JPH0447779Y2 - - Google Patents

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JPH0447779Y2
JPH0447779Y2 JP7642086U JP7642086U JPH0447779Y2 JP H0447779 Y2 JPH0447779 Y2 JP H0447779Y2 JP 7642086 U JP7642086 U JP 7642086U JP 7642086 U JP7642086 U JP 7642086U JP H0447779 Y2 JPH0447779 Y2 JP H0447779Y2
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pinch roller
holder
support shaft
head
axis
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Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 本考案は、磁気テープなどのテープをキヤプス
タンとの間で狭圧して、走行させるためのピンチ
ローラを試験するための装置に関する。
背景技術 典型的な先行技術は、第4図に示されている。
基台1上には、キヤプスタン2がその軸線まわり
に回転駆動されるように取付けられている。この
キヤプスタン2に圧接するピンチローラ3は、ホ
ルダ4に回転自在に取付けられている。ホルダ4
は、ばね5によつて第4図の上方に付勢される。
ホルダ4は、基台1に立設された案内軸6に沿つ
て往復変位自在に設けられる。この案内軸6の頂
部には、ボルト7が螺合されており、ボルト7の
端部によつてホルダ4が下方に調整変位される。
ホルダ4は、大略的にU字状に曲成されており、
その上腕部8を緩挿するボルト9は、下腕部10
に螺合する。キヤプスタン2とピンチローラ3と
の間には、磁気テープが介在される。
ボルト7,9を調整して、テープの走行を安定
化させるために、キヤプスタン2とピンチローラ
3との両者の相対角度、ピンチローラ3の上下の
高さ位置、およびピンチローラ3が、キヤプスタ
ン2に圧接する圧接力などを試験し、これらの値
のテープ走行に対する最適値、または許容範囲を
評価する。ボルト9を回転することによつて、ホ
ルダ4の上腕部8と下腕部10とが近接離反し
て、ピンチローラ3の回転軸線が傾く。またボル
ト7を回転することによつて、ホルダ4、したが
つてピンチローラ3が第4図の上下に変位する。
考案が解決すべき問題点 このような先行技術では、キヤプスタン2とピ
ンチローラ3との両者の相対角度、ピンチローラ
3の高さ位置、およびピンチローラ3のキヤプス
タン2への圧着力などを、定量的に評価すること
ができない。またホルダ4は、比較的薄い金属板
などの材料から成り、したがつてたわみが生じ、
信頼性が劣る。
本考案の目的は、ピンチローラに関する構成を
定量的に評価することができ、しかも信頼性が向
上されたピンチローラ試験装置を提供することで
ある。
問題点を解決するための手段 本考案は、ホルダによつて回転自在に保持され
てキヤプスタンに圧接されるピンチローラの試験
装置であつて、 前記ピンチローラの軸線にほぼ平行に設けら
れ、先鋭な基端部と球状の頭部とを有し、その軸
線に沿つて、かつその軸線まわりに前記ホルダを
変位可能に支持する支持軸と、 前記支持軸の基端部を支持するピボツト軸受
と、 スピンドルを有するマイクロメータヘツドと、 前記支持軸の頭部の球面を前記マイクロメータ
ヘツドのスピンドルに当接させる第1の圧接手段
と、 前記ホルダに関連して設けられ、前記ピンチロ
ーラのキヤプスタンへの圧接力を可変に前記ホル
ダを前記支持軸の軸線まわりに変位する第2の圧
接手段とを含むことを特徴とするピンチローラ試
験装置である。
作 用 本考案に従えば、ピンチローラを回転自在に保
持してキヤプスタンに圧接するホルダは、ピンチ
ローラの軸線にほぼ平行に設けられた支持軸によ
つて、該支持軸の軸線に沿つて変位可能に支持さ
れるとともに、その軸線まわりに揺動変位可能に
支持される。この支持軸は、先鋭な基端部と球状
の頭部とを有しており、前記基端部は基台などに
設けられたピボツト軸受によつて支持されてお
り、また頭部はその球面が第1の圧接手段によつ
てマイクロメータヘツドのスピンドルに当接する
ように、常時付勢されている。
したがつて、第1の圧接手段の押圧力に抗し
て、マイクロメータヘツドによつて支持軸の頭部
の球面を押圧し、これによつてピンチローラの軸
線の傾きを調整して、当該傾き量を定量的に評価
することができる。
また、ホルダを支持軸の軸線に沿つて変位する
ことによつて、ピンチローラの高さ位置を調整し
て、当該高さ位置を定量的に評価することができ
る。
さらにまた、ピンチローラは、ホルダが第2の
圧接手段によつて揺動変位されることによつてキ
ヤプスタンに圧接されており、前記第2の圧接手
段は、ピンチローラのキヤプスタンへの圧接力を
可変であり、したがつて圧接力を定量的に評価す
ることができる。
以上のような構成で、高い再現性および信頼性
でピンチローラに関する試験を行うことができ、
該試験を好都合に行うことができる。
実施例 第1図は本考案の一実施例の平面図であり、第
2図はその実施例の簡略化した部分断面図であ
り、第3図はその実施例の一部の分解斜視図であ
る。これらの図面を参照して、基台13上にはキ
ヤプスタン14が、その軸線まわりに回転自在に
取付けられており、このキヤプスタン14には、
モータ15が取付けられている。モータ15、し
たがつてキヤプスタン14は、矢符16の方向に
回転される。磁気テープ17は、ガイドピン18
によつて案内され、磁気ヘツド19に摺接し、キ
ヤプスタン14からガイドピン23を経て、巻取
りリール24によつて巻取られる。このキヤプス
タン14には、ピンチローラ25が圧接される。
ピンチローラ25は、ゴムなどの材料から成り、
軸受26を介して取付軸27に支持される。この
取付軸27は、ホルダ28の上下一対の腕部2
9,30に固定される。ホルダ28は、腕部2
9,30に連なる基部31を有し、この基部31
には、腕部29,30と反対側に延びる係合部3
2が固着される。係合部32の端部33には、可
撓性のある糸などの索条34の一端部が連結され
る。この索条34の他端部には、重錘35が取付
けられる。索条34は、基台13に回転自在に取
付けられた水平回転軸線を有するプーリ36に巻
掛けられる。索条34と重錘35とプーリ36と
は、第2の圧接手段を構成する。ホルダ28の下
方において、基台13にはピボツト玉軸受37が
固着される。このピボツト玉軸受37には、支持
軸38の円錐状の基端部39が装着される。支持
軸38は、基端部39に連なる軸部40と頭部4
1とを有する。基端部39と軸部40と頭部41
とは、共通な一直線上に軸線を有する。軸部40
は、ホルダ28の基部31に形成された挿通孔4
2を、緩やかに挿通し、これによつてホルダ28
は、支持軸38の軸線に沿つて、第2図および第
3図の上下に変位可能である。基台13と、ホル
ダ28との間に介在されたばね43は、ホルダ2
8を第2図および第3図の上方に付勢する。軸部
40の途中には、凹所44が形成されており、こ
の凹所44には、E型止め輪45が嵌め込まれ
る。E型止め輪45の上方には、ばね受46が当
接する。ばね受46と板状の支持部材48との間
には、ばね49が介在される。ばね49は、ばね
受46、したがつて支持軸38を、第2図および
第3図の下方に付勢する。支持軸38の軸部40
は、支持部材48に形成された挿通孔47を緩や
かに挿通する。この支持部材48は、3つの脚部
50によつて基台13に固定される。E型止め輪
45の下端面とホルダ28の基部31の上端面と
の間には、すきまゲージ51aを介在することが
できる。これによつてホルダ28、したがつてピ
ンチローラ25の上下方向の位置を、定量的に調
整することができる。
支持軸38の頭部41は、その支持軸38の軸
線上に中心を有する球面51と、支持軸38の軸
線に平行な平端面52とを有する。支持軸38の
軸線と取付軸27の軸線とはほぼ平行である。
頭部41の球面51に当接するスピンドル5
3,54を、有するマイクロメータヘツド55,
56が設けられる。このマイクロメータヘツド5
5,56は、共通な一平面内で相互に直交してお
り、これらのマイクロメータヘツド55,56の
軸線の交点位置は、支持軸38の軸線のごく近傍
である。マイクロメータヘツド55は、取付け部
材57の取付け孔58を挿通する。取付け部材5
7の取付け孔58は、突部形59,60によつて
形成される。一方の突部59を緩やかに挿通する
ボルト61は、他方の突部60に螺合する。こう
してボルト61を螺合することによつて、マイク
ロメータヘツド55を、取付け部材57に固定す
ることができる。取付け部材57は、基台13に
固定される。もう一つのマイクロメータヘツド5
6も、また同様にして、取付け部材62によつて
基台13に固定される。
支持軸38の頭部41の球面51を、マイクロ
メータヘツド55,56のスピンドル53,54
に、当接するように、第1の圧接手段である圧接
手段63が設けられる。この圧接手段63は、直
線状に延びる棒状体64と、その棒状体64を挿
通する突片65と、棒状体64の端部に形成され
た外ねじ66に、螺合するナツト67と棒状体6
4が、その軸線に沿つて変位可能に支持する案内
部材68と、ばね69とを含む。案内部材68
は、棒状体64が挿通して案内される案内孔70
を有する。案内部材68は、基台13に固定され
る。棒状体64は、コイル状のばね69を挿通
し、ばね受71を介して端部に形成された外ねじ
72にナツト73が螺合する。こうしてばね69
は、棒状体64を第3図の右方に付勢する。突片
65は平板状であり、頭部41の平端面50に当
接する。こうして、ばね69の働きによつて頭部
41の球面51は、マイクロメータヘツド55,
56のスピンドル53,54に弾発的に常時当接
した状態となる。
ピンチローラ25の軸線の傾きを調整するに
は、一対のマイクロメータヘツド55,56を操
作し、これによつて支持軸38の軸線を傾ける。
こうして、ピンチローラ25の軸線を変化調整す
ることができる。ピンチローラ25の軸線方向の
高さ位置は、前述のようにE型止め輪45とホル
ダ28との間に、すきまゲージ51aを介在する
ことによつて、調整することができる。またピン
チローラ25がキヤプスタン14に圧接する圧接
力は、重錘35の重量によつて調整することがで
きる。すなわち重錘35は、ホルダ28を支持軸
38の軸線まわりに、第1図の時計方向の回転力
を作用し、これによつて、重錘35の重量に対応
した圧接力でピンチローラ25は、キヤプスタン
14に圧接される。ピンチローラ25の取付け軸
27は、上方に比較的長く突出しており、この取
付け軸27の傾きなどを三次元測定装置などを用
いて、高精度に測定することができる。またピボ
ツト玉軸受37によつて、支持軸38の基端部3
9を支持しており、したがつて、マイクロメータ
ヘツド55,56のスピンドル53,54の送り
量が、支持軸38の倒れにそのまま対応してお
り、マイクロメータヘツド55,56の送り量の
読みによつて、支持軸38の傾きなどを容易に換
算することができ、再現性が極めて優れており信
頼性が向上される。
本考案は、磁気テープに関連して実施されるだ
けでなく、その他キヤプスタンに圧接するピンチ
ローラに関連して、広範囲に実施することができ
る。
重錘35によつて、ピンチローラ25をキヤプ
スタン4に、圧接する力を調整する代わりに、ば
ねなどを用いて、そのピンチローラ25によるキ
ヤプスタン4への圧接力を、調整することができ
るようにしてもよい。
効 果 以上のように本考案によれば、ピンチローラに
関する各種の調整可能な最適値、または許容範囲
の値を定量的に評価することができるとともに、
再現性が高く信頼性が向上される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の平面図、第2図は
第1図に示された実施例の簡略化した部分断面
図、第3図は第1図および第2図に示された実施
例の一部の分解斜視図、第4図は先行技術の断面
図である。 13……基台、14……キヤプスタン、25…
…ピンチローラ、27……取付け軸、28……ホ
ルダ、34……索条、35……重錘、37……ピ
ボツト玉軸受、38……支持軸、43,49,6
9……ばね、48……支持部材、51……すきま
ゲージ、55,56……マイクロメータヘツド、
63……圧接手段、64……棒状体、65……突
片、68……案内部材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ホルダによつて回転自在に保持されてキヤプス
    タンに圧接されるピンチローラの試験装置であつ
    て、 前記ピンチローラの軸線にほぼ平行に設けら
    れ、先鋭な基端部と球状の頭部とを有し、その軸
    線に沿つて、かつその軸線まわりに前記ホルダを
    変位可能に支持する支持軸と、 前記支持軸の基端部を支持するピボツト軸受
    と、 スピンドルを有するマイクロメータヘツドと、 前記支持軸の頭部の球面を前記マイクロメータ
    ヘツドのスピンドルに当接させる第1の圧接手段
    と、 前記ホルダに関連して設けられ、前記ピンチロ
    ーラのキヤプスタンへの圧接力を可変に前記ホル
    ダを前記支持軸の軸線まわりに変位する第2の圧
    接手段とを含むことを特徴とするピンチローラ試
    験装置。
JP7642086U 1986-05-21 1986-05-21 Expired JPH0447779Y2 (ja)

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JP7642086U JPH0447779Y2 (ja) 1986-05-21 1986-05-21

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JP7642086U JPH0447779Y2 (ja) 1986-05-21 1986-05-21

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JPS62190933U JPS62190933U (ja) 1987-12-04
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