JPH04504913A - オプチカルロケータを備えた流体分配システム - Google Patents
オプチカルロケータを備えた流体分配システムInfo
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動化分析器具において用いる流体分配システムに関し、特に、ピペッ
トチップのオリフィスを分析装置に対する望ましい分配位置に正確に位置させる
ためにオプチカルコントロールシステムが用いられているようなシステムに関す
る。
自動化試験装置により種々タイプの化学試験を実行することができるが、著しく
興味のある試験の一例としては人間の健康管理のための生物学的物質の分析であ
る。
自動化試験装置は多数の試料を急速に処理できるようにする。そのような試験装
置は病院や実験室を含む保健機関で採用されている、例えば全血、プラズマある
いは血清のような生物学的流体が試験され病因を見つけたり、治療薬レベルをモ
ニタしたりする。
自動化試験器具においては、試験流体は典型的にはサンプルカップで提供され、
試料を分析試験要素上ヘビベッドで移し、培養し、得られた信号を読み取ること
を含む全てのプロセスステップは自動的に実施される。全てのプロセスステップ
は、温度制置した室内でコンベヤにより分析試験要素が運ばれている間に実施し
うる。さらにそのような器具においては典型的には、一種類の流体のみを送るた
めに使い捨てピペットチップは用いられ、次いて分析結果において誤差を発生し
つる可能性のある汚染を避けるために捨てられる。試料流体および/または試験
薬を分析要素へ分配するときピペットのチップを分析要素の上方の所定の正確に
制御した位置の上方に位置させる必要がある。
この要件は流体分配システムが典型的な自動化した分析器具において作動する典
型的な要領についての以下の説明からよく理解できる。ピペットを含む流体分配
システムを用いて試料流体および/または試薬を試験器具内の貯蔵カップあるい
はくぼみから分析試験要素へ移す。
ピペットは、典型的には高分子材料からつくられている使い捨てピペットのチッ
プと協働するようにされた典型的には金属製の中空チューブあるいはステムを含
む。使い捨てピペットチップは試験器具内の貯蔵皿で供給される。まずピペット
は下方に進行し摩擦接触により使い捨てチップを固定する。その後、所定量の流
体がピペットチップへ吸入され、次いでチップは自動的に、所定量の流体が分析
要素へ分配される分析試験要素の上方の分配位置まで運動する。分配ステップが
完了すると、チップは捨てられ、次の分配ステップのために新しい使い捨てチッ
プか使用される。
各使い捨てチップが摩擦嵌合によりピペットの金属ステムに位置するという事実
のため前記流体分配システムの使用において問題が発生しつる。典型的に使い捨
てチツブが作られている高分子材料は可撓性であるので、ピペットの金属ステム
からのチップオリフィスの距離はチップ毎に若干変動する可能性がある。前述の
ように、分配ステップの間ピペットチップオリフィスを分析要素の上方の所定の
精密に制御された位置に位置づける必要があるので、ピペットステムに使い捨て
チップを位置づける上で何らか変動かあればピペットチップの好ましい位置決め
に誤差を生ぜしめそのため分析結果に誤差を発生させうる。
従って、流体を分析試験要素まで送るためにピペットに関連して使い捨てチップ
を用いる分析器具において、ピペットステムからのピペットチップオリフィスの
距離とは無関係にチップのオリフィスを所定の精密に制御された位置に配置でき
るように分析サイクルの間にピペットチップの空間位置を検出しうる可能性を提
供することが望ましい。さらに、とベットが使い捨てチップをその上に位置させ
ているか否かを検出できると有利である。
発明の要約
前記およびその他の目的や利点は光源と光検出器とからなるセンサを用いてチッ
プの位置を検出する分析器具により本発明によって提供される。光線ビームは分
析要素のすぐ上方の平面に位置される。ピペットはサーボシステムあるいはステ
ッパモータによりある程度の測定精度で位置づけることかでき、最終調整はオプ
チカルセンサを用いることにより行われる。その時点で流体は捨てられ、再使用
するためピペットが準備される。使用ずみの使い捨てチップを外し、新しい使い
捨てチップと交換することにより再使用が行われる。使用ずみチップはピペット
を、チップのリップを包囲するチップ抽出固定具へ運動させることにより外され
る。その時、ピペットのステムは上昇され使用ずみチップを引き出し、チップは
収集皿中へ落下する。
図面の簡単な説明
本発明並びにその他の目的や別の特徴をよりよく理解するために、添付図面と関
連した種々の好適実施例についての以下の詳細説明を参照する。
第1図は分析試験カートリッジと、該カートリッジを一方のワークステーション
から別のワークステーションまで運動させるカローセルとを含む分析器具の部分
的に概略的に示す斜視図。
第2図は使い捨てチップの供給源と試薬容器と分析カートリッジ室の間でピペッ
トを動かすためのピペット搬送装置の部分的に概略的に示す斜視図であって、ピ
ペットのチップの位置を検出するオプチカル検出システムを示す図。
第3図はオプチカル検出システムの光線ビーム内でのピペットの使い捨てチップ
の拡大した部分図。
第4図は垂直方向にピペットを位置つけるためにマイクロプロセッサと共に作動
するピペット搬送装置のサーボコントロールループを示すブロック線図。
第5図はマイクロプロセッサの作動を示すフローチャート。
第6図はピペットがピペットバレルに介在していることを確認する安全ブロック
を含む、ピペットの追加運動の計算に関する部分の第5図に示すチャートのブロ
ックの詳細を示す図。
第7図はピペットの垂直運動を示すタイミング図である。
好適実施例の説明
第1図において、試料の分析を達成するために一連のプロセスステップを自動的
に提供する分析器具20か示されている。能力を上げるために器具20内におい
て複数のカートリッジ22が採用されており、他のカートリッジを用いて他のプ
ロセスステップを実施するのと同時に1個のカートリッジを用いて−プロセスス
テップが実施され、る。カートリッジ22は、ハウジングにおいて1個以上の室
を含む好適実施例に関して示されている。前記室は分析過程において使用される
流体の貯蔵および/または混合のためのくぼみあるいはリザーバとして構成して
よく、あるいは前記室はカートリッジ内の反応ゾーンへ流体を提供しつるように
する開口としてもよい。前記室はカートリッジのハウジング内で一体に形成され
る。
分析器具20はモータ28により軸26の周りで回転するターンテーブルあるい
はカローセル24を含む。例として、モータ28はギヤ30あるいはベルト駆動
装置(図示せず)によりカローセル24に機械的に結合しつる。カローセル24
はカートリッジ22を一方のワークステーションから別のワークステーションま
で運ぶ。そのような2個のワークステーション32.34を図1において例示し
ている。カローセル24は培養処理ステップを許容するように種々のワークステ
ーションにおいて希望する温度を保つヒータ38を有する温度制御した室36内
で回転する。
ワークステーション32は試薬をピペットで移すステーションであって、そこで
試薬流体とその他のいずれかの試薬か分析カートリッジ22まで送られる。例と
して、2個のピペット40.42が示されている。ピペット40と42とは該ピ
ペット40.42に機械的に接続されているピペット機構44により鎖線で示す
ように位置つけられ、かつ作動される。
分析過程の間、試料流体と試薬の間で発生する反応や相互作用の結果、アナライ
トと試料流体中の重要成分の介在に対応して検出可能の変化が発生する。検出可
能の変化とは例えば濃度計を用いて分光測光により読取り可能の色の変化であり
うるし、螢光ラベルを付した生物学的に活性の種に基く分析方法あるいは試薬間
の反応の結果として螢光種の発生を含む分析方法においては螢光出信号が発生し
、それを分光測光により読み取ることができる。そのような検出可能の変化は分
析カートリッジの上方あるいは下方で読み取ることができる。ワークステーショ
ン34において、分析カートリッジ内で反応ゾーンを照射し、そこに介在する螢
光種から放射された螢光を測定する螢光測定計46が例として示されている。
カローセル24は種々変る数の分析カートリッジ22を収納するように配置され
ている。分析カートリッジを保持するための各位置即ちバース54には本実施例
においては小さい開口56が設けられ照射が分析カートリッジにおける反応ゾー
ンに達し、反射した螢光放射が集められ、測定できるようにする。また空のバー
ス54にカートリッジ22を挿入するためのインジェクタ58も示されており、
インジェクタ58は挿入作動の間カートリッジ22を掴持するアーム60を有す
る。またインジェクタ58は試験過程が完了するとアーム60を用いてバース5
4からカートリッジを抽出する。モータ28、ピペット機構44、螢光測定計4
6およびインジェクタ58はマイクロプロセッサ62により同期化されている。
第2図は第1図に示すピペット機構44の構成を詳細に示す。本発明の説明の便
宜上ピペット機構44はピペットの中の1個のみ、即ちピペット40に作用する
ピペット搬送装置64を有するものとして以下説明する。搬送装置64はピペッ
ト40と分析カートリッジからある距離をおいて位置した一組のリザーバ66と
の間で二次元の相対運動を提供し、リザーバ66は器具20によって実施される
分析において宵月な試料流体あるいはその他の流体試薬とを貯蔵するように作用
する。リザーバ66は可動のテーブル68に位置し、該テーブルはピペット40
のステム72に固定すべき一組の使い捨てチップ70を保持する。x−y−z座
標軸の系を参照すれば、ピペット40は搬送装置64のボックス型ステム74に
沿ってX方向に移動可能で、テーブル68は搬送装置64のレール76に沿って
乗ることによりY方向に移動可能である。ビーム74内には垂直方向駆動装置7
8が位置し、Z方向にピペット40を上昇あるいは降下させる。
ボックス型ビーム74内に位置した水平方向駆動装置80はピペットをX方向に
駆動させる。垂直方向駆動装置78と水平方向駆動装置80とは従来の設計であ
って、第2図に簡略化して示している。簡略化して垂直駆動装置78はスプライ
ン軸84に摺動可能に取り付けられたホイル82を含むものとして記述できる。
スプライン軸84の方は四角断面でもよい。前記軸84はモータ86によって回
転する。水平方向駆動装置80はモータ90の回転に応答してビーム74に沿っ
てX方向に摺動するベース88を含む。モータ90はプーリ94を介してベルト
92を駆動する。ベルト92はベース88に接続され、モータ90によってプー
リ94が回転するとベース88を移動させる。ベース88から直立した固定具9
6はベース88の運動時軸84に沿ってホイル82を摺動させ、そのためホイル
82はベース88に対して固定位置に留っている。ピペット40はベース88を
通過しベース88によってX方向に移動する。ホイル82は、例えばホイル82
の歯車あるいはベルト駆動(図示せず)により機械的にピペット40に接続され
ている。ピペット40に対するホイル82の機械的接続によりモータ86によっ
てホイル82が回転するとピペット40をZ方向に移動させる。レール76に固
定されたモータ100の回転に応答してテーブル68をY方向に駆動するために
ベルト駆動98を同時に採用してもよい。
前述のように、第1図に示す分析器具の説明において、モータ28はマイクロプ
ロセッサ62によって制御されている。同様に、モータ100,90および86
もマイクロプロセッサ62によって制御されている。ぞ−夕28.100.90
および86の接続は第2図において、それぞれ端子A、B、CおよびDで示す。
そのためピペット40の運動はビーム74の直接下方の位置へのカローセル24
によるカートリッジ22の位置づけと同期化しつる。ピペットがカートリッジ2
2にアクセスできるように、温度制御室36の上壁104にスロット102が設
けられている。スロット102はビーム74に対して平行である。ビーム74に
対するスロット102の位置によりピペット40のステム72がスロット102
を通してカートリッジ22の複数の区画室106の中の希望する区画室の上方に
選択的に降下させることができる。
スロット102の長さはカートリッジ22の長さと比例し;区画室106の中の
選択した区画室と整合するようにX方向にステム72を移動できるようにする。
スロットlO2は比較的狭巾で、ステム72と該ステム72の遠位端に取り付け
たチップ70が通るに十分大きな幅とされている。温度制御室36の全体寸法に
関しては、スロット102が占める面積は温度制御室36の内側と外側との間で
著しい量の空気が流れないようにするに十分率さい。そのためスロット102は
ヒータ38(第1図)によって温度が制御されている室の温度制御に対する影響
は無視しつる程である。
本発明の特徴によれば、ピペット40のチ・ノブ70が選定した区画室106か
ら所定の距離まで下方向に進行するとマイクロプロセッサ62に信号を出すオプ
チカル検出システムlO8が設けられている。本検出システム108は光源11
0を含み、該光源は例として赤外線を放射する半導体ダイオードでよい。検出シ
ステム108はまた検出器112を含み、光線はビーム114で示している。半
導体フォトダイオードから構成してより検出器112は検出器112に入射する
ビーム光線114に応答してライン116に沿って電流を変調する。
検出システム108はライン116の電流の大きさを測定するための電気比較回
路118を含む。例として回路118の構成において、該回路は2個の比較器1
20゜122と、それぞれ比較器120.122に2種類の基準値を提供する抵
抗電圧分割器124とを含む。分割器124は検出システム108の初期調整を
行うために基準電圧を手動で調整できるようにする2個の電位差計を含むものと
して示されている。前記調整はチップ70の光学的透明度によって比較器の基準
電圧を選択する。比較器120は2つの基準電圧の中の高い方を受け取り、比較
器122は2つの基準電圧の低い方を受け取る。
検出システム108の作動において、光線ビーム114の全強度がピペット40
の介在しない場合検出器112に入射する。例えばピペット40はピペットの想
像図で示すようにリザーバ66の中の1個の個所に位置する。
検出器112で受け取られたオプチカル信号の強度が最大である間、ライン11
6には最大の電流と電圧が現われる。ピペット40の降下中チップ70は光線ビ
ーム114を遮る。ライン116は比較器120の入力端子に接続され、従って
、比較器120はピペット40が光線ビーム114を遮る前に検出器112の最
大照射状態下でマイクロプロセッサ62にロジック−1の信号を出力する。光線
ビーム114が遮られることにより検出器112て受け取られる光線の強度を大
きく低下させる。光線の遮り程度はチップ70の透明度によって変わる。チップ
70は検出器112に完全な影を落すことなく光線の強度を低減させるために半
透明である高分子材料から作られることか好ましい。
分割器124の基準電圧レベルは、チップによって伝達される光線の量が比較器
120を作動させ、検出器112において受け取られた光線の低いレベルLを示
すロジック1の信号を出力するに十分であるようにセットされる。光線ビーム1
14かチップ70によって遮られる場合、検出器112によって受け取られた光
線の強度は低すぎて比較器120を作動させることができずその結果比較器はロ
ジックOを出力する。このように、チップ70がカートリッジ22の選定した区
画室108に向かってZ方向に運動軌道に沿って進行するにつれてチップ70の
状態と位置とを示す1ビツトか比較回路118によって出力される。
流体試薬はピペットチップ70へ吸入され、吸引制御ユニット128によって制
御されて吸引チューブ126によりピペットへ送られた真空圧によりチップ70
から放出される。チューブ126は可撓性であり、かつピペット40の全ゆる位
置においても吸引制御ユニット128をピペット40と接続するに十分な長さで
ある。制御ユニット128は、該制御ユニット128に指令して液体を導入する
ために真空を加え、かつ必要に応じて流体試薬を放出するために正圧を加えるマ
イクロプロセッサ62に接続されている。流体の吸引は選定したリザーバ66か
ら実行される。チップ70が流体を指定されたキャリッジ22の選定された区画
室106へ分配する位置にあるときのみ流体試薬は放出される。また、流体試薬
の吸引はカートリッジ22の区画室106の1個において行われ、別の区画室に
分配される。この点に関して、液体試薬を貯蔵するためのリザーバはカートリッ
ジ22の直接内部あるいはテーブル68におけるようにカートリッジ22から離
して位置することができる。テーブル68の種々リザーバ66の位置はマイクロ
プロセッサ62のメモリに記憶される。このためマイクロプロセッサ62がテー
ブル68をY方向における特定のアドレスまで運動させ、かつピペット40をX
方向の特定のアドレスまで運動させることかできるようにする。アドレスのXお
よびY成分は必要なリザーバ66を完全に識別する。
同様に、マイクロプロセッサ62は一連のチップ70をステム72に固定すべく
選択しつるようにテーブル68によって保持されている使用可能のチップの位置
を記憶する。
搬送装置64はチップ70をピペット40のステム72に固定する過程およびチ
ップ70をステム72から外す過程において作動する。手順はチップ70がスロ
ット+02から離れるようにピペット40を持ち上げることから始、まる。次い
でピペット40はビーム74に沿って抽出器130まて運動自在である。抽出器
130はその水平部分の縁部に半円形チャンネル132を切設しており、チャン
ネル132はそれによりステム72を通しうるように十分大きいが、チャンネル
132をチップ70と係合させうるに十分率さい直径を育している。マイクロプ
ロセッサ62の指令により、ピペットはチップ70をチャンネル132の下方に
位置させて抽出器130に向かって運ばれる。ステム72はチャンネル132へ
入り、その後ピペット40はチップ70を抽出器130と係合させるように持ち
上げられる。ステム72がチップ70から上昇するにつれてチップ70は静止し
たままである。そのとき、チップ70はビン134中へ落下し使用ずみチップ7
0を収集する。ステム72が新しいチップ70を受け入れうることを確認するた
めに抽出器130を試験システム20の作動の開始時に採用することが望ましい
。
ステム72がチップ70を受け取れる状態にあることを確認した後、ピペット4
0はX方向に移動してテーブル68上方の位置まで持って来られ、そのときテー
ブル68はY方向に移動してステム72をテーブル68によって保持されている
選定されたチップ70の上方へ運び、整合させる。次いでピペット40は下方へ
進みチップ70の内面と摩擦接触する。そのとき、ピペットは上昇し、チップは
摩擦力によりステム72の遠位端に保持される。
また第3図を参照すれば、ステム72の遠位端はチップ70のチャンネル136
の面と摩擦接触するものとして示されている。チャンネル136がチップの一方
端から他端まで該チップ70の長手方向中心軸線に沿って延びる。チャンネル1
36は直径の変わる円形断面形であり、該直径は底端140におけるよりも上端
における方が大きい。ステム72がチャンネル136へ下方に進むにつれて、チ
ャンネル136が抑制されて摩擦力を発生させ、このためチップ70をステム7
2上で締め付ける。
これらの摩擦力はシステム20の試験過程の間液体試薬を移送する間チップ70
をステムに確実にしっかりと固定するに十分である。しかしながら、摩擦力は液
体試薬の移送完了時抽出器130がチップ70を滑ってステム72から離しうる
に十分小さい。
本発明の実施に関して、ステム72をチップ70に固定する態様によりステム7
2上の一連のチップ70の位置を概ね均一にする。しかしながら、ステム72の
相対的に剛性のチューブとの接触によりもたらされたチップ70の高分子材の可
撓性並びにチップ70間の摩擦力のある程度の変動を鑑みて、ステム72の遠位
端に対するチップ70のオリフィス140の位置の間には僅かな変動があること
が判明した。この変動はカートリッジ22の区画室における液体分配の不正確さ
の原因となるに十分である。本発明は自動的に、光線ビーム114によりチップ
70のオリフィスI40の位置を検出することによりチップ位置の変動を補正す
る。チップ位置の変動を補正する本発明の手順は第4図の線図と第5図〜第6図
の線図を参照することによりさらに説明される。
第4図は第2図に示す垂直ピペット駆動装置178を作動させるようにマイクロ
プロセッサ62をサーボモータ86と相互接続するフィードバック回路142を
示す。
第4図に示すように、回路142は加算器144、デジタル−アナログ変換器1
46、フィルタ14B、増幅器150、シャフト角度符号器152、コンピュー
タ62のメモリ154およびデータをメモリ154に入力させるためのキーボー
ド156のような入力装置とを含む。
作動時、カートリッジ22(82図)に向かってピペット40を降下させるため
に、マイクロプロセッサはZ方向にピペット40の運動軌道における新しい位置
を連続的に入力する。マイクロプロセッサ62の位置信号は加算器144の一方
の入力端子に付与される。符号器152が推定するチップ70の現在位置が加算
器144の第1の端子における入力値から差し引くべく加算器I44の第2の入
力端子に供給される。符号器152はチップ70でなくピペットステム72の位
置の正確な値を提供する。何故ならステム72に対するチップ70の位置は前述
の摩擦嵌合のためチップ毎に変わるからである。
従って、符号器152が出力するシャフト角度の値はチップ70の真正位置の推
定としてのみ受けとられる。
符号器152およびマイクロプロセッサ62により出力された信号はデジタル的
にフォーマット化される。加算器144がこれら2つの信号の差を形成し、その
差をコンバータ146に供給しその差をデジタル的にフォーマットした信号から
アナログ信号へ変換する。コンバータ146により出力されたアナログ信号はフ
ィードバック回路142のループエラー信号と見做しつる。ループエラー信号は
フィルタ148によってろ過され、該フィルタはフィードバックループの構造に
おける通常の要領により低域ろ波器でよく、リードラグフィルタ要素を含みうる
。フィルタ148はフィードバックループに安定性を与える。フィルタ148の
出力信号は増幅器150によって増幅され、サーボモータ86に供給される。増
幅器150とフィルタ148とによって設定されるループゲインとバンド幅とは
モータ86と関連してサーボメカニズムの設計において周知の要領でループの動
的応答を規定する。モータ86はマイクロプロセッサ62によって指令される回
転位置に向かって回転する。モータ86が回転するにつれて、垂直駆動装置78
がピペットを降下させる。
第4図に示すフィードバック回路の構成の代替実施例において、加算器144と
フィルタ148との機能はマイクロプロセッサ62を適当にプログラム化するこ
とによりマイクロプロセッサ内で直接達成しうることが注目される。そのような
場合、マイクロプロセッサ62はコンバータ146を介してエラー信号を直接増
幅器150へ出力してモータ86を駆動する。また、希望に応じて、サーボモー
タ86を、モータのロータの増分回転移動を導くデジタルパルスに応答して作動
するテップングモータ(図示せず)に代替しつる。そのような場合に、加算器1
44、コンバータ146、フィルタ148、増幅器150およびシャフト角度復
号器152とは不要となり、マイクロプロセッサ62は周知のステッピングモー
タコントロールパルスを出力しモータを駆動するようにプログラム化される。フ
ィードバックループのこれらの構成のいずれかを採用して垂直ピペット駆動装置
78を作動させることができ、第4図の構成は本発明の実施を教示するために示
したものである。
第4図に示す回路に関して、マイクロプロセッサ62は光線ビーム比較回路11
8が光線ビームの中断についての信号をマイクロプロセッサ62に出すまでピペ
ット40か移動する軌道に沿った位置についての別の値を入力し続ける。チップ
70の位置はチップ70の光線ビーム114に対する接触のため正確に判明して
いる。ピペット40はさらに追加の距離を移動しチップ70をカートリッジ22
に対する分配位置に持って来る。位置変動の前記の追加の距離の値はメモリ図に
記憶されているデータに基く。マイクロプロセッサ62はメモリ154から読み
出し移動についてのデータを取得する。分析器具20の操作者はカートリッジ2
2の構成についての知識に基き、特にカローセル24の上面に対するカートリッ
ジ156の高さにより追加の移動についての必要データを提供する。この高さの
データはメモリ154の入力装置156を介して入力される。
フィードバック回路142の作動についてさらに第2図および第7図のタイミン
グ線図を参照して説明しつる。
ピペット40を降下させる前にチップ70はカローセル24とテーブル68との
闇でX方向にピペット40を搬送できるようにするに十分高い位置にある。この
ことは搬送レベルとして第7図に示されている。次いでピペット40は第7図に
示す時間間隔の間隙下し始める。初期降下は光線ビーム114の中断において終
る。そのとき、ピペット40が追加の距離を降下する最終降下間隔がある。この
ためピペットのチップを$7F!4に示す分配レベルまで持って来る。分配時W
IrI!i隔が完了した後、フィードバック回路142は第7図に示す後退時間
の間ビベツ−ト40を搬送レベルまで持ち上げて戻す。第7図に示すように第5
図から第6図のフローチャートを参照して説明する安全レベルがある。
第5図を参照すれば、チップ70の位置変動を補正しながら、カートリッジ22
までピペットを降下させる本発明の特徴をフローチャートを参照して説明する。
フローチャートは液体試薬をカートリッジ22の区画室106において分配する
ためにピペット40を降下させるべく垂直ピペット駆動装置78(第2図と第4
図)を作動させる第2図に示すマイクロプロセッサ62の作動を記述している。
カートリッジ22に向かったピペットの降下の開始はブロック160において発
生する。ブロック162において光線ビーム114(第2図)が介在しているか
判定される。マイクロプロセッサ62は比較回路118によって出力される高レ
ベルおよび低レベル信号を検査することにより光線ビームの介在を判定する。ピ
ペット40は上昇位置にあるので光線ビーム114は遮断されず、従って光線ビ
ーム114は介在しているはずであり、比較器120は光線ビーム114の全強
度を示すロジック1の信号を出力しているはずである。もしビームが介在してい
ないとすれば、ブロック164において分析器具20の操作者に該器具における
明らかな故障を修正するように信号が出される。
もし光線ビームが介在しているとすれば、ステップはブロック166へ進み、そ
こでマイクロプロセッサ62は第4図に関して前述した要領でピペット40を降
下させるように導く。そこではマイクロプロセッサ62はフィードバックループ
142の動的応答と同等の速度でピペット40の移動軌道に沿った新しい位置を
連続して入力する。周期的に、ピペット40の降下の間マイクロプロセッサ62
は比較回路118の出力信号を観察し光線ビーム114が遮断されたか否か検出
し、この検出はブロック168において実施される。
光線ビーム114がピペット40によって何ら遮断されなかったと想定すると、
作動はライン170に沿ってブロック172まで進み安全レベル(第7図に示す
)に到達したか否か検出する。ピペット40のステム72がテーブル68でチッ
プ70を固定できなかったというシステムの故障の可能性がある。この故障は例
えば操作者がテーブル68を一組のチップ70で満すことを看過したり、あるい
は亀裂の入ったチップが該チップをステム72に固定するに十分な摩擦力を提供
できない可能性のような種々の理由から発生しつる。シャフト角符号器152(
第4図)は位置データを連続してマイクロプロセッサ62へ出力するので、マイ
クロプロセッサ62はステム72の遠位端の位置を知っている。ステム72の遠
位端が光線ビーム114近傍に近づくにつれて、チップ70が介在していると想
定すればチップ70によりビーム114が遮断されるはずである。安全レベルと
はマイクロプロセッサ62かステム72をビーム114を遮断させることなく落
下させつる最下点である。もし安全レベルに達すれば、マイクロプロセッサ62
はチップ70が不在であると結論し、作動はブロック174まで進み、そこでマ
イクロプロセッサ62はピペット40を搬送レベルまで後退するように指令する
。前述のように、搬送レベルにおいて、ピペット40は温度制御した区画室36
の上壁104から離れ、そのためステム72は操作者に完全に見え応急処置をと
ることができる。ブロック174から作動はブロック176まで進み、そこで操
作者に応急処置をとるように信号が出される。
システム20の通常の作動の間チップ70はステム72に介在し、従ってブロッ
ク172において光線ビーム114を遮断することなく安全レベルに達すること
はない。従って作動はライン178に沿ってブロック172からブロック166
へ戻り、そこでマイクロプロセッサ62はプリセットした速度でピペットを降下
させ続ける。
作動はライン180において光線ビーム114の遮断か発生するまでブロック1
66.168および170を通して繰返しながら継続する。光線ビーム114の
遮断は比較回路118の出力信号の変化によりマイクロプロセッサ62に信号が
出され信号がロジックlからロジック0まで変化する。
チップ70が介在していると想定すると、ライン180における光線ビームの遮
断時比較回路118の出力信号はロジックOであってマイクロプロセッサ62に
対してチップ70が介在していること、かつチップ70がカートリッジ72に向
かうチップ70の運動軌道に沿って光線ビーム114の位置に達したことを示す
。従って、ブロック1B2において、マイクロプロセッサ62は分配レベル(第
7図)の位置を検出し分配レベルに達するためにチップ70が要する追加の移動
量を計算する。ブロック182内での作動については第6図を参照して詳細に説
明する。
第5図において、作動はライン186を介してブロック182からブロック18
8まで進み、そこでピペット40はさらに降下されチップ70を分配レベルに位
置させる。このようにピペットの降下が第4図のフィードバック回路に関して前
述した要領で達成する。そこではマイクロプロセッサ62はピペットの運動軌道
に沿った別の位置を入力しチップ70を分配レベルまで持って来る。
その後、ブロック190においてマイクロプロセッサ62は吸引制御ユニット1
28に液体をカートリッジ22の選定した区画室へ分配するように指令する。そ
の後ブロック192において、ピペット40はカートリッジ22から搬送レベル
まで後退する。器具20は今やカートリッジ22の試験手順における他のステッ
プを開始することができる。
第6図はピペットの追加の移動距離の計算に続きピペットのチップの介在をチェ
ックするブロック182(第5図)における手順の詳細を示す。ライン180に
おける手順はブロック194まで進み光線ビームの強度をチェックする。ブロッ
ク194において光線が完全に遮断された場合、前述のように比較回路118に
おける信号はロジック0であって、マイクロプロセッサ62かブロック198に
おいてピペットの介在を検出できるようにする。そのとき、ブロック200にお
いてマイクロプロセッサは符号器152(第4図)により出力されたプリセット
したピペット位置を読み取る。これに続きブロック202において、メモリ15
4(第4図)に記憶されていたカートリッジ22の位置データか読み出される。
カートリッジの位置データがカローセル24の上面158に対するカートリッジ
22の上面の位置を示す。光線ビーム114とカローセルの面158との間の距
離は既知であり、かつ固定されているので、このカートリッジデータの入力はマ
イクロプロセッサにカートリッジ22の上面とビーム+14との間の距離を与え
るのと等しい。従って、ブロック204において、ビーム114とカートリッジ
22との間の追加の距離がピペット40がすてに移動した垂直距離に加えられる
。前記垂直距離は符号器152によって提供される。このためピペットチップ7
0が分配位置に達したとき得られる符号器152の読取り値を提供する。この情
報はピペット40を継続して降下させるため第4図の回路を作動する上でマイク
ロプロセッサ62によって使用される。従って、作動は第5図に関して前述した
ようにライン186を介してブロック188まで進むことができる。
第7図に示すタイミング図は第4図の回路並びに第5図と第6図とに示す手順と
の説明においてすでに述べである。要約すれば、第7図に示す線図は、光線ビー
ムの状態か観察される間の初期降下時間中の一定速度でのピペットチップ70の
降下を示し、それに続いて、ピペットチップ70か分配レベルまで持って来られ
る最終降下がある。分配時間の終りにチップ70は搬送レベルまで後退する。安
全レベルは光線ビームレベルと分配レベルの間に配置されている。
前述の説明は、ピペットステム72上のピペットチップ70の位置とは独立した
精度でピペットを降下しつるようにする要領で試験システムの作動を示している
。
本発明の前述の実施例は例示のみであって、当該技術分野の専門家にはその修正
が想起されうるものと理解すべきである。従って本発明はここに開示の実施例に
限定されると見做すべきでなく、請求の範囲のみによって限定されるべきである
。
FIG、 5
FIG、7
要 約 書
例えば生物学的流体のような流体を分析するための分析器具が記述されている。
前記器具は流体の試料と試薬とを分析カートリッジに分配するためのピペットを
有する流体分析システムを含む。オプチカル検出システムがその分配位置に達す
る前にピペットの下方向移動軌道を遮る光線ビームを提供する。ピペットの位置
に関連して光線ビームの強度を測定することにより制御装置がピペットのチップ
の介在あるいは非介在を指示できるようにする。さらに、ピペットにより光線ビ
ームが遮断されると所定の移動量だけ分析カートリッジ上方の分析位置までのピ
ペットの最終のアプローチシーケンスを開始させる。
第2図
国際調査報告
国際調査報告
Claims (12)
- 1.ピペットを含む分析器具において流体を分析要素に分配する方法であって、 前記器具が流体を入れたりザーバと分析要素とピペットのステムに固定するよう につくられた使い捨てのピペットチップの供給源との間でピペットを運動させる 搬送手段を含んでいる流体を分配する方法において、 チップをステムに固定し、 ピペットを所定の軌道に沿って分析要素に向かって運動させ、 光線ビームによって前記軌道上の基準位置を指定し、前記軌道に沿ったピペット の運動の間チップによる光線ビームの遮断を観察し、光線ビームの遮断が前記基 準位置における前記チップの位置の信号を出し、流体を分析要素に分配する前に 前記基準位置から分析要素に向かう追加の移動距離分だけピペットを進行させる ことを含むことを特徴とする流体を分配する方法。
- 2.前記移動軌道に沿った前述の基準レベルを越えた第2の基準レベルをセット するステップを含み、前記の観察ステップにおいて光線ビームの遮断が観察され ないと、前記の運動ステップが前記ピペットが前記第2のレベルに達するまで継 続することを特徴とする請求の範囲第1項に記載の方法。
- 3.前記ピペットを後退させ、かつ前記試験システムにおいて故障の信号を出す ステップをさらに含むことを特徴とする請求の範囲第2項に記載の方法。
- 4.流体を前記分析要素ヘ分配し、 前記ピペットを前記分析要素から後退させるステップをさらに含むことを特徴と する請求の範囲第1項に記載の方法。
- 5.前記カートリッジの位置に基づいて前記移動分の量を計算するステップをさ らに含み、前記の計算のステップが前記のピペットを前進させるステップの前に 達成されることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の方法。
- 6.前記光線ビームの遮断を観察するステップが前記光線ビームの強度を測定す ることを含み、光線ビームが完全に遮断した場合は前記ピペットのチップが介在 していることを示すことを特徴とする請求の範囲第1項に記載の方法。
- 7.前記分析要素が前記光線ビームから所定距離をおいて位置したコンベヤによ って運ばれ、前記方法が、前記コンベヤの基準面の上方の前記カートリッジの高 さに基いて前記移動量を計算し、前記計算ステップが前記のピペットを前進させ るステップの前に発生することを特徴とする請求の範囲第6項に記載の方法。
- 8.流体を貯めるリザーバと協働し、分析要素ヘ流体を分配するためにピペット を採用している分析器具において、 ピペットとピペットのステムに固定すべき使い捨てピペットチップの供給源と、 チップを補給するためにチップの供給源までピペットを運動させる搬送装置であ って、流体を分配するためにリザーバと分析要素との間でピペットを運動させる 搬送装置と、を含み、さらに 前記ピペットチップの位置を検出するオプチカル検出システムを含み、前記検出 システムが前記分析要素に向かうチップの移動軌道における基準位置におけるチ ップの介在を示す位置信号を提供し、前記基準位置が前記分析要素から離れてお り、かつ 前記搬送装置は前記ピペットを基準位置まで動かすように作動し、前記器具が前 記位置信号に応答して前記ピペットを前記基準位置から追加の距離だけ前進させ て前記チップを流体を前記分析要素ヘ分配する位置に位置させることを特徴とす る分析器具。
- 9.前記分析要素を運ぶためのコンベヤをさらに含み、 前記オプチカル検出システムが前記コンベヤに対して所定の位置において光線ビ ームを提供し、前記器具が前記コンベヤの面からの前記分析要素の高さに基き前 記の追加の距離を計算する手段をさらに含むことを特徴とする請求の範囲第8項 に記載の分析器具。
- 10.前記検出システムが前記基準位置において前記移動軌道を遮る光線ビーム を提供し、前記のようにチップが光線ビームを遮ることにより前記検出システム を作用させ前記位置信号を提供することを特徴とする請求の範囲第8項に記載の 分析器具。
- 11.前記搬送装置が前記光線ビームが遮ぎられないとき前記移動軌道上の第2 の基準位置まで前記基準位置を越えて前記ピペットを連動させるように作動し、 前記器具がさらに、前記位置信号と前記移動軌道上の前記ピペットの位置とに応 答し、前記光線ビームを遮断することなく前記ピペットが前記第2の基準位置に 達すると前記ステムに前記チップが介在しないことの信号を出す計算手段をさら に含むことを特徴とする請求の範囲第10項に記載の分析器具。
- 12.前記キャリッジを運ぶコンベヤをさらに含み;前記コンベヤに対して所定 の位置において前記光線ビームが提供され、 前記計算手段が前記コンベヤの面からの前記分析要素の高さに基いて前記追加の 距離を計算することを特徴とする請求の範囲第11項に記載の分析器具。
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