JPH0444003A - 光ピックアップの光学装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光磁気ディスク装置などに使用される光ピッ
クアップに係り、特に検知光が発光素子へ戻ることによ
るバックトークノイズなどが生じるのを防止した光学装
置に関する。

［従来の技術］ 第４図は、従来の光磁気ディスク装置用の光ピックアッ
プの光学装置を示している。

半導体レーザ１から出力されたレーザ光は、コリメート
レンズ２により平行光束となりキュービッククイブのビ
ームスプリッタ３を透過して対物レンズ４によりディス
ク５の記録面に集光され、微小スポットが形成される。

この従来例では、半導体レーザ１から出力されたレーザ
光がビームスプリッタ３を透過するように構成されてい
るため、半導体レーザ１から発せられる直線偏光波がＰ
偏光波として使用されている。Ｐ偏光波として使用する
場合には、ビームスプリッタ３の偏光膜３ａにより、約
８０％が透過光で約２０％が反射光となる。ディスク５
の記録面から反射された戻り光は、ビームスプリッタ３
の偏光膜３ａにより反射され、つオラストンプリズム６
を透過し、集光レンズ７にて集光され、シリンドリカル
レンズ８を経てビンホトグイオード９にて受光される。

上記つオラストンプリズム６により、ディスク５からの
戻り光がＰ偏光波Ｌ＋、Ｓ偏光波Ｌ２ならびに洩れ光Ｌ
３とに分けられ、この洩れ光Ｌ３によりフォーカスなど
のエラー信号が得られる。

〔発明が解決しようとする課題〕

第５図は、上記従来例において、コリメートレンズ２と
ビームスプリッタ３とを拡大して示している。キュービ
ックタイプのビームスプリッタ３は、光軸に対して直角
または平行な向きとなる面（イ）（ロ）（ハ）（ニ）を
有しているため、この面における光の反射が問題になる
。すなわち、半導体レーザｌから出力されたレーザ光の
部は、（イ）面にて半導体レーザ１の方向へ反射される
。また他の光は偏光膜３ａを透過し、（ハ）面にて反射
されてその一部が（イ）面を透過して半導体レーザ１の
方向へ戻る。さらに（イ）面を透過し、偏光膜３ａにて
左方向へ反射され、また（口）面にて反射され、さらに
偏光膜３ａにて反射された光も半導体レーザ１の方向へ
戻る。このように半導体レーザ１側に戻る光があるため
に、半導体レーザ１に設けられたモニター用受光素子に
この戻り光が検知され、半導体レザ１の出力を制御する
ＡＰＣの誤動作の原因になる。また、半導体レーザの発
光部に戻った光は、バックトークノイズの原因となる。

また半導体レーザ１から発せられたレーザ光が、ビーム
スプリッタの各面に反射されて、直接にビンホトダイオ
ード９へ向かうため、これによりフォーカスエラー検知
などのオフセットを生しる原因になる。

また上記ビームスプリッタ３の各面での反射を防止する
ために、各面を光軸と垂直な面または平行な面に対して
±１°程度傾斜させることが考えられる。しかしながら
、ビームスプリッタ３の各面を微小な角度だけ傾斜させ
たものを作成するのは、非常に困難であり、量産性に劣
る。

本発明は上記従来の課題を解決するものであり、発光素
子から発せられた検知光が発光素子または受光素子方向
へ直接向かうのを防止しできるようにした光ピックアッ
プの光学装置を提供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、相違する光軸上に位置する発光素子ならびに
受光素子と、発光素子からの検知光をディスクの記録面
に集光させる対物レンズと、前記発光素子からの検知光
を前記対物レンズの方向へ透過させまたは反射させ且つ
ディスクからの戻り光を前記受光素子の方向へ反射させ
または透過させる光分岐素子と、が設けられている光学
装置において、前記光分岐素子は、２枚の平板状透光板
の間に偏光膜が介装されているものであることを特徴と
するものである。

〔作用〕

上記手段では、平板状に構成された光分岐素子を使用し
ているため、第５図に示す従来例のように発光素子から
発せられる光が（イ）やＣ口）などの面によって反射さ
れることがなく、よってバックトークノイズやオフセッ
トの問題が生じなくなる。またこの光分岐素子では、平
板状の透光板の間に偏光膜が介装されているため、発光
素子ならびに受光素子に対してほぼ４５°の傾きに配置
できる。

〔実施例〕

以下本発明の実施例を図面により説明する。

第１図は本発明の第１実施例による光ピックアップの光
学装置の素子構成を示す正面図である。

第１図において、符号１は半導体レーザ、２はコリメー
トレンズ、４は対物レンズ、５はディスク、６はつオラ
ストンプリズム、７は集光レンズ、８はシリンドリカル
レンズ、９はビンホトダイオードである。

符号１０は光分岐素子である。この素子ｌＯは平板ビー
ムスプリッタである。第２図に拡大して示すように、こ
の光分岐素子は２枚の平板ガラス１１の間に偏光膜１２
が挟まれて構成されているものである。２枚の平板ガラ
ス１１は同じ材質により形成されているが、必ずしも厚
さ寸法ｔ１ｔ２は同じである必要はない。第２図に光透
過経路が示されているように、２枚の平板ガラス１１に
偏光膜１２が挟まれた光分岐素子では、偏光膜１２を挟
む両側の層が同し屈折率である。そのためコリメート光
に対しては、半導体レーザ１ならびにビンホトダイオー
ド９の方向に延びるそれぞれの光軸ＬａとＬｂに対し４
５°の角度で配置できる。すなわち従来使用されていた
平板ビームスプリッタは、１枚の平板ガラスの表面に偏
光膜が形成されており、偏光膜を挟む両側の屈折率が相
違していたため、角度依存度が強く、４５°入射が不可
能であり、６０〜７０°程度の入射角を設定することが
必要であった。一方上記実施例による光分岐素子ｌＯで
は、４５°の入射ならびに反射が可能になる。

第１図に示す実施例では、半導体レーザ１から発せられ
る光がＰ偏光波の向きで使用される。すなわち半導体レ
ーザｌから発せられるレーザ光の偏波面の方向が子午面
と垂直な方向（第１図において紙面に沿う方向）に向け
られて使用されている。Ｐ偏光波として使用した場合、
偏光膜１２に対して約８０％が透過光で約２０％が反射
光となる。しかしながら、この約２０％の反則光は４５
°に配置された平板ガラス１１内を通過して半導体レー
ザ１の光軸Ｌａと無関係な方向へ反射される。よってこ
の反射光が半導体レーザ１に戻って、バックトークノイ
ズを発するような問題は生じな（なる。よって半導体レ
ーザ１内のモニター受光素子による八ＰＣに誤動作が生
しることはない。また半導体レーザ１から発せられたレ
ザ光がビンホトダイオード９の方向へ反射されることも
なく、フォーカスエラー信号などのオフセットの問題も
生しない。

半導体レーザ１から発せられたレーザ光はコリメートレ
ンズ２により平行光束になり、光分岐素子１０を透過し
、対物レンズ４に集光されてディスク５に微小スポット
が形成される。その反射光は前記偏光膜１２により９０
°方向へ反射される。そしてつオラストンプリズム６に
よりＰ偏光波り、、Ｓ偏光波Ｌ２ならびに洩れ光Ｌ３と
なってピンホトグイオード９に受光される。

第３図は本発明の第２実施例による光学装置の構成を斜
視図により示している。

この実施例においても、半導体レーザ１による発光側光
軸Ｌａとビンホトダイオード９による受光側光軸Ｌｂと
に対し、前記光分岐素子１０が４５″の角度で配置され
ている。この実施例では、半導体レーザ１から発せられ
るレーザ光がＳ偏光波として使用されている。すなわち
レーザ光の偏波面の方向が子午面の方向（Ｌａを含む垂
直面方向）となっている。この場合偏光膜１２では約８
０％が反射で約２０％が透過光となる。

よって偏光膜１２によって反射された光カ月−Ｃ方向へ
送られる。符号２１はガルバノミラ−の反射板である。

この反射板２１による反射方向にピックアップ可動部に
保持された全反射プリズム２２と対物レンズ２３とが設
けられている。ピックアップの可動部はディスクの半径
方向へ移動するため、第３図にて実線と破線で図示して
いるように、プリズム２２と対物レンズ２３は、反射板
２１の反射方向へ移動することになる。ガルバノミラ−
の反射板２１は第３図のα方向へ振られ、これにより光
軸が振られてトラッキング補正が行なわれる。

第３図の実施例においても、光分岐素子１０は光軸Ｌａ
に対し４５°に配置されているため、半導体レーザ１か
ら発せられる光が、半導体レーザｌの方向へ戻されるこ
とはない。また半導体レーザ１から発せられた光が直接
にピンホトグイオド９の方向へ反射されることもない。

［効果］ 以上のように本発明によれば、平板状の透光板に偏光膜
が挟まれた光分岐素子が使用されているため、この素子
を発光素子ならびに受光素子の光軸に対し斜めに配置す
れば、発光素子からの光が戻り方向に反射されてモニタ
ー受光素子に検知されたり、バックトークノイズが発生
することなどがなくなる。

また偏光膜の両側が同し屈折率の平板状透光板であるた
め、この光分岐素子を発光素子と受光素子とに対し４５
°にて配置でき、配置効率を良くし、配置スペースの効
率化を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例による光ピックアップの光
学装置の素子構成を示す正面図、第２図は光分岐素子の
拡大正面図、第３図は第２実施例による光ピックアップ
の素子構成を示す斜視図、第４図は従来の光ピックアッ
プの光学装置の素子構成を示す正面図、第５図は第４図
におけるビームスプリッタとコリメートレンズを示す正
面図である。 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、６
・・・つオラストンプリズム、７・・・集光レンズ、９
・・・ビンホトダイオード、１０・・・光分岐素子、１
１・・・平板ガラス、１２・・・偏光膜、２３・・・対
物レンズ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、相違する光軸上に位置する発光素子ならびに受光素
   子と、発光素子からの検知光をディスクの記録面に集光
   させる対物レンズと、前記発光素子からの検知光を前記
   対物レンズの方向へ透過させまたは反射させ且つディス
   クからの戻り光を前記受光素子の方向へ反射させまたは
   透過させる光分岐素子と、が設けられている光学装置に
   おいて、前記光分岐素子は、２枚の平板状透光板の間に
   偏光膜が介装されているものであることを特徴とする光
   ピックアップの光学装置