JPH0453952A - レチクル洗浄装置 - Google Patents
レチクル洗浄装置Info
- Publication number
- JPH0453952A JPH0453952A JP2163828A JP16382890A JPH0453952A JP H0453952 A JPH0453952 A JP H0453952A JP 2163828 A JP2163828 A JP 2163828A JP 16382890 A JP16382890 A JP 16382890A JP H0453952 A JPH0453952 A JP H0453952A
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- JP
- Japan
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- reticle
- distilled water
- chamber
- drying
- cleaning
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- Pending
Links
- 238000005406 washing Methods 0.000 title abstract 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 27
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 16
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- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 6
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 7
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置製造工程中のフォトリソグラフィ工
程で使用されるレチクルの洗浄装置に関し、特に洗浄後
にレチクルを乾燥させる乾燥部の構成に関する。
程で使用されるレチクルの洗浄装置に関し、特に洗浄後
にレチクルを乾燥させる乾燥部の構成に関する。
従来、この種のレチクル洗浄装置は、第2図〜第4図の
ブロック図に示すようにブラシ、ジェット、超音波等に
よる純水洗浄を行なったあとのレチクル表面の乾燥方式
として、スピンドライヤーによる遠心乾燥方式(第2図
)、IPA(イソプロピルアルコール)で置換した後の
フロン蒸気によるフロン蒸気乾燥方式(第3図)、IP
A蒸気によるIPA蒸気乾燥方式(第4図)等が行なわ
れていた。
ブロック図に示すようにブラシ、ジェット、超音波等に
よる純水洗浄を行なったあとのレチクル表面の乾燥方式
として、スピンドライヤーによる遠心乾燥方式(第2図
)、IPA(イソプロピルアルコール)で置換した後の
フロン蒸気によるフロン蒸気乾燥方式(第3図)、IP
A蒸気によるIPA蒸気乾燥方式(第4図)等が行なわ
れていた。
上述した従来の方式では、レチクル周辺の雰囲気に含ま
れる微小ごみ及び洗浄液中に含まれる微小ごみで、特に
有機系のごみがレチクルの乾燥時(レチクル表面の水分
の蒸発時)に凝縮され、しみ状となってレチクル面に残
ってしまうという欠点がある。
れる微小ごみ及び洗浄液中に含まれる微小ごみで、特に
有機系のごみがレチクルの乾燥時(レチクル表面の水分
の蒸発時)に凝縮され、しみ状となってレチクル面に残
ってしまうという欠点がある。
上述した従来方式によるレチクル洗浄装置に対し、本発
明は蒸溜水製造システムによって作り出された蒸溜水を
、不活性ガス雰囲気中に設置された蒸溜水シャワー槽内
でレチクル上に流し、レチクル表面を微小ごみが全くな
い蒸溜水で置換したあと自然乾燥させる乾燥部を設けた
という相違点を有する。
明は蒸溜水製造システムによって作り出された蒸溜水を
、不活性ガス雰囲気中に設置された蒸溜水シャワー槽内
でレチクル上に流し、レチクル表面を微小ごみが全くな
い蒸溜水で置換したあと自然乾燥させる乾燥部を設けた
という相違点を有する。
本発明のレチクル洗浄装置は、乾燥部に不活性ガス雰囲
気に満たされたチャンバーと、該チャンバー内に設置さ
れた蒸溜水シャワー槽と、該チャンバー外に設けられた
蒸溜水製造システムを有している。
気に満たされたチャンバーと、該チャンバー内に設置さ
れた蒸溜水シャワー槽と、該チャンバー外に設けられた
蒸溜水製造システムを有している。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック、図である。
レチクル収納部より取り出されたレチクルは洗浄部へ送
られ、洗浄液によりブラシ、ジェット、超音波等の手段
により洗浄され、レチクル上の有機及び無機系のごみが
物理的にレチクル上から剥離され洗浄液中へ浮遊する。
られ、洗浄液によりブラシ、ジェット、超音波等の手段
により洗浄され、レチクル上の有機及び無機系のごみが
物理的にレチクル上から剥離され洗浄液中へ浮遊する。
洗浄部より引き上げられたレチクルは未乾燥である為、
レチクル上に残る洗浄液中には前記ごみが浮遊している
。
レチクル上に残る洗浄液中には前記ごみが浮遊している
。
次にレチクルは乾燥部へ運ばれ、ごみを全く含まない不
活性ガス3で満たされたチャンバー1内の蒸溜水シャワ
ー檜2で、蒸溜水製造システム5によって作りだされた
不純物を全く含まない蒸溜水をノズル4よりレチクル上
ヘシャワーする。レチクル表面の洗浄液を蒸溜水によっ
て置換した後にチャンバー1内で自然乾燥させ、その後
レチクル収納部へレチクルを送る。
活性ガス3で満たされたチャンバー1内の蒸溜水シャワ
ー檜2で、蒸溜水製造システム5によって作りだされた
不純物を全く含まない蒸溜水をノズル4よりレチクル上
ヘシャワーする。レチクル表面の洗浄液を蒸溜水によっ
て置換した後にチャンバー1内で自然乾燥させ、その後
レチクル収納部へレチクルを送る。
以上説明した様に本発明は、ごみを全く含まない不活性
ガス雰囲気中で、不純物を全く含まない蒸溜水によって
レチクル表面を置換したあと自然乾燥させることにより
、レチクルの乾燥時にしみ等を発生させない効果がある
。
ガス雰囲気中で、不純物を全く含まない蒸溜水によって
レチクル表面を置換したあと自然乾燥させることにより
、レチクルの乾燥時にしみ等を発生させない効果がある
。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図〜
第4図は従来のレチクル洗浄装置を示すブロック図であ
る。 1・・・チャンバー、2・・・蒸溜水シャワー槽、3・
・・不活性ガス、4・・・蒸溜水シャワーノズル、5・
・・蒸溜水製造システム。
第4図は従来のレチクル洗浄装置を示すブロック図であ
る。 1・・・チャンバー、2・・・蒸溜水シャワー槽、3・
・・不活性ガス、4・・・蒸溜水シャワーノズル、5・
・・蒸溜水製造システム。
Claims (1)
- 洗浄後のレチクルを乾燥させる乾燥部を有するレチク
ル洗浄装置において、乾燥部が不活性ガス雰囲気に満た
されたチャンバーと、該チャンバー内に設けられた蒸溜
水シャワー槽と、該チャンバー外に設けられた蒸溜水製
造システムにより構成されることを特徴とするレチクル
洗浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163828A JPH0453952A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | レチクル洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163828A JPH0453952A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | レチクル洗浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0453952A true JPH0453952A (ja) | 1992-02-21 |
Family
ID=15781518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2163828A Pending JPH0453952A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | レチクル洗浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0453952A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6255940A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-11 | Toshiba Corp | 乾燥装置 |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP2163828A patent/JPH0453952A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6255940A (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-11 | Toshiba Corp | 乾燥装置 |
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