JPH046479A - デューティ比測定回路 - Google Patents
デューティ比測定回路Info
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- JPH046479A JPH046479A JP10817890A JP10817890A JPH046479A JP H046479 A JPH046479 A JP H046479A JP 10817890 A JP10817890 A JP 10817890A JP 10817890 A JP10817890 A JP 10817890A JP H046479 A JPH046479 A JP H046479A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- duty ratio
- circuit
- pulse signal
- amplifier
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- JDFUJAMTCCQARF-UHFFFAOYSA-N tatb Chemical compound NC1=C([N+]([O-])=O)C(N)=C([N+]([O-])=O)C(N)=C1[N+]([O-])=O JDFUJAMTCCQARF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
:産業上の利用分野]
本発明はパルス信号のデューティ比測定回路に関する。
パルス信号は周期、パルス高、デユーティ比等のパラメ
ータを有するか、デユーティ比は信号の減衰によって影
響されることか少なく、情報を担わせるのに優れたパラ
メータである。
ータを有するか、デユーティ比は信号の減衰によって影
響されることか少なく、情報を担わせるのに優れたパラ
メータである。
3従来の技術3
パルス信号のデユーティ比を測定する簡便な方法は、パ
ルス信号をオシロスコープに表示し、1周期の時間長に
対するハイレベルHの時間長を読み取り、その比を算出
することてりろう。
ルス信号をオシロスコープに表示し、1周期の時間長に
対するハイレベルHの時間長を読み取り、その比を算出
することてりろう。
この方法は簡便ではあるが、人手と時間とを要し、さら
に個人差によって測定値がばらつくという性質を有する
9回路的な処理によってデューティ比を測定するには、
パルス信号の立上がり、立下がりを検出し、基準クロッ
ク信号やカウンタ回路を用いて立上がり、立下がり間の
時間を測定し、1周期の時間長に対するハイレベルの時
間長を算出することであろう、このような回路によって
デユーティ比を測定すれば、測定時間は短く、測定者に
よる個人的バラツキもなくなる。
に個人差によって測定値がばらつくという性質を有する
9回路的な処理によってデューティ比を測定するには、
パルス信号の立上がり、立下がりを検出し、基準クロッ
ク信号やカウンタ回路を用いて立上がり、立下がり間の
時間を測定し、1周期の時間長に対するハイレベルの時
間長を算出することであろう、このような回路によって
デユーティ比を測定すれば、測定時間は短く、測定者に
よる個人的バラツキもなくなる。
:発明か解決しようとする課題]
以上説明した従来の技術によるデユーティ比の測定によ
れば、人手や時間が必要であったり、特別の回fI@楕
成が必要である。
れば、人手や時間が必要であったり、特別の回fI@楕
成が必要である。
本発明の目的は、より簡単な構成で回路的にデユーティ
比を測定することのできるデユーティ比測定回路を提供
することである4 ;課題を解決するための手段] 本発明のデューティ比測定回路は、デユーティ比を測定
すべきパルス信号の入力端子と、入力端子に接続され、
入力するパルス信号の積分信号を形成する積分回路と、
入力端子に接続され、入力するパルス信号の反転信号の
積分信号を形成する反転積分回路と、積分回路と反転積
分回路に接続され、両種分信号からデューティ比を表す
信号を形成するデユーティ比出力回路とを含む。
比を測定することのできるデユーティ比測定回路を提供
することである4 ;課題を解決するための手段] 本発明のデューティ比測定回路は、デユーティ比を測定
すべきパルス信号の入力端子と、入力端子に接続され、
入力するパルス信号の積分信号を形成する積分回路と、
入力端子に接続され、入力するパルス信号の反転信号の
積分信号を形成する反転積分回路と、積分回路と反転積
分回路に接続され、両種分信号からデューティ比を表す
信号を形成するデユーティ比出力回路とを含む。
3作用二
パルス信号をそのまま積分すると、ハイレベルの時間長
に比例した積分信号を得ることができる。
に比例した積分信号を得ることができる。
このままではデユーティ比は測定できないが、パルス信
号の反転信号の積分を行うと、パルス信号のローレベル
の時間長に比例した積分信号を得ることができる。これ
ら2つの積分信号を用いれは、パルス信号のデューティ
比を表す信号を形成する二ンができる。
号の反転信号の積分を行うと、パルス信号のローレベル
の時間長に比例した積分信号を得ることができる。これ
ら2つの積分信号を用いれは、パルス信号のデューティ
比を表す信号を形成する二ンができる。
これら各機能を実行する回路は、通常用いられる簡単な
回路構成でよい、たとえば、インバータと2つの積分回
路と差動アンプで構成される。従って、全体としての回
路構成が簡単になる。
回路構成でよい、たとえば、インバータと2つの積分回
路と差動アンプで構成される。従って、全体としての回
路構成が簡単になる。
二実施例]
第1図に、本発明の実施例によるパルス信号のデユーテ
ィ比測定回路を示す。
ィ比測定回路を示す。
パルス信号入力端子1には、図中上部に示す、ローレベ
ルLとハイレベルHを有するパルス信号が入力する。パ
ルス信号入力端子1は、増幅器2を介して積分回路3に
接続される。積分回路3においては、 Hdt の演算か行われ一稽分信号を出力する。入力端子1の信
号は、また反転増幅器5を介して積分回路6に入力する
4反転増幅器5の出力するパルス信号は、図中下部に示
すように、レベルLをハイレベルとし、レベルHをロー
レベルとする信号となる。この信号を積分回路6で積分
することによって 、’Ldt か演算される。
ルLとハイレベルHを有するパルス信号が入力する。パ
ルス信号入力端子1は、増幅器2を介して積分回路3に
接続される。積分回路3においては、 Hdt の演算か行われ一稽分信号を出力する。入力端子1の信
号は、また反転増幅器5を介して積分回路6に入力する
4反転増幅器5の出力するパルス信号は、図中下部に示
すように、レベルLをハイレベルとし、レベルHをロー
レベルとする信号となる。この信号を積分回路6で積分
することによって 、’Ldt か演算される。
オペアンプ8の作動入力端子に両種分信号を供給するこ
とにより、出力端子9にデユーティ比を表す信号か得ら
れる0図示の場合、ハイレベル信号か↑入力端子に、ロ
ーレベル信号が一入力端子に供給されている4両入力の
差に比例した出力が得られる。デューティ比か1:1の
場合は、差はOなので出力端子9に得られる出力信号は
°O゛。
とにより、出力端子9にデユーティ比を表す信号か得ら
れる0図示の場合、ハイレベル信号か↑入力端子に、ロ
ーレベル信号が一入力端子に供給されている4両入力の
差に比例した出力が得られる。デューティ比か1:1の
場合は、差はOなので出力端子9に得られる出力信号は
°O゛。
であり−ハイレベルHの方がローレベルLよりも長けれ
ば、差は正なので正の出力信号となり、ローレベルLの
方かハイレベルHよりも長ければ、差は負となるので負
の出力信号となる。
ば、差は正なので正の出力信号となり、ローレベルLの
方かハイレベルHよりも長ければ、差は負となるので負
の出力信号となる。
通常の定義によるデューティ比を得るために、テーブル
を用意して変換するか、変換回路を設けてもよい。
を用意して変換するか、変換回路を設けてもよい。
なお、入力信号が十分な強度を有する場合は、増幅器2
を省略し、反転増幅器5を単なるインバータにすること
もできる。
を省略し、反転増幅器5を単なるインバータにすること
もできる。
第2図に本発明の他の実7?I!例によるデユーティ比
測定回路を示す6 DCブラシレスモータ11は、永久磁石をロータに有し
、ステータにコイルを有し、ロータの回転角度を検出し
、ステータのコイルに制御した電流を流す、ロータの回
転はホール素子12によって検出される。この回転検出
信号は、デユーティ比か正確でなければモータ特性に悪
影響を与える。
測定回路を示す6 DCブラシレスモータ11は、永久磁石をロータに有し
、ステータにコイルを有し、ロータの回転角度を検出し
、ステータのコイルに制御した電流を流す、ロータの回
転はホール素子12によって検出される。この回転検出
信号は、デユーティ比か正確でなければモータ特性に悪
影響を与える。
従って、デユーティ比を検査することか必要である。
第2図はこのような検査に用いるデユーティ比測定回路
である。
である。
ホール素子12から出力するパルス信号は、反転増幅器
13を介して積分回路14に供給される。
13を介して積分回路14に供給される。
積分回路14は、抵抗とキャパシタによって構成され、
出力点Aに積分信号を発生する。また、ホル素子12の
出力信号は、2つの反転増幅器16.17を介して他の
積分回路18に印加される6積分回路18の積分信号は
、出力点Bに形成される。なお、反転増幅器13と2つ
の反転増幅器16.17との増幅率は等しいものとする
9、図中下部に示すように、ホール素子12の出力パル
ス信号のローレベルの時間長がTaであり、ハイレベル
の時間長かTbであり、パルス高がVCCであるとする
。A点の電圧は、1周期中のローレベルの時間長に比例
し、 vcc−Ta / (Ta+Tb ) に比例する。
出力点Aに積分信号を発生する。また、ホル素子12の
出力信号は、2つの反転増幅器16.17を介して他の
積分回路18に印加される6積分回路18の積分信号は
、出力点Bに形成される。なお、反転増幅器13と2つ
の反転増幅器16.17との増幅率は等しいものとする
9、図中下部に示すように、ホール素子12の出力パル
ス信号のローレベルの時間長がTaであり、ハイレベル
の時間長かTbであり、パルス高がVCCであるとする
。A点の電圧は、1周期中のローレベルの時間長に比例
し、 vcc−Ta / (Ta+Tb ) に比例する。
また、B点の積分信号は、1周期中のハイレベルの時間
長Tbに比例し、 vcc−Tb/ (Ta+Tb ) に比例する。これらの積分信号は、入力抵抗を介してオ
ペアンプ13の7入力端子と一入力端子に印加される。
長Tbに比例し、 vcc−Tb/ (Ta+Tb ) に比例する。これらの積分信号は、入力抵抗を介してオ
ペアンプ13の7入力端子と一入力端子に印加される。
オペアンプ15の出力端子16に形成される電圧は1
、八 v ・ VcCNTa Tb)/(Ta
+Tb))に比例する。ここでAvはオペアンプ】5の
アンプゲインである。
+Tb))に比例する。ここでAvはオペアンプ】5の
アンプゲインである。
すなわち、デューティ比(Ta Tb)/(TaTb
)に比例した出力が得られる。
)に比例した出力が得られる。
二のように、簡単な回路構成て、パルス信号のデユーテ
ィ比を自動的に測定することができる。
ィ比を自動的に測定することができる。
以上、実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこ
れらに制限されるものではない。たとえば、種々の変更
、改良、組み合わせ等か可能なことは、当業者に自明で
あろう。
れらに制限されるものではない。たとえば、種々の変更
、改良、組み合わせ等か可能なことは、当業者に自明で
あろう。
こ発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、簡単な回路構成
でパルス信号のデューティ比を自動的に正確に測定する
ことができる。
でパルス信号のデューティ比を自動的に正確に測定する
ことができる。
第1図は、本発明の実施例によるパルス信号のデューテ
ィ比測定回路の回路図、 第2図は、本発明の他の実施例によるパルス信号のデユ
ーティ比測定回路の回路図である。 し VCC Ta Tb パルス信号のハイレベル パルス信号のローレベル パルス高 ローし・ベルの時間長 ハイレベルの時間長 図において、 3.6 つ 13、16 17 A、 B 入力端子 増幅器 積分回路 反転増幅器 オペアンプ 出力端子 DCブラシレスモータ ホール素子 反転増幅器 積分回路 オペアンプ 出力端子 積分信号出力点 特許出願人 日本電産株式会社
ィ比測定回路の回路図、 第2図は、本発明の他の実施例によるパルス信号のデユ
ーティ比測定回路の回路図である。 し VCC Ta Tb パルス信号のハイレベル パルス信号のローレベル パルス高 ローし・ベルの時間長 ハイレベルの時間長 図において、 3.6 つ 13、16 17 A、 B 入力端子 増幅器 積分回路 反転増幅器 オペアンプ 出力端子 DCブラシレスモータ ホール素子 反転増幅器 積分回路 オペアンプ 出力端子 積分信号出力点 特許出願人 日本電産株式会社
Claims (1)
- (1)、デューティ比を測定すべきパルス信号の入力端
子と、 前記入力端子に接続され、入力するパルス信号の積分信
号を形成する積分回路と、 前記入力端子に接続され、入力するパルス信号の反転信
号の積分信号を形成する反転積分回路と、 前記積分回路と前記反転積分回路に接続され、両積分信
号からデューティ比を表す信号を形成するデューティ比
出力回路と を含むデューティ比測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10817890A JPH046479A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | デューティ比測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10817890A JPH046479A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | デューティ比測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH046479A true JPH046479A (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=14477973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10817890A Pending JPH046479A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | デューティ比測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH046479A (ja) |
-
1990
- 1990-04-24 JP JP10817890A patent/JPH046479A/ja active Pending
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