JPH03117779U - - Google Patents

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JPH03117779U
JPH03117779U JP2656090U JP2656090U JPH03117779U JP H03117779 U JPH03117779 U JP H03117779U JP 2656090 U JP2656090 U JP 2656090U JP 2656090 U JP2656090 U JP 2656090U JP H03117779 U JPH03117779 U JP H03117779U
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JP
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support rod
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appropriate
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案を適用したX−Yユニツトを有
する回路基板検査装置の測定台上の配置関係を示
す部分斜視図、第2図は同測定台上の配置関係を
示す概略平面図である。第3図は同回路基板検査
装置のチヤツク装置を示す斜視図、第4図は同回
路基板検査装置の支え棒使用ベースの一部を示す
斜視図である。第5図は他の本考案を適用したX
−Yユニツトを有する回路基板検査装置の測定台
上の配置関係を示す部分斜視図、第6図は同測定
台上の配置関係を示す概略平面図である。第7図
は同回路基板検査装置の装着時における支え棒保
管ベースと支え棒使用ベースとの配置関係を示す
部分側面図である。第8図は更に他の本考案を適
用したX−Yユニツトを有する回路基板検査装置
の測定台上の配置関係を示す部分斜視図である。
第9図は従来の回路基板検査装置の測定台上に設
置した被検査基板と支え棒とを示す部分斜視図で
ある。 20,62……測定台、22,64,92……
被検査基板、24,68……支え棒保管ベース、
26,66,94……X−Yユニツト、28,7
0……支え棒使用ベース、32,80,106…
…支え棒、34,60,90……穴、40,76
,102……プローブピン、42,78,104
……ピン支持部、44……チヤツク装置、48…
…チヤツク、56,86……固定ベース、58,
88……可動ベース、82……スプリング、96
……支え棒駆動装置。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被検査基板を設置する測定台上に、その基
    板を先端が当接して支える適切な数の支え棒を立
    設し、その基板の必要な検査ポイントに、プロー
    ブピンを適宜移動して接触させるX−Yユニツト
    を備えた回路基板検査装置において、上記プロー
    ブピンの支持部に支え棒をつかめるチヤツク装置
    を備え付け、測定台上の被検査基板設置箇所を除
    くプローブピン移動領域内に、複数の支え棒をそ
    れぞれ抜き差し自由に支持する各穴を設けた支え
    棒保管ベースを設置し、被検査基板設置箇所には
    、被検査基板の種類に応じて適切な数の支え棒を
    それぞれ抜き差し自由に支持する各穴を適切な位
    置に設けた固定ベースとその固定ベースの各穴と
    対応する同一位置に同様の穴を設けた可動ベース
    とから成る支え棒使用ベースを設置することを特
    徴とするX−Yユニツトを有する回路基板検査装
    置。 (2) 被検査基板を設置する測定台上に、その基
    板を先端が当接して支える適切な数の支え棒を立
    設し、その基板の必要な検査ポイントに、プロー
    ブピンを適宜移動して接触させるX−Yユニツト
    を備えた回路基板検査装置において、上記被検査
    基板設置箇所に、各種の被検査基板に共通な複数
    の支え棒をそれぞれスプリングを介在して適切な
    位置に立設した支え棒保管ベースを上下動可能に
    設置し、その支え棒保管ベースの上方に、支え棒
    保管ベースに立設した各支え棒の立設位置と対応
    する同一位置にそれ等の支え棒をそれぞれ抜き差
    し自由に支持する各穴を開けた固定ベースとやは
    り対応する同一位置に同様の穴を開けた可動ベー
    スとから成る支え棒使用ベースを設置することを
    特徴とするX−Yユニツトを有する回路基板検査
    装置。 (3) 被検査基板を設置する測定台上に、その基
    板を先端が当接して支える適切な数の支え棒を立
    設し、その基板の必要な検査ポイントに、プロー
    ブピンを適宜移動して接触させるX−Yユニツト
    を備えた回路基板検査装置において、上記被検査
    基板設置箇所に、各種の被検査基板に共通な複数
    の支え棒を被検査基板の種類に応じて、それぞれ
    適切な位置で突出、後退自在に操作する支え棒駆
    動装置を備えることを特徴とするX−Yユニツト
    を有する回路基板検査装置。
JP2656090U 1990-03-15 1990-03-15 X―yユニットを有する回路基板検査装置 Expired - Lifetime JPH0645905Y2 (ja)

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JPH03117779U true JPH03117779U (ja) 1991-12-05
JPH0645905Y2 JPH0645905Y2 (ja) 1994-11-24

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