記背面ガラス基板25の上記前面ガラス基板2
2に対向する面上には、複数のデータライン電極と走査
電極とが互いに直交するストライブ状に形成されており
、薄膜トランジスタ23は上記両電極の交点に備えられ
ている。また、上記画素電極24が、両電極の間に備え
られており、画素電極24は薄膜トランジスタ23に接
続されている。そして、薄膜トランジスタ23及び画素
電極24上には、薄膜トランジスタ23及び画素電極2
4の表面を保護するための絶縁膜31が備えられており
、絶縁膜31上に配向膜32が備えられている。
上記従来のアクティブマトリクス液晶デイスプレィは、
上記スペーサ24を背面ガラス基板23上に散布した後
、背面ガラス基板23の端縁部上に均一な厚さに厚膜印
刷した上記絶縁材料を介して前面ガラス基板22を背面
ガラス基板23に対向させて加圧し、上記絶縁材料の厚
さが約半分になるように上記絶縁材料を押潰し、前面ガ
ラス基板22と背面ガラス基板23とを固定した状態に
て上記絶縁材料を加熱硬化させてシール層21を形成す
ることにより製造されている。上記背面ガラス基板23
上に厚膜印刷される絶縁材料の厚さは、所望のセル間隔
(液晶層の厚さ)にしたがって任意に設定することがで
きるが、通常5〜20μmの範囲で適宜設定されている
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記従来のアクティブマトリクス液晶デ
イスプレィでは、シール層がスペーサを混合した高分子
樹脂からなる絶縁材料のみにより形成されていて変形し
やすいために、シール層の厚さか不均一になりやすいと
の問題があった。
上記問題は、上記絶縁材料を厚膜印刷する際に基板全域
に渡って膜厚を均一に制御することが困難であり、また
、前面ガラス基板と背面ガラス基板とを加圧して貼り合
わせる際に力が均一にかかりにくくなる傾向があるため
と考えられる。上記問題は、製造しようとする液晶表示
装置の画面が大きくなるほど顕著になる。
シール層の厚さが不均一になると、画面端縁部における
セル間隔か不規則になり、画面端縁部では均一なコント
ラストか得られなくなる。
そこで、本発明は上記したような従来技術の課題を解決
するためになされたもので、その目的とするところは、
画面端縁部においても均一なコントラストか得られる、
表示品質の優れた液晶表示装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明に係わる液晶表示装置は、薄膜トランジスタ及び
画素電極を備えている第一の基板と、上記画素電極に対
向する電極が備えられている第二の基板と、上記第一及
び第二の基板間に備えられている液晶層とからなる液晶
表示装置であって、上記いずれか一方の基板の端縁部に
備えられている絶縁体層と他方の基板とか高分子樹脂膜
を介して貼り合わされて上記液晶層を密封していること
を特徴としている。
[作用] 本発明の液晶表示装置においては、高分子絶縁材料に比
較してより高い硬度を有し変形しにくい絶縁体層と高分
子樹脂膜とによりシール層を構成している。上記構成の
シール層は、シール層の厚さの大部分が絶縁体層によっ
て占められ、高分子樹脂膜は接着が得られるに足るだけ
の厚さとしである。上記シール層において、前面カラス
基板と背面カラス基板との貼り合わせの際の加圧操作に
よって変形する部分は高分子樹脂膜たけであり、絶縁体
層は上記加圧操作によっては変形しにくい。
従って、シール層の厚さは絶縁体層の厚さによって規定
され、従来より均一な厚さを有するシール層が得られる
[実施例] 以下に本発明を図示の実施例に基ついて説明する。
第1図は、本発明に従うアクティブマトリクス液晶デイ
スプレィの一実施例を模式的に示す断面図である。本実
施例のアクティブマトリクス液晶デイスプレィは、第1
図に示すように、前面ガラス基板1と背面ガラス基板2
とがスペーサ3を介して液晶層4を挟持している構成と
なっている。
上記前面ガラス基板2上にはITOなどの透明な電極材
料からなる対向電極5が備えられ、対向電極5上にはブ
ラックマトリクス6が備えられ、さらにブラックマトリ
クス6上には配向膜7が備えられている。
一方、上記背面ガラス基板2の上記前面ガラス基板2に
対向する面上には、複数のデータライン電極と走査電極
とが互いに直交するストライブ状に形成されており、上
記両電極の交点には薄膜トランジスタ8が備えられてい
る。また、上記両電極の間には画素電極9が備えられて
おり、画素電極9は薄膜トランジスタ8に接続されてい
る。上記薄膜トランジスタ8及び画素電極9上には、薄
膜トランジスタ8及び画素電極9の表面を保護するため
の絶縁膜10が備えられており、絶縁膜10上に配向膜
11が備えられている。
そして、本実施例のアクティブマトリクス液晶デイスプ
レィでは、背面ガラス基板2の端縁部上に備えられてい
る絶縁体層12aと、絶縁体層12a上に備えられてい
る高分子樹脂膜12bとによりシール層12が形成され
ており、前面ガラス基板1と絶縁体層12aとが高分子
樹脂膜12bを介して貼り合わされて上記液晶層4を密
封していることを特徴としている。
上記絶縁体層12aを形成する材料は、前面ガラス基板
1と背面ガラス基板2とを貼り合わせる際の加圧操作に
よって変形しにくい材料であることが好ましく、この様
な材料として、例えば、炭化シリコン(SiC)、窒化
シリコン(SiNx)或いは酸化シリコン(Sin、)
などを挙げることができるが、SiCが特に好ましい。
絶縁体層12aの厚さは、所望のセル間隔にしたがって
任意に設定すればよく、通常3〜10μm程度の範囲の
値に設定される。
上記絶縁体層12aの幅は、前面ガラス基板lと背面ガ
ラス基板2とを貼り合わせる際の加圧操作によって変形
しない程度であることが好ましく、通常1〜5mmの範
囲で適宜設定される。
上記高分子樹脂膜12bの厚さは、前面ガラス基板1と
絶縁体層12aとの間で接着が得られる厚さであればよ
く、不必要に厚くする必要はない。
高分子樹脂膜12bの厚さは0.1〜2.0pmの範囲
であることか好ましく、上記範囲を超えるときにはシー
ル層12の厚さを均一にする効果か十分に得られないこ
とかある。
本実施例のアクティブマトリクス液晶デイスプレィは、
例えば、次の様にして有利に製造することかできる。
ます、背面ガラス基板2上にクロム(Cr)、タンタル
(Ta)、モリブデン(M o )などの金属のいずれ
かひとつをスパッタリング法または蒸着法により成膜し
、0. 1〜0.3μm程度の厚さの金属膜を形成する
。次いで、上記金属膜をフォトリソグラフィー及びエツ
チングにより、ゲート電極のパターンに形成する。上記
ゲート電極はストライブ状に複数形成されている。
次に、背面ガラス基板2上にITOなとの透明電極材料
をスパッタリング法または蒸着法により、0、 1μm
程度の厚さになるように成膜する。次いで、上記透明電
極膜をフォトリソグラフィー及びエツチングにより、画
素電極9のパターンに形成する。
次に、NH3及びSiH4を主成分ガスとするフラスマ
CV D法によりSiNア膜を背面ガラス基板3の全面
に0. 1〜0.4μm程度の厚さになるように成膜し
、次いて、5IH4を主成分ガスとするプラズマCVD
法によりアモルファスシリコン(a−3i)膜を背面カ
ラス基板2の全面に0.05〜0.2μm程度の厚さに
なるように成膜する。次いで、上記3iN、膜及びa−
3i膜をフォトリソグラフィー及びエツチングにより所
定のパターンに形成する。上記工程によりSiN。
膜からゲート絶縁膜が、a−8i膜から半導体膜がそれ
ぞれ形成される。
次に、背面ガラス基板2の全面にアルミニウム(A1)
、ニッケル(N i )、クロム、モリブデン、銅(C
u)なとの金属または上記金属を組合せてなるニクロム
(NiCr)なとの合金のいずれかひとつをスパッタリ
ング法または蒸着法により成膜し、0. 3〜1.0μ
m程度の厚さの金属膜を形成する。次いで、上記金属膜
をフォトリソグラフィー及びエツチングにより所定のパ
ターンに形成する。
上記工程により、データライン電極、ドレイン電極及び
、ソース電極がそれぞれ形成される。上記工程において
、上記データライン電極は上記ゲート電極と直交するス
トライプ状に複数形成されており、上記ドレイン電極は
上記データライン電極とデータ電極との交点において上
記データライン電極と一体的に形成されている。
上記ゲート電極、ゲート絶縁膜、半導体膜、ドレイン電
極、及びソース電極により、薄膜トランジスタ9が構成
される。薄膜トランジスタ8は、上記データライン電極
とゲート電極との交点に、形成されている。
次に、背面ガラス基板2の全面にSiN、などからなる
絶縁膜10を形成する。上記SiNx膜はNH,及びS
iH<を主成分ガスとするプラズマCVD法により形成
すればよい。上記絶縁膜10は、薄膜トランジスタ8及
び画素電極9の表面を保護する機能を有する。
次に、背面ガラス基板2の全面に5iCSSiN8、S
in、のいずれかからなる絶縁体層12aを形成する。
絶縁体層12aは、プラズマCVD法により上記いずれ
かの絶縁材料の膜を背面ガラス基板2の全面に3〜10
μm程度の厚さになるように成膜し、次いで、上記絶縁
材料の膜をフォトリソグラフィー及びエツチングにより
背面ガラス基板2の端縁部上に1〜5mmの幅になるよ
うに形成する。絶縁体層12aは、メタルマスクを用い
て形成位置を選択できるようにしたプラズマCVD法に
よって形成してもよい。また、絶縁体層12aがSiC
からなる場合には、SiCをターゲットとするRFまた
はDCスパッタリングにより形成してもよい。
次に、背面ガラス基板2の全面に0. 1μm程度の厚
さのポリイミド膜を成膜し、上記ポリイミド膜をラビン
グ処理して、配向膜11を形成する。
以上で、薄膜トランジスタ及び画素電極を備えた背面ガ
ラス基板の製造が完了する。
上記製造方法において、絶縁体層12aは絶縁膜10の
形成後、配向膜11の形成前に形成されることが好まし
い。絶縁体層12aを配向膜11の形成後に形成すると
、絶縁膜12a形成の際のエツチングまたはスパッタリ
ング等によりラビング処理された配向膜11表面が損傷
を受けることがある。
次に、前面ガラス基板l上にITOなどの透明電極材料
をスパッタリング法または蒸着法により、0、 1μm
程度の厚さになるように成膜し、対向電極5を形成する
。次いで、対向電極5上の薄膜トランジスタ8に対向す
る予定の領域にブラックマトリクス6を形成する。ブラ
ックマトリクス6はそれ自体公知の材料及び方法により
形成すればよい。次いで、前面ガラス基板1の全面に0
. 1μm程度の厚さのポリイミド膜を成膜し、上記ポ
リイミド膜をラビング処理して、配向膜7を形成する。
次に、前面ガラス基板1上の上記絶縁体層12aに対向
する予定の領域に高分子樹脂をオフセット印刷により0
.1〜2.0μm程度の厚さに成膜し、高分子樹脂膜1
2bを形成する。上記高分子樹脂膜12bを形成する高
分子樹脂は、熱硬化性樹脂であることか好ましく、例え
ば、エポキシ系、アクリル系、ポリエステル系などの高
分子樹脂を挙げることかできる。上記高分子樹脂膜12
bは、オフセット印刷することにより、膜厚を上記範囲
にて有利に制御することかできる。
次に、薄膜トランジスタ8及び画素電極9を備えた背面
ガラス基板の絶縁体層12aか形成されていない領域に
スペーサ3を散布し、上記背面カラス基板と上記前面ガ
ラス基板とを、絶縁体層12aと高分子樹脂膜12bと
が対向するように位置合せして加圧固定し、高分子樹脂
膜12bを加熱硬化させることにより、側基板を貼り合
わせる。
そして、上記絶縁体層12aと高分子樹脂膜12bとに
より、シール層12が形成される。このとき、高分子樹
脂膜12bの厚さは接着が得られるに足るだけに過ぎず
、シール層12の厚さの大部分は上記加圧操作によって
変形しにくい絶縁体層12aによって占められているの
で、シール層12の厚さは絶縁体層12aの厚さによっ
て規定され均一になる。
次に、シール層12により貼り合わされた上記背面ガラ
ス基板と前面ガラス基板との内部を真空脱気し、注入口
(図示せず)から液晶を注入し、アクティブマトリクス
液晶デイスプレィの製造を完了する。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明の液晶表示装置によ
れば、シール層の厚さの大部分を占め前面ガラス基板と
背面ガラス基板とを貼り合わせる際の加圧操作によって
は変形しにくい絶縁体層と、接着が得られるに足るだけ
の厚さの高分子樹脂膜とによりシール層を構成している
ので、シール層の厚さは絶縁体層の厚さによって規定さ
れ、従来より均一な厚さを有するシール層が得られる。
従って、画面端縁部においてもコントラストが均一な、
表示品質の優れた液晶表示装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わるアクティブマトリクス液晶デイ
スプレィの一実施例を模式的に示す断面図であり、 第2図は従来のアクティブマトリクス液晶デイスプレィ
の構成例を模式的に示す断面図である。 1 ・・・前面ガラス基板、 2 ・・・背面ガラス基板、 12a・・・絶縁体層、 12b・・・高分子樹脂膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 薄膜トランジスタ及び画素電極を備えている第一の基板
    と、 上記画素電極に対向する電極が備えられている第二の基
    板と、 上記第一及び第二の基板間に備えられている液晶層とか
    らなる液晶表示装置であって、 上記いずれか一方の基板の端縁部に備えられている絶縁
    体層と他方の基板とが高分子樹脂膜を介して貼り合わさ
    れて上記液晶層を密封していることを特徴とする液晶表
    示装置。
JP14366990A 1990-06-01 1990-06-01 液晶表示装置 Pending JPH0437721A (ja)

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JP14366990A JPH0437721A (ja) 1990-06-01 1990-06-01 液晶表示装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6441879B2 (en) 1995-09-27 2002-08-27 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device

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