JPH0443610A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法Info
- Publication number
- JPH0443610A JPH0443610A JP2151995A JP15199590A JPH0443610A JP H0443610 A JPH0443610 A JP H0443610A JP 2151995 A JP2151995 A JP 2151995A JP 15199590 A JP15199590 A JP 15199590A JP H0443610 A JPH0443610 A JP H0443610A
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- Japan
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- component
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生ずる異常高電圧、ノ
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
従来の技術
従来、各種の電気機器、電子機器における異常高電圧の
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこと
ができる。
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこと
ができる。
α
1−(V/C)
ここで、■は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧−電流非直線指数である。
、αは電圧−電流非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の#電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の#電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしてのIl能を果たさなくな
ったりする。
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしてのIl能を果たさなくな
ったりする。
そこで最近になって5rTiO*を主成分とし、バリス
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
発明が解決しようとする!!題
上記の5rTiO,を主成分とするバリスタとコンデン
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいといっ
た欠点を有していた。
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいといっ
た欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が大きく、バリスタ電圧が低
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、(Sr+−
xBaJ−Ti03(0,001≦X≦0.300.0
.950≦a<1.0oo)(以下第1成分と呼ぶ)を
90.000〜99.998so1χ、 NbzOs1
丁azOs、WOi、DyzOz、YzOz、1.az
03゜Ce01.S@tOs、PrhOx、NdxOs
のうち少なくとも1種類以L(以下第2成分と呼ぶ)を
0.001〜5.000so1χ、Alt03,5bJ
t、BaO,BeO,PbO,B20x、CryOiF
etOi、CdO,KzO,CaO,Cox03.Cu
O,CuJ、Li2O,LiFMgO,Mn0z、MO
Ot、NaJ、NaF、N!0.RJOi、5eOz、
AgJSiOl、 SiC,SrO,TltOi、 T
haw、 Ti0z、シzOs、81 z(L+、 Z
n0ZrO□、Snowのうち少なくとも1種類以上(
以下第3成分と呼ぶ)を0.001〜5.0OOsol
χ含有してなる主成分100重量部と、BaTi0:+
60.OOO〜32.500molχ、 5iOz
40.000〜67.5i+olχからなる混合物
を1200〜1300°Cで焼成してなる添加物(以下
第4成分と呼ぶ) 0.001〜10.000重量部
とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得るこ
とにより、問題を解決しようとするものである。
xBaJ−Ti03(0,001≦X≦0.300.0
.950≦a<1.0oo)(以下第1成分と呼ぶ)を
90.000〜99.998so1χ、 NbzOs1
丁azOs、WOi、DyzOz、YzOz、1.az
03゜Ce01.S@tOs、PrhOx、NdxOs
のうち少なくとも1種類以L(以下第2成分と呼ぶ)を
0.001〜5.000so1χ、Alt03,5bJ
t、BaO,BeO,PbO,B20x、CryOiF
etOi、CdO,KzO,CaO,Cox03.Cu
O,CuJ、Li2O,LiFMgO,Mn0z、MO
Ot、NaJ、NaF、N!0.RJOi、5eOz、
AgJSiOl、 SiC,SrO,TltOi、 T
haw、 Ti0z、シzOs、81 z(L+、 Z
n0ZrO□、Snowのうち少なくとも1種類以上(
以下第3成分と呼ぶ)を0.001〜5.0OOsol
χ含有してなる主成分100重量部と、BaTi0:+
60.OOO〜32.500molχ、 5iOz
40.000〜67.5i+olχからなる混合物
を1200〜1300°Cで焼成してなる添加物(以下
第4成分と呼ぶ) 0.001〜10.000重量部
とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物を得るこ
とにより、問題を解決しようとするものである。
また、上記主成分と添加物とからなる組成物を1100
°C以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成したバ
リスタの製造方法を捷供しようとするものである。
°C以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成したバ
リスタの製造方法を捷供しようとするものである。
作用
上記の発明において第1成分は主たる成分であり、5r
TiOsのSrの一部をBaで置換することにより粒界
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘電
率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主に
第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。また
、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与する
ものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率の
改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が12
30〜1250°Cと比較的低いため、融点前後の温度
で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進す
ると共に粒子の成長を促進する。そのため粒界部分に第
3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやすく
なり、バリスタ機能およびコンデンサ機能が改善される
。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低くな
り、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良くな
り、特にサージ耐量が改善される。
TiOsのSrの一部をBaで置換することにより粒界
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘電
率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主に
第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。また
、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与する
ものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率の
改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が12
30〜1250°Cと比較的低いため、融点前後の温度
で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進す
ると共に粒子の成長を促進する。そのため粒界部分に第
3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやすく
なり、バリスタ機能およびコンデンサ機能が改善される
。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低くな
り、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良くな
り、特にサージ耐量が改善される。
実施例
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
まず、BaTi01.5iOtを下記の第1表に示すよ
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで20
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
20Hr粉砕した後、乾燥し、第4成分とする0次いで
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで24Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/d)のプレス圧力で10φ×11(−
)の円板状に成形し、1000℃で1Of(r焼成し脱
バインダーする0次に、第1表に示したように温度と時
間を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲
気、例えばN、:H,=9 : 1のガス中で温度と時
間を種々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後、
酸化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼
成)する。
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで20
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
20Hr粉砕した後、乾燥し、第4成分とする0次いで
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで24Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/d)のプレス圧力で10φ×11(−
)の円板状に成形し、1000℃で1Of(r焼成し脱
バインダーする0次に、第1表に示したように温度と時
間を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲
気、例えばN、:H,=9 : 1のガス中で温度と時
間を種々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後、
酸化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼
成)する。
(以下余白)
こうして得られた第1図および第2図に示す焼結体1の
両手面に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、600℃、
5m1nで焼成し、電極2,3を形成する。次に、半田
などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
両手面に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、600℃、
5m1nで焼成し、電極2,3を形成する。次に、半田
などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
なお、第2表において誘電率はIKHzでの静電容量か
ら計算したものであり、αは α= 1 / log(V z+*a/ V +5A)
(ただし、V I aA、V I。、は1 mA、 1
0mAの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧であ
る。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流
を印加した後のVImAの変化率が±10%以内である
時の最大のパルス性電流値により評価した。
ら計算したものであり、αは α= 1 / log(V z+*a/ V +5A)
(ただし、V I aA、V I。、は1 mA、 1
0mAの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧であ
る。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流
を印加した後のVImAの変化率が±10%以内である
時の最大のパルス性電流値により評価した。
(以下余白)
本発明において、第1成分の(Sr+−xBax) a
TiosのXの範囲を規定したのは、Xが0.001よ
りも小さいと効果を示さず、0.300を超えると格子
欠陥が発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒
界にHaが単一相として析出するため組織が不均一にな
り、v1□が高くなりすぎて特性が劣化するためである
。また、aの範囲を規定したのは、0.950よりも小
さいとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、1.000を超えると誘電体の誘電率が
劣化するためである。さらに、第2成分は0.001■
olχ未満では効果を示さず、5.000molχを趙
えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界に
第2相を形成することから特性が劣化するものである。
TiosのXの範囲を規定したのは、Xが0.001よ
りも小さいと効果を示さず、0.300を超えると格子
欠陥が発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒
界にHaが単一相として析出するため組織が不均一にな
り、v1□が高くなりすぎて特性が劣化するためである
。また、aの範囲を規定したのは、0.950よりも小
さいとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、1.000を超えると誘電体の誘電率が
劣化するためである。さらに、第2成分は0.001■
olχ未満では効果を示さず、5.000molχを趙
えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界に
第2相を形成することから特性が劣化するものである。
また、第3成分は0.001mo1χ未満では効果を示
さず、5.000molχを超えると粒界に偏析して第
2相を形成することから特性が劣化するものである。そ
して、第4成分はBaTiO3とSiO□の2成分系の
相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、その範
囲外では融点が高くなるものである。また、第4成分の
添加量は、0.001重量部未満では効果を示さず、1
0.000重量部を超えると粒界の抵抗は高くなるが粒
界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなると共にV
ImAが高くなり、サージに対して弱くなるものであ
る。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは、低融
点の第4成分が合成される温度が1200℃以上である
ためである。また、第1焼成の温度を規定したのは、第
4成分の融点が1230〜1250℃であるため、11
00″C以上の温度で焼成すると第4成分が液相に近い
状態になって焼結が促進されるためであり、1100℃
未満では第4成分による液相焼結効果がないためである
。そして、第2焼成の温度を規定したのは、1200℃
未満では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バリ
スタ特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである。
さず、5.000molχを超えると粒界に偏析して第
2相を形成することから特性が劣化するものである。そ
して、第4成分はBaTiO3とSiO□の2成分系の
相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、その範
囲外では融点が高くなるものである。また、第4成分の
添加量は、0.001重量部未満では効果を示さず、1
0.000重量部を超えると粒界の抵抗は高くなるが粒
界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなると共にV
ImAが高くなり、サージに対して弱くなるものであ
る。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは、低融
点の第4成分が合成される温度が1200℃以上である
ためである。また、第1焼成の温度を規定したのは、第
4成分の融点が1230〜1250℃であるため、11
00″C以上の温度で焼成すると第4成分が液相に近い
状態になって焼結が促進されるためであり、1100℃
未満では第4成分による液相焼結効果がないためである
。そして、第2焼成の温度を規定したのは、1200℃
未満では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バリ
スタ特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである。
また、第3焼成の温度を規定したのは、900℃未満で
は粒界の高抵抗化が十分に進まないため、■1.Aが低
くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、130
0℃を趙えると静電容量が小さくなりすぎコンデンサ特
性が劣化するためである。さらに、第1焼成の雰囲気は
酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果があるこ
とを確認した。
は粒界の高抵抗化が十分に進まないため、■1.Aが低
くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、130
0℃を趙えると静電容量が小さくなりすぎコンデンサ特
性が劣化するためである。さらに、第1焼成の雰囲気は
酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果があるこ
とを確認した。
また、本実施例では添加物の組み合わせについては、第
1成分として(Sr+−’IIBax)aTios (
0,001≦X≦0.300.0.950≦a <1.
000)、第2成分としてNbtOs、Taxes、W
O3,DyzOz、Y!O!+ La2O2,CeOz
lSmtOxPrhOll、NdtOs、第3成分とし
てAIz03.PbO,Cr1Os。
1成分として(Sr+−’IIBax)aTios (
0,001≦X≦0.300.0.950≦a <1.
000)、第2成分としてNbtOs、Taxes、W
O3,DyzOz、Y!O!+ La2O2,CeOz
lSmtOxPrhOll、NdtOs、第3成分とし
てAIz03.PbO,Cr1Os。
F e J 31 CdO+ K tO+ Coxes
+ Cub、 Cu tOLl !011 MgO+
MnOxMooi、NjO,5eOz、AgtO,S
iC,TlgOs、Zr0z 、第4成分としてBaT
i0.5iftについてのみ示したが、その他の組み合
わせとして第3成分として5b103. Bad。
+ Cub、 Cu tOLl !011 MgO+
MnOxMooi、NjO,5eOz、AgtO,S
iC,TlgOs、Zr0z 、第4成分としてBaT
i0.5iftについてのみ示したが、その他の組み合
わせとして第3成分として5b103. Bad。
BeO,BtOi+CaO,LiF、NazO,NaF
、RhzO3+510g、SrO。
、RhzO3+510g、SrO。
Th0t、Ti0z、VtOs、BizOs、ZnO,
Snowを用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得
られることを確認した。
Snowを用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得
られることを確認した。
また、第2成分および第4成分については、それぞれ2
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せてf!認した。
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せてf!認した。
なお、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を11
00°C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
00°C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、第4成分による液
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率εおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流れ、また、Ba
によって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ耐
量が大きくなるという効果が得られる。
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率εおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流れ、また、Ba
によって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ耐
量が大きくなるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す上面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名箆 図 第 図
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名箆 図 第 図
Claims (3)
- (1)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち少
なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol%
、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO,
PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O_
3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,Cu
O,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,MnO
_2,MoO_3,Na_2O_3,NaF,NiO,
Rh_2O_3,SeO_2,AG_2O,SiO_2
,SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,Ti
O_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,Zr
O_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.
001〜5.000mol%含有してなる主成分100
重量部と、BaTiO_3 60.000〜32.50
0mol%、SiO_2 40.000〜67.5mo
l%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添
加物0.001〜10.000重量部とからなることを
特徴とする電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,AG_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、BaTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成したことを特徴とするバリスタ
の製造方法。 - (3)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K2O,CaO,Co_2O_3,Cu
O,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,MnO
_2,MoO_3,N_2o,NaF,NiO,Rh_
2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,Si
C,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO_2
,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO_2
,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.001
〜5.000mol%含有してなる主成分100重量部
と、BaTiO_3 60.000〜32.500mo
l%,SiO_2 40.000〜67.5mol%か
らなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加物0
.001〜10.000重量部とからなる組成物を、1
100℃以上で焼成した後、還元性雰囲気中で1200
℃以上で焼成し、その後酸化性雰囲気中で900〜13
00℃で焼成したことを特徴とするバリスタの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2151995A JPH0443610A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2151995A JPH0443610A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0443610A true JPH0443610A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15530764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2151995A Pending JPH0443610A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0443610A (ja) |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2151995A patent/JPH0443610A/ja active Pending
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