JPH0453396B2 - - Google Patents
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- JPH0453396B2 JPH0453396B2 JP60270014A JP27001485A JPH0453396B2 JP H0453396 B2 JPH0453396 B2 JP H0453396B2 JP 60270014 A JP60270014 A JP 60270014A JP 27001485 A JP27001485 A JP 27001485A JP H0453396 B2 JPH0453396 B2 JP H0453396B2
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- latch circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
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- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〈技術分野〉
本発明は、たとえば光電スイツチやフオトイン
タラプラとして使用されるパルス変調型光検出装
置に係り、詳しくは、外乱光による誤動作、誤検
出を防止する受光信号処理回路部分の構成に関す
る。
タラプラとして使用されるパルス変調型光検出装
置に係り、詳しくは、外乱光による誤動作、誤検
出を防止する受光信号処理回路部分の構成に関す
る。
〈従来技術〉
パルス変調型光検出装置は、発光素子と受光素
子とを具備し、発光素子からパルス光を投光し、
検出すべき物体により反射されたパルス光、もし
くは物体を透過したパルス光を受光素子で受光
し、受光素子でのパルス光の受光に応じて物体の
有無を検出するのである。
子とを具備し、発光素子からパルス光を投光し、
検出すべき物体により反射されたパルス光、もし
くは物体を透過したパルス光を受光素子で受光
し、受光素子でのパルス光の受光に応じて物体の
有無を検出するのである。
第4図に従来のパルス変調型光検出装置のブロ
ツク図を示す。同図に示すように、従来のパルス
変調型光検出装置は、パルス発生回路10と、発
光素子駆動回路20と、発光素子30と、受光素子
40と、AC増幅回路50と、判定回路60と、同期
検出回路70と、積分回路80と、判定回路90と、
出力回路100とで構成されている。
ツク図を示す。同図に示すように、従来のパルス
変調型光検出装置は、パルス発生回路10と、発
光素子駆動回路20と、発光素子30と、受光素子
40と、AC増幅回路50と、判定回路60と、同期
検出回路70と、積分回路80と、判定回路90と、
出力回路100とで構成されている。
しかして、第5図のタイムチヤートの示すよう
に、上記の光検出装置においては、パルス発生回
路10からのパルス信号により発光素子駆動回路
20が発光信号a0を出力し、該発光信号a0により
発光素子30が駆動されて、パルス変調された光
を投光する。発光素子30からのパルス光は、物
体Mに反射され、もしくは物体Mを透過して、受
光素子40に入射する。したがつて、受光素子40
に入射するパルス光は、物体Mの有無によつてオ
ン/オフされる。受光素子40は、物体Mの有無
に応じた信号を出力する。この信号は、AC増幅
回路50で増幅されて、第5図(d0)に示す波形
の受光信号となる。この受光信号d0は、判定回路
60でデジタル信号波形に波形整形され、同期検
出回路70に入力する。同期検出回路70では、判
定回路60の出力e0が発光信号a0と一致したタイ
ミングのサンプリングパルスにより同期検出され
て、第5図f0に示す波形に変換される。同期検出
回路70の出力f0は、積分回路80に入力され、そ
の積分出力g0が判定回路90により波形整形され
て、出力回路100から検出信号h0として出力さ
れる。
に、上記の光検出装置においては、パルス発生回
路10からのパルス信号により発光素子駆動回路
20が発光信号a0を出力し、該発光信号a0により
発光素子30が駆動されて、パルス変調された光
を投光する。発光素子30からのパルス光は、物
体Mに反射され、もしくは物体Mを透過して、受
光素子40に入射する。したがつて、受光素子40
に入射するパルス光は、物体Mの有無によつてオ
ン/オフされる。受光素子40は、物体Mの有無
に応じた信号を出力する。この信号は、AC増幅
回路50で増幅されて、第5図(d0)に示す波形
の受光信号となる。この受光信号d0は、判定回路
60でデジタル信号波形に波形整形され、同期検
出回路70に入力する。同期検出回路70では、判
定回路60の出力e0が発光信号a0と一致したタイ
ミングのサンプリングパルスにより同期検出され
て、第5図f0に示す波形に変換される。同期検出
回路70の出力f0は、積分回路80に入力され、そ
の積分出力g0が判定回路90により波形整形され
て、出力回路100から検出信号h0として出力さ
れる。
ところで、このような光検出装置では、物体M
の存在により発光素子30からのパルス光が受光
素子40に入射していない期間に、蛍光灯の点減
光、リモートコントロール装置の光信号の外乱光
C0がノイズとして受光素子40に入射することが
ある。その場合、同期検出回路70の出力には、
第5図d0に示すように、d1の部分に外乱光C0の影
響が現われる。そのため、外乱光C0により光検
出装置が誤動作、誤検出するおそれがある。
の存在により発光素子30からのパルス光が受光
素子40に入射していない期間に、蛍光灯の点減
光、リモートコントロール装置の光信号の外乱光
C0がノイズとして受光素子40に入射することが
ある。その場合、同期検出回路70の出力には、
第5図d0に示すように、d1の部分に外乱光C0の影
響が現われる。そのため、外乱光C0により光検
出装置が誤動作、誤検出するおそれがある。
この誤動作を防止するために、従来の光検出装
置では、第4図に示したように、大きい時定数の
積分回路80が必要であり、この積分回路80の動
作のため、応答が遅くなる。また、積分回路80
に容量が大きいコンデンサを用いるため、これが
光検出装置を小型化、IC化する上の支障となつ
ていた。
置では、第4図に示したように、大きい時定数の
積分回路80が必要であり、この積分回路80の動
作のため、応答が遅くなる。また、積分回路80
に容量が大きいコンデンサを用いるため、これが
光検出装置を小型化、IC化する上の支障となつ
ていた。
また、特開昭57−136179号公報において、発光
タイミングに一致するタイミング及び発光素子の
非発光タイミングでの受光信号を検出し、デイジ
タル的回路構成により外乱光による誤動作を防止
したものが提案されている。
タイミングに一致するタイミング及び発光素子の
非発光タイミングでの受光信号を検出し、デイジ
タル的回路構成により外乱光による誤動作を防止
したものが提案されている。
しかし、これは非発光タイミングで受光信号を
検出したとき、各種タイミング信号を発生させる
分周回路を制御するものであり、またこの分周回
路制御によりパルス発光そのものを一時停止させ
るとともに、発光タイミングで受光信号を検出・
保持するフリツプフロツプのリセツト信号、発光
タイミングでの受光信号の持続回数を計数するカ
ウンタのクロツク信号も遮断しなければならず、
回路構成及び制御系が複雑になる欠点があつた。
検出したとき、各種タイミング信号を発生させる
分周回路を制御するものであり、またこの分周回
路制御によりパルス発光そのものを一時停止させ
るとともに、発光タイミングで受光信号を検出・
保持するフリツプフロツプのリセツト信号、発光
タイミングでの受光信号の持続回数を計数するカ
ウンタのクロツク信号も遮断しなければならず、
回路構成及び制御系が複雑になる欠点があつた。
〈発明の目的〉
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされもので
あつて、2つのラツチ回路とレベル保持回路の簡
単な回路構成により、外乱光による誤動作を確実
に防止するとともに、応答速度を速め、かつ小型
化を可能にすることを目的とする。
あつて、2つのラツチ回路とレベル保持回路の簡
単な回路構成により、外乱光による誤動作を確実
に防止するとともに、応答速度を速め、かつ小型
化を可能にすることを目的とする。
〈発明の構成〉
本発明は、上記の目的を達成するために、発光
素子からパルス変調された光を投光し、検出すべ
き物体による反射光もしくは透過光を受光素子で
受光して物体の有無を検出するようにしたパルス
変調型光検出装置において、デジタル化された受
光信号を一発光サイクル毎に発光素子の発光タイ
ミングでラツチする第1のラツチ回路と、デジタ
ル化された受光信号を一サイクル毎に発光素子の
非発光時のタイミングでラツチする第2のラツチ
回路と、第1ラツチ回路の出力を導入してこれに
対応した検出出力を一サイクル毎にクロツクに同
期してデータ入力・保持するとともに第2ラツチ
回路の出力が非発光タイミングでの受光を示すも
のであるときに該出力に応答して前記データ入力
時のクロツクを遮断するレベル保持回路とを備え
てパルス変調型光検出装置を構成したものであ
る。
素子からパルス変調された光を投光し、検出すべ
き物体による反射光もしくは透過光を受光素子で
受光して物体の有無を検出するようにしたパルス
変調型光検出装置において、デジタル化された受
光信号を一発光サイクル毎に発光素子の発光タイ
ミングでラツチする第1のラツチ回路と、デジタ
ル化された受光信号を一サイクル毎に発光素子の
非発光時のタイミングでラツチする第2のラツチ
回路と、第1ラツチ回路の出力を導入してこれに
対応した検出出力を一サイクル毎にクロツクに同
期してデータ入力・保持するとともに第2ラツチ
回路の出力が非発光タイミングでの受光を示すも
のであるときに該出力に応答して前記データ入力
時のクロツクを遮断するレベル保持回路とを備え
てパルス変調型光検出装置を構成したものであ
る。
〈実施例〉
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。第1図は本発明の一実施例のブロ
ツク図である。この実施例のパルス変調型検出装
置は、パルス発生回路1と、発光素子駆動回路2
と、発光素子3と、受光素子4と、AC増幅回路
5と、判定回路6と、同期検出回路7と、出力回
路8とを備えており、従来のパルス変調型光検出
装置におけるような積分回路やその後段の判定回
路を有していない。また、この実施例における同
期検出回路7は、後に詳述するように、従来のパ
ルス変調型光検出装置におけるように発光信号に
一致するタイミングでのみ受光データを取り込ん
で検出するものではなく、発光信号と一致するタ
イミング(以下、発光タイミングという)、およ
び発光信号とは同期するが発光信号とは位相の異
なるタイミング(以下、非発光タイミングとい
う)の以上2つのタイミングで受光データを取り
込んで検出するものである。さらに、パルス発生
回路1は、発光素子駆動回路2に所定の発光用パ
ルスを与えるほか、同期検出回路7に必要な種々
のパルスを供給するようになつている。
細に説明する。第1図は本発明の一実施例のブロ
ツク図である。この実施例のパルス変調型検出装
置は、パルス発生回路1と、発光素子駆動回路2
と、発光素子3と、受光素子4と、AC増幅回路
5と、判定回路6と、同期検出回路7と、出力回
路8とを備えており、従来のパルス変調型光検出
装置におけるような積分回路やその後段の判定回
路を有していない。また、この実施例における同
期検出回路7は、後に詳述するように、従来のパ
ルス変調型光検出装置におけるように発光信号に
一致するタイミングでのみ受光データを取り込ん
で検出するものではなく、発光信号と一致するタ
イミング(以下、発光タイミングという)、およ
び発光信号とは同期するが発光信号とは位相の異
なるタイミング(以下、非発光タイミングとい
う)の以上2つのタイミングで受光データを取り
込んで検出するものである。さらに、パルス発生
回路1は、発光素子駆動回路2に所定の発光用パ
ルスを与えるほか、同期検出回路7に必要な種々
のパルスを供給するようになつている。
前記同期検出回路7の構成を第2図のブロツク
図に示す。同図に示すように、同期検出回路7
は、発光タイミングで判定回路6の出力をラツチ
する第1のラツチ回路9と、非発光タイミングで
判定回路6の出力をラツチする第2のラツチ回路
10と、第1と第2の両ラツチ回路9,10の出
力を導入して検出信号を生成するレベル保持回路
11とからなる。
図に示す。同図に示すように、同期検出回路7
は、発光タイミングで判定回路6の出力をラツチ
する第1のラツチ回路9と、非発光タイミングで
判定回路6の出力をラツチする第2のラツチ回路
10と、第1と第2の両ラツチ回路9,10の出
力を導入して検出信号を生成するレベル保持回路
11とからなる。
前記第1ラツチ回路9は、判定回路6の出力b
および発光タイミングパルスcが入力する
NANDゲート12と、このNANDゲート12の
出力dがセツト端子に入力する第1のS−R型フ
リツプフロツプ13とで構成されている。第1の
S−R型フリツプフロツプ13のリセツト端子に
は、発光タイミングパルスcに対応したリセツト
パルスeが入力するようになつている。また、第
2ラツチ回路10は、判定回路6の出力bおよび
非発光タイミングパルスgが入力するのNAND
ゲート14と、該NANDゲート14の出力hが
セツト端子に入力する第2のS−R型フリツプフ
ロツプ15とからなる。第2のS−R型フリツプ
フロツプ15のリセツト端子には、非発光タイミ
ングパルスgに対応したリセツトパルスiが入力
するようになつている。
および発光タイミングパルスcが入力する
NANDゲート12と、このNANDゲート12の
出力dがセツト端子に入力する第1のS−R型フ
リツプフロツプ13とで構成されている。第1の
S−R型フリツプフロツプ13のリセツト端子に
は、発光タイミングパルスcに対応したリセツト
パルスeが入力するようになつている。また、第
2ラツチ回路10は、判定回路6の出力bおよび
非発光タイミングパルスgが入力するのNAND
ゲート14と、該NANDゲート14の出力hが
セツト端子に入力する第2のS−R型フリツプフ
ロツプ15とからなる。第2のS−R型フリツプ
フロツプ15のリセツト端子には、非発光タイミ
ングパルスgに対応したリセツトパルスiが入力
するようになつている。
レベル保持回路11は、第1ラツチ回路9の出
力fに対応した検出信号mを出力するとともに、
第2ラツチ回路10の出力jが非発光タイミング
で受光を示すものであるときに、該出力jに応答
して検出信号レベルを第1ラツチ回路9の前回の
出力fに対応したレベルに保持するものであつ
て、第2ラツチ回路10の反転出力jおよびクロ
ツクパルスkが入力するNANDゲート16と、
第1ラツチ回路9の出力fがD入力端子に、また
前記NANDゲート16の出力lがクロツク端子
に、それぞれ入力するD型フリツプフロツプ17
とからなる。
力fに対応した検出信号mを出力するとともに、
第2ラツチ回路10の出力jが非発光タイミング
で受光を示すものであるときに、該出力jに応答
して検出信号レベルを第1ラツチ回路9の前回の
出力fに対応したレベルに保持するものであつ
て、第2ラツチ回路10の反転出力jおよびクロ
ツクパルスkが入力するNANDゲート16と、
第1ラツチ回路9の出力fがD入力端子に、また
前記NANDゲート16の出力lがクロツク端子
に、それぞれ入力するD型フリツプフロツプ17
とからなる。
上記の構成の動作を第3図のタイムチヤートに
基づいて説明する。発光素子3の発光動作や、受
光素子4の受光動作、判定回路6による波形整形
動作は、従来のパルス変調型光検出装置と同様で
あり、各部の信号波形も第5図のa0〜e0を示すも
のと同じであるので、この点の詳細な説明は省略
する。
基づいて説明する。発光素子3の発光動作や、受
光素子4の受光動作、判定回路6による波形整形
動作は、従来のパルス変調型光検出装置と同様で
あり、各部の信号波形も第5図のa0〜e0を示すも
のと同じであるので、この点の詳細な説明は省略
する。
今、第5図のタイムチヤートの場合と同様に、
物体Mによりパルス光の受光素子4への入射が阻
止されているとき、外乱光が入射し、またパルス
光が受光素子4に入射しているときに外乱光が入
射した場合を考える。その場合の受光信号aは、
第3図aに示すような波形になる。この受光信号
aは、判定回路6で波形整形されて、第3図bに
示すデジタル信号波形となつて、同期検出回路7
に入力する。
物体Mによりパルス光の受光素子4への入射が阻
止されているとき、外乱光が入射し、またパルス
光が受光素子4に入射しているときに外乱光が入
射した場合を考える。その場合の受光信号aは、
第3図aに示すような波形になる。この受光信号
aは、判定回路6で波形整形されて、第3図bに
示すデジタル信号波形となつて、同期検出回路7
に入力する。
同期検出回路7においては、判定出力bが第1
と第2の両ラツチ回路9,10の各NANDゲー
ト12,14にそれぞれ入力する。しかして、第
1ラツチ回路9においては、発光タイミングパル
スcと、受光素子4での受光を示す判定出力bと
が、ともにハイレベルであるときに、NANDゲ
ート12の出力d、すなわち第1のS−R型フリ
ツプフロツプ13のセツト入力はローレベルとな
り、その他の場合は、ハイレベルとなる。したが
つて、セツト入力dは、判定出力bの各ハイレベ
ル部分(受光素子4での受光を示す部分)を拾つ
た波形となる。なお、この場合、セツト入力d
は、外乱光の受光に対応する信号部分も拾つてい
る。第1のS−R型フリツプフロツプ13の出力
fは、発光タイミングパルスc毎に、受光素子4
での受光に対応してハイレベル、受光素子4での
非受光状態に対応してローレベルとなり、結局、
発光タイミングでの受光状態を示している。この
第1のS−R型フリツプフロツプ13の出力f
は、S入力dと同様に、外乱光に影響された信号
部分f1を含んでいる。
と第2の両ラツチ回路9,10の各NANDゲー
ト12,14にそれぞれ入力する。しかして、第
1ラツチ回路9においては、発光タイミングパル
スcと、受光素子4での受光を示す判定出力bと
が、ともにハイレベルであるときに、NANDゲ
ート12の出力d、すなわち第1のS−R型フリ
ツプフロツプ13のセツト入力はローレベルとな
り、その他の場合は、ハイレベルとなる。したが
つて、セツト入力dは、判定出力bの各ハイレベ
ル部分(受光素子4での受光を示す部分)を拾つ
た波形となる。なお、この場合、セツト入力d
は、外乱光の受光に対応する信号部分も拾つてい
る。第1のS−R型フリツプフロツプ13の出力
fは、発光タイミングパルスc毎に、受光素子4
での受光に対応してハイレベル、受光素子4での
非受光状態に対応してローレベルとなり、結局、
発光タイミングでの受光状態を示している。この
第1のS−R型フリツプフロツプ13の出力f
は、S入力dと同様に、外乱光に影響された信号
部分f1を含んでいる。
次に、第2ラツチ回路10においては、非発光
タイミングパルスgと、判定出力bがともにハイ
レベルであるときには、NANDゲート14の出
力h、すなわち第2のS−R型フリツプフロツプ
15のセツト入力がローレベルとなる。したがつ
て、セツト入力hは、判定出力bの各ハイレベル
部分(受光素子4での受光を示す部分)を拾つた
波形となるが、通常の受光信号のタイミングは、
非発光タイミングパルスgのタイミングとは位相
がずれているから、非発光タイミングパルスgに
より拾われるのは、非発光時での受光、すなわち
外乱光の受光によりハイレベルとなつた信号部分
である。そのため、第2のS−R型フリツプフロ
ツプ15の反転出力jは、非発光時での受光を示
す信号となる。
タイミングパルスgと、判定出力bがともにハイ
レベルであるときには、NANDゲート14の出
力h、すなわち第2のS−R型フリツプフロツプ
15のセツト入力がローレベルとなる。したがつ
て、セツト入力hは、判定出力bの各ハイレベル
部分(受光素子4での受光を示す部分)を拾つた
波形となるが、通常の受光信号のタイミングは、
非発光タイミングパルスgのタイミングとは位相
がずれているから、非発光タイミングパルスgに
より拾われるのは、非発光時での受光、すなわち
外乱光の受光によりハイレベルとなつた信号部分
である。そのため、第2のS−R型フリツプフロ
ツプ15の反転出力jは、非発光時での受光を示
す信号となる。
この第2のS−R型フリツプフロツプ15の出
力jと、クロツクパルスkは、レベル保持回路1
1のNANDゲート16に入力する。第2のS−
R型フリツプフロツプ15の出力がローレベルに
なれば、NANDゲート16でクロツクパルスk
が遮断されて、D型フリツプフロツプ17に入力
しない。すなわち、非発光時の受光を示す信号
(ローレベルのS−R型フリツプフロツプ出力j)
がNANDゲート16に入力すると、クロツクパ
ルスkが遮断されることになる。したがつて、ク
ロツクパルスkが遮断されるのは、外乱光が受光
された時点である。NANDゲート16の出力は、
第3図lに示す波形となる。
力jと、クロツクパルスkは、レベル保持回路1
1のNANDゲート16に入力する。第2のS−
R型フリツプフロツプ15の出力がローレベルに
なれば、NANDゲート16でクロツクパルスk
が遮断されて、D型フリツプフロツプ17に入力
しない。すなわち、非発光時の受光を示す信号
(ローレベルのS−R型フリツプフロツプ出力j)
がNANDゲート16に入力すると、クロツクパ
ルスkが遮断されることになる。したがつて、ク
ロツクパルスkが遮断されるのは、外乱光が受光
された時点である。NANDゲート16の出力は、
第3図lに示す波形となる。
クロツクパルスkが遮断されることにより、D
型フリツプフロツプ17は、前回のクロツクパル
スkによる出力レベルを維持する。前回のクロツ
クパルスkによる出力レベルとは、外乱光の影響
を受けていない時点の第1ラツチ回路9の出力f
に対応したレベルである。そのため、D型フリツ
プフロツプ17の出力である検出信号mのレベル
は、外乱光の影響を受けていない時点の出力レベ
ルに保持される。外乱光の影響を受けていない時
点の第1ラツチ回路9の出力fと、外乱光が受光
された時点の第1ラツチ回路9の出力fとのレベ
ルが異なつていると、外乱光に影響された出力部
分f1が、クロツクパルスkの遮断により、回避さ
れて検出信号mに現われなくなり、これによつ
て、検出信号mから外乱光の影響が除外される。
型フリツプフロツプ17は、前回のクロツクパル
スkによる出力レベルを維持する。前回のクロツ
クパルスkによる出力レベルとは、外乱光の影響
を受けていない時点の第1ラツチ回路9の出力f
に対応したレベルである。そのため、D型フリツ
プフロツプ17の出力である検出信号mのレベル
は、外乱光の影響を受けていない時点の出力レベ
ルに保持される。外乱光の影響を受けていない時
点の第1ラツチ回路9の出力fと、外乱光が受光
された時点の第1ラツチ回路9の出力fとのレベ
ルが異なつていると、外乱光に影響された出力部
分f1が、クロツクパルスkの遮断により、回避さ
れて検出信号mに現われなくなり、これによつ
て、検出信号mから外乱光の影響が除外される。
〈発明の効果〉
以上のように、本発明によれば、発光タイミン
グでの受光信号のうち、外乱光による信号部分
が、非発光タイミングでの受光信号により除外さ
れることになり、その結果、外乱光による誤動作
を確実に防止することができる。
グでの受光信号のうち、外乱光による信号部分
が、非発光タイミングでの受光信号により除外さ
れることになり、その結果、外乱光による誤動作
を確実に防止することができる。
また、従来のように、積分回路を用いるもので
ないから、応答が速く、瞬時に物体の検出を行な
うことができる。さらに、積分動作のためのコン
デンサを必要とせず、また回路構成もラツチ回路
とレベル保持回路の組み合わせからなり非常に簡
単であり、装置全体をIC化し、小型化を図るこ
とができる。
ないから、応答が速く、瞬時に物体の検出を行な
うことができる。さらに、積分動作のためのコン
デンサを必要とせず、また回路構成もラツチ回路
とレベル保持回路の組み合わせからなり非常に簡
単であり、装置全体をIC化し、小型化を図るこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例のブロツク図、第2
図は同期検出回路のブロツク図、第3図は動作説
明に供するタイムチヤート、第4図は従来のパル
ス変調型光検出装置のブロツク図、第5図はその
動作を示すタイムチヤートである。 1……パルス発生回路、2……発光素子駆動回
路、3……発光素子、4……受光素子、6……判
定回路、7……同期検出回路、9……第1ラツチ
回路、10……第2ラツチ回路、11……レベル
保持回路、c……発光タイミングパルス、g……
非発光タイミングパルス。
図は同期検出回路のブロツク図、第3図は動作説
明に供するタイムチヤート、第4図は従来のパル
ス変調型光検出装置のブロツク図、第5図はその
動作を示すタイムチヤートである。 1……パルス発生回路、2……発光素子駆動回
路、3……発光素子、4……受光素子、6……判
定回路、7……同期検出回路、9……第1ラツチ
回路、10……第2ラツチ回路、11……レベル
保持回路、c……発光タイミングパルス、g……
非発光タイミングパルス。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 発光素子からパルス変調された光を投光し、
検出すべき物体による反射光もしくは透過光を受
光素子で受光して物体の有無を検出するようにし
たパルス変調型光検出装置において、 デジタル化された受光信号を一発光サイクル毎
に発光素子の発光タイミングでラツチする第1の
ラツチ回路と、デジタル化された受光信号を一サ
イクル毎に発光素子の非発光時のタイミングでラ
ツチする第2のラツチ回路と、第1ラツチ回路の
出力を導入してこれに対応した検出出力を一サイ
クル毎にクロツクに同期してデータ入力・保持す
るとともに第2ラツチ回路の出力が非発光タイミ
ングでの受光を示すものであるときに該出力に応
答して前記データ入力時のクロツクを遮断するレ
ベル保持回路とを備えてなることを特徴とするパ
ルス変調型光検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270014A JPS62129777A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | パルス変調型光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270014A JPS62129777A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | パルス変調型光検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62129777A JPS62129777A (ja) | 1987-06-12 |
| JPH0453396B2 true JPH0453396B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=17480344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60270014A Granted JPS62129777A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | パルス変調型光検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62129777A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3668124B2 (ja) * | 2000-11-13 | 2005-07-06 | シャープ株式会社 | 光検出装置 |
-
1985
- 1985-11-29 JP JP60270014A patent/JPS62129777A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62129777A (ja) | 1987-06-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |