JPH0452772A - 画像監視装置の画像処理方法 - Google Patents
画像監視装置の画像処理方法Info
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- JPH0452772A JPH0452772A JP2155702A JP15570290A JPH0452772A JP H0452772 A JPH0452772 A JP H0452772A JP 2155702 A JP2155702 A JP 2155702A JP 15570290 A JP15570290 A JP 15570290A JP H0452772 A JPH0452772 A JP H0452772A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、例えば製造組立工程等において、穴開は加工
物に穴が正しく開けられたか、平面基板４−にＩＣ素子
等か正しく実装されたか等の監視を行なうための画像監
視装置に関する。
物に穴が正しく開けられたか、平面基板４−にＩＣ素子
等か正しく実装されたか等の監視を行なうための画像監
視装置に関する。
［従来の技術］
穴開は加工物に穴が正しく開けられたか等の監視（以下
、穴開は加工物等の監視の対象となるものを監視対象物
という）は、監視対象物を撮像手段で撮像して画像信号
を得、この画像信号を穴部等の特徴領域を判別できる所
定の１つの２値化レベルで２値化処理し、この２値打号
化信号を基に監視対象物の良否判定を行なっている。
、穴開は加工物等の監視の対象となるものを監視対象物
という）は、監視対象物を撮像手段で撮像して画像信号
を得、この画像信号を穴部等の特徴領域を判別できる所
定の１つの２値化レベルで２値化処理し、この２値打号
化信号を基に監視対象物の良否判定を行なっている。
また撮像手段で撮像した画像信号の出力電圧は、監視面
の照度の時間的変動や、監視対象物の濃度や表面形状の
ばらつき等により、変動するため、その変動に応し、て
、２値化１ノベルを追従させなければならないか、従来
、撮像手段からの画像信号レベルかとれたけ変化したか
をアナログ的に計算し、それを基に２値化レベルをとれ
たけ変化しなプればｌよらないかを計算し、これにより
２値化レベルを調整していた。
の照度の時間的変動や、監視対象物の濃度や表面形状の
ばらつき等により、変動するため、その変動に応し、て
、２値化１ノベルを追従させなければならないか、従来
、撮像手段からの画像信号レベルかとれたけ変化したか
をアナログ的に計算し、それを基に２値化レベルをとれ
たけ変化しなプればｌよらないかを計算し、これにより
２値化レベルを調整していた。
［解決しようとする課題１
しかしなから、２値化処理は、多値処理の場合に比較し
て監視の正確さに劣るという欠点か有った。
て監視の正確さに劣るという欠点か有った。
また２値化レベルの追従をアナログ的に行うため、時間
かかかり、またその作業が手間取り、自動化にも不向き
であるという問題点があった。なお、特徴領域とその周
辺部とのコントラストを撮像手段のダイナミックレンジ
の範囲内で可能な限り大きくとり、２値化レベルの追従
がこのコントラストの範囲内であるようにすれば、２値
化レベルを一定値とすることかできるか、特徴領域とそ
の周辺部とのコントラストを大きくとることは、特徴領
域か周辺部と類似した白黒濃度の場合等、不可能な場合
が多い。
かかかり、またその作業が手間取り、自動化にも不向き
であるという問題点があった。なお、特徴領域とその周
辺部とのコントラストを撮像手段のダイナミックレンジ
の範囲内で可能な限り大きくとり、２値化レベルの追従
がこのコントラストの範囲内であるようにすれば、２値
化レベルを一定値とすることかできるか、特徴領域とそ
の周辺部とのコントラストを大きくとることは、特徴領
域か周辺部と類似した白黒濃度の場合等、不可能な場合
が多い。
そこで本発明の目的は、２値処理でありなから多値処理
のような判断が可能であり、また２値化レベルの調整追
従を容易に行なうことかでき、従って特徴領域とその周
辺部とのコントラストか小さい場合等でも正しい２値化
処理を行なうことか可能な画像監視装置を提供すること
にある。
のような判断が可能であり、また２値化レベルの調整追
従を容易に行なうことかでき、従って特徴領域とその周
辺部とのコントラストか小さい場合等でも正しい２値化
処理を行なうことか可能な画像監視装置を提供すること
にある。
［課題を解決するための手段］
上記目的を達成するために、本発明の画像監視装置は、
監視対象物を撮像し、画像信号を出力する撮像手段と、
この撮像手段からの画像信号を複数種類の２値化レベル
で２値化し２、上記複数種類の２値化レベルと同数のビ
ットからなる画素データとして出力する２値化回路と、
この２値化回路からの画素データを記憶する画像記憶手
段と、この画像記憶手段に記憶された画素データと予め
記憶してある基準画像の画素データとを比較し、画像記
憶手段に記憶された画像の監視判定を行なう判定回路と
を具備する。
監視対象物を撮像し、画像信号を出力する撮像手段と、
この撮像手段からの画像信号を複数種類の２値化レベル
で２値化し２、上記複数種類の２値化レベルと同数のビ
ットからなる画素データとして出力する２値化回路と、
この２値化回路からの画素データを記憶する画像記憶手
段と、この画像記憶手段に記憶された画素データと予め
記憶してある基準画像の画素データとを比較し、画像記
憶手段に記憶された画像の監視判定を行なう判定回路と
を具備する。
上記判定回路は、上記画像記憶手段に記憶された画素デ
ータと上記基準画像の画素データとが各ピントにおいて
すべて一致している画素データ数をカウントし、このカ
ウント値に応じて上記基準画像の許容範囲を設定するも
のであることが好まし い 。
ータと上記基準画像の画素データとが各ピントにおいて
すべて一致している画素データ数をカウントし、このカ
ウント値に応じて上記基準画像の許容範囲を設定するも
のであることが好まし い 。
また−Ｆｌ記判定回路は、上記画像記憶手段に記憶され
た画素データと」１記基準画像の画素データとを各ビッ
トごとに比較して、不一致の画素データ数をカラン）・
シ、このカウント値に基づいて上記２値化レベルを設定
する設定回路を含むことが好ましい。
た画素データと」１記基準画像の画素データとを各ビッ
トごとに比較して、不一致の画素データ数をカラン）・
シ、このカウント値に基づいて上記２値化レベルを設定
する設定回路を含むことが好ましい。
更に上記２値化回路は、」１記画素データか異常である
か否かを検出］７、異常である場合には所定のアルゴリ
ズムによって正規の画素データに変換する変換手段を含
むことか好ましい。
か否かを検出］７、異常である場合には所定のアルゴリ
ズムによって正規の画素データに変換する変換手段を含
むことか好ましい。
［実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
まず、画像監視装置の全体構成について説明する。第１
図において、監視対象物１は穴開は加工工程（図示省略
）中にあり、照明２の下で、撮像手段３により、加工さ
れる面の撮像が行われる。
図において、監視対象物１は穴開は加工工程（図示省略
）中にあり、照明２の下で、撮像手段３により、加工さ
れる面の撮像が行われる。
監視対象物１は搬送パレット４によって前工程５から次
工程６へ搬送ライン上を移動する。撮像は位置決め検出
センサ７により監視対象物１の位置決めを確認後、行わ
れる。撮像された検査画像は画像信号として装置本体８
へ送られる。監視による良否判定結果は端子９から次工
程６等へ出力される。監視条件等の設定はキータブレッ
ト１０で行われる。なお、装置本体８には、撮像手段３
で撮像した画像信号、さらにそれを２値化した画像信号
等を表示可能なＣＲＴ８ａが設けである。
工程６へ搬送ライン上を移動する。撮像は位置決め検出
センサ７により監視対象物１の位置決めを確認後、行わ
れる。撮像された検査画像は画像信号として装置本体８
へ送られる。監視による良否判定結果は端子９から次工
程６等へ出力される。監視条件等の設定はキータブレッ
ト１０で行われる。なお、装置本体８には、撮像手段３
で撮像した画像信号、さらにそれを２値化した画像信号
等を表示可能なＣＲＴ８ａが設けである。
次に、装置本体８内の制御部のブロック構成を第７図を
用いて説明する。
用いて説明する。
ＲＯＭ２１には監視領域の良否判定等、ＣＰＵ２２を動
作させるためのプログラムが記憶されている。
作させるためのプログラムが記憶されている。
ＲＡＭ２３には監視領域の良否判定の際の許容値等のデ
ータが記憶されている。監視領域の良否判定の際の許容
値等の条件は、オペレータがＣＲＴ８ａ等を見ながら、
キーバッド１０等より入力し、ｉ ／ ｏ制御回路２４
を介してＲＡＭ２３に記憶される。
ータが記憶されている。監視領域の良否判定の際の許容
値等の条件は、オペレータがＣＲＴ８ａ等を見ながら、
キーバッド１０等より入力し、ｉ ／ ｏ制御回路２４
を介してＲＡＭ２３に記憶される。
ＣＰＵ２２はＲＯＭ２１の指令およびＲＡＭ２３のデー
タ及び後述のカウンタ３５の結果に基づき、監視領域の
良否判定等を行なう。
タ及び後述のカウンタ３５の結果に基づき、監視領域の
良否判定等を行なう。
撮像手段３からの画像信号は２値打号化回路３０（後述
）により異なる３つの２値化レベルにより２値化され、
また誤った２値化符号は訂正され、基準画像の２値化符
号はフレームメモリ３２に、検査画像の２値化符号はフ
レームメモリ３１に蓄えられる。なおフレームメモリ３
１．３２はそれぞれ３ビツトの構成となっている。フレ
ームメモリ３１．３２の記憶内容は表示回路３３を介し
てＣＲＴｌｌｌＨに表示される。
）により異なる３つの２値化レベルにより２値化され、
また誤った２値化符号は訂正され、基準画像の２値化符
号はフレームメモリ３２に、検査画像の２値化符号はフ
レームメモリ３１に蓄えられる。なおフレームメモリ３
１．３２はそれぞれ３ビツトの構成となっている。フレ
ームメモリ３１．３２の記憶内容は表示回路３３を介し
てＣＲＴｌｌｌＨに表示される。
フレームメモリ３１．フレームメモリ３２に蓄えられた
データは判定回路３４（後述）で各画素ごとに一致また
は不一致の判定がなされ、その結果がカウンタＱＯ〜Ｑ
３にカウントされる。
データは判定回路３４（後述）で各画素ごとに一致また
は不一致の判定がなされ、その結果がカウンタＱＯ〜Ｑ
３にカウントされる。
次に監視判定の詳細及び２値化レベルの妥当性の判断及
び修正の詳細を第２．３，４，５．６図を用いて説明す
る。
び修正の詳細を第２．３，４，５．６図を用いて説明す
る。
第２図の監視領域Ｓにおいて平板上に長穴ｚ２゜それよ
り深い穴ｚ３およびさらにそれより深い穴ｚ４からなる
特徴領域があり、特徴領域２２〜２４を平面領域ｚｌ上
の１つの穴として判別したいとする。このとき、走査線
ｙ上の画像信号Ｗは第３図のようになったとする。すな
わち特徴領域２２、ｚ３．ｚ４で白黒濃度が異なってお
り、撮像手段３からの出力値がそれぞれ異なっている。
り深い穴ｚ３およびさらにそれより深い穴ｚ４からなる
特徴領域があり、特徴領域２２〜２４を平面領域ｚｌ上
の１つの穴として判別したいとする。このとき、走査線
ｙ上の画像信号Ｗは第３図のようになったとする。すな
わち特徴領域２２、ｚ３．ｚ４で白黒濃度が異なってお
り、撮像手段３からの出力値がそれぞれ異なっている。
このとき特徴領域２２〜ｚ４を平面領域ｚｌ上の１つの
穴として判別するために最適の２値化レベルｖＯを設定
する。また他の２値化レベルｖ１及びｖ２をＶＯの位置
よりΔＶ１だけ下の位置、及びΔｖ２だけ上の位置に設
けておく。なお２値化レベルｖ１及びｖ２は特徴領域ｚ
２．ｚ３．ｚ４を１つの穴とし゛て検出できるレベル範
囲外に設けておく。
穴として判別するために最適の２値化レベルｖＯを設定
する。また他の２値化レベルｖ１及びｖ２をＶＯの位置
よりΔＶ１だけ下の位置、及びΔｖ２だけ上の位置に設
けておく。なお２値化レベルｖ１及びｖ２は特徴領域ｚ
２．ｚ３．ｚ４を１つの穴とし゛て検出できるレベル範
囲外に設けておく。
画像信号Ｗを２値打号化するための回路は第４図のよう
になっている。画像信号Ｗは２値化レベルＶｌ、ＶＯ，
Ｖ２のそれぞれで２値化されて２値化符号ｑｌ、ＱＯ，
Ｑ２を得る。次にこれらの論理信号はＯＲゲート回路へ
入力され、Ｑｌ、ＱＯ１ｑ２の論理和をとってパターン
符号ＰＩとしており、ｑ０１ｑ２の論理和をとってパタ
ーン符号ＰＯとしており、ｑ２の符号をそのままパター
ン符号Ｐ２としている。これにより、ノイズ等による誤
った２値化符号の訂正が行われている。すなわち、第５
図に示すように、いずれかの２値化レベルで符号１とな
ったとき、即ちいずれかの２値化レベルを画像信号Ｗが
超えたと判断されたとき、それより下の位置にある２値
化レベルではたとえ、符号０となっていても符号１に訂
正されるようになっている。これによりノイズ等の影響
による２値化の誤りが訂正される。２値打号化及び訂正
は監視領域Ｓ上の全走査線上で行われ、これにより得ら
れた全画素におけるハミング距離１のパターン符号ＰＯ
，，ＰＩ 、Ｐ２はフレームメモリ３１に３ビツトのパ
ターンとして記憶される。なお正規のパターンの組み合
わせは４通りであるため、２ビツトあれば記憶させるこ
とができるが、３ビツトで記憶させることにより、後述
のカウンタによる計算等がより容易となる。従って一般
にｎ個の２値化レベルを設けたときフレームメモリ３１
はｎビットにより構成することが好ましい。
になっている。画像信号Ｗは２値化レベルＶｌ、ＶＯ，
Ｖ２のそれぞれで２値化されて２値化符号ｑｌ、ＱＯ，
Ｑ２を得る。次にこれらの論理信号はＯＲゲート回路へ
入力され、Ｑｌ、ＱＯ１ｑ２の論理和をとってパターン
符号ＰＩとしており、ｑ０１ｑ２の論理和をとってパタ
ーン符号ＰＯとしており、ｑ２の符号をそのままパター
ン符号Ｐ２としている。これにより、ノイズ等による誤
った２値化符号の訂正が行われている。すなわち、第５
図に示すように、いずれかの２値化レベルで符号１とな
ったとき、即ちいずれかの２値化レベルを画像信号Ｗが
超えたと判断されたとき、それより下の位置にある２値
化レベルではたとえ、符号０となっていても符号１に訂
正されるようになっている。これによりノイズ等の影響
による２値化の誤りが訂正される。２値打号化及び訂正
は監視領域Ｓ上の全走査線上で行われ、これにより得ら
れた全画素におけるハミング距離１のパターン符号ＰＯ
，，ＰＩ 、Ｐ２はフレームメモリ３１に３ビツトのパ
ターンとして記憶される。なお正規のパターンの組み合
わせは４通りであるため、２ビツトあれば記憶させるこ
とができるが、３ビツトで記憶させることにより、後述
のカウンタによる計算等がより容易となる。従って一般
にｎ個の２値化レベルを設けたときフレームメモリ３１
はｎビットにより構成することが好ましい。
次に判定回路３４について説明する。
まず正常状態の監視対象物を撮像して２値符号化回路３
０て得たパターン符号ＰＯ＊、 ＰＬ ＊Ｐ２ をフ
レームメモリ３２（こＪ己憶させる。そして監視対象物
１を撮像して同様にして、パターン符号ＰＯ，ＰＩ、Ｐ
２にしてフレームメモリ３１に記憶させる。そして第６
図に示すように、ＡＮＤ、ＮＯＲ，排他的論理和の回路
により、基準信号Ｐｓ と検査符号ｐｓとにおいて３
ビツトとも一致した場合ＱＯ２１ビットにおいて符号が
異なっている場合Ｑｌ、２ビットにおいて符号が異なっ
ている場合Ｑ２，３ビットとも符号が異なっている場合
Ｑ３に出力する。そして、それらの出力はカウンタ３５
によりカウントされる（第７図）。
０て得たパターン符号ＰＯ＊、 ＰＬ ＊Ｐ２ をフ
レームメモリ３２（こＪ己憶させる。そして監視対象物
１を撮像して同様にして、パターン符号ＰＯ，ＰＩ、Ｐ
２にしてフレームメモリ３１に記憶させる。そして第６
図に示すように、ＡＮＤ、ＮＯＲ，排他的論理和の回路
により、基準信号Ｐｓ と検査符号ｐｓとにおいて３
ビツトとも一致した場合ＱＯ２１ビットにおいて符号が
異なっている場合Ｑｌ、２ビットにおいて符号が異なっ
ている場合Ｑ２，３ビットとも符号が異なっている場合
Ｑ３に出力する。そして、それらの出力はカウンタ３５
によりカウントされる（第７図）。
ＣＰＵ２２はカウンタ３５のカウント値により良否判定
を行う。即ちすべての画素においてＱＯてあった場合は
、監視対象物１は良となるが、ノイズ等の影響があるた
めに、許容範囲を設けておき、ＱＯＯ数か許容範囲内で
あれば良、許容範囲外であれば不良の判定を行う。なお
、Ｑ２．Ｑ３の出現を検出して、これらが一定度数以上
の場合、不良の判定を行ってもよい。基準データ及び検
査画像のデータか３ビツトの画素データであり、３ビツ
トとも一致した画素数か所定許容範囲内にあるか否かに
より良否を判定するため、監視の精度を向上させること
かできる。
を行う。即ちすべての画素においてＱＯてあった場合は
、監視対象物１は良となるが、ノイズ等の影響があるた
めに、許容範囲を設けておき、ＱＯＯ数か許容範囲内で
あれば良、許容範囲外であれば不良の判定を行う。なお
、Ｑ２．Ｑ３の出現を検出して、これらが一定度数以上
の場合、不良の判定を行ってもよい。基準データ及び検
査画像のデータか３ビツトの画素データであり、３ビツ
トとも一致した画素数か所定許容範囲内にあるか否かに
より良否を判定するため、監視の精度を向上させること
かできる。
次にカウンタ３５のカウント結果により２値化レヘルの
妥当性の判断及び修正を行うことかできる。例えば第３
図において表面領域ｚｌの部分の画素数は予め決まって
いるために、この数を数えておき、この数と同数の画素
が０１となったときは、画像信号Ｗが全体として上昇し
て表面領域２１の部分の出力電圧が２値化レベルｖ２を
超えたことかわかる。そこで基準画像における表面領域
ｚ１の部分の出力電圧と２値化レベル■２との電圧差を
予め＃１っておき、上記数のＱｌがカウントされたとき
は上記電圧差たけ２値化レベルＶ２゜ｖｏ、ｖｉを上昇
さぜ、この新たな２値化レベルにより判定を行う。また
表面領域ｚ１の部分及び特徴領域ｚ２の部分を合わせた
画素数かＱｌとなったときは第３図におけるｚ２の出力
電圧の部分か■０を超えたことがわかるために（領域ｚ
２の部分の出力電圧が■０を超えたときは領域ｚ１の部
分の出力電圧はｖ２を超えているとする。なおＺ３はｖ
ｌを超えていないとする）、基準画像における領域ｚ２
の部分の出力電圧と２値化レベルＶＯとの電圧差を予め
測っておき、上記電圧差だけ２値化レベル全体をそのま
ま上昇させ、この新たな２値化レベルにより判定を行う
。更に領域２３の出力電圧と領域Ｚ２の出力電圧の電圧
差が２値化レベルＶ２とＶＯとの差より大きいとき、領
域ｚ３の電圧がＶＯを超せば領域ｚ２の部分ではＶ２を
超す。したがってこのとき領域ｚ３と領域ｚ２の部分の
画素ではＱ２が得られ、領域ｚ３の電圧と２値化レベル
ＶＯとの電圧差を予めＳっでおけば、上記数のＱ２が得
られたとき上記電圧差たけ２値化レベル全体を上昇させ
て、これにより新たな判定を行う。
妥当性の判断及び修正を行うことかできる。例えば第３
図において表面領域ｚｌの部分の画素数は予め決まって
いるために、この数を数えておき、この数と同数の画素
が０１となったときは、画像信号Ｗが全体として上昇し
て表面領域２１の部分の出力電圧が２値化レベルｖ２を
超えたことかわかる。そこで基準画像における表面領域
ｚ１の部分の出力電圧と２値化レベル■２との電圧差を
予め＃１っておき、上記数のＱｌがカウントされたとき
は上記電圧差たけ２値化レベルＶ２゜ｖｏ、ｖｉを上昇
さぜ、この新たな２値化レベルにより判定を行う。また
表面領域ｚ１の部分及び特徴領域ｚ２の部分を合わせた
画素数かＱｌとなったときは第３図におけるｚ２の出力
電圧の部分か■０を超えたことがわかるために（領域ｚ
２の部分の出力電圧が■０を超えたときは領域ｚ１の部
分の出力電圧はｖ２を超えているとする。なおＺ３はｖ
ｌを超えていないとする）、基準画像における領域ｚ２
の部分の出力電圧と２値化レベルＶＯとの電圧差を予め
測っておき、上記電圧差だけ２値化レベル全体をそのま
ま上昇させ、この新たな２値化レベルにより判定を行う
。更に領域２３の出力電圧と領域Ｚ２の出力電圧の電圧
差が２値化レベルＶ２とＶＯとの差より大きいとき、領
域ｚ３の電圧がＶＯを超せば領域ｚ２の部分ではＶ２を
超す。したがってこのとき領域ｚ３と領域ｚ２の部分の
画素ではＱ２が得られ、領域ｚ３の電圧と２値化レベル
ＶＯとの電圧差を予めＳっでおけば、上記数のＱ２が得
られたとき上記電圧差たけ２値化レベル全体を上昇させ
て、これにより新たな判定を行う。
一般に２値化レベルの妥当性の判断及び修正は以下のよ
うにして行うこともできる。複数（ｎとする）の２４ｍ
化レベルの隣り合う２値化レベル間の電圧差が、特徴領
域とその周辺の領域との電圧差あるいは特徴領域におけ
る異なった電圧の部分間（例えば第３図におけるｚ２．
ｚ３．ｚ４）の電圧差に対して小さくなるように複数の
２値化レベルを設定した場合には、例えば画像信号全体
が上昇してそのうちの１画素においてｍの２値化レベル
をまたいた場合、画像信号の他の部分でもｍ又はその前
後の数の２値化レベルをまたぐ。従ってこの場合カウン
タ（この場合は第４図、第６図。
うにして行うこともできる。複数（ｎとする）の２４ｍ
化レベルの隣り合う２値化レベル間の電圧差が、特徴領
域とその周辺の領域との電圧差あるいは特徴領域におけ
る異なった電圧の部分間（例えば第３図におけるｚ２．
ｚ３．ｚ４）の電圧差に対して小さくなるように複数の
２値化レベルを設定した場合には、例えば画像信号全体
が上昇してそのうちの１画素においてｍの２値化レベル
をまたいた場合、画像信号の他の部分でもｍ又はその前
後の数の２値化レベルをまたぐ。従ってこの場合カウン
タ（この場合は第４図、第６図。
第７図の回路においてパターン符号はｎ個、カウンタは
ｎ＋１個とする）はｍビットにおいて符号違いの時にカ
ウントされるカウンタ又はその前後数のビットにおいて
符号違いのときにカウントされるカウンタにおいて最も
カウント数が大きくなる。従って最もカウント数か大き
くなったカウンタを検出して、そのカウンタかｍ の符
号違いのカウンタであれば、ｍ の２値化レベルをまた
いだ電圧差だけ、ｎ本の２値化レベル全体を上昇させる
。そして、再びこの２硫化レベルにより判定を行い、１
ビツトにおける判定違いを検出するカウンタ（Ｑｌ）等
で所定のカウント数が検出される場合は、２値化レベル
全体を上下に微小移動させて全ビットにおいて符号が一
致した場合にカウントされるカウンタ（Ｑ（１）のカウ
ント数が所定値以上になるようにする。そして新たな判
定はこの新しく設定された２値化レベルにより行われる
。
ｎ＋１個とする）はｍビットにおいて符号違いの時にカ
ウントされるカウンタ又はその前後数のビットにおいて
符号違いのときにカウントされるカウンタにおいて最も
カウント数が大きくなる。従って最もカウント数か大き
くなったカウンタを検出して、そのカウンタかｍ の符
号違いのカウンタであれば、ｍ の２値化レベルをまた
いだ電圧差だけ、ｎ本の２値化レベル全体を上昇させる
。そして、再びこの２硫化レベルにより判定を行い、１
ビツトにおける判定違いを検出するカウンタ（Ｑｌ）等
で所定のカウント数が検出される場合は、２値化レベル
全体を上下に微小移動させて全ビットにおいて符号が一
致した場合にカウントされるカウンタ（Ｑ（１）のカウ
ント数が所定値以上になるようにする。そして新たな判
定はこの新しく設定された２値化レベルにより行われる
。
更に２値化レベルの妥当性の判断及び修正は以下のよう
にして行ってもよい。
にして行ってもよい。
第２．３，４．６図において、ＱＯが最大度数の場合は
現行２値化レベルＶＯ，Ｖｌ、Ｖ２は妥当なものとして
変更しない。次にＱｌが最大度数の場合は２値化レベル
をＶｏ±Δｖ、ｖ１±ΔＶ。
現行２値化レベルＶＯ，Ｖｌ、Ｖ２は妥当なものとして
変更しない。次にＱｌが最大度数の場合は２値化レベル
をＶｏ±Δｖ、ｖ１±ΔＶ。
Ｖ２±ΔＶへ変更する。ここにＱｌにおいて基準画像が
符号１であり検査画像が符号０に変化しているピントが
多い場合は、画像全体が上昇したと判断されるために、
十の符号をとり、逆に基準画像か符号０であり検査画像
が符号１に変化しているビットが多い場合は、−の符号
をとる。またΔｖ−（ΔＶ１＋ΔＶ２ ＞／２°、
（ｃ＝１．２．３゜・）で求める。Ｃの値をいくつにと
るがは画像信号のグラフ形状及び２値化レベルの設定位
置等により定める。次にＱ２が最大度数の場合は２値化
レベルをＶＯ＋２ΔＶ、Ｖｌ ＋２ΔＶ、Ｖ２ ＋２Δ
Ｖへ変更する。＋、−の符号のとりがたはＱｌの場合と
同様とし、ΔＶの値はＱｌの値とする。
符号１であり検査画像が符号０に変化しているピントが
多い場合は、画像全体が上昇したと判断されるために、
十の符号をとり、逆に基準画像か符号０であり検査画像
が符号１に変化しているビットが多い場合は、−の符号
をとる。またΔｖ−（ΔＶ１＋ΔＶ２ ＞／２°、
（ｃ＝１．２．３゜・）で求める。Ｃの値をいくつにと
るがは画像信号のグラフ形状及び２値化レベルの設定位
置等により定める。次にＱ２が最大度数の場合は２値化
レベルをＶＯ＋２ΔＶ、Ｖｌ ＋２ΔＶ、Ｖ２ ＋２Δ
Ｖへ変更する。＋、−の符号のとりがたはＱｌの場合と
同様とし、ΔＶの値はＱｌの値とする。
同様にしてＱ３が最大度数の場合は２値化レベルをＶＯ
±３ΔＶ、Ｖｌ±３Δｖ ｖ２±３Δ■へ変更する。こ
のようにして新しい２値化レベルか設定されると、再び
この２値化・レベルにより判定を行い、ＱＯが最大度数
になったことを確認し、この後新たな判定はこの新しく
設定された２値化レベルにより行う。この２値化レベル
の修正方法において＋、−のいずれのレベル変化方向を
とるかは論理回路で実現してもよい。なおこの２値化レ
ヘルの修正方法では３つの２値化レベルヲ設定した場合
についての説明であるか、２値化レベルを一般にｎ個設
定した場合においても同様にして実施することができる
。
±３ΔＶ、Ｖｌ±３Δｖ ｖ２±３Δ■へ変更する。こ
のようにして新しい２値化レベルか設定されると、再び
この２値化・レベルにより判定を行い、ＱＯが最大度数
になったことを確認し、この後新たな判定はこの新しく
設定された２値化レベルにより行う。この２値化レベル
の修正方法において＋、−のいずれのレベル変化方向を
とるかは論理回路で実現してもよい。なおこの２値化レ
ヘルの修正方法では３つの２値化レベルヲ設定した場合
についての説明であるか、２値化レベルを一般にｎ個設
定した場合においても同様にして実施することができる
。
上述の手順により監視領域Ｓの良否の判定及び２値化レ
ヘルの妥当性の判断を行い、２値化レベルの位置が妥当
でない場合は２値化レベルの位置が修正され、この新た
な位置に設定された２値化レベルにより、監視領域Ｓの
良否判定が行われ、これにより、常に最適の２値化レベ
ルで処理が行われる。
ヘルの妥当性の判断を行い、２値化レベルの位置が妥当
でない場合は２値化レベルの位置が修正され、この新た
な位置に設定された２値化レベルにより、監視領域Ｓの
良否判定が行われ、これにより、常に最適の２値化レベ
ルで処理が行われる。
上記実施例では１つの監視領域Ｓについて説明したか、
撮像手段の画像中に特徴領域が分散しており、監視領域
をそれに対応して複数箇所設定した場合はそれぞれの監
視領域ごとに本発明を実施することができる。
撮像手段の画像中に特徴領域が分散しており、監視領域
をそれに対応して複数箇所設定した場合はそれぞれの監
視領域ごとに本発明を実施することができる。
また本発明において２値打号化された画像データをマル
チカラー等の手法によりＣＲＴｇａ上に表示すれば、検
査画像の特徴を人間の視覚により捉えることができ、よ
り的確な監視を行うことができる。
チカラー等の手法によりＣＲＴｇａ上に表示すれば、検
査画像の特徴を人間の視覚により捉えることができ、よ
り的確な監視を行うことができる。
［効果］
本発明は画像データを複数種類の２値化レベルで２値化
し、複数の画素データとし、これを基に画像の監視判定
を行うため、より正確な監視を行うことができ、また２
値処理でありながら論理演算により多値処理に近い判断
が可能となり、画像メモリを多値処理のように必要とし
ない。
し、複数の画素データとし、これを基に画像の監視判定
を行うため、より正確な監視を行うことができ、また２
値処理でありながら論理演算により多値処理に近い判断
が可能となり、画像メモリを多値処理のように必要とし
ない。
また検査画像と基準画像との複数ビットからなる画像デ
ータを比較して、不一致の画素データ数をカウントし、
このカウント値に基づいて２値化レベルを設定する設定
回路を設けることにより、デンタル的に新たな２値化レ
ベルを設定でき、照度の変動、監視対象物の濃度や表面
形状の個別ばらつき等による画像信号の変動に対して、
実時間に変動追従させることができ、自動化も容易とな
る。また特徴領域とその周辺部とのコントラストが小さ
い場合でも２値化レベルを実時間に容易に追従させるこ
とかできるため、正しい２値化処理を行うことができる
。
ータを比較して、不一致の画素データ数をカウントし、
このカウント値に基づいて２値化レベルを設定する設定
回路を設けることにより、デンタル的に新たな２値化レ
ベルを設定でき、照度の変動、監視対象物の濃度や表面
形状の個別ばらつき等による画像信号の変動に対して、
実時間に変動追従させることができ、自動化も容易とな
る。また特徴領域とその周辺部とのコントラストが小さ
い場合でも２値化レベルを実時間に容易に追従させるこ
とかできるため、正しい２値化処理を行うことができる
。
更に２値化回路に、２値化符号が異常が否がを検出して
異常である場合には所定のアルゴリズムによって正規の
画素データに変換する変換手段を設けることにより、ノ
イズ等の影響を排除して正しい２値化符号を得ることが
できる。
異常である場合には所定のアルゴリズムによって正規の
画素データに変換する変換手段を設けることにより、ノ
イズ等の影響を排除して正しい２値化符号を得ることが
できる。
第１図は画像監視装置で監視対象物を監視し７ている様
子を示す外観斜視図、 第２図は撮像手段で撮像した観測画像の一例を示す説明
図、 第３図は第２図の観測画像の一走査線ｙ上の画像信号、
及びその画像信号を２値化するための３つの２値化レベ
ルを示すグラフ、 第４１〈は第３図の２値化処理およびその訂正を行う２
値打号化回路の構成を示す回路図、第５図は第４図にお
いて誤りと見なされた２値化符号と、それが訂正された
符号との関係を示す説明図、 第６図は検査画像の判定を行なう判定回路の構成を示す
回路図、 第７図は画像監視装置全体の構成を示すブロック図であ
る。 １ ・監視対象物、 ３・ ・撮像手段、 ３０・・２値打号化回路、 ３１３２・ ・フ１ノ−ムメモリ、 第 図 第 図 判定回路。
子を示す外観斜視図、 第２図は撮像手段で撮像した観測画像の一例を示す説明
図、 第３図は第２図の観測画像の一走査線ｙ上の画像信号、
及びその画像信号を２値化するための３つの２値化レベ
ルを示すグラフ、 第４１〈は第３図の２値化処理およびその訂正を行う２
値打号化回路の構成を示す回路図、第５図は第４図にお
いて誤りと見なされた２値化符号と、それが訂正された
符号との関係を示す説明図、 第６図は検査画像の判定を行なう判定回路の構成を示す
回路図、 第７図は画像監視装置全体の構成を示すブロック図であ
る。 １ ・監視対象物、 ３・ ・撮像手段、 ３０・・２値打号化回路、 ３１３２・ ・フ１ノ−ムメモリ、 第 図 第 図 判定回路。
Claims (4)
- （１）監視対象物を撮像し、画像信号を出力する撮像手
段と、 この撮像手段からの画像信号を複数種類の２値化レベル
で２値化し、上記複数種類の２値化レベルと同数のビッ
トからなる画素データとして出力する２値化回路と、 この２値化回路からの画素データを記憶する画像記憶手
段と、 この画像記憶手段に記憶された画素データと予め記憶し
てある基準画像の画素データとを比較し、上記画像記憶
手段に記憶された画像の監視判定を行なう判定回路と、 を具備することを特徴とする画像監視装置。 - （２）上記判定回路は、上記画像記憶手段に記憶された
画素データと上記基準画像の画素データとが各ビットに
おいてすべて一致している画素データ数をカウントし、
このカウント値に応じて上記基準画像の許容範囲を設定
するものである ことを特徴とする請求項１記載の画像監視装置。 - （３）上記判定回路は、上記画像記憶手段に記憶された
画素データと上記基準画像の画素データとを各ビットご
とに比較して、不一致の画素データ数をカウントし、こ
のカウント値に基づいて上記２値化レベルを設定する設
定回路を含む ことを特徴とする請求項１または２記載の画像監視装置
。 - （４）上記２値化回路は、上記画素データが異常である
か否かを検出し、異常である場合には所定のアルゴリズ
ムによって正規の画素データに変換する変換手段を含む ことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の画像
監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2155702A JP2709306B2 (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視装置の画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2155702A JP2709306B2 (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視装置の画像処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0452772A true JPH0452772A (ja) | 1992-02-20 |
| JP2709306B2 JP2709306B2 (ja) | 1998-02-04 |
Family
ID=15611651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2155702A Expired - Fee Related JP2709306B2 (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視装置の画像処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2709306B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109185A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | Sumitomo Chem Co Ltd | ｌ−４−シクロペンテノン類の製造法 |
| JPS59111579A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン位置検出における閾値制御方式 |
| JPS61248167A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-11-05 | トラウブ・ア−ゲ− | 物体を光学的に決定し、分離表示し、且／又位置決めする方法 |
| JPS62109185A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-20 | Nec Corp | 位置検出装置 |
| JPS6382583A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Canon Inc | 画像処理装置 |
-
1990
- 1990-06-14 JP JP2155702A patent/JP2709306B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109185A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | Sumitomo Chem Co Ltd | ｌ−４−シクロペンテノン類の製造法 |
| JPS59111579A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン位置検出における閾値制御方式 |
| JPS61248167A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-11-05 | トラウブ・ア−ゲ− | 物体を光学的に決定し、分離表示し、且／又位置決めする方法 |
| JPS62109185A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-20 | Nec Corp | 位置検出装置 |
| JPS6382583A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Canon Inc | 画像処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2709306B2 (ja) | 1998-02-04 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |