JPH0443817Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0443817Y2 JPH0443817Y2 JP1984003303U JP330384U JPH0443817Y2 JP H0443817 Y2 JPH0443817 Y2 JP H0443817Y2 JP 1984003303 U JP1984003303 U JP 1984003303U JP 330384 U JP330384 U JP 330384U JP H0443817 Y2 JPH0443817 Y2 JP H0443817Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- sample
- ionization chamber
- vaporization section
- sample vaporization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はイオン化室内を荒引から本引に容易に
切換えれる様に成したガスクロマトグラフー質量
分析装置に関する。
切換えれる様に成したガスクロマトグラフー質量
分析装置に関する。
一般に、ガスクロマトグラフー質量分析装置で
は試料気化部に試料液を導入して該試料液を気化
すると共に該試料気化部にキヤリアガスを導入
し、該気化した試料とキヤリアガスをキヤピラリ
ーカラムを通してイオン化室内へ導入している。
そして、該イオン化室において、例えば、電子銃
からの電子ビームを該ガスに当て該ガスをイオン
化して分析系に送り、該分析系において該イオン
を質量対電荷比に応じて分離している。
は試料気化部に試料液を導入して該試料液を気化
すると共に該試料気化部にキヤリアガスを導入
し、該気化した試料とキヤリアガスをキヤピラリ
ーカラムを通してイオン化室内へ導入している。
そして、該イオン化室において、例えば、電子銃
からの電子ビームを該ガスに当て該ガスをイオン
化して分析系に送り、該分析系において該イオン
を質量対電荷比に応じて分離している。
所で、前記キヤピラリーカラムは概して細く長
いものであるが、最近、試料の分析感度を上げる
為に従来のカラムに比べて太く短いものを使用し
てイオン化室に出来る丈多くのガスが導入される
様にしている。しかし、次の様な問題が起こつ
た。
いものであるが、最近、試料の分析感度を上げる
為に従来のカラムに比べて太く短いものを使用し
てイオン化室に出来る丈多くのガスが導入される
様にしている。しかし、次の様な問題が起こつ
た。
即ち、ガスクロマトグラフー質量分析装置にお
いては、前記イオン化室にガスが導入されている
状態で、該イオン化室を荒引から本引に切換えて
いるが、前記の様にガスの量が多くなると、この
切換えが実際上出来ない。
いては、前記イオン化室にガスが導入されている
状態で、該イオン化室を荒引から本引に切換えて
いるが、前記の様にガスの量が多くなると、この
切換えが実際上出来ない。
本考案はこの様な問題を解決することを目的と
したものである。
したものである。
本考案は、試料気化部に試料を導入する手段、
該試料気化部にキヤリアガスを導入する手段、該
試料気化部とイオン化室間に設けられたクロマト
分離カラム、該イオン化室を荒引する為のポン
プ、該イオン化室を本引する為のポンプ及びイオ
ン分析系から成る装置において、前記試料気化部
からキヤリアガスを外部に排出するためのガス排
気チユーブ及び該ガス排気チユーブの途中に配設
されるバルブであつて前記試料気化部を大気ある
いは真空ポンプに任意に切替えて接続するバルブ
を設けたことを特徴とするガスクロマトグラフー
質量分析装置を提供するものである。
該試料気化部にキヤリアガスを導入する手段、該
試料気化部とイオン化室間に設けられたクロマト
分離カラム、該イオン化室を荒引する為のポン
プ、該イオン化室を本引する為のポンプ及びイオ
ン分析系から成る装置において、前記試料気化部
からキヤリアガスを外部に排出するためのガス排
気チユーブ及び該ガス排気チユーブの途中に配設
されるバルブであつて前記試料気化部を大気ある
いは真空ポンプに任意に切替えて接続するバルブ
を設けたことを特徴とするガスクロマトグラフー
質量分析装置を提供するものである。
添付図は本考案の一実施例を示したガスクロマ
トグラフー質量分析装置の概略図である。
トグラフー質量分析装置の概略図である。
図中１はキヤピラリーカラムで、図示しないが
オーブン内に配置されている。該カラムの一端に
は試料気化部２が設けられ、マイクロシリンジ３
から試料が注入可能である。４はキヤリアガス供
給源で、パイプ５を通じてキヤリアガスが前記試
料気化部２を介して前記キヤピラリーカラム１内
に導入される。該試料気化部２の上部と下部に
夫々ガス排出口６ａ，６ｂが設けられており、
夫々にパイプ７ａ，７ｂが接続されている。該
夫々のパイプの他端は大気に開いており、途中に
スプリツトバルブ８ａ，８ｂが設けられている。
又、該パイプには夫々別のパイプ９ａ，９ｂが繋
がつている。該パイプ９ａ，９ｂの他端にはロー
タリーポンプ１０が設けられており、途中に夫々
バルブ１１ａ，１１ｂが設けられている。前記キ
ヤピラリーカラム１の他端はイオン化室１２に繋
がつている。該イオン化室内には図示しないが導
入されて来たガスをイオン化する為の電子ビーム
を発する電子銃が配置されており、又、図示しな
いが分析系へイオンを供給する為のイオン供給系
も設けられている。１３ａ，１３ｂは夫々該イオ
ン化室に設けられたパイプで、夫々のパイプの他
端はロータリーポンプの如き荒引用ポンプ１４及
びデイフユージヨンポンプの如き本引用ポンプ１
５に夫々繋がつている。尚、１６ａ，１６ｂは
夫々該パイプの途中に設けられたバルブである。
オーブン内に配置されている。該カラムの一端に
は試料気化部２が設けられ、マイクロシリンジ３
から試料が注入可能である。４はキヤリアガス供
給源で、パイプ５を通じてキヤリアガスが前記試
料気化部２を介して前記キヤピラリーカラム１内
に導入される。該試料気化部２の上部と下部に
夫々ガス排出口６ａ，６ｂが設けられており、
夫々にパイプ７ａ，７ｂが接続されている。該
夫々のパイプの他端は大気に開いており、途中に
スプリツトバルブ８ａ，８ｂが設けられている。
又、該パイプには夫々別のパイプ９ａ，９ｂが繋
がつている。該パイプ９ａ，９ｂの他端にはロー
タリーポンプ１０が設けられており、途中に夫々
バルブ１１ａ，１１ｂが設けられている。前記キ
ヤピラリーカラム１の他端はイオン化室１２に繋
がつている。該イオン化室内には図示しないが導
入されて来たガスをイオン化する為の電子ビーム
を発する電子銃が配置されており、又、図示しな
いが分析系へイオンを供給する為のイオン供給系
も設けられている。１３ａ，１３ｂは夫々該イオ
ン化室に設けられたパイプで、夫々のパイプの他
端はロータリーポンプの如き荒引用ポンプ１４及
びデイフユージヨンポンプの如き本引用ポンプ１
５に夫々繋がつている。尚、１６ａ，１６ｂは
夫々該パイプの途中に設けられたバルブである。
斯くの如く装置において、先ず、キヤリアガス
供給源４からキヤリアガスを試料気化部２へ導入
すると、該キヤリアガスはキヤピラリーカラム１
を介してイオン化室内に流入する。そして、前記
試料気化部２におけるキヤピラリーカラムへのガ
スの流量と大気部に排出するガスの流量の比を設
定する。この設定はバルブ１１ａ，１１ｂを閉鎖
し、スプリツトバルブ８ａ，８ｂを開放すること
により試料気化部に導入されたガスをガス排出口
６ａ，６ｂ及びパイプ７ａ，７ｂを介して大気中
に排出させた状態で、その排出ガス流量を例えば
石鹸膜流量計にて測定しながらパイプ７ａ，７ｂ
に設けられて図示外の流量調整バルブを調節する
ことにより行われる。さて、この状態において、
荒引用ポンプ１４を作動させてイオン化室１２内
の排気を始める。と同時に、スプリツトバルブ８
ａ，８ｂを閉じ、バルブ１１ａ，１１ｂを開き、
ロータリーポンプ１０により前記試料気化室１２
からのガスを排気する。従つて、実際に前記イオ
ン化室１２に供給されるガスは可成少ない。こう
して、荒引が終了したら、バルブ１６ｂを開いて
本引用ポンプ１５により前記イオン化室内の本引
を始める。そして、イオン化室１２の圧力が所望
の値に到達すると、バルブ１１ａ，１１ｂを閉じ
ると共に、スプリツトバルブ８ａ，８ｂを開放す
ることにより試料気化部に導入したガスをキヤピ
ラリーカラム１側だけでなく大気側にも流出させ
る。その後、マイクロシリンジ３により試料を前
記試料気化部２、前記キヤピラリーカラム１を介
して前記イオン化室１２内に供給して試料の分析
を開始する訳であるが、その為に前記イオン化室
では供給されて来たガスを電子ビームによりイオ
ン化し、分析系へ送る。
供給源４からキヤリアガスを試料気化部２へ導入
すると、該キヤリアガスはキヤピラリーカラム１
を介してイオン化室内に流入する。そして、前記
試料気化部２におけるキヤピラリーカラムへのガ
スの流量と大気部に排出するガスの流量の比を設
定する。この設定はバルブ１１ａ，１１ｂを閉鎖
し、スプリツトバルブ８ａ，８ｂを開放すること
により試料気化部に導入されたガスをガス排出口
６ａ，６ｂ及びパイプ７ａ，７ｂを介して大気中
に排出させた状態で、その排出ガス流量を例えば
石鹸膜流量計にて測定しながらパイプ７ａ，７ｂ
に設けられて図示外の流量調整バルブを調節する
ことにより行われる。さて、この状態において、
荒引用ポンプ１４を作動させてイオン化室１２内
の排気を始める。と同時に、スプリツトバルブ８
ａ，８ｂを閉じ、バルブ１１ａ，１１ｂを開き、
ロータリーポンプ１０により前記試料気化室１２
からのガスを排気する。従つて、実際に前記イオ
ン化室１２に供給されるガスは可成少ない。こう
して、荒引が終了したら、バルブ１６ｂを開いて
本引用ポンプ１５により前記イオン化室内の本引
を始める。そして、イオン化室１２の圧力が所望
の値に到達すると、バルブ１１ａ，１１ｂを閉じ
ると共に、スプリツトバルブ８ａ，８ｂを開放す
ることにより試料気化部に導入したガスをキヤピ
ラリーカラム１側だけでなく大気側にも流出させ
る。その後、マイクロシリンジ３により試料を前
記試料気化部２、前記キヤピラリーカラム１を介
して前記イオン化室１２内に供給して試料の分析
を開始する訳であるが、その為に前記イオン化室
では供給されて来たガスを電子ビームによりイオ
ン化し、分析系へ送る。
尚、前記バルブ８ａ，８ｂ，１１ａ，１１ｂの
切替えは自動的に行なつてもよいし、手動的に行
つてもよい。
切替えは自動的に行なつてもよいし、手動的に行
つてもよい。
本考案によると、イオン化室に導入するガスを
増加させて高感度な試料分析を行なう場合、荒引
ポンプの排気容量を大きいものにすることなく、
容易にイオン化室を荒引から本引の状態に移行す
ることが出来る。
増加させて高感度な試料分析を行なう場合、荒引
ポンプの排気容量を大きいものにすることなく、
容易にイオン化室を荒引から本引の状態に移行す
ることが出来る。
添附図は本考案の一実施例を示したガスクロマ
トグラフー質量分析装置の概略図である。 １……キヤピラリーカラム、２……試料気化
室、３……マイクロシリンジ、４……キヤリアガ
ス供給源、８ａ，８ｂ，１１ｂ，１１ｂ……バル
ブ、１０……ロータリーポンプ、１２……イオン
化室、１４……荒引用ポンプ、１５……本引用ポ
ンプ。
トグラフー質量分析装置の概略図である。 １……キヤピラリーカラム、２……試料気化
室、３……マイクロシリンジ、４……キヤリアガ
ス供給源、８ａ，８ｂ，１１ｂ，１１ｂ……バル
ブ、１０……ロータリーポンプ、１２……イオン
化室、１４……荒引用ポンプ、１５……本引用ポ
ンプ。
Claims (1)
- 試料気化部に試料を導入する手段、該試料気化
部にキヤリアガスを導入する手段、該試料気化部
とイオン化室間に設けられたクロマト分離カラ
ム、該イオン化室を荒引する為のポンプ、該イオ
ン化室を本引する為のポンプ及びイオン分析系か
ら成る装置において、前記試料気化部からキヤリ
アガスを外部に排出するためのガス排気チユーブ
及び該ガス排気チユーブの途中に配設されるバル
ブであつて前記試料気化部を大気あるいは真空ポ
ンプに任意に切替えて接続するバルブを設けたこ
とを特徴とするガスクロマトグラフー質量分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP330384U JPS60114957U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | ガスクロマトグラフ−質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP330384U JPS60114957U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | ガスクロマトグラフ−質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114957U JPS60114957U (ja) | 1985-08-03 |
| JPH0443817Y2 true JPH0443817Y2 (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=30477802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP330384U Granted JPS60114957U (ja) | 1984-01-13 | 1984-01-13 | ガスクロマトグラフ−質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60114957U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117012610A (zh) * | 2022-04-28 | 2023-11-07 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪及其真空系统的形成方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55109958A (en) * | 1979-02-19 | 1980-08-23 | Hitachi Ltd | Mass spectrometer |
-
1984
- 1984-01-13 JP JP330384U patent/JPS60114957U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60114957U (ja) | 1985-08-03 |
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