JPH044400Y2 - - Google Patents
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- JPH044400Y2 JPH044400Y2 JP5697486U JP5697486U JPH044400Y2 JP H044400 Y2 JPH044400 Y2 JP H044400Y2 JP 5697486 U JP5697486 U JP 5697486U JP 5697486 U JP5697486 U JP 5697486U JP H044400 Y2 JPH044400 Y2 JP H044400Y2
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は文字、図形等の情報をドツトマトリク
ス表示する薄膜ELマトリクス型デイスプレイパ
ネルに関するものである。
ス表示する薄膜ELマトリクス型デイスプレイパ
ネルに関するものである。
従来の技術
例えば、薄膜ELマトリクス型デイスプレイパ
ネルの構造例を第2図を参照しながら説明する。
尚、第2図の左半分はX方向の断面図、右半分は
X方向と直交するY方向の断面図である。第2図
において、1は透光性基板であるガラス基板、2
は該ガラス基板1上に形成されたマトリクス型薄
膜EL素子である。この薄膜EL素子2における3
は上記ガラス基板1上にI.T.O等を蒸着法により
X方向に定ピツチで多数のストライプ状に形成し
た透明電極、4は透明電極3及びガラス基板1上
に、Al2O3やY2O3等を蒸着法やスパツタ法で形成
した透明な第1の絶縁層、5はこの第1の絶縁層
4上にZnS:Mn等を蒸着法等で形成した発光層、
6は該発光層5上に、Al2O3やY2O3等を蒸着法や
スパツタ法により形成した透明な第2の絶縁層、
7は第2の絶縁層6上にY方向に定ピツチで多数
のストライプ状に形成したAl蒸着膜による背面
電極である。
ネルの構造例を第2図を参照しながら説明する。
尚、第2図の左半分はX方向の断面図、右半分は
X方向と直交するY方向の断面図である。第2図
において、1は透光性基板であるガラス基板、2
は該ガラス基板1上に形成されたマトリクス型薄
膜EL素子である。この薄膜EL素子2における3
は上記ガラス基板1上にI.T.O等を蒸着法により
X方向に定ピツチで多数のストライプ状に形成し
た透明電極、4は透明電極3及びガラス基板1上
に、Al2O3やY2O3等を蒸着法やスパツタ法で形成
した透明な第1の絶縁層、5はこの第1の絶縁層
4上にZnS:Mn等を蒸着法等で形成した発光層、
6は該発光層5上に、Al2O3やY2O3等を蒸着法や
スパツタ法により形成した透明な第2の絶縁層、
7は第2の絶縁層6上にY方向に定ピツチで多数
のストライプ状に形成したAl蒸着膜による背面
電極である。
尚、上記薄膜EL素子2を囲繞するように、凹
板状のカバーガラス8をガラス基板1上に接着材
を介して固着することにより、薄膜ELマトリク
ス型デイスプレイパネルが構成され、更に上記ガ
ラス基板1とカバーガラス8からなる外囲器内
に、薄膜EL素子2の耐湿性を向上させるためシ
リコンオイル等の絶縁性保護流体が封入される
〔特開昭57−7086号公報〕。
板状のカバーガラス8をガラス基板1上に接着材
を介して固着することにより、薄膜ELマトリク
ス型デイスプレイパネルが構成され、更に上記ガ
ラス基板1とカバーガラス8からなる外囲器内
に、薄膜EL素子2の耐湿性を向上させるためシ
リコンオイル等の絶縁性保護流体が封入される
〔特開昭57−7086号公報〕。
この薄膜ELマトリクス型デイスプレイパネル
では、透明電極3と背面電極7が第3図に示すよ
うにマトリクス状に交差して、多数のマトリクス
状の画素m,m……を形成する。この透明電極3
と背面電極7の各一端部は、1本おきにガラス基
板1の反対側の周辺部上まで延設され、この両電
極3,7の延設端部間に駆動電圧を選択的に印加
すると、発光層5の画素部分が選択的に発光して
所望の情報のドツトマトリクス表示が行われる。
では、透明電極3と背面電極7が第3図に示すよ
うにマトリクス状に交差して、多数のマトリクス
状の画素m,m……を形成する。この透明電極3
と背面電極7の各一端部は、1本おきにガラス基
板1の反対側の周辺部上まで延設され、この両電
極3,7の延設端部間に駆動電圧を選択的に印加
すると、発光層5の画素部分が選択的に発光して
所望の情報のドツトマトリクス表示が行われる。
考案が解決しようとする問題点
ところで、上記薄膜EL素子2の形成時、第1
の絶縁層4、発光層5及び第2の絶縁層6の膜厚
が均一になるように積層形成するのは困難で、上
記各層4,5,6の膜厚が薄い箇所でピンホール
が発生し易かつた。この結果、透明電極3と背面
電極7間に駆動電圧を印加した際、第1の絶縁層
4、発光層5及び第2の絶縁層6に発生したピン
ホールを介して、上記透明電極3と背面電極7間
で放電現象が生じて両電極3,7が絶縁破壊され
る。ここで、上記背面電極7は、導電性や第2の
絶縁層6に対する接着性が良好で、比較的高融点
(660℃)を有するAl製のものであるため、上述
のように透明電極3と背面電極7間で絶縁破壊が
発生すると、Alでは蒸発飛散機能が乏しい故に、
その破壊域1aがスポツト状となる自己回復型絶
縁破壊(第4図参照)に留まらず、第5図に示す
ように破壊域bが背面電極7の全面に亘つて急速
に拡がる伝播型絶縁破壊へと至る。このように伝
播型絶縁破壊が発生して背面電極7の全面に亘つ
て破壊域bが形成されると、その背面電極7の画
素mの断線により、その画素mから給電点とは逆
方向の全画素m,m……がすべて発光不能となつ
てその表示機能が大幅に低下するという問題点が
あつた。
の絶縁層4、発光層5及び第2の絶縁層6の膜厚
が均一になるように積層形成するのは困難で、上
記各層4,5,6の膜厚が薄い箇所でピンホール
が発生し易かつた。この結果、透明電極3と背面
電極7間に駆動電圧を印加した際、第1の絶縁層
4、発光層5及び第2の絶縁層6に発生したピン
ホールを介して、上記透明電極3と背面電極7間
で放電現象が生じて両電極3,7が絶縁破壊され
る。ここで、上記背面電極7は、導電性や第2の
絶縁層6に対する接着性が良好で、比較的高融点
(660℃)を有するAl製のものであるため、上述
のように透明電極3と背面電極7間で絶縁破壊が
発生すると、Alでは蒸発飛散機能が乏しい故に、
その破壊域1aがスポツト状となる自己回復型絶
縁破壊(第4図参照)に留まらず、第5図に示す
ように破壊域bが背面電極7の全面に亘つて急速
に拡がる伝播型絶縁破壊へと至る。このように伝
播型絶縁破壊が発生して背面電極7の全面に亘つ
て破壊域bが形成されると、その背面電極7の画
素mの断線により、その画素mから給電点とは逆
方向の全画素m,m……がすべて発光不能となつ
てその表示機能が大幅に低下するという問題点が
あつた。
そこで、本考案者は、絶縁破壊によつて背面電
極であるAlが溶融して断線に至るのを解決する
ために種々実験検討し、Al(融点660℃)よりも
はるかに高融点のITOなどの透明導電薄膜と融点
が1500℃以上の高融点金属薄膜(例えばTi(融点
1675℃)、Ta(融点1996℃)などの積層膜を背面
電極に使用する技術を開示した(実願昭61−4743
号)。この技術により従来のAlよりは溶融切断を
大幅に改良することができたが、まだ完全ではな
かつた。
極であるAlが溶融して断線に至るのを解決する
ために種々実験検討し、Al(融点660℃)よりも
はるかに高融点のITOなどの透明導電薄膜と融点
が1500℃以上の高融点金属薄膜(例えばTi(融点
1675℃)、Ta(融点1996℃)などの積層膜を背面
電極に使用する技術を開示した(実願昭61−4743
号)。この技術により従来のAlよりは溶融切断を
大幅に改良することができたが、まだ完全ではな
かつた。
そこで上記問題点を解決するため本考案者はさ
らに実験検討した結果、低融点材料が極めて有効
であることを見い出し、前記背面電極7を、Sn,
Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi及びSbの郡から選ばれ
たAlよりも低融点の金属材料の1種、または2
種以上の上記金属材料の合金で形成した技術を開
示した(特開昭61−52319号)。これは、Alより
も低融点の蒸発飛散機能を有する金属材料を使用
するため、透明電極3と背面電極7間で絶縁破壊
が発生した場合、上記背面電極7での破壊点周辺
部分を比較的低いエネルギーレベルまたは低電流
レベルで瞬時に蒸発飛散し、放電点(電極)とし
て作用している部分が瞬時に消滅するので、瞬時
に放電が停止し、電極の破壊が停止する。このた
め電極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小さく
限定され、第4図に示すように略スポツト状にと
どまる。このように破壊域がスポツト状となる自
己回復型絶縁破壊を積極的に形成して伝播型絶縁
破壊を回避し、背面電極での断線を未然に防止し
ている。
らに実験検討した結果、低融点材料が極めて有効
であることを見い出し、前記背面電極7を、Sn,
Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi及びSbの郡から選ばれ
たAlよりも低融点の金属材料の1種、または2
種以上の上記金属材料の合金で形成した技術を開
示した(特開昭61−52319号)。これは、Alより
も低融点の蒸発飛散機能を有する金属材料を使用
するため、透明電極3と背面電極7間で絶縁破壊
が発生した場合、上記背面電極7での破壊点周辺
部分を比較的低いエネルギーレベルまたは低電流
レベルで瞬時に蒸発飛散し、放電点(電極)とし
て作用している部分が瞬時に消滅するので、瞬時
に放電が停止し、電極の破壊が停止する。このた
め電極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小さく
限定され、第4図に示すように略スポツト状にと
どまる。このように破壊域がスポツト状となる自
己回復型絶縁破壊を積極的に形成して伝播型絶縁
破壊を回避し、背面電極での断線を未然に防止し
ている。
ところが、上記材質で形成した背面電極7を有
する薄膜ELマトリクス型デイスプレイパネルで
は、前記背面電極7の第2の絶縁層6に対する付
着力が弱いため、背面電極7の両側縁部が浮いた
状態となる。特に、第6図に示すように透明電極
3と背面電極7とが交差する画素mにおいて、上
記背面電極7の幅方向の両側縁部n,nが浮いた
状態にあると、パネル駆動時、その両側縁部n,
nに電界がかかり難くなつて発光しなくなるとい
う問題点が新たに生じてきた。
する薄膜ELマトリクス型デイスプレイパネルで
は、前記背面電極7の第2の絶縁層6に対する付
着力が弱いため、背面電極7の両側縁部が浮いた
状態となる。特に、第6図に示すように透明電極
3と背面電極7とが交差する画素mにおいて、上
記背面電極7の幅方向の両側縁部n,nが浮いた
状態にあると、パネル駆動時、その両側縁部n,
nに電界がかかり難くなつて発光しなくなるとい
う問題点が新たに生じてきた。
そこで、本考案の目的は、絶縁破壊発生時に背
面電極での破壊域の拡がりを抑止した自己回復機
能を有し、且つ、上記背面電極の第2の絶縁層に
対する付着力の大きい薄膜ELパネルを提供する
ことにある。
面電極での破壊域の拡がりを抑止した自己回復機
能を有し、且つ、上記背面電極の第2の絶縁層に
対する付着力の大きい薄膜ELパネルを提供する
ことにある。
問題点を解決するための手段
本考案は前記問題点を鑑みて提案されたもの
で、上記目的を達成するための技術的手段は、透
光性基板上に、ストライプ状の透明電極、第1の
絶縁層、発光層、第2の絶縁層及びストライプ状
の背面電極を順次積層形成してなる薄膜EL素子
を有する薄膜ELパネルにおいて、Alよりも低融
点の蒸発飛散機能を有する金属材料、または合金
からなる背面電極の下地として、上記第2の絶縁
層に対して付着力の大きい金属薄膜を介在させた
ものである。
で、上記目的を達成するための技術的手段は、透
光性基板上に、ストライプ状の透明電極、第1の
絶縁層、発光層、第2の絶縁層及びストライプ状
の背面電極を順次積層形成してなる薄膜EL素子
を有する薄膜ELパネルにおいて、Alよりも低融
点の蒸発飛散機能を有する金属材料、または合金
からなる背面電極の下地として、上記第2の絶縁
層に対して付着力の大きい金属薄膜を介在させた
ものである。
作 用
本考案に係る薄膜ELパネルによれば、Alより
も低融点の蒸発飛散機能を有する金属材料、また
は合金からなる背面電極の下地として、上記第2
の絶縁層に対して付着力の大きい金属薄膜を介在
させたから、透明電極と背面電極間で絶縁破壊が
発生して放電現象が生じた場合、上記背面電極及
び金属薄膜の両者における破壊点周辺部分が共に
比較的低いエネルギーレベルまたは低電流レベル
で瞬時に蒸発飛散し、放電点(電極)として作用
する部分が瞬時に消滅するので、瞬時に放電が停
止し、同時に電極の破壊が停止する。このため電
極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小さく限定
され、略スポツト状にとどまる。このように背面
電極及び金属薄膜での破壊域がスポツト状となる
自己回復型絶縁破壊を積極的に形成して伝播型絶
縁破壊による背面電極の断線を回避すると共に、
第2の絶縁層と背面電極間に介在する金属薄膜に
より、上記背面電極の第2の絶縁層に対する密着
性を保持する。
も低融点の蒸発飛散機能を有する金属材料、また
は合金からなる背面電極の下地として、上記第2
の絶縁層に対して付着力の大きい金属薄膜を介在
させたから、透明電極と背面電極間で絶縁破壊が
発生して放電現象が生じた場合、上記背面電極及
び金属薄膜の両者における破壊点周辺部分が共に
比較的低いエネルギーレベルまたは低電流レベル
で瞬時に蒸発飛散し、放電点(電極)として作用
する部分が瞬時に消滅するので、瞬時に放電が停
止し、同時に電極の破壊が停止する。このため電
極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小さく限定
され、略スポツト状にとどまる。このように背面
電極及び金属薄膜での破壊域がスポツト状となる
自己回復型絶縁破壊を積極的に形成して伝播型絶
縁破壊による背面電極の断線を回避すると共に、
第2の絶縁層と背面電極間に介在する金属薄膜に
より、上記背面電極の第2の絶縁層に対する密着
性を保持する。
実施例
本考案に係る薄膜ELパネルの一実施例を第1
図を参照しながら説明する。尚、第1図の左半分
はX方向の断面図、右半分はY方向の断面図であ
る。第1図において、9は透光性基板であるガラ
ス基板、10は該ガラス基板9上に形成された本
考案に係る薄膜EL素子である。この薄膜EL素子
10における11は上記ガラス基板9上にI.T.O
等を蒸着法等によりX方向に定ピツチで多数のス
トライプ状に形成した透明電極、12は透明電極
11及びガラス基板9上にAl2O3やY2O3等を蒸着
又はスパツタ法で形成した透明な第1の絶縁層、
13はこの第1の絶縁層12上に、ZnS:Mn等
を蒸着法等で形成した発光層、14は該発光層1
3上に、Al2O3やY2O3等を蒸着やスパツタ法によ
り形成した透明な第2の絶縁層、15はこの第2
の絶縁層14上に蒸着法等によりY方向に定ピツ
チで、多数のストライプ状に形成した金属薄膜
で、例えばAl,Ni,Ti,Cr等のように第2の絶
縁層14に対して付着力の大きい金属材料を選定
する。この金属薄膜15の膜厚は、例えば10〜
500Å程度、最適条件としては30〜100Å程度とな
るように可及的に小さく設定する。これは、後述
する背面電極と同様、上記材質のように高融点の
金属材料からなる金属薄膜15が、絶縁破壊発生
時、その破壊点周辺部分を比較的低いエネルギー
レベルまたは低電流レベルで瞬時に蒸発飛散させ
るためである。尚、上述のように金属薄膜15の
膜厚を可及的に小さく設定しても、第2の絶縁層
14に対する付着力が低下することはない。16
は上記金属薄膜15を第2の絶縁層14に対する
下地として、金属薄膜15上に同一パターンで蒸
着法等により積層形成した背面電極で、この背面
電極16は、Alよりも低融点の金属材料、例え
ば先述したようにSn,Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi
及びSbの郡から選ばれた金属材料の1種、また
は2種以上の上記金属材料の合金で形成される。
尚、上記金属薄膜15と背面電極16とは金属同
士であるため、その付着力に問題はない。17は
従来と同様に、ガラス基板9上に接着固定された
凹板状のカバーガラスで、この内部にシリコンオ
イル等の絶縁性保護流体が封入される。
図を参照しながら説明する。尚、第1図の左半分
はX方向の断面図、右半分はY方向の断面図であ
る。第1図において、9は透光性基板であるガラ
ス基板、10は該ガラス基板9上に形成された本
考案に係る薄膜EL素子である。この薄膜EL素子
10における11は上記ガラス基板9上にI.T.O
等を蒸着法等によりX方向に定ピツチで多数のス
トライプ状に形成した透明電極、12は透明電極
11及びガラス基板9上にAl2O3やY2O3等を蒸着
又はスパツタ法で形成した透明な第1の絶縁層、
13はこの第1の絶縁層12上に、ZnS:Mn等
を蒸着法等で形成した発光層、14は該発光層1
3上に、Al2O3やY2O3等を蒸着やスパツタ法によ
り形成した透明な第2の絶縁層、15はこの第2
の絶縁層14上に蒸着法等によりY方向に定ピツ
チで、多数のストライプ状に形成した金属薄膜
で、例えばAl,Ni,Ti,Cr等のように第2の絶
縁層14に対して付着力の大きい金属材料を選定
する。この金属薄膜15の膜厚は、例えば10〜
500Å程度、最適条件としては30〜100Å程度とな
るように可及的に小さく設定する。これは、後述
する背面電極と同様、上記材質のように高融点の
金属材料からなる金属薄膜15が、絶縁破壊発生
時、その破壊点周辺部分を比較的低いエネルギー
レベルまたは低電流レベルで瞬時に蒸発飛散させ
るためである。尚、上述のように金属薄膜15の
膜厚を可及的に小さく設定しても、第2の絶縁層
14に対する付着力が低下することはない。16
は上記金属薄膜15を第2の絶縁層14に対する
下地として、金属薄膜15上に同一パターンで蒸
着法等により積層形成した背面電極で、この背面
電極16は、Alよりも低融点の金属材料、例え
ば先述したようにSn,Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi
及びSbの郡から選ばれた金属材料の1種、また
は2種以上の上記金属材料の合金で形成される。
尚、上記金属薄膜15と背面電極16とは金属同
士であるため、その付着力に問題はない。17は
従来と同様に、ガラス基板9上に接着固定された
凹板状のカバーガラスで、この内部にシリコンオ
イル等の絶縁性保護流体が封入される。
前記透明電極10と背面電極16間に駆動電圧
を印加してエージングした場合、その透明電極1
0と背面電極16間で絶縁破壊が発生して放電現
象が生じても、背面電極16を蒸発飛散機能を有
するAlよりも低融点の金属材料の1種、或いは
2種以上の合金で形成し、且つ、金属薄膜15が
高融点の金属材料からなるにもかかわらず、その
膜厚を可及的に小さく設定して蒸発飛散機能を実
質的に保持するため、上記背面電極16及び金属
薄膜15の両者ともその破壊点周辺部分が比較的
低いエネルギーレベルまたは低電流レベルで瞬時
に蒸発飛散し、同時に電極の破壊は停止する。こ
のため電極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小
さく限定される。これにより背面電極16及び金
属薄膜15での破壊域が伝播型絶縁破壊に至ら
ず、スポツト状となる自己回復型絶縁破壊に留ま
る。この結果背面電極の断線が防止される。ま
た、上記背面電極16の下地としての金属薄膜1
5により、その背面電極16の第2の絶縁層14
に対する密着性が保持される。
を印加してエージングした場合、その透明電極1
0と背面電極16間で絶縁破壊が発生して放電現
象が生じても、背面電極16を蒸発飛散機能を有
するAlよりも低融点の金属材料の1種、或いは
2種以上の合金で形成し、且つ、金属薄膜15が
高融点の金属材料からなるにもかかわらず、その
膜厚を可及的に小さく設定して蒸発飛散機能を実
質的に保持するため、上記背面電極16及び金属
薄膜15の両者ともその破壊点周辺部分が比較的
低いエネルギーレベルまたは低電流レベルで瞬時
に蒸発飛散し、同時に電極の破壊は停止する。こ
のため電極の破壊孔は放電点とその周辺部分に小
さく限定される。これにより背面電極16及び金
属薄膜15での破壊域が伝播型絶縁破壊に至ら
ず、スポツト状となる自己回復型絶縁破壊に留ま
る。この結果背面電極の断線が防止される。ま
た、上記背面電極16の下地としての金属薄膜1
5により、その背面電極16の第2の絶縁層14
に対する密着性が保持される。
尚、上記実施例では、背面電極16を、Sn,
Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi及びSbの郡から選ばれ
た金属材料の1種、または2種以上の上記金属材
料の合金で形成したが、本考案はこれに限定され
ることなく、上記群の少なくとも1種の金属材料
と、この群以外の他の金属材料との合金、例えば
Sn−Ag,Sn−Cu,Pb−Mg,Pb−Te,In−
Mg,In−Te,Bi−Mg,Bi−Te,Sb−Te合金
や、Sn,In,Mg,Zn,Te及びAgの少なくとも
1種の金属材料とAl又はGaとの合金で背面電極
を形成してもよい。この時、上記合金での金属材
料の組成比を所定値に選定すれば、Alよりも低
融点、例えば600℃以下に、さらに望ましくは400
℃〜200℃程度に設定することが可能である。
Zn,Pb,Cd,In,Tl,Bi及びSbの郡から選ばれ
た金属材料の1種、または2種以上の上記金属材
料の合金で形成したが、本考案はこれに限定され
ることなく、上記群の少なくとも1種の金属材料
と、この群以外の他の金属材料との合金、例えば
Sn−Ag,Sn−Cu,Pb−Mg,Pb−Te,In−
Mg,In−Te,Bi−Mg,Bi−Te,Sb−Te合金
や、Sn,In,Mg,Zn,Te及びAgの少なくとも
1種の金属材料とAl又はGaとの合金で背面電極
を形成してもよい。この時、上記合金での金属材
料の組成比を所定値に選定すれば、Alよりも低
融点、例えば600℃以下に、さらに望ましくは400
℃〜200℃程度に設定することが可能である。
また一般に低融点材料の薄膜は硬度が低く、ま
た面方向の付着力が弱いので、放電時の蒸発物質
の圧力や熱によつて、低いエネルギーでも容易に
蒸発飛散(蒸発および飛散)するので、放電の持
続を防止でき、破壊孔を小さく抑えることができ
る。したがつて、Alよりも低融点であれば、自
己回復型絶縁破壊モードが出現しやすく、伝播型
絶縁破壊を回避できるので、電極の断線を防止す
ることができる。ただし、融点があまり低すぎる
と背面電極の形成および安定保持が著しく困難に
なる傾向がある。
た面方向の付着力が弱いので、放電時の蒸発物質
の圧力や熱によつて、低いエネルギーでも容易に
蒸発飛散(蒸発および飛散)するので、放電の持
続を防止でき、破壊孔を小さく抑えることができ
る。したがつて、Alよりも低融点であれば、自
己回復型絶縁破壊モードが出現しやすく、伝播型
絶縁破壊を回避できるので、電極の断線を防止す
ることができる。ただし、融点があまり低すぎる
と背面電極の形成および安定保持が著しく困難に
なる傾向がある。
考案の効果
本考案に係る薄膜ELパネルによれば、Alより
も低融点の金属材料、または合金からなる背面電
極の下地として、上記第2の絶縁層に対して付着
力の大きい金属薄膜を介在させたから、パネル駆
動時、透明電極と背面電極間で絶縁破壊が発生し
てもその破壊域が伝播型絶縁破壊に至ることな
く、自己回復型絶縁破壊に留めることが現実容易
となつて背面電極の断線を未然に防止できる。ま
た背面電極の第2の絶縁層に対する密着性が保持
され、不所望な非発光部分の発生を未然に防止す
ることができて信頼性の高い薄膜ELパネルを提
供できる。
も低融点の金属材料、または合金からなる背面電
極の下地として、上記第2の絶縁層に対して付着
力の大きい金属薄膜を介在させたから、パネル駆
動時、透明電極と背面電極間で絶縁破壊が発生し
てもその破壊域が伝播型絶縁破壊に至ることな
く、自己回復型絶縁破壊に留めることが現実容易
となつて背面電極の断線を未然に防止できる。ま
た背面電極の第2の絶縁層に対する密着性が保持
され、不所望な非発光部分の発生を未然に防止す
ることができて信頼性の高い薄膜ELパネルを提
供できる。
第1図は本考案に係る薄膜ELパネルの一実施
例を示す断面図で、左半分はX方向の断面図、右
半分はY方向の断面図である。第2図は従来の薄
膜ELパネルの構造例を示す断面図で、左半分は
X方向の断面図、右半分はY方向の断面図、第3
図は薄膜ELパネルでの画素部分を示す部分平面
図、第4図は背面電極での自己回復型絶縁破壊を
示す部分平面図、第5図は背面電極での伝播型絶
縁破壊を示す部分平面図、第6図は薄膜ELパネ
ルでの画素部分における付着状態を説明するため
の部分平面図である。 9……透光性基板、10……薄膜EL素子、1
1……透明電極、12……第1の絶縁層、13…
…発光層、14……第2の絶縁層、15……金属
薄膜、16……背面電極。
例を示す断面図で、左半分はX方向の断面図、右
半分はY方向の断面図である。第2図は従来の薄
膜ELパネルの構造例を示す断面図で、左半分は
X方向の断面図、右半分はY方向の断面図、第3
図は薄膜ELパネルでの画素部分を示す部分平面
図、第4図は背面電極での自己回復型絶縁破壊を
示す部分平面図、第5図は背面電極での伝播型絶
縁破壊を示す部分平面図、第6図は薄膜ELパネ
ルでの画素部分における付着状態を説明するため
の部分平面図である。 9……透光性基板、10……薄膜EL素子、1
1……透明電極、12……第1の絶縁層、13…
…発光層、14……第2の絶縁層、15……金属
薄膜、16……背面電極。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 透光製基板上に、ストライプ状の透明電極、第
1の絶縁層、発光層、第2の絶縁層及びストライ
プ状の背面電極を順次積層形成してなる薄膜EL
素子を有する薄膜ELパネルにおいて、 Alよりも低融点の金属材料、または合金から
なる背面電極の下地として、上記第2の絶縁層に
対して付着力の大きい金属薄膜を介在させたこと
を特徴とする薄膜ELパネル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5697486U JPH044400Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5697486U JPH044400Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62168598U JPS62168598U (ja) | 1987-10-26 |
| JPH044400Y2 true JPH044400Y2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=30886262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5697486U Expired JPH044400Y2 (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH044400Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-04-16 JP JP5697486U patent/JPH044400Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62168598U (ja) | 1987-10-26 |
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