JPH0443606A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法Info
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- JPH0443606A JPH0443606A JP2151991A JP15199190A JPH0443606A JP H0443606 A JPH0443606 A JP H0443606A JP 2151991 A JP2151991 A JP 2151991A JP 15199190 A JP15199190 A JP 15199190A JP H0443606 A JPH0443606 A JP H0443606A
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- Thermistors And Varistors (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
従来の技術
従来、各種の電気機器、電子機器における異常高電圧の
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこと
ができる。
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこと
ができる。
α
r −(V/C)
ここで、■は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧−電流非直線指数である6SiCバリスタの
αは2〜7程度、ZnO系バリスタではαが50にもお
よぶものがある。このようなバリスタは比較的高い電圧
の吸収には優れた性能を有しているが、誘電率が低く、
固有の静電容量が小さいためバリスタ電圧以下の比較的
低い電圧の吸収にはほとんど効果を示さず、また誘電損
失tanδが5〜10%と大きい。
、αは電圧−電流非直線指数である6SiCバリスタの
αは2〜7程度、ZnO系バリスタではαが50にもお
よぶものがある。このようなバリスタは比較的高い電圧
の吸収には優れた性能を有しているが、誘電率が低く、
固有の静電容量が小さいためバリスタ電圧以下の比較的
低い電圧の吸収にはほとんど効果を示さず、また誘電損
失tanδが5〜10%と大きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサは号−ジなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしての機能を果たさなくなっ
たりする。
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサは号−ジなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしての機能を果たさなくなっ
たりする。
そこで最近になって5rTiO,を主成分とし、バリス
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
発明が解決しようとする課題
上記の5rTiOsを主成分とするバリスタとコンデン
サの両方の機能を有する素子は、Zr+O系バリスタに
比べ誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小
さく、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しゃずいと
いった欠点を有していた。
サの両方の機能を有する素子は、Zr+O系バリスタに
比べ誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小
さく、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しゃずいと
いった欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が大きく、バリスタ電圧が低
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、(Srl−
Jaw)@Ti0i (0,001≦x≦0.300.
0.950≦a<1.ooo)(以下第1成分と呼ぶ)
を90.000〜99.998so1$S Nb1O1
,TazOsJOs、DyzOx、YzO*、LazO
xCeOl、Sagos、Pr60+ zNdxoxの
うち少なくとも1種類以上(以下第2成分と呼ぶ)を0
.001〜5.000molχ、A1.Os、5bzO
s、BaO,BeO,PbO,BzO,、CrzO3F
e、03.CdO,KzO,CaO,Co、03.Cu
O,Cu2O,LirO,l−il−1F、門nJ、M
00z、NazO,NaF、NiO,Rh2O3,5e
02.AgJsio、、 sic、 SrO,Tl t
o3. The2. Til□、 V2O5,Ri p
ot 、 Zn0ZrOz、5nOzのうち少な(とも
1種類基ト(以上第3成分と呼ぶ)をo、oo+〜5.
OOOmolχ含有してなル主成分100!1部ト、M
gTlOs 60.000−32.500鵬O1χ、
SiO□ 40.000〜67.5m。1χからなる
混合物を1200〜1300°Cで焼成してなる添加物
(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜10.000
重量部とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を
得ることにより、問題を解決しようとするものである。
Jaw)@Ti0i (0,001≦x≦0.300.
0.950≦a<1.ooo)(以下第1成分と呼ぶ)
を90.000〜99.998so1$S Nb1O1
,TazOsJOs、DyzOx、YzO*、LazO
xCeOl、Sagos、Pr60+ zNdxoxの
うち少なくとも1種類以上(以下第2成分と呼ぶ)を0
.001〜5.000molχ、A1.Os、5bzO
s、BaO,BeO,PbO,BzO,、CrzO3F
e、03.CdO,KzO,CaO,Co、03.Cu
O,Cu2O,LirO,l−il−1F、門nJ、M
00z、NazO,NaF、NiO,Rh2O3,5e
02.AgJsio、、 sic、 SrO,Tl t
o3. The2. Til□、 V2O5,Ri p
ot 、 Zn0ZrOz、5nOzのうち少な(とも
1種類基ト(以上第3成分と呼ぶ)をo、oo+〜5.
OOOmolχ含有してなル主成分100!1部ト、M
gTlOs 60.000−32.500鵬O1χ、
SiO□ 40.000〜67.5m。1χからなる
混合物を1200〜1300°Cで焼成してなる添加物
(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜10.000
重量部とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を
得ることにより、問題を解決しようとするものである。
また、上記主成分と添加物とからなる組成物を1100
’C以上でで焼成したバリスタの製造方法、さらにはそ
の焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、
その後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成した
バリスタの製造方法を捷供しようとするものである。
’C以上でで焼成したバリスタの製造方法、さらにはそ
の焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、
その後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成した
バリスタの製造方法を捷供しようとするものである。
作用
上記の発明において第1成分は主たる成分であり、5r
TiO,のSrの一部をBaで1換することにより粒界
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘電
率を大きくすることができる。
TiO,のSrの一部をBaで1換することにより粒界
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘電
率を大きくすることができる。
また、第2成分は主に第1成分の半導体化を促進する金
属酸化物である。さらに、第3成分は誘電率、α、サー
ジ耐量の改善に寄与するものであり、第4成分はバリス
タ電圧の低下、誘電率の改善に有効なものである。特に
、第4成分は融点が1230〜1250°Cと比較的低
いため、融点前後の温度で焼成すると液相となり、その
他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促進する
。そのため粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、粒
界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコン
デンサ機能が改善される。また、粒成長が促進されるた
めバリスタ電圧が低くなり、粒径の均一性が向上するた
め特性の安定性が良くなり、特にサージ耐量が改善され
る。
属酸化物である。さらに、第3成分は誘電率、α、サー
ジ耐量の改善に寄与するものであり、第4成分はバリス
タ電圧の低下、誘電率の改善に有効なものである。特に
、第4成分は融点が1230〜1250°Cと比較的低
いため、融点前後の温度で焼成すると液相となり、その
他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促進する
。そのため粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、粒
界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコン
デンサ機能が改善される。また、粒成長が促進されるた
めバリスタ電圧が低くなり、粒径の均一性が向上するた
め特性の安定性が良くなり、特にサージ耐量が改善され
る。
実施例
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
まず、MgTiOs、 5iftを下記の第1表に示す
ように組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで2
4Hr混合する1次に、乾燥した後、下記の第1表に示
すように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなど
で24H「粉砕した後、乾燥し、第4成分とする。次い
で、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の
第1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミル
などで22Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコ
ールなどの有機バインダーを10−tχ添加して造粒し
た後、1 (t/cj)のプレス圧力で10φ×lt(
■)の円板状に成形し、10日0°Cで6)1r焼成し
脱バインダーする9次に、第1表に示したように温度と
時間を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰
囲気、例えば、N、:)lアー9:1のガス中で温度と
時間を種々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後
、酸化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3
焼成)する。
ように組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで2
4Hr混合する1次に、乾燥した後、下記の第1表に示
すように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなど
で24H「粉砕した後、乾燥し、第4成分とする。次い
で、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の
第1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミル
などで22Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコ
ールなどの有機バインダーを10−tχ添加して造粒し
た後、1 (t/cj)のプレス圧力で10φ×lt(
■)の円板状に成形し、10日0°Cで6)1r焼成し
脱バインダーする9次に、第1表に示したように温度と
時間を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰
囲気、例えば、N、:)lアー9:1のガス中で温度と
時間を種々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後
、酸化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3
焼成)する。
(以下余白)
上記のようにして得られた第1図および第2図に示す焼
結体1の両平面に外周を残すようにしてAgなとの導電
性ペーストをスクリーン印刷などにより塗布し、610
℃、4m1nで焼成し、電極2.3を形成する6次に、
半田などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポ
キシなどの樹脂(図示せず)を塗装する。このようにし
て得られた素子の特性を下記の第2表に示す。
結体1の両平面に外周を残すようにしてAgなとの導電
性ペーストをスクリーン印刷などにより塗布し、610
℃、4m1nで焼成し、電極2.3を形成する6次に、
半田などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポ
キシなどの樹脂(図示せず)を塗装する。このようにし
て得られた素子の特性を下記の第2表に示す。
なお、第2表において、誘電率はlに1セでの静電容量
から計夏したものであり、αは a = 1 / log(V IO+sA/ V II
IJ(ただし、■、□、■1゜、Aはl mA、 10
s+Aの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧であ
る。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流
を印加した後のVl、Aの変化率が±10%以内である
時の最大のパルス性電流値により評価している。
から計夏したものであり、αは a = 1 / log(V IO+sA/ V II
IJ(ただし、■、□、■1゜、Aはl mA、 10
s+Aの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧であ
る。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流
を印加した後のVl、Aの変化率が±10%以内である
時の最大のパルス性電流値により評価している。
(以下余白)
本発明において、第1成分の(Srl−xBaJaTi
03のXの範囲を規定したのは、Xが0.001よりも
小さいと効果を示さず、0.300を趙えると格子欠陥
が発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒界に
Baが単一相として析出するため、組織が不均一になり
、VlmAが高くなりすぎて特性が劣化するためである
。またaの範囲を規定したのは0.950よりも小さく
なるとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、i、oooを超えると誘電体の誘電率が
小さくなるためである。さらに、第2成分は0.001
molχ未満では効果を示さず、5.OOOmolχを
超えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界
に第2相を形成することから特性が劣化するものである
。また、第3成分は0.001■olχ未満では効果を
示さず、5.000 mo1%を趙えると粒界に偏析し
て第2相を形成することから特性が劣化するものである
。そして、第4成分はMgTiOsとSiO□の2成分
系の相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、そ
の範囲外では融点が高くなるものである。また、第4成
分の添加量は、0.0OIffi量部未満では効果を示
さず、io、ooo重置部を超えると粒界の抵抗は高(
なるが粒界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなる
と共にVlmAが高くなり、サージに対して弱くなるも
のである。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは
、低融点の第4成分が合成される温度が1200″Cで
あるためである。そして、第1焼成の温度を規定したの
は、第4成分の融点が1230〜1250℃であるため
、1100℃以上の温度で焼成すると第4成分が液相に
近い状態になって焼結が促進されるためであり、110
0”C未満では第4成分の液相焼結効果がないためであ
る。また、第2焼成の温度を規定したのは、1200″
C未満では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バ
リスタ特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである
。
03のXの範囲を規定したのは、Xが0.001よりも
小さいと効果を示さず、0.300を趙えると格子欠陥
が発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒界に
Baが単一相として析出するため、組織が不均一になり
、VlmAが高くなりすぎて特性が劣化するためである
。またaの範囲を規定したのは0.950よりも小さく
なるとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、i、oooを超えると誘電体の誘電率が
小さくなるためである。さらに、第2成分は0.001
molχ未満では効果を示さず、5.OOOmolχを
超えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界
に第2相を形成することから特性が劣化するものである
。また、第3成分は0.001■olχ未満では効果を
示さず、5.000 mo1%を趙えると粒界に偏析し
て第2相を形成することから特性が劣化するものである
。そして、第4成分はMgTiOsとSiO□の2成分
系の相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、そ
の範囲外では融点が高くなるものである。また、第4成
分の添加量は、0.0OIffi量部未満では効果を示
さず、io、ooo重置部を超えると粒界の抵抗は高(
なるが粒界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなる
と共にVlmAが高くなり、サージに対して弱くなるも
のである。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは
、低融点の第4成分が合成される温度が1200″Cで
あるためである。そして、第1焼成の温度を規定したの
は、第4成分の融点が1230〜1250℃であるため
、1100℃以上の温度で焼成すると第4成分が液相に
近い状態になって焼結が促進されるためであり、110
0”C未満では第4成分の液相焼結効果がないためであ
る。また、第2焼成の温度を規定したのは、1200″
C未満では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バ
リスタ特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである
。
さらに、第3焼成の温度を規定したのは、900℃未満
では粒界の高抵抗化が十分に進まないため、VlmAが
低くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、13
00°Cを趙えると静電容量が小さくなりすぎコンデン
サ特性が劣化するためである。さらに、第1焼成の雰囲
気は酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果があ
ることを確認した。
では粒界の高抵抗化が十分に進まないため、VlmAが
低くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、13
00°Cを趙えると静電容量が小さくなりすぎコンデン
サ特性が劣化するためである。さらに、第1焼成の雰囲
気は酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果があ
ることを確認した。
また、本実施例では添加物の組み合わせについては、第
1成分として(Sr+−Jax)、TiO* (0,0
01≦x≦0.300.0.950≦a<1.000)
、第2成分としてNbzOs−丁azOsWOs、Dy
zOs、YtO3+LazOj、Ce0z 、第3成分
トL 7AIzOs、PbO,Crt03.CdO,K
J、CJO3,Cll0Cu、O,MnO,、MoOs
、NiO,AgtO,SiC,TlzO3,ZnO,Z
rO,、第4成分としてMgTi0i、SiO□につい
てのみ示したが、その他に第2成分としてSs!03.
Pr60+++NdtOz、第3成分として5bzOs
、 Bad、 Bed、 BtOx、 Feto3+
Ca0LizO,LiF、MgO,NatO,NaF、
RhtO3,5eOz、5iO1,5rOThO1,T
rOt、VtOs、BIzO!+5nO1を用いた組成
の組み合わせでも同様の効果が得られることを確認した
。また、第2成分および第3成分については、それぞれ
2種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支え
ないことを併せて確認した。なお、第1成分、第2成分
、第3成分、第4成分を第1焼成するだけでも第4成分
が液相になり、その他の成分の反応を促進すると共に粒
子の成長を促進するため、粒界部分に第3成分が偏析し
やすくなり、粒界が高抵抗化され易くなり、バリスタ機
能およびコンデンサ機能が改善されるという効果がある
があることを確認した。
1成分として(Sr+−Jax)、TiO* (0,0
01≦x≦0.300.0.950≦a<1.000)
、第2成分としてNbzOs−丁azOsWOs、Dy
zOs、YtO3+LazOj、Ce0z 、第3成分
トL 7AIzOs、PbO,Crt03.CdO,K
J、CJO3,Cll0Cu、O,MnO,、MoOs
、NiO,AgtO,SiC,TlzO3,ZnO,Z
rO,、第4成分としてMgTi0i、SiO□につい
てのみ示したが、その他に第2成分としてSs!03.
Pr60+++NdtOz、第3成分として5bzOs
、 Bad、 Bed、 BtOx、 Feto3+
Ca0LizO,LiF、MgO,NatO,NaF、
RhtO3,5eOz、5iO1,5rOThO1,T
rOt、VtOs、BIzO!+5nO1を用いた組成
の組み合わせでも同様の効果が得られることを確認した
。また、第2成分および第3成分については、それぞれ
2種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支え
ないことを併せて確認した。なお、第1成分、第2成分
、第3成分、第4成分を第1焼成するだけでも第4成分
が液相になり、その他の成分の反応を促進すると共に粒
子の成長を促進するため、粒界部分に第3成分が偏析し
やすくなり、粒界が高抵抗化され易くなり、バリスタ機
能およびコンデンサ機能が改善されるという効果がある
があることを確認した。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、第4成分による液
相焼結効果により、粒子径が大きいため、バリスタ電圧
が低く、誘電率Cおよびαが大きく、粒子径のばらつき
が小さいため、サージ電流が素子に均一に流れ、またB
aによって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ
耐量が大きくなるという効果が得られる。
相焼結効果により、粒子径が大きいため、バリスタ電圧
が低く、誘電率Cおよびαが大きく、粒子径のばらつき
が小さいため、サージ電流が素子に均一に流れ、またB
aによって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ
耐量が大きくなるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す上面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2.3・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第 図 第 図
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2.3・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第 図 第 図
Claims (3)
- (1)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%,Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなることを特
徴とする電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MnO_2,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Ti_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成したことを特徴とするバリスタ
の製造方法。 - (3)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成した後、還元性雰囲気中で12
00℃以上で焼成し、その後酸化性雰囲気中で900〜
1300℃で焼成したことを特徴とするバリスタの製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2151991A JPH0443606A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2151991A JPH0443606A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0443606A true JPH0443606A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15530675
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2151991A Pending JPH0443606A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0443606A (ja) |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2151991A patent/JPH0443606A/ja active Pending
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