JPH044631A - Pnパターン検出器 - Google Patents

Pnパターン検出器

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JPH044631A
JPH044631A JP2105411A JP10541190A JPH044631A JP H044631 A JPH044631 A JP H044631A JP 2105411 A JP2105411 A JP 2105411A JP 10541190 A JP10541190 A JP 10541190A JP H044631 A JPH044631 A JP H044631A
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Kiyokazu Dejima
出嶋 清和
Isao Horiguchi
堀口 勇夫
Hiromi Ueda
裕巳 上田
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Oki Electric Industry Co Ltd
NTT Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、例えばデジタル伝送システムにおける回線や
交換機や多重化回路等のシステム要素(被試験対象)を
試験する場合に用いられるPNパターン検出器に関する
[従来の技術] 従来、デジタル伝送システムにおける回線の試験は、一
方の局において回線に試験パターンを入力し、回線を介
した試験パターンを他方の局において受信して元の試験
パターンと一致しているが否かに基づいて行なう。また
、多重化装置や交換機の試験も、同様に、試験パターン
を装置に入力し、装置から出力されたパターンを当初の
パターンと比較して行なう。
このような試験に用いられる試験パターンとして、パタ
ーンの周期性や論理レベルの出現の偏り等の影響を受け
ないようにできる、PN(擬似雑音)パターンが用いら
れている。
第2図は、PNパターンを用いた従来の概念的な試験構
成を示すものである。第3図及び第4図は従来の具体的
な構成例を示すものであり、第3図はPNパターン発生
器を示し、第4図はPNパターン検出器を示すものであ
る。
第2図において、PNパターン発生器1はPN  ’パ
ターンを発生するものであり、発生したPNパターンを
回線等の被試験対象2に与える。被試験対象2を介した
PNパターンは、PNパターン検出器3に与えられる。
PNパターン検出器3は、比較回路4、検出用PNNバ
ター発生器5及びP、Nパターン同期判定回路6とから
なる。PNパターン検出器3では、検出用PNNバター
発生器5が受信したPNパターンを利用しながら検出用
PNパターンを発生し、PNパターン同期判定回路6が
比較回路5からの出力に基づいて受信PNパターンと検
出用PNパターンとの同期を判定してその結果を検出用
PNNバター発生器5に与えて同期させ、この状態で受
信PNパターンと検出用PNパターンとの一致不一致を
比較回路4が捕らえて被試験対象2の試験結果を出力す
るようにしている。
試験用のPNパターンの発生器1は、例えば、第3図に
示すように15段のシフトレジスタ回路10と、姓終段
及びその直前段のレジスタF1及びF2の出力論理レベ
ルのイクスクルーシブオアをとって初段のレジスタF1
5に与えるイクスクルーシブオア回路11とからなる。
シフトレジスタ回路10の各段レジスタF15〜F1を
初期化してオール論理「1」又はオール論理「0」にし
た後、所定周期の図示しないクロック信号によってシフ
トさせることで最終段のレジスタF1からPNパターン
を出力させるようにしている。なお、第3図の構成で発
生されるPNパターンの生成多項式はx15+x+1で
あり、その周期は2151子イジツトである。
この第3図に示すPNパターン発生器1に対応したPN
パターン検出器3の具体的構成例を第4図に示す。第4
図に示すように、検出側でもシフトレジスタ回路15及
びイクスクルーシブオア回路16でなるPNパターンの
発生部17が設けられている。
検出側のイクスクルーシブオア回路16の出力は、初段
レジスタF15に直接与えられるのではなく、セレクタ
回路18を介して初段レジスタF15に与えられるよう
になされている。セレクタ回路18は、発生部17から
のPNパターンと受信PNパターンとが一致するまでは
、すなわち同期が確立するまでは、受信PNパターンを
選択し、同期確立後に発生部17からのPNパターンを
選択する。
このセレクタ回路18の切換えはPNパターン同期保護
用のカウンタ回路19が制御する。すなわち、同期確立
の判定をカウンタ回路19が行なう。カウンタ回路19
には、受信PNパターンと発生部17が発生したPNパ
ターンとのイクスクルーシブオアをとるイクスクルーシ
ブオア回銘20の出力が与えられており、この出力が両
PNパターンの一致を指示する論理レベルを続けて所定
ビット数だけとる場合に、同期が確立したと判断してセ
レクタ回路18を発生部17からのPNパターン側に切
り替える。
また、イクスクルーシブオア回路20の出力は誤り数カ
ウンタ回路21に与えられる。このカウンタ回路21は
、同期引込み状態になった以降にカウント動作するもの
である。同期引込み状態では、被試験対象2に異常がな
ければ、受信PNパターンと発生部17が出力したPN
パターンとは一致するはずである。従って、不一致個数
をカウントすることで被試験対象2の異常状態の程度を
検出することかで゛き、これを出力する。
[発明が解決しようとする課題] ところで、デジタル伝送システムの伝送速度、特に高次
群の信号における伝送速度は、非常に高速になってきた
く例えば400Mbps)。従って、ビット周期の短い
高速のPNパターンを処理することを要する。高速のP
Nパターンを発生するPNパターン発生器や検出動作す
るPNパターン検出器は、実際上集積回路を用いて構成
されるが、集積回路は高速になればなるほど指数関数的
に消費電力が大きくなる。集積回路以外の回路素子につ
いても集積回路はどではないが同様なことが言える。ま
た、高速になればなるほど、リード線その他の回路素子
として使用可能なものに対する制約が大きくなる。
本発明は、以上の点を考慮してなされたものであり、高
速度のPNパターンを、低速度のPNパターンとして処
理してPNパターンの同期確立を得ることができるPN
パターン検出器を提供しようとするものである。
[課題を解決するための手段] かかる課題を解決するため、本発明においては、PNパ
ターン検出器を以下の要素によって構成した。
すなわち、入力信号を並列パラレル展開するシリアル/
パラレル変換回路と、入力信号の並列展開数分だけクロ
ック信号を分周した分周クロック信号に基づいてPNパ
ターンを発生するPNパターン発生回路と、このPNパ
ターン発生回路から発生されたPNパターンを並列パラ
レルのPNパターンに変換する第1のパターン変換回路
と、入力信号に対する並列パラレル信号と、第1のパタ
ーン変換回路からの並列パラレルのPNパターンとの一
致を検出する一致検出回路とを設けた。また、この一致
検出回路の結果に基づいてPNパターンの同期確立を判
定する同期確立判定回路と、第1のパターン変換回路に
よる変換の逆変換を行なう第2のパターン変換回路とを
設けた。
そして、同期確立判定回路が同期外れを判定してPNパ
ターンの同期引込み状態になったときに、第2のパター
ン変換回路が入力信号に対して変換処理して得たPNパ
ターンをPNパターン発生回路にロードしてPNパター
ンの同期確立を行なうこととした。
[作用] 本発明は、PNパターン検出器を低速動作素子で構成し
ようとしたものである。
シリアル/パラレル変換回路が入力信号を並列パラレル
展開して一致検出回路に与える。また、PNパターン発
生回路は、入力信号のレートの並列展開数分の1のクロ
ックレートを有するクロック信号に基づいてPNパター
ンを発生し、第1のパターン変換回路は、このPNパタ
ーン発生回路から発生されたPNパターンを並列パラレ
ルのPNパターンに変換して一致検出回路に与える。一
致検出回路は、入力信号に対する並列パラレル信号と、
第1のパターン変換回路からの並列パラレルのPNパタ
ーンとの一致を検出し、同期確立判定回路は、この一致
検出回路の結果に基づいてPNパターンの同期確立を判
定する。
ここで、同期確立判定回路が同期外れを判定してPNパ
ターンの再度の同期引込み動作が必要となったときに、
第2のパターン変換回路が入力信号に対して変換処理し
て得たPNパターンをPNパターン発生回路にロードし
てPNパターンの同期確立を行なう。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳述する。
ここで、第5図はこの実施例を適用した試験装置の概念
構成のブロック図、第6図はそのPNパターン発生器の
具体的構成例を示すブロック図、第7図はその論理回路
部の処理の説明に供する図表、第1図は上記試験装置の
概念構成におけるPNパターン検出器の具体的構成例を
示すブロック図である。
概念旧式 まず、試験装置の概念構成を第5図を用いて説明する。
この実施例のPNパターン発生器30は、単体のPNパ
ターン発生器(従来の発生器に相当)から構成されてい
るのではなく、並列形PNパターン発生回路31及びビ
ット多重回路32とからなる。並列形PNパターン発生
回路31は、同期した複数のPNパターンを同時並列的
に発生し、発生した並列PNパターンをビット多重回路
32に与える。ビット多重回路32は、与えられた並列
PNパターンをビット多重して直列のPNパターンに変
換して回線等の被試験対象33に出力する。
ここで、直列PNパターンの速度は被試験対象33によ
って定まる速度であり、並列PNパターン中の1個のP
Nパターンの速度はこの直列PNパターンの並列数分の
1となっている。すなわち、並列形PNNパターン発生
器路1の処理速度は、被試験対象33に求められる速度
よりかなり遅い速度となっている。
勿論、直列PNパターンの速度は、被試験対象2及び3
3が等しいのであれば、従来のPNパターン発生器1が
発生したPNパターンの速度と等しい。
被試験対象33を介した直列PNパターンはPNパター
ン検出器34に与えられる。PNパターン検出器34は
、分離回路35、並列比較回路36、試験用の並列形P
Nパターン発発生器37及びPNパターン同期判定回路
38からなる。
分離回路35は、ビット多重回路32の逆処理を行なう
ものであり、受信した直列PNパターンを分離すること
で並列PNパターンに変換して並列比較回路36及び並
列形PNNパターン発生器路7に与えるものである。
以下、並列PNパターンに基づいて試験動作が行われる
。すなわち、並列形PNNパターン発生器路7は分離さ
れた並列PNパターンを利用しながら検出用の並列PN
パターンを発生し、PNパターン同期判定回F!!13
8が並列比較回路36からの出力に基づいて分離された
並列PNパターンと検出用の並列PNパターンとの同期
を判定してその結果を並列形PNNパターン発生器路7
に与えて同期させ、この状態で分離された並列PNパタ
ーンと検出用並列PNパターンとの一致不一致を並列比
較回路36が捕らえてその不一致量に応じた被試験対象
33の試験結果を出力するようにしている。
このPNパターン検出器34の分離回路35を除いた各
要素36〜38が処理する各PNパターン(並列PNパ
ターン中の各PNパターン)の速度も、直列PNパター
ンの速度の並列数分の1となっている。すなわち、低速
の処理構成となっている。
PNパターン  l′30の  ・ 次に、PNパターン発生器30の具体的構成例を第6図
及び第7図を参照しながら説明する。
この発生器は、例えば、15段構成のシフトレジスタ回
路40と、このシフトレジスタ回路40の最終段のレジ
スタF1及びその直前段のレジスタF2の出力論理レベ
ルのイクスクルーシブオアをとって初段のレジスタF1
5に与えるイクスクルーシブオア回路41と、シフトレ
ジスタ回路40の各段レジスタF1〜F15の出力論理
レベルを入力して第6図に示すような処理を行なう論理
回路部42とを備える。なお、これらシフトレジスタ回
路40、イクスクルーシブオア回Tr441及び論理回
路部42から並列形PNNパターン発生器路1が構成さ
れている。
シフトレジスタ回路40の各段レジスタF15〜F1を
初期化してオール論理「1」にした後、所定周期の図示
しないクロック信号によってシフトさせることで直列P
Nパターンを出力させる。
なお、シフトレジスタ回路40及びイクスクルーシブオ
ア回路41によって発生されるPNパターンの生成多項
式は従来と同様にx15+x+1であり、その周期は2
151デイジツトである。
論理回路部42は、このようにして発生されたlクロッ
ク周期だけ位相が異なる15個のPNパターン(各段レ
ジスタF1〜F15の出力)から212デイジツトずつ
異なる8個のPNパターン5EQI〜5EQ8を生成す
るものである。
で囲んだ符号はイクスクルーシブオアをとることを示し
ており、また、F3、F4等のアルファベット「F」と
数字でなる符号はシフトレジスタ回路40のその符号で
表されている段のレジスタの出力論理レベルを示してい
る。
従って、論理回路部42は、シフトレジスタ回路40の
レジスタF3の出力を第1系列の出力PNパターン5E
QIとしており、シフトレジスタ回路40のレジスタF
4、F5、F7及びFil□□□の出力のイクスクルー
シブオア出力を第2系列の出力PNパターン5EQ2と
しており、他の系列のPNパターンも第6図に示すよう
に論理演算して形成している。
ここで、基準となる第1系列のPNパターン5EQIに
シフトレジスタ回路40のレジスタF3の出力をそのま
ま用いるようにしたのは、このようにすることにより、
論理回路部42の構成が最も簡単な構成となるためであ
る。
各系列のPNパターン5EQI〜5EQ8は、ビット多
重回路としてのパラレル/シリアル変換回路43に与え
られる。このパラレル/シリアル変換回路43がパラレ
ル/シリアル変換を通して各系列のPNパターン5EQ
I〜5EQ8を多重化して直列のPNパターンを形成し
て被試験対象33に与える。
なお、シフトレジスタ回路及びイクスクルーシブオア回
路でなる1個のPNパターンの発生構成を8個別個に設
けて各系列のPNパターン5EQ1〜5EQ8を発生さ
せることも考えられるが、論理回路部42を利用するほ
うが全体の構成を簡単なものとなる。
PNパターン  v134の目 ・ 次に、第6図に示したPNパターン発生器の構成に対応
しなPNパターン検出器34の具体的構成例を、第1図
を用いて説明する。
被試験対象33を介して受信された直列PNパターンは
、分離回路としてのシリアル/パラレル変換回路44に
与えられる。シリアル/パラレル変換回路44は、この
直列PNパターンをシリアル/パラレル変換し、8系列
の並列PNパターンに変換して以下の検出構成部分に与
える。
第1図に示すように、検出構成側でもシフトレジスタ回
路45、イクスクルーシブオア回路46及び論理回路部
47でなる並列PNパターンの発生部が設けられている
シフトレジスタ回路45のレジスタF3及びF2との間
には、セレクタ回路48が介挿されている。セレクタ回
i¥448は、論理回路部47からの並列PNパターン
5EQ11〜5EQ81とシリアル/パラレル変換口i
¥1344からの並列PNパターン5EQ12〜5EQ
82とが同期確立するまでは、シリアル/パラレル変換
回路44からの第1系列のPNパターン5EQ12を選
択し、同期確立状態になると、レジスタF3の出力を選
択してレジスタF2に与えるものである。
このセレクタ回路48の切換えはPNパターン同期保護
用のカウンタ回路49が制御する。すなわち、同期引込
み状態の判定をカウンタ回路49が行なう。カウンタ回
路49には、論理回路部47からの並列PNパターン5
EQII〜5EQ81とシリアル/パラレル変換回路4
4からの並列PNパターン5EQ12〜5EQ82との
対応パターン同士のイクスクルーシブオアをとるイクス
クルーシブオア回路群50の8出力が与えられている。
この出力が両PNパターンの一致を指示する論理レベル
を続けて所定ビット数だけとる場合に、同期確立状態に
なったと判断してセレクタ回路48をシフトレジスタ回
路45のレジスタF3側に切り替える。
また、イクスクルーシブオア回路群50の8出力は誤り
数構出用のアダー回路51に与えられる。
このアダー回路51は、同期引込み状態になった以降に
到来する不一致状態を指示するビット数をどの出力がと
ろうとカウント動作するものである。
同期引込み状態では、被試験対象33に異常がなされば
、論理回路部47からの並列PNパターン5EQII〜
5EQ81とシリアル/パラレル変換回路44からの並
列PNパターン5EQ12〜5EQ82とは一致するは
ずである。従って、不一致個数をカウントすることで被
試験対象33の異常状態の程度を検出することができ、
これを出力する。
なお、以上の構成において、シリアル/パラレル変換口
#144からの8出力のうちから1出力5EQ12を選
択するようにしているのは、8出力から1個のPNパタ
ーンを形成していることと機能的には等価であり、PN
パターン発生部を構成するシフトレジスタ回路45に対
するロードパターンを決定していることになる。
夾旌■凶匁1 従って、上述の実施例によれば、PNパターン発生器3
0及びPNパターン検出器34共に、被試験対象33を
通過するPNパターンより低速の複数のPNパターンを
処理しているので、従来に比して消費電力を押さえるこ
とができる。また、実際上での各構成要素に対する伝送
速度からの制約が従来に比べて弱くなっている。
また、複数のPNパターンを、論理回路部42.47を
用いて1個のPNパターンから形成するようにしている
ので、構成を簡易なものとしている。
すなわち、1個のPNパターンを形成する構成部分を複
数個並列に設ける場合に比較して構成が簡単になってい
る。
灯Ω叉施刊 上述の実施例においては、PNパターン発生器及びPN
パターン検出器が共に並列のPNパターンを処理するも
のを示したが、PNパターン発生器より構成要素が多い
PNパターン検出器だけが並列のPNパターンを処理す
るものであっても良い。
PNパターンの生成多項式やPNパターンの並列数等は
、上述の実施例のものに限定されるものではない。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、PNパターン検出器を
並列のPNパターンを処理するように構成したので、高
速動作素子により回路を構成する必要がなくなり、消費
電力を従来に比して小さく抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるPNパターン検出器の一実施例の
概念ブロック図、第2図は従来の試験装置の概念ブロッ
ク図、第3図は従来のPNパターン発生器の具体的構成
を示すブロック図、第4図は従来のPNパターン検出器
の具体的構成を示すブロック図、第5図は本発明による
PNパターン検出器を利用した試験装置を示すブロック
図、第6図は上記試験装置のPNパターン発生器の具体
的構成を示すブロック図、第7図はその論理回路部の処
理の説明に供する図表である。 44・・・シリアル/パラレル変換回路、45・・・シ
フトレジスタ回路、46.50・・・イクスクルーシブ
オア回路、47・・・論理回路部、48・・・セレクタ
回路、49・・・カウンタ回路、51・・・アダー回路
。 特許出願人  沖電気工業株式会社 (り 手続補正書(鮭) 平成2年 9月12、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 入力信号を並列パラレル展開するシリアル/パラレル変
    換回路と、 入力信号のレートの並列展開数分の1のクロックレート
    を有するクロック信号に基づいてPNパターンを発生す
    るPNパターン発生回路と、このPNパターン発生回路
    から発生されたPNパターンを並列パラレルのPNパタ
    ーンに変換する第1のパターン変換回路と、 入力信号に対する並列パラレル信号と、上記第1のパタ
    ーン変換回路からの並列パラレルのPNパターンとの一
    致を検出する一致検出回路と、この一致検出回路の結果
    に基づいてPNパターンの同期確立を判定する同期確立
    判定回路と、上記第1のパターン変換回路による変換の
    逆変換を行なう第2のパターン変換回路とを備え、上記
    同期確立判定回路が同期外れを判定してPNパターンの
    同期引込み状態になったときに、上記第2のパターン変
    換回路が上記入力信号に対して変換処理して得たPNパ
    ターンを上記PNパターン発生回路にロードしてPNパ
    ターンの同期確立を行なうことを特徴とするPNパター
    ン検出器。
JP2105411A 1990-04-23 1990-04-23 Pnパターン検出器 Expired - Lifetime JP2735673B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6094737A (en) * 1996-12-20 2000-07-25 Oki Electric Industry Co., Ltd. Path test signal generator and checker for use in a digital transmission system using a higher order virtual container VC-4-Xc in STM-N frames
JP2014216999A (ja) * 2013-04-30 2014-11-17 アイコム株式会社 ビットエラー測定装置および無線機
KR20150144821A (ko) 2011-09-13 2015-12-28 다이호 고교 가부시키가이샤 미끄럼 부재 및 미끄럼 재료 조성물

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US6094737A (en) * 1996-12-20 2000-07-25 Oki Electric Industry Co., Ltd. Path test signal generator and checker for use in a digital transmission system using a higher order virtual container VC-4-Xc in STM-N frames
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JP2014216999A (ja) * 2013-04-30 2014-11-17 アイコム株式会社 ビットエラー測定装置および無線機

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