JPH0454468Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案はICや半導体あるいはプリント板モジ
ユールなどの電子部品の潜在欠陥を発見するため
の電子部品試験機に関する。

（従来技術） この種の電子部品試験機はバーンインと呼ば
れ、電子部品の実装条件を想定して温度条件を人
工的に作り出し電子部品をその温度条件下におい
て短時間で不良品を発見しようとするものであ
る。

第３図は従来用いられている電子部品試験機の
一例を示しており、断熱性ケース１の前面には試
験すべき電子部品（以下「被試験電子部品」とい
う）を出し入れする前扉２が設けられ、ケース１
の上面には排気蓋３が設けられている。

第４図はこの試験機の内部を断面で示してお
り、ケース１の前半部内面には断熱材１ａが張ら
れ、室内中央には棚１ｂが設けられ、室内下部に
は加熱用のヒータと冷却用のラジエータフインと
を含む加熱冷却ユニツト１ｃが配置されている。

ケース１の後半部には、被試験電子部品に印加
する所定の試験信号を発生する電源ユニツト４
と、冷却用の送風フアン５と、加熱冷却ユニツト
１ｃの温度調整および送風フアン５の運転を制御
する温度コントローラ６とが設けられ、電源ユニ
ツト４はコネクタ４ａを介して後述するトレーに
装着された被試験電子部品に接続可能なようにな
つている。また、温度コントローラ６と加熱冷却
ユニツト１ｃも電気的に接続されている。

さて被試験電子部品を試験するには、多数のソ
ケツトが設けられ且つ配線のされたトレー７の各
ソケツトに被試験電子部品Ｐを予め装着し、この
トレーを試験機１の前扉２を開いて内部の棚１ｂ
上に置きコネクタ４ｃを介して電源ユニツト４に
接続する。次に前扉２を閉じ、図示しない操作パ
ネルで温度条件（バーンイン温度と呼ばれ、たと
えば130℃）と時間（バーンイン時間と呼ばれ、
たとえば24時間）を設定すると、加熱冷却ユニツ
ト１ｃが加熱され内部温度が次第に上昇しバーン
イン温度に維持されるので、この間に電源ユニツ
ト４から被試験電子部品Ｐに試験信号を印加して
所定の順序で試験を行う。試験結果は記録される
こともある バーンイン時間が経過すると加熱冷却ユニツト
１ｃへの通電を停止して温度を下げ、今度は加熱
冷却ユニツト１ｃにガスを供給して冷却を始め、
送風フアン５を回転させて内部の熱い空気を排気
蓋３から排出させる。この場合、被試験電子部品
Ｐには電源ユニツト４から通電したままにしてお
かなければならない。何故なら通電せずに冷却す
ると、試験中に一旦故障した被試験電子部品Ｐが
回復してしまうことが経験的に確認されており、
正確な試験結果が得られないからである。そのた
めに被試験電子部品Ｐを冷却する際はトレー７を
試験機の外に取り出すことはできない。こうして
長い時間かかつて機内温度が常温になつたとき通
電をやめ前扉２を開くとともに、トレー７を機外
に取り出しこれで試験を終了する。

ところで従来の電子部品試験機ではバーンイン
時間が10時間以上に及ぶ長い場合は試験工程の最
後に行われるこの機内冷却に要する時間やそのた
めに要する電力やガス消費量はそれほど気になら
ないが、バーンイン時間がたとえば１〜３時間の
短い試験においては１時間またはそれ以上の冷却
時間や冷却のための電力やガスの消費は大きな問
題である。しかも最近はバーンイン時間が短縮さ
れる傾向にあるのに対して、この冷却時間は一向
に短縮できないために冷却時間の問題は大きい。

（考案の目的および構成） 本考案は上記の点にかんがみてなされたもの
で、電子部品試験機の試験後の冷却時間を短縮す
るとともに、冷却中における故障の回復を防ぐこ
とを目的とし、この目的を達成するために、試験
機の前扉を開いて被試験電子部品を電源ユニツト
と電気的に接続したままで外部に取り出して冷却
するように構成したものである。

（実施例） 以下図面に基づいて本考案を説明する。

第１図は本考案による電子部品試験機の一実施
例の内部構造を示しており、イは試験中の状態、
ロは試験後の状態を示す。図中第５図と同じ参照
数字は同じ構成部品を示す。

この実施例では、電源ユニツト４を断熱材のケ
ース８内に収納し、後方にフアン９を設け、ケー
ス８はレール１０に案内されて前後（図では左
右）に移動可能になつている。ケース８の前板
（図では左側）８ａにはトレー７をのせる棚１ｂ
が水平に固定されており、またトレー７と電源ユ
ニツト４とを電気的に接続するためのコネクタ４
ａが設けられている。

さてこの試験機で被試験電子部品を試験するに
は、従来の試験の場合と同じように、外部でトレ
ー７のソケツトに被試験電子部品Ｐを予め装着し
ておき、試験機１の前扉２を開いてケース８を前
方（図では左方向）に押し出して付き出た棚１ｂ
上にこのトレー７をのせ、トレー７をコネクタ４
ａを介して電源ユニツト４に電気的に接続する。

その後ケース８を後方（図では右方向）に引い
て前扉２を閉じバーンイン温度とバーンイン時間
を設定し、加熱冷却ユニツト１ｃに通電して加熱
を開始する。試験は従来の場合と同様に行われ
る。

バーンイン時間が経過したとき前扉２を開いて
ケース８を前方（図では左方向）に押し出す。ケ
ース８はレール１０により案内されて前方に進
み、トレー７が機外に出される。

その結果、被試験電子部品Ｐは外気にさらされ
急速に冷却されて短時間（たとえば10〜20分）で
常温に達するが、この間被試験電子部品Ｐはコネ
クタ４ａを介して電源ユニツト４に接続されたま
まである。

このとき加熱冷却ユニツト１ｃには通電したま
まにしておいて冷却しなくてもよいので、冷却の
ためのガス消費はないし、正面の開口部はケース
８の前板８ａで塞がれているので機内はほぼバー
ンイン温度近くに保たれているため、直ちに次の
試験工程に入ることができて効率が著しく向上す
る。

ケース８の移動はモータを用いた電動式にして
バーンイン時間の終了とともに自動的且つ迅速に
行つてもよい。

第２図は多数の電子部品の試験が同時にできる
本考案による大型の電子部品試験機の外観を示
す。

試験機１の正面には多数（この実施例では16
個）の前扉２ａ，２ｂ，…２Ｐが設けられてお
り、各扉ごとに第１図に示したような構造の試験
室とケース８が設けられている。試験室およびケ
ース８の構造は第１図と同じであるから説明は省
略するが、試験室はすべてが共通であつて、全体
が１つの恒温槽となつている。

この試験機によれば、各前扉ごとに独立して被
試験電子部品を出し入れできるので、各前扉ごと
に電源ユニツトを用いて任意のバーンイン時間を
設定して独立的に試験ができる。また機内の温度
を一定に保つておけば、次々と希望の試験条件で
試験できるため試験の作業効率が著しく向上し、
おおまかに言つて従来のやり方の２倍以上とな
る。

（考案の効果） 以上説明したように、本考案においては、試験
後試験機の前扉を開いて被試験電子部品を試験機
外に取り出すとともに電源ユニツトも被試験電子
部品とともに移動させて被試験機と電源ユニツト
とを電気的に接続した状態に維持したままで被試
験電子部品を冷却するように構成したので、冷却
時間が大幅に短縮できて試験時間を短縮できる。
このように被試験電子部品を大気中で冷却するこ
とにより冷却のためのガス消費が不要となり、コ
スト上も有利である。さらに、１回の試験が終つ
ても試験機内の温度をバーンイン温度に保つてお
けば、次の試験に入る際試験機内の温度を上げる
必要がなく直ちに入ることができ昇温時間や昇温
のための電力が節約でき作業効率が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による電子部品試験機の一実施
例の内部構造を示す断面図で、イは試験中、ロは
試験後の冷却状態を示し、第２図は本考案による
大型の電子部品試験機の外観を示す斜視図、第３
図は従来の電子部品試験機の外観を示す斜視図、
第４図は第３図に示した電子部品試験機の内部構
造を示す断面図である。 １……試験機、２……前扉、４……電源ユニツ
ト、６……温度コントローラ、７……トレー、８
……ケース。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 前扉を有する熱絶縁ケース内に温度制御可能な
   加熱手段と被試験電子部品が装着可能なトレーを
   支持する支持台とを設け、前記熱絶縁ケースの後
   部外側に近接して試験信号発生用の電源ユニツト
   を配置し、前記電源ユニツトは熱絶縁部材で囲ま
   れ、前記被試験電子部品を前記電源ユニツトと電
   気的に接続可能とし、試験に際して前扉を閉じて
   前記支持台に前記被試験電子部品を装着したトレ
   ーを支持した状態で前記熱絶縁ケース内を前記加
   熱手段で加熱し、前記被試験電子部品には前記電
   源ユニツトから試験信号が印加され、その後前扉
   を開いて前記電源ユニツトを前記被試験電子部品
   に接続したまま前記トレーを前記熱絶縁ケースの
   外部に取り出し、前記トレーが前記熱絶縁ケース
   の外部に取り出されるとき前記電源ユニツトが前
   記熱絶縁ケース内に入り込むように移動し、前記
   被試験電子部品に前記電源ユニツトから通電した
   まま前記被試験電子部品を外気によつて冷却する
   ように構成したことを特徴とする電子部品試験
   機。