JPH0441666A - レーザ蒸着法による薄膜の作製方法 - Google Patents

レーザ蒸着法による薄膜の作製方法

Info

Publication number
JPH0441666A
JPH0441666A JP14926090A JP14926090A JPH0441666A JP H0441666 A JPH0441666 A JP H0441666A JP 14926090 A JP14926090 A JP 14926090A JP 14926090 A JP14926090 A JP 14926090A JP H0441666 A JPH0441666 A JP H0441666A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
laser
thin film
target
present
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14926090A
Other languages
English (en)
Inventor
Saburo Tanaka
三郎 田中
Shusuke Nakanishi
秀典 中西
Hideo Itozaki
糸崎 秀夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP14926090A priority Critical patent/JPH0441666A/ja
Publication of JPH0441666A publication Critical patent/JPH0441666A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザ蒸着法による薄膜の作製方法に関する
。より詳細にはレーザ蒸着法を用いて高品質な薄膜を作
製する方法に関する。
従来の技術 薄膜の作製には、各種の方法が使用されるが、レーザ蒸
着法は、組成の制御がやり易く、成膜速度が速い等の利
点がある。また、−切の電磁場を必要としないので、高
品質の薄膜を作製するのに適した方法と考えられている
従来、レーザ蒸着法で薄膜を作製する場合は、内部を高
真空に排気可能で、任意の雰囲気ガスを導入できる成膜
室内に基板およびターゲットを配置し、成膜室外部に配
置したレーザ装置の発するレーザ光を光学手段により誘
導し、ターゲットに照射していた。
発明が解決しようとする課題 レーザ蒸着法で薄膜を作製する場合には、レーザ光をタ
ーゲットに照射した時に発生するロウツク様の形状をし
たプルームと呼ばれるプラズマ状態の先端部で成膜を行
う。これは、プルームの先端には、酸化された活性な成
膜粒子が多く存在するため、この部分で成膜を行うと特
性の良好な薄膜が得られるためである。
一方、一般にレーザ蒸着法では、レーザ光の照射面積は
、装置の制約上有限の大きさであり、レーザ光に照射さ
れるターゲットの面積は、ターゲット全体の面積のごく
一部となる。それに伴い、プルームも小さく、特にプル
ームの先端は、非常に微小であるため、従来、レーザ蒸
着法で作製可能な薄膜の面積は非常に小さく、また、通
常の大きさの薄膜を作製すると膜厚の分布が大きくかつ
膜質の分布も顕著であった。
そこで本発明の目的は、レーザ蒸着法の短所である小面
積不均一成膜の問題を解決し、レーザ蒸着法で、膜厚お
よび膜質分布の少ない通常以上の面積の薄膜を作製する
方法を提供することにある。
課題を解決するための手段 本発明に従うと、ターゲットにパルスレーザ光を照射し
て、前記ターゲットに対向して配置した基板上に薄膜を
堆積させて形成するレーザ蒸着法により薄膜を作製する
方法において、基板表面の乱数により決定した位置に主
に薄膜が堆積するよう前記基板をパルスレーザ光の照射
と同期して変位させて蒸着を行うことを特徴とする薄膜
の作製方法が提供される。
k浬 本発明の方法は、成膜室内の基板上の乱数により決定し
た位置に薄膜が主に堆積するよう基板を変位させ、蒸着
を行うところにその主要な特徴がある。この基板の変位
は、パルスレーザ光の照射に同期させて行う。
レーザ蒸着法では、ターゲットのレーザ光が照射された
位置の上側にプルームといわれる活性な成膜粒子の集ま
りであるプラズマが発生する。このプルームが接する位
置に基板を配置すると、基板のプルームの先端近傍に主
に薄膜が堆積する。
従って、本発明の方法では、大きい面積の均一な薄膜を
成膜することが可能になる。
本発明の方法では、上記の基板のプルームの先端に接す
べき位置を乱数により決定し、その位置にプルームが当
たるよう基板を移動する。具体的には、基板の表面を格
子状に分割し、各部に番号を付けて、乱数発生器等によ
り乱数を発生させてプルームが当たる位置を決める。本
発明の方法では、プルームが当たる位置を特定の順に移
動するのではなく、乱数により無作為に移動するのでよ
り均質な薄膜が作製可能である。
本発明の方法では、例えば、基板を上記の乱数に対応し
て変位するXYステージに搭載して移動する。本発明の
方法では、基板のみが変位し、レーザ光の光路は一定で
ある。従って、レーザ光を振ってレーザ照射位置を変化
させるのと異なり、基板の位置により、成膜条件が変化
することがない。
また、本発明の方法においては、ターゲットの平面形を
円形にしてターゲットを回転させ、レーザ光をターゲッ
トの周辺部に照射することも好ましい。これは、ターゲ
ットの同じ部分にレーザ光が当たっていると、ターゲッ
トのその部分のみが消耗され、凹むことによりプルーム
の方向が変ゎったすするからである。
以下、本発明を実施例によりさらに詳しく説明するが、
以下の開示は本発明の単なる実施例に過ぎず、本発明の
技術的範囲を何ら制限するものではない。
実施例 第1図に本発明の方法を実施するレーザ蒸着装置の一例
を示す。第1図のレーザ蒸着装置では、レーザ装置IO
で発生され、集光レンズ9を通ったレーザ光はチャンバ
1のレーザ入射窓7に入射し、チャンバ1内のターンテ
ーブル11に搭載されている原料ターゲット5を照射す
る。ターンブープル11はモータ14により、任意の回
転速度で回転させることが可能である。チャンバlの内
部は高真空に排気可能で、XYステージ12に搭載され
た基板ホルダ3に基板2がターゲット5に対向するよう
に固定されている。基板ボルダ3内には、基板2を加熱
するヒータ4が備えられている。また、チャンバ1内に
酸素を含むガスを供給するノズル6が備えられている。
本実施例の装置では、レーザ装置10はパルスレーザ光
を発振する。このパルスに対応して、乱数発生器を備え
た制御装置13が、XYステージ12に制御信号を送る
。XYステージ12は、この制御信号に基づきパルス毎
に基板2を変位させて、パルスレーザ光がターゲット5
を照射したときに発生するプルームの先端が1パルスご
とに、基板の乱数により決定された部位に接するように
する。
上記のレーザ蒸着装置を使用し、本発明の方法で、YI
Ba2CUsOt−x酸化物超電導薄膜を作製した。
基板2には、MgO単結晶基板および5rTi03単結
晶基板を用い、基板温度は650℃から750℃とした
。ターゲット5には、直径2 cmのY1Ba2CL1
30t−xの焼結体を用いた。また、基板2とターゲッ
ト5間の距離は7 cmとした。チャンバ1の内部を1
×1O−6Torrに排気したのち酸素ガスを導入し1
00mTorrにした。
レーザは、波長193nmのエキシマレーザを使用し、
レーザ出力は3.5 J /cnf、レーザ光の照射面
積を2X4u+n2とし、パルス周波数を5Hzとした
制御装置13によりXYステージ12上の基板2を乱数
に基づいて変位させ、基板2の3 X 3 crlの領
域をプルームが走査するようにした。また、ターゲット
5は、1.5/秒で回転させた。
上記の条件で、30分開成膜を行ない、得られた酸化物
超電導薄膜の膜厚分布と超電導特性の測定を行なった。
その結果、本発明の方法で作製した酸化物超電導薄膜の
膜厚分布は、35X35mm2の範囲で±10%であっ
た。一方、他の成膜条件は等しくして、プルームを基板
の一点に当てたままにする従来の方法の場合の膜厚分布
は1010X10”の範囲で±10%であった。本発明
の方法で作製した酸化物超電導薄膜の臨界温度と膜厚の
測定結果を、第1表に示す。
第1表 発明の詳細 な説明したように本発明に従うと、従来よりも大面積で
膜厚分布の少ない薄膜を作製することが可能である。こ
れは、本発明の方法に独特な、プルームが基板上の乱数
で決められた位置に当たるよう基板を移動しながら成膜
する効果である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の方法を実現するレーザ蒸着装置の一
例の概略図である。 〔主な参照番号〕 1・・・チャンバ 2・・・基板 3・・・基板ホルダ 4・・・ヒータ 5・・・ターゲット 6・・・ノズル 7・・・入射窓 8・・・ミラー 9・・・集光レンズ 10・・・レーザ装置 11・・・ターンテーブル、 12・・・XYステージ、 13・・・制御装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ターゲットにパルスレーザ光を照射して、前記ターゲ
    ットに対向して配置した基板上に薄膜を堆積させて形成
    するレーザ蒸着法により薄膜を作製する方法において、
    基板表面の乱数により決定した位置に主に薄膜が堆積す
    るよう前記基板をパルスレーザ光の照射と同期して変位
    させて蒸着を行うことを特徴とする薄膜の作製方法。
JP14926090A 1990-06-07 1990-06-07 レーザ蒸着法による薄膜の作製方法 Pending JPH0441666A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14926090A JPH0441666A (ja) 1990-06-07 1990-06-07 レーザ蒸着法による薄膜の作製方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14926090A JPH0441666A (ja) 1990-06-07 1990-06-07 レーザ蒸着法による薄膜の作製方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0441666A true JPH0441666A (ja) 1992-02-12

Family

ID=15471365

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14926090A Pending JPH0441666A (ja) 1990-06-07 1990-06-07 レーザ蒸着法による薄膜の作製方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0441666A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2662321B2 (ja) 超低速クラスターイオンビームによる表面処理方法
US5084300A (en) Apparatus for the ablation of material from a target and coating method and apparatus
US5660746A (en) Dual-laser process for film deposition
JPH0870144A (ja) 超電導部品の作製方法
US6063455A (en) Apparatus for manufacturing diamond film having a large area and method thereof
US5415901A (en) Laser ablation device and thin film forming method
Blank et al. High Tc thin films prepared by laser ablation: material distribution and droplet problem
US5264412A (en) Laser ablation method for forming oxide superconducting thin films using a homogenized laser beam
JPH0441666A (ja) レーザ蒸着法による薄膜の作製方法
JP3080096B2 (ja) 大面積薄膜の作製方法
JPH04214007A (ja) 酸化物超電導膜の製造方法および装置
JPH03287760A (ja) 大面積薄膜の作製方法
JPH0441665A (ja) レーザ蒸着法による薄膜の作製方法
JPH03174306A (ja) 酸化物超電導体の製造方法
CN118028968A (zh) 一种激光诱导无光刻沉积单晶硅周期性点阵的方法
JPH0438833B2 (ja)
JPH06228743A (ja) 真空蒸着装置
JPH04187581A (ja) 大面積の酸化物超電導薄膜の作製方法
CA2188902A1 (en) Process for formation of oxide thin film
CA2044439C (en) Process for preparing superconducting oxide thin films
JPH0885865A (ja) レーザ蒸着法による薄膜の作製方法
JP3399184B2 (ja) レーザ蒸着法による薄膜の成膜方法
JP3610617B2 (ja) レーザ蒸着法による薄膜の作製方法
JPH06172979A (ja) 薄膜パターン形成装置
KR100393184B1 (ko) 펄스파레이저증착법을이용한고온초전도박막제조장치및그방법