JPH0440242A - 籾摺機の脱ふ率制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、籾摺機の脱■率制御装置に関する。

（従来の技術、及び発明が解決しようとする課題） 籾摺機の脱■率が８０〜９０％の場合は、脱■ロール等
を駆動するモータが過負荷になることは少いが、脱話し
難い米の場合は、脱■率の設定を高くすると、この設定
脱■率になる以前にモータが過負荷になり易い、このよ
うな場合は、過負荷を防止するために、脱■ロール間隙
を開く、従ってこのような制御を脱■率センサによると
きは、脱■ロール間隙の閉、及び過負荷防止による脱拮
ロール間隙の開を繰返し、この結果、脱■ロールの摩耗
を早くする。とくに脱■率センサの光量調節が適正に行
われていないときは、このような脱■ロール間隙が無駄
に閉作動されることが多い。

この発明は、脱■ロールのロール間隙を一旦開作動させ
後ちに、光量調節を行って脱■率を復帰させて、上記の
ような不具合を解消しようとするものである。

（課題を解決するための手段） この発明は、脱■率センサ１のセンサ投光域に籾摺装！
２による摺出米３を通過させながら、脱■率を算出して
一対の脱■ロール５，６間のロール間隙を調節制御する
脱■率センサに、過負荷となったときは、この過負荷解
除まで該ロール間隙を開き、脱■率センサ１の光量を適
正光量に調節する光量調節をした後ち脱■率制御に復帰
することを特徴とする籾摺機の脱■率制御装置の構成と
する。

（作用） 脱■率センサ１のセンサ投光域に籾摺装置２で脱■され
た摺出米３の一部がサンプリングとして供給され、その
センサ投光の透過率によって脱■率が算出制御され、こ
の検出脱■率と予め設定された設定脱■率との比較のも
とに脱■率制御によって脱■ロール５，６間のロール間
隙調節制御が行われる。

この脱■率制御において、籾摺装置２が過負荷になった
ときは、これによってロール５，６間のロール間隙が開
かれて、該過負荷状態が解除される。この過負荷解除状
態で、脱■率センサ１の光量調節が行われ、光量が適正
な範囲に設定されると、この脱■率センサｌの脱■率の
検出による脱■率制御に復帰される。

（発明の効果） このように脱■率センサに籾摺装置が過負荷になると、
直ちにこの過負荷がロール間隙の開きによって解除され
ると共に、適正な光量でないとき°は一旦光量調節が行
われた後ちに、脱活率制御に復帰されるものであるから
、脱■率センサ１による的確な脱■率制御を維持するこ
とができ、ロール間隙を閉めることを少なくして、脱■
ロールの無駄な摩耗を少なくすることができる。

（実施例） なお、回倒において、籾摺機は、第４図において、機体
の上部に、回転周速差を有する一対の脱■ロール５，６
からなる籾摺装置２、この籾摺装！２に籾を供給する籾
供給漏斗７、及び籾摺装置２で脱■された摺出米３を玄
米Ｇと籾Ｍとに選別する回転選別筒からなる選別装置８
等を有し、又。

機体の下部には、該籾摺装置２にょる摺出米を風選する
風選装置！９等を設けている。

又１機体の一側には、籾摺制御を行う脱■率制御装置１
１０を設けると共に、摺出米の一部のサンプリング粒を
流下させながら、このサンプリング粒から脱■率を検出
する脱■率センサ１を設けている。１１は摺出米揚穀機
で、籾摺装置２で摺出された摺出米や、選別装！８で選
別された戻り混合米等を受けて、この選別装［８へ揚穀
する構成である。１２は、玄米揚穀機で、該選別装置２
下の玄米風選装置！１３で風選された玄米を受けて取出
す構成である。１４は、排塵機で、各風選装置。

１３．９で風選した籾殻や、塵埃等を吸引排出するもの
である。

第１図において、マイクロコンピュータＣＰＵを有した
脱■率制御装置１１０は、脱■率センサ１からの入力を
受けて、脱■ロール５，６のロール間隙を調節する間隙
制御モータ１５を出力制御する構成である。脱■率セン
サ１は、発光素子１６から受光素子１７へ照射される発
光に、摺出米３のサンプリング粒を一粒毎横断通過させ
ることによって、このサンプリング粒を照射したときの
受光素子１７の受ける透過光量を検出して、脱■率制御
装置１０へ出力するものである。２２は過負荷センサで
、籾摺装置２．とくに脱括ロール５゜６を駆動するモー
タの過負荷を検出する。

光量制御装！１８は、脱■率制御装置ｌＯの一部として
設けられ１発光素子１６の光量を自動調節制御する光量
調節出力の出力回路１９を有し、又、受光素子１７が検
出する一粒毎の透過光量を入力回路２０．及び−粒毎の
信号を検出する粒信号検出回路２１を設け、発光素子１
６による光量が予め設定された基準電圧による光量調節
設定範囲り内に入るように自動的に調節制御される構成
である。

脱■率制御装置１１０における脱■率の演算処理制御に
ついて、第３図は、脱■率センサ１によって検出される
所定粒数のサンプリング粒の一粒毎の透過光量の透過率
を度数分布としてグラフィック化した（デイスプレィに
現される）透過率粒数分布曲線（以下透過光量分布と云
う）４の一般的な形態を示すものである。この脱■率制
御装置１０における脱■率の算出処理は、 （１）このような透過光量分布４のグラフィック処理制
御を行う。

（２）この透過光量分布４を作成しながら、玄米平均ブ
ロック値ＫＧを光量調節設定範囲りに入るように光量調
節を行う。

（３）この透過光量分布４から玄米平均ブロック値ＫＧ
と籾平均ブロック値ＫＭとを算出処理制御する。

（４）透過光量分布４における玄米Ｇと、籾Ｍとの境界
位置である境界ブロック値をしきい値にとして算出処理
制御する。

（５）このしきい値Ｋを境として、玄米Ｇ側のサンプリ
ング粒数と、籾Ｍ側のサンプリング粒数とによって脱穀
率を算出処理制御する。

の各行程によって行われる このしきい値算出制御を更に詳細に説明すると。

透過光量の透過率は、第３図に示すように蒼天から最小
透過率までの間を１からＮまでの各ブロックにＮ区分し
ている。そこで−回のサンプリング粒の粒数を、例えば
２０００粒、脱■率センサ１によって検出する時間を２
０秒、ブロック数Ｎを６３ブロツクとしている。又、全
ブロック数Ｎ間の各平均透過光量に相当する８力電圧を
一粒信号電圧として、０〜ｌ０Ｖ（ボルト）として反転
出力するように設定している。

玄米平均ブロック値ＫＧは、玄米の平均値であって、こ
の算出は、玄米粒数が第３図のピーク値のときの粒数を
基準として、この基準粒数から一定値（例えば２５粒）
の範囲内にある粒数のブロック光量積算の加算値を、粒
数の加算値で割った値とする。即ち、玄米ピーク値部分
の一粒当りの平均透過光量を求める。この場合、ピーク
粒数２５粒以上のブロックが例えば１０ブロック未満の
ときは、上位１０ブロツクとして上記と同様に計算を行
うように制御する。

籾平均ブロック値ＫＭは、籾の平均値であって、この算
出は、総サンプリング粒数（２０００粒）の籾側から例
えば５粒をカットしたブロックを最大ブロックとし、こ
の籾側から一定ブロック（例えば１０ブロツク）の光量
積算の加算値を粒数の加算値で割った値とする。即ち、
籾Ｍピーク値部分の一粒当りの平均透過光量を求める。

このようにして、玄米平均ブロック値ＫＧと籾平均ブロ
ック値ＫＭとが求められると、これら各平均ブロック値
ＫＧ、ＫＭによって、境界ブロック値であるしきい値Ｋ
を次式によって算出する。

Ｋ＝　（ＫＭ−ＫＧ）Ｘｋ＋ＫＯ ｋ：定数 この定数ｋについては、籾平均ブロック値ＫＭの算出を
行った上位１０ブロツクの粒数により、次のように設定
する。

１００　　粒未満　　・・・ｋ＝０．５５１００〜１４
９粒　・・・ｋ＝０．４７１５０粒以上　　　・・・ｋ
＝０．４０摺出米サンプリング粒の分布により、脱■率
に算出するとき、脱■率センサ１の発光の透過率に対す
る分布は、玄米Ｇと籾Ｍが完全に分かれた分布形態では
なく、両者が相重合した部分をしきい値に近くにもつ分
布となり、しきい値Ｋにより計算脱■率の精度が決まる
。実脱■率の高低によって、精側上位ブロックの粒数が
変ることを利用して、その粒数により境界ブロック位置
を調整することにより、実脱■率に対する計算脱■率の
精度を高めることができる。

このようにして、しきい値Ｋが決ると、例えば、次式の
ようにサンプリング全粒数（２０００粒）に対するしき
い値Ｋから玄米側にある玄米Ｇの総粒数の比を求めて脱
■率とする。

脱■率＝（（サンプリング全粒数−しきい値に以上のブ
ロックにある総粒数）／サンプリング全粒数）Ｘ１００
　（％） このようにして脱せ率が算出されると、この算出脱■率
が設定脱■率になるように間隙制御モータ〕５を出力し
て、ロール間隙を調整する。

第２図を参照して光量調節制御を説明する。透過光量分
布４は、脱■率センサ１の発光素子１６の光量を変更す
ることによって、水平方向へ移動される。玄米Ｇと籾Ｍ
との判別に適する光量調節設定範囲りを予め決めておき
、透過率分布４の玄米平均ブロックのピーク値である玄
米平均ブロック値ＫＯが、この光量調節設定範囲りに入
ったとき、脱■率センサ１の光量調節制御を終るように
制御構成する。

実際に通過する摺出米３のサンプリング粒の信号により
、脱■率センサ１のセンサ光量を適正光量に調節する。

サンプリング粒の信号を信号電圧（０〜１０ｖ）として
Ｎ区分し、各区分のブロック毎の度数を算出して度数分
布で表し、最大度数である透過光量分布４の玄米平均ブ
ロック値ＫＧの電圧を玄米の平均信号電圧とみなす、こ
の玄米電圧を適正な範囲り内に入るようにセンサ光量を
前記脱活率制御装置１０内の光量制御装置１８により光
量調節出力して行う、光量調節出力によって、センサ光
量を大きくして明るくする（光量ダラーではＦＦ→００
）と、透過光量分布４は低信号電圧側へ移動し、又、セ
ンサ光量を小さくして暗くする（００→ＦＦ）と高信号
電圧側へ移動する。初期設定では、光量データがクリア
されているために、最も暗い側の信号電圧１０Ｖ（ＦＦ
）でスタートし、その後の分布状態を見ながらΔＢ移動
させて、光量の適正範囲り内に位置させる。

この光量調節制御は、光量調節設定範囲りの中央位置の
ブロック値ＮＣと、調節前の透過光量分布４曲線の玄米
平均ブロック値ＮＢとの差ΔＢを演算させて、この差Δ
Ｂを一定の変更光量のもとに出力回路１９からの出力調
節をすることによって、透過光量分布４曲線の玄米平均
ブロック値ＫＧをＮＢからＮＣへ移動させて、この玄米
平均ブロック値ＫＧが光量調節設定範囲りに入ったとき
、発光素子１６から受光素子１７へ投光する光量として
決定される。

第５図において、籾摺作業開始時の初期光量調節を行っ
た脱■率センサ１による脱■率の検出によって脱■率制
御が行われているとき、脱■率センサ１の汚れ等によっ
て正確な検出ができないために、戒は、脱話し難い米に
代ること等によって、ロール間隙が狭くなって、過負荷
となったときは、負荷センサ２２等によるこの過負荷が
検出されて、脱■ロール５，６間のロール間隙が開かれ
て、過負荷が解除される。

この過負荷が解除されると、摺出米の一部が脱■率セン
サ１によって検出されているから、透過光量分布４の作
成と共に、再光量調節の制御が行われる。このときｎ＝
２０００粒のサンプリングによって透過光量分布４が作
成されて、この玄米平均ブロック値ＫＯが光量調節設定
範囲りに入ったとき（第２図）の光量をもって、再光量
調節による適正光量と決定され、脱■率制御に復帰され
る。このようにして、脱■率センサ１による検出腕能率
が、設定脱■率と比較されて、設定脱■率よりも高いと
きは、ロール間隙を開き、低いときはロール間隙を閉じ
るようにして、設定脱■率の籾摺作業が維持制御される
。

【図面の簡単な説明】

図はこの発明の実施例を示すもので、第１図は制御ブロ
ック図、第２図、第３図は脱■率センサにおける透過光
量分布グラフ、第４図は籾摺機の斜面図、第５図は脱■
率制御の一部のフローチャートである。 （符号の説明） １　脱■率センサ　　　２　籾摺装置 ３　摺出米　　　　　　４　透過光量分布５．６　脱■
ロール　　１６　発光素子光量制御装置 過負荷センサ 玄米 しきい値 １９　出力回路 Ｍ籾

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 脱■率センサ１のセンサ投光域に籾摺装置２による摺出
   米３を通過させながら、脱■率を算出して一対の脱■ロ
   ール５、６間のロール間隙を調節制御する脱■率制御中
   に、過負荷となったときは、この過負荷解除まで該ロー
   ル間隙を開き、脱■率センサ１の光量を適正光量に調節
   する光量調節をした後ち脱■率制御に復帰することを特
   徴とする籾摺機の脱■率制御装置。