JPH0443816Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0443816Y2 JPH0443816Y2 JP13365786U JP13365786U JPH0443816Y2 JP H0443816 Y2 JPH0443816 Y2 JP H0443816Y2 JP 13365786 U JP13365786 U JP 13365786U JP 13365786 U JP13365786 U JP 13365786U JP H0443816 Y2 JPH0443816 Y2 JP H0443816Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- faucet
- light
- detected object
- defect
- pixel
- Prior art date
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- Expired
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、水栓等の表面特に端部に存在するピ
ンホール、割れ傷等の欠陥を光学的に検出する欠
陥検出装置に関する。
ンホール、割れ傷等の欠陥を光学的に検出する欠
陥検出装置に関する。
（従来の技術）
水栓等の製造過程においてピンホール欠陥や割
れ傷などが発生する場合があり、これら欠陥品を
製造ラインから除去する必要がある。
れ傷などが発生する場合があり、これら欠陥品を
製造ラインから除去する必要がある。
水栓等の欠陥には胴体部に発生するピンホール
欠陥や割れ傷の他に端部に発生する欠けや割れ傷
等の欠陥がある。このような端部の欠陥は、水栓
等を回転させて全周を一次元CCDイメージセン
サカメラで受光させた場合の端部に位置する
CCDイメージセンサの画素出力の変化により検
出する方法が知られている。
欠陥や割れ傷の他に端部に発生する欠けや割れ傷
等の欠陥がある。このような端部の欠陥は、水栓
等を回転させて全周を一次元CCDイメージセン
サカメラで受光させた場合の端部に位置する
CCDイメージセンサの画素出力の変化により検
出する方法が知られている。
（考案が解決しようとする問題点）
しかしながら、このような従来の欠陥検出方法
では、水栓等の胴体部の欠陥検出は高精度でなさ
れる反面、水栓等の端部における欠陥検出は精度
がそれ程得られず、特別の検出処理を必要とし煩
雑化するのみならず、高精度な欠陥検出が困難で
あつた。
では、水栓等の胴体部の欠陥検出は高精度でなさ
れる反面、水栓等の端部における欠陥検出は精度
がそれ程得られず、特別の検出処理を必要とし煩
雑化するのみならず、高精度な欠陥検出が困難で
あつた。
本考案は、上記問題点に鑑みてなされたもので
高精度且つ容易に水栓等端部の欠陥を検出するこ
とのできる欠陥検出装置を提供することを目的と
する。
高精度且つ容易に水栓等端部の欠陥を検出するこ
とのできる欠陥検出装置を提供することを目的と
する。
本考案について、以下水栓を例にして説明す
る。
る。
（問題点を解決するための手段）
前述の問題点を解決し、上記目的を達成するた
めに本考案が提供する手段は、水栓表面からの光
を複数画素を有する光検出手段に収束して入射
し、該複数画素を所定周期毎に走査して各画素の
入射光量に相応した受光出力に基づいて水栓表面
のピンホール等の欠陥を検出する水栓欠陥検出装
置であつて、前記水栓表面の光反射係数に略等し
い光反射係数を有する治具を該水栓端部に密着状
態で結合し、該水栓端部の欠陥検出を水栓中央部
と同様に処理することを特徴とする。
めに本考案が提供する手段は、水栓表面からの光
を複数画素を有する光検出手段に収束して入射
し、該複数画素を所定周期毎に走査して各画素の
入射光量に相応した受光出力に基づいて水栓表面
のピンホール等の欠陥を検出する水栓欠陥検出装
置であつて、前記水栓表面の光反射係数に略等し
い光反射係数を有する治具を該水栓端部に密着状
態で結合し、該水栓端部の欠陥検出を水栓中央部
と同様に処理することを特徴とする。
（実施例）
第１図は本考案で使用する治具３０を水栓３１
に密着状態で結合した場合を示した図である。治
具３０の表面は、白色塗料又はメツキ処理を施
し、水栓３１の表面の光反射係数と同等の光反射
係数に設定される。また、治具３０と水栓３１の
端部３３との接触部で影が生じないように治具３
０の接触端部３０ａの径を治具３０の中央部の径
と同等か又は大となるテーパ状に形成し、水栓３
１の端部３３を光学的に胴体部３２の一部として
見なすことができるようにしている。３４は回転
軸であり、治具３０と水栓３１を一体に回転す
る。この回転は、後で説明するCCDセンサの走
査周期に同期して速度が調整される。
に密着状態で結合した場合を示した図である。治
具３０の表面は、白色塗料又はメツキ処理を施
し、水栓３１の表面の光反射係数と同等の光反射
係数に設定される。また、治具３０と水栓３１の
端部３３との接触部で影が生じないように治具３
０の接触端部３０ａの径を治具３０の中央部の径
と同等か又は大となるテーパ状に形成し、水栓３
１の端部３３を光学的に胴体部３２の一部として
見なすことができるようにしている。３４は回転
軸であり、治具３０と水栓３１を一体に回転す
る。この回転は、後で説明するCCDセンサの走
査周期に同期して速度が調整される。
第２図は本考案の一実施例の欠陥検出装置を示
したブロツク図、第３図ａは正常な水栓表面から
得られる受光レベルの波形図、第３図ｂは水栓端
部に割れ傷等の欠陥が存在する場合の受光レベル
の波形図、第３図ｃはピンホール等の欠陥が水栓
端部と水栓胴体部とに存在する場合の受光レベル
の波形図である。
したブロツク図、第３図ａは正常な水栓表面から
得られる受光レベルの波形図、第３図ｂは水栓端
部に割れ傷等の欠陥が存在する場合の受光レベル
の波形図、第３図ｃはピンホール等の欠陥が水栓
端部と水栓胴体部とに存在する場合の受光レベル
の波形図である。
第２図および第３図ａ，ｂ，ｃを参照して本考
案による欠陥検出を説明する。１は複数画素を備
え、各画素に入射した光量に相応したアナログ量
の受光信号を出力する光検出手段としての一次元
カメラ（CCDセンサ）である。一次元カメラ
（CCDセンサ）１を具体的に説明すると、例えば
2048個の画素を直線的に配列し、第１図に示した
治具３０と水栓３１で成る全長約80mm程度の被検
知物体表面からの光をレンズ等を介して2048個の
画素に収束して入射することから、隣合う画素間
隔に対応する分解能、即ち、約40ミクロンの分解
能を有する。また、2048個の画素は、所定周期毎
に順次走査され、該走査周期のタイミングに同期
して各画素の受光出力を取り出すとともに、この
走査周期毎に各画素を初期設定する。第２図に示
すように一次元カメラ（CCDセンサ）１の受光
信号は、Ａ／Ｄ（アナログ／デイジタル）変換器
２に入力して順次各画素毎に多値レベル（例えば
256階調）のデイジタル値に変換される。このデ
イジタル値のデータは、所定数、例えばＮ個の画
素データをシフトするシフトレジスタ３と引算回
路４に送出される。引算回路４では、現在の画素
データDAとシフトレジスタ３を介して得られる
Ｎ画素前の過去のデータDBとの差△Ｄ（＝DB−
DA）を演算する。符号判別回路５は、差△Ｄの
符号を判別しており、△Ｄの符号が正の場合だけ
比較回路６に出力する。比較回路６では判定値回
路７の判定値と△Ｄとの値を比較し、△Ｄの値が
判定値以上の時、即ち第３図ｂのＡ点に対応する
位置で欠陥が始まつた判定し、画素カウンタ８の
カウント数をＮ画素分差し引き、即ち第３図ｂの
Ａ点に対応する画素アドレスをメモリ９に記憶す
る。画素カウンタ８には、図示しない発振器から
の走査周期に同期した信号が与えられている。ま
た、この時のDB値を閾値DSとして設定し、該DS
値と現在画素データDAとを比較回路１０で順次
比較する。第３図ｂに示すように DS≦DA となる画素位置Ｂを欠陥の終わりとして判定す
る。引算回路２０では、画素位置Ｂに相応する画
素アドレスXEとメモリ９に記憶した画素位置Ａ
に相応する画素アドレスXSとの差△Ｘを欠陥幅
として算出する。幅比較回路１１では欠陥幅△Ｘ
の程度を判別しており、△Ｘの値が所定値以上の
ときだけ欠陥有りと判別し欠陥信号を出力する。
２１は論理積回路である。
案による欠陥検出を説明する。１は複数画素を備
え、各画素に入射した光量に相応したアナログ量
の受光信号を出力する光検出手段としての一次元
カメラ（CCDセンサ）である。一次元カメラ
（CCDセンサ）１を具体的に説明すると、例えば
2048個の画素を直線的に配列し、第１図に示した
治具３０と水栓３１で成る全長約80mm程度の被検
知物体表面からの光をレンズ等を介して2048個の
画素に収束して入射することから、隣合う画素間
隔に対応する分解能、即ち、約40ミクロンの分解
能を有する。また、2048個の画素は、所定周期毎
に順次走査され、該走査周期のタイミングに同期
して各画素の受光出力を取り出すとともに、この
走査周期毎に各画素を初期設定する。第２図に示
すように一次元カメラ（CCDセンサ）１の受光
信号は、Ａ／Ｄ（アナログ／デイジタル）変換器
２に入力して順次各画素毎に多値レベル（例えば
256階調）のデイジタル値に変換される。このデ
イジタル値のデータは、所定数、例えばＮ個の画
素データをシフトするシフトレジスタ３と引算回
路４に送出される。引算回路４では、現在の画素
データDAとシフトレジスタ３を介して得られる
Ｎ画素前の過去のデータDBとの差△Ｄ（＝DB−
DA）を演算する。符号判別回路５は、差△Ｄの
符号を判別しており、△Ｄの符号が正の場合だけ
比較回路６に出力する。比較回路６では判定値回
路７の判定値と△Ｄとの値を比較し、△Ｄの値が
判定値以上の時、即ち第３図ｂのＡ点に対応する
位置で欠陥が始まつた判定し、画素カウンタ８の
カウント数をＮ画素分差し引き、即ち第３図ｂの
Ａ点に対応する画素アドレスをメモリ９に記憶す
る。画素カウンタ８には、図示しない発振器から
の走査周期に同期した信号が与えられている。ま
た、この時のDB値を閾値DSとして設定し、該DS
値と現在画素データDAとを比較回路１０で順次
比較する。第３図ｂに示すように DS≦DA となる画素位置Ｂを欠陥の終わりとして判定す
る。引算回路２０では、画素位置Ｂに相応する画
素アドレスXEとメモリ９に記憶した画素位置Ａ
に相応する画素アドレスXSとの差△Ｘを欠陥幅
として算出する。幅比較回路１１では欠陥幅△Ｘ
の程度を判別しており、△Ｘの値が所定値以上の
ときだけ欠陥有りと判別し欠陥信号を出力する。
２１は論理積回路である。
尚、第３図ｃに示すように水栓の胴体部にピン
ホール等の欠陥が存在する場合も、前述した水栓
端部における欠陥検出と同様に確実に検出するこ
とができる。
ホール等の欠陥が存在する場合も、前述した水栓
端部における欠陥検出と同様に確実に検出するこ
とができる。
（考案の効果）
以上説明したように本考案によれば、水栓端部
の欠陥を容易、且つ高精度に検出することができ
るという効果が得られる。
の欠陥を容易、且つ高精度に検出することができ
るという効果が得られる。
なお、本考案は、水栓に限らず端部をもつ物体
にも使用できる装置である。
にも使用できる装置である。
第１図は本考案で使用する治具を水栓に密着状
態で結合した場合を示した図、第２図は本考案の
一実施例の欠陥検出装置を示したブロツク図、第
３図ａは正常な水栓表面から得られる受光レベル
の波形図、第３図ｂは水栓端部に欠陥が存在する
場合の受光レベルの波形図、第３図ｃは水栓端部
と水栓胴体部とに欠陥が存在する場合の受光レベ
ルの波形図である。 １……一次元カメラ（CCDセンサ）、２……
Ａ／Ｄ変換器、３……シフトレジスタ、４……引
算回路、５……符号判別回路、６，１０，１１…
…比較回路、７……判定値回路、８……画素カウ
ンタ、９……メモリ、３０……治具、３１……水
栓、３２……胴体部、３３……端部、３４……回
転軸。
態で結合した場合を示した図、第２図は本考案の
一実施例の欠陥検出装置を示したブロツク図、第
３図ａは正常な水栓表面から得られる受光レベル
の波形図、第３図ｂは水栓端部に欠陥が存在する
場合の受光レベルの波形図、第３図ｃは水栓端部
と水栓胴体部とに欠陥が存在する場合の受光レベ
ルの波形図である。 １……一次元カメラ（CCDセンサ）、２……
Ａ／Ｄ変換器、３……シフトレジスタ、４……引
算回路、５……符号判別回路、６，１０，１１…
…比較回路、７……判定値回路、８……画素カウ
ンタ、９……メモリ、３０……治具、３１……水
栓、３２……胴体部、３３……端部、３４……回
転軸。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被検知物体表面からの光を複数画素を有する光
検出手段に収束して入射し、該複数画素を所定周
期毎に走査して各画素の入射光量に相応した受光
出力に基づいて被検知物体表面の欠陥を検出する
被検知物体欠陥検出装置において、 前記被検知物体表面の光反射係数に略等しい光
反射係数を有する治具を該被検知物体端部に密着
状態で結合し、該被検知物体端部の欠陥検出を被
検知物体中央部と同様に処理することを特徴とす
る被検知物体欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13365786U JPH0443816Y2 (ja) | 1986-08-31 | 1986-08-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13365786U JPH0443816Y2 (ja) | 1986-08-31 | 1986-08-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6339662U JPS6339662U (ja) | 1988-03-15 |
| JPH0443816Y2 true JPH0443816Y2 (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=31034169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13365786U Expired JPH0443816Y2 (ja) | 1986-08-31 | 1986-08-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0443816Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-08-31 JP JP13365786U patent/JPH0443816Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6339662U (ja) | 1988-03-15 |
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