JPH045030Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はケーブル・テスターの入出力装置に係
り、特にリレーを有する入出力装置に関する。

〔従来の技術〕

近年、通信／伝送網の高度化に伴い、第４図に
示すように、多数の芯線１を有する多芯ケーブル
３が多用されるようになつているが、確実な伝送
状態を確保する観点から、その多芯ケーブル３の
各芯線１間において高い絶縁抵抗特性や耐圧特性
が強く要求されている。

また、芯線１の本数が増加するに従い、ケーブ
ル３の両端における各芯線１の対応関係を調べる
ことが煩雑になつている。

このようなケーブル３における諸特性の検査や
芯線１の対応関係を調べる装置として、ケーブ
ル・テスターＡが提供されるようになつており、
芯線１の両端間にケーブル・テスターの入出力端
を接続してケーブル３の状態を検査することが行
われるようになつている。

そして、ケーブル・テスターＡにおける入出力
装置には、入力もしくは出力信号の切り換えにリ
レーを用いる場合が多く、従来、特にそのリレー
の取付構造は、第５図に示すようになつていた。

すなわち、入力もしくは出力回路の一部たる回
路パターン５を形成した回路基板７にその回路パ
ターン５を通る挿通孔９を貫通形成し、入力もし
くは出力回路を切り換えるリレー１１の端子ピン
１３をその挿通孔９に挿通し、端子ピン１３を回
路パターン５に半田１５で接続し、リレー１１を
回路基板７に取付ける構成を有している。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかしながら、このようなケーブル・テスター
の入出力装置は、リレー１１の端子ピン１３を回
路パターン５に半田付けする関係から、挿通孔９
の内径を端子ピン１３の外形より僅かに大径に形
成し、可能な限り挿通孔９の内径を小さくするこ
とが必要である。

そのため、リレー１１の端子ピン１３が回路基
板７に接触したり極めて近接するので、その端子
ピン１３部分における絶縁抵抗が小さくなりがち
となり、ケーブル・テスターから被測定物たるケ
ーブル３を見た場合に絶縁抵抗が低くなつて測定
結果が不正確となり易い難点がある。しかも、そ
の絶縁抵抗が回路基板７の材質によつて変化する
おそれもある。

例えば、回路基板７としてガラスエポキシ基板
を用いたケーブル・テスターの入出力装置の環境
湿度を相対湿度で85％上昇させると、絶縁抵抗が
100MΩ以下に低下することが確かめられており、
本体1500MΩ程度確保したいものが極端に悪化す
る。

本考案はこのような状況に鑑みてなされたもの
で、リレーの端子ピン部分における絶縁抵抗を高
く維持することの可能なケーブル・テスターの入
出力装置を目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この問題点を解決するために本考案は、第１図
および第２図に示すように、ケーブル・テスター
の入力もしくは出力回路Ｂを切り換えるリレー２
１，２５を少なくともその入出力回路Ｂを有する
回路基板３５に取付けて構成されている。しか
も、その入出力回路Ｂに接続されそのリレー２
１，２５に備えられた端子ピン２３ａ〜２３ｃ，
２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂより大径の挿通
孔３７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，４
１ｂを回路基板３５に形成し、その挿通孔３７ａ
〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，４１ｂに端
子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９
ａ，２９ｂを回路基板３５に接触せずに遊びを持
たせて挿通してそのリレー２１，２５を回路基板
３５に取付け、端子ピン２３〜２３ｃ，２７ａ，
２７ｂ，２９ａ，２９ｂと入出力回路Ｂを接続ワ
イヤー４３ａ〜４３ｅで接続して構成されてい
る。

〔作用〕

このような手段を有する本考案は、回路基板３
５に取付けたリレー２１，２５の端子ピン２３ａ
〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂが回
路基板３５に接触せずに空隙を介して位置するか
ら、端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，
２９ａ，２９ｂ部分における絶縁抵抗が高くな
り、回路基板３５の材質によつて絶縁抵抗が変動
し難い。

〔実施例〕

以下本考案の実施例を説明する。

第１図および第２図は本考案に係るケーブル・
テスターの入出力装置の一実施例を示す断面図お
よび平面図であるが、便宜上、先に本考案の入出
力装置が用いられるケーブル・テスターの入出力
回路の概略を説明する。

第３図はケーブル・テスターの入出力回路Ｂを
示している。

図において、検査信号を出力する信号発生回路
１７の出力は信号受信回路１９および１回路複接
点型リレー２１の一方の固定端子２３ａに接続さ
れており、他方の固定端子２３ｂにはマイナス電
位が接続されている。

リレー２１の可動端子２３ｃは２回路単接点型
リレー２５における一方のスイツチ回路の固定端
子２７ａに接続されており、可動端子２７ｂは他
方のスイツチ回路の可動端子２９ａおよび外部接
続端子３１に接続され、固定端子２９ｂにはプラ
ス電位が接続されている。

そして、リレー２１において可動端子２３ｃと
固定端子２３ａが接続され、リレー２５において
可動端子２７ｂと固定端子２７ａが接続されると
ともに可動端子２９ａが開放となつている状態で
は、信号発生回路１７からの信号が外部接続端子
３１に出力され、信号発生回路１７のOFF状態
において外部接続端子３１からの信号を信号受信
回路１９に入力可能となる。一方、リレー２１，
２５が切り換え動作すると、外部接続端子３１に
別の信号を出力可能になつている。

本考案は、このような入出力回路Ｂにおいて特
にリレー２１，２５部分の構成に特徴がある。

すなわち、第１図および第２図において、入出
力回路Ｂの一部たる回路パターン３３を裏面に形
成した回路基板３５には、上述したリレー２１，
２５から突出する複数の端子ピン２３ａ〜２３
ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂと同ピツチ
て挿通孔３７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１
ａ，４１ｂが貫通形成されている。この挿通孔３
７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，４１ｂ
は、端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，
２９ａ，２９ｂの外径より大きく形成されてい
る。なお、理解を簡単にするため、第３図のリレ
ー２１，２５の各端子と第１図および第２図の端
子ピンを同一の符号で示した。

リレー２１，２５は、端子ピン２３ａ〜２３
ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂをそれら挿
通孔３７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，
４１ｂの略中央に位置するように挿通して回路基
板３５に取付けられており、回路基板３５の裏面
に突出した端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２
７ｂ，２９ａ，２９ｂには、絶縁被覆された接続
ワイヤー４３ａ〜４３ｅの芯線がからげられると
ともに半田付け接続されている。半田の図示は省
略されている。

そして、挿通孔３７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９
ｂ，４１ａ，４１ｂの内径T₁は、端子ピン２３
ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂの
外径T₂よりも十分大径であるとともに、さらに、
端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９
ａ，２９ｂに接続ワイヤー４３ａ〜４３ｃの芯線
４５ａ〜４５ｃをからげて半田付け接続した接続
部分の外径T₃より十分大径に形成されている。
従つて、端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７
ｂ，２９ａ，２９ｂは十分遊びを持つて挿通孔３
７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，４１ｂ
に挿通されている。

それら接続ワイヤー４３ａ〜４３ｅのうち一部
の接続ワイヤー４３ｅはリレー２５の端子ピン２
９ｂから回路パターン３３に延びて半田付けされ
ており、また他の端子ピン２９ａに接続され接続
ワイヤー４３ｄは回路基板３５に形成された挿通
孔４５を経て回路基板３５の表面側に延び、回路
基板３５の表面側端部に取付けられた接続手段と
しての印刷配線用コネクタ４７の外部接続端子３
１に半田付け接続されている。

それらのリレー２１，２５は、上述したように
１回路複接点構成や２回路単接点構成となつた従
来公知の構造を有し、上述した端子ピン２３ａ〜
２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂの他に
入出力回路Ｂには接続されない駆動端子ピン４９
ａ，４９ｂ，５１ａ，５１ｂを有し、回路基板３
５に形成された挿通孔５３ａ，５３ｂ，５５ａ，
５５ｂに挿通されている。なお、この挿通孔５３
ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂは、従来例と同様に
駆動端子ピン４９ａ，４９ｂ，５１ａ，５１ｂの
外形より僅かに大きな寸法となつており、それら
挿通孔５３ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂに臨むよ
うに回路基板３５に形成された駆動回路５７ａ，
５７ｂに半田付け接続されている。

このように構成されたケーブル・テスターの入
出力装置は、リレー２１，２５の端子ピン２３ａ
〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂと回
路基板３５間に十分な空隙が形成されるので、そ
の端子ピン２３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２
９ａ，２９ｂ部分における絶縁抵抗を極めて高く
保ことが可能になるし、回路基板３５の材質によ
つてその絶縁抵抗が変化し難い。

本出願人が、外径0.8〜0.9mm程度の端子ピン２
３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂ
を、ガラスエポキシ回路基板３５に設けた内径
3.5mm程度の挿通孔３７ａ〜３７ｃ，３９ａ，３
９ｂ，４１ａ，４１ｂの中央に挿通して湿度を相
対的に85％上昇させて実験したところ、入出力回
路Ｂにおいて1500MΩ以上の絶縁抵抗を保ことが
できた。

そして、上述した本考案の実施例は、入力回路
と出力回路が兼用となつた回路構成における例で
あつたが、本考案のケーブル・テスターの入出力
装置はケーブル・テスターの入力回路もしくは出
力回路のいずれかにおいて実施可能であるし、入
力回路もしくは出力回路も上述した回路構成に限
定されず任意である。リレーの数も自由である。

また、リレー２１，２５と接続ワイヤー４３ａ
〜４３ｅで接続されるものは、上述したように回
路パターン３３や印刷配線用コネクタ５９等のよ
うにケーブル・テスターの入出力回路Ｂを構成す
る電子部品や回路パターンである。

〔考案の効果〕

以上説明したように本考案のケーブル・テスタ
ーの入出力装置は、リレーの端子ピンを回路基板
に接触せずに遊びを持たせて挿通孔に挿通し、そ
の端子ピンと入出力回路を接続ワイヤーで接続し
たので、回路基板に取付けたリレーの端子ピン部
分における絶縁抵抗を極めて高く保ことができ
る。

従つて、ケーブル・テスターの入出力装置から
被測定物たるケーブルを見た場合には、絶縁抵抗
が高くなり、正確な検査を確保できる。

特に、挿通孔が、接続ワイヤーと端子ピンとの
接続部の外径より十分大径に形成される場合には
本考案の効果が著しい。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本考案のケーブル・テス
ターの入出力装置の一実施例を示す断面図（第２
図中の−間断面図）および平面図、第３図は
ケーブル・テスターの入出力回路の一例を示す回
路図、第４図はケーブルの一例を示す概略図、第
５図は従来のケーブル・テスターの入出力装置の
概要を示す断面図である。 １……芯線、３……ケーブル、５，３３……回
路パターン、７，３５……回路基板、９，３７ａ
〜３７ｃ，３９ａ，３９ｂ，４１ａ，４１ｂ……
挿通孔、１１，２１，２５……リレー、１３，２
３ａ〜２３ｃ，２７ａ，２７ｂ，２９ａ，２９ｂ
……端子ピン、２７……接続ワイヤー、４３ａ〜
４３ｅ……接続ワイヤー、４７……印刷配線用コ
ネクタ、Ａ……ケーブル・テスター、Ｂ……入力
もしくは出力回路（入出力回路）。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ケーブルの状態を検査するケーブル・テスタ
   ーの入力もしくは出力回路を切り換えるリレー
   と、 前記入力もしくは出力回路に接続され前記リ
   レーに備えられた端子ピンより大径の挿通孔お
   よび少なくとも前記入力もしくは出力回路を有
   する回路基板であつて、前記挿通孔に前記端子
   ピンを前記回路基板に接触せずに遊びを持たせ
   て挿通して前記リレーが取付けられた回路基板
   と、 前記端子ピンと前記入出力回路を接続する接
   続ワイヤーと、 を具備することを特徴とするケーブル・テスタ
   ーの入出力装置。 (2) 前記挿通孔が、前記接続ワイヤーと前記端子
   ピンとの接続部外径より十分大径に形成された
   実用新案登録請求の範囲第１項記載のケーブ
   ル・テスターの入出力装置。