JPH0453087A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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Publication number
JPH0453087A
JPH0453087A JP2160615A JP16061590A JPH0453087A JP H0453087 A JPH0453087 A JP H0453087A JP 2160615 A JP2160615 A JP 2160615A JP 16061590 A JP16061590 A JP 16061590A JP H0453087 A JPH0453087 A JP H0453087A
Authority
JP
Japan
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level
word line
node
shot pulse
line driving
Prior art date
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Pending
Application number
JP2160615A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsukasa Hagura
司 羽倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0453087A publication Critical patent/JPH0453087A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体記憶装置、特にワード線駆動信号発生
回路に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来のワード線駆動信号(R1)の発生回路の
回路図である。図において、(1)は鳳チャンネ!トラ
ンジスタ、(2)は遅延回路、(3)は昇圧容量である
0また第4図は第3図のワード線駆動信号発生回路の各
信号Oタイミングチャート図である。
次に動作について説明する。半導体記憶装置において、
スタンドバイ時はRム8がI!ighでl!はXl0W
であるが、データの読み出し、書き込みを行う時はiは
I、owであシ、RxはR1自身の遅延信号により昇圧
容量(3)を介して、Woo以上(マoe+α)に昇圧
される□このように東xをマoe+αに昇圧することで
、メモリ七μにWooが書き込める、メモリ七μからの
電荷読み出し速度が向上する、カどの利点を得ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体記憶装置におけるワード線駆動信号発生回
路は以上のように構成されていたので、もし昇圧容量に
微小なリークがあると、時間がたつにつれてRXのブー
ストレベルが低下し、IXをVco十αに昇圧すること
Kよる利点が得られなくなる。またL”jc 6701
e  のRead Modify WriteなどでW
oo下限で書き込みができなくなるという問題点があっ
た。
この発明は上記のような問題点を解決するため罠なされ
たもので、昇圧容量(3)に微小なリークがあってもR
Kのブーストレベ〜を一定に保ち、特KLong oy
ol・ での書き込みマージンがアップする半導体記憶
装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体記憶装置は、lxのレベルを検知
する回路と、動作時にRXのレベルが低下した時[IX
を昇圧する回路を設けたものであゐO 〔作用〕 この発明における半導体記憶装置は、動作時にlxのレ
ベルの低下を検知するとワンショットパルスを発生し、
再昇圧する。
〔実施例〕
以下この発明の一実施例を図について説明する。
1g1図はこの発明の−*施例を示す半導体記憶装置に
おけるワード線駆動信号発生回路の回路図である。図に
おいて、(1)は1チヤンネルトランジスタ、(2)F
i遅延回路、(3) 、 Qflは昇圧容量である0た
だし昇圧容量ααは昇圧容量(3)よシも容量が大きく
設定されているo(4)はワード線駆動信号(λX)の
レベルを検知する回路、(5) 、 (6) 、 (7
) 、 (8)はインバータ、(9)はムN′DゲーF
fある。第2図は第1図の各信号、各ノードのタイミン
グチャート図である0次に動作について説明す心。スタ
ンドバイ時はlA8 カIILgk テあp RXi 
Low fアルカ、テータノ読み出し、書き込みを行う
時はRigがLowであり、RXはIk!自身の遅延信
号によシ、昇圧容量(3)を介してVoa+αに昇圧さ
れる。ここで、もし昇圧容量(3)K微小なリーフがあ
ってRXGDレベルがβだけ低下し、Woe十α−βに
なると、ILXのレベル検知器(4)がHlghを出力
する。(ixがvCc+α以上あるときは、このレベル
検知器(4)はLOWを出力する。)ノードBはインバ
ータ(5) 、 (c+) 、 (7)の作用によシ、
ツートムのLowからHlghの変化よシ少し遅れてH
lghからLQWになる0ここで、ノードAノードBの
両方がIiighになる111間があり、このツートム
、ノードBの2つのHlghと7−ド0のHlgh(R
ig9がLowのためノードCはEigllである)を
ANDゲート(9)に入力することによシ、五NI)ゲ
ート(9)の出力に−rの間H1ghとなるワンショッ
トノ(ルスが発生する。このワンショットノくルスは昇
圧容量ωヲ介シてIlxのレベルをマoe+6まで再昇
圧する0 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば動作時にRXのレベル
がへたっても、それを検知し再昇圧することによりlx
のレベルを一定に保つことができるという効果が得られ
る0
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体記憶装置にお
けるワード線駆動信号発生回路図、第2図は第1図にお
ける各信号、各ノードのタイミングチャート図、第3図
は従来O半導体記憶装置におけるワード線駆動信号発生
回路図、第4図は第3図における各信号のタイミングチ
ャート図であるO 図において、(1)はnチャンネルトランジスタ、(2
)は遅延回路、(a) =(2)は昇圧容量、(4)は
レベル検知器、(5) # (6) 、 (7) 、 
(8)はインバータ、(9)はムNl)ゲートであφ0 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ワード線駆動信号発生回路において、動作時に前記ワー
    ド線駆動信号のレベル低下を検知するとワンショットパ
    ルスを発生し、前記ワード線駆動信号を再昇圧する回路
    を設けたことを特徴とする半導体記憶装置。
JP2160615A 1990-06-19 1990-06-19 半導体記憶装置 Pending JPH0453087A (ja)

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JP2160615A JPH0453087A (ja) 1990-06-19 1990-06-19 半導体記憶装置

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JPH0453087A true JPH0453087A (ja) 1992-02-20

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JP (1) JPH0453087A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9401192B2 (en) 2013-10-17 2016-07-26 Fujitsu Semiconductor Limited Ferroelectric memory device and timing circuit to control the boost level of a word line

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9401192B2 (en) 2013-10-17 2016-07-26 Fujitsu Semiconductor Limited Ferroelectric memory device and timing circuit to control the boost level of a word line

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