JPH046503A - 光学干渉膜 - Google Patents
光学干渉膜Info
- Publication number
- JPH046503A JPH046503A JP2108207A JP10820790A JPH046503A JP H046503 A JPH046503 A JP H046503A JP 2108207 A JP2108207 A JP 2108207A JP 10820790 A JP10820790 A JP 10820790A JP H046503 A JPH046503 A JP H046503A
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- JP
- Japan
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- film
- layer
- optical interference
- silicon nitride
- nitride film
- Prior art date
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- Optical Filters (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、レンズや光学窓などの光学部品に用いられ
る基板材料の表面におけるフレネル反射を低減する反射
防止膜など、所望の光学特性を得るために基板材料の表
面上に形成される光学干渉膜に関するものである。
る基板材料の表面におけるフレネル反射を低減する反射
防止膜など、所望の光学特性を得るために基板材料の表
面上に形成される光学干渉膜に関するものである。
[従来の技術]
従来、この種の光学干渉膜としては第7図に示すような
ものがあった。
ものがあった。
第7図はプロシーディング5PIE381゜1983年
、P177〜182に示された反射防止膜の構成を示す
断面図である。図において。
、P177〜182に示された反射防止膜の構成を示す
断面図である。図において。
(1)はゲルマニウムからなる基板、(2)は硫化亜鉛
層(21)、ゲルマニウム層(22)、および、ダイヤ
モンドライクカーボン層(23)からなる反射防止膜、
(3)はダイヤモンドライクカーボン層(23)の最外
層、(4)は空気である。
層(21)、ゲルマニウム層(22)、および、ダイヤ
モンドライクカーボン層(23)からなる反射防止膜、
(3)はダイヤモンドライクカーボン層(23)の最外
層、(4)は空気である。
反射防止膜(2)は、低屈折率層である硫化亜鉛層(2
1)と高屈折率層であるゲルマニウム層(22)が交互
に積層されており、最外層(3)は硫化亜鉛層(21)
がダイヤモンドライクカーボン層(23)に置き換わっ
た構造をしている。
1)と高屈折率層であるゲルマニウム層(22)が交互
に積層されており、最外層(3)は硫化亜鉛層(21)
がダイヤモンドライクカーボン層(23)に置き換わっ
た構造をしている。
各層の厚さは、空気(4)と最外層(3)の間、各層間
、基板(1)と反射防止膜(2)の間の各境界面におけ
る反射光が互いに干渉しあって、第8図に示す残留反射
率の波長依存性のように広い波長範囲にわたってゲルマ
ニウム基板(1)の表面における反射を抑制するように
設定されており、波長範囲8〜13μmにおいて5%以
下の低残留反射が得られている。
、基板(1)と反射防止膜(2)の間の各境界面におけ
る反射光が互いに干渉しあって、第8図に示す残留反射
率の波長依存性のように広い波長範囲にわたってゲルマ
ニウム基板(1)の表面における反射を抑制するように
設定されており、波長範囲8〜13μmにおいて5%以
下の低残留反射が得られている。
また、最外層(3)に用いられているダイヤモンドライ
フカ−ボン層(23)はヌープ硬度が2000〜300
0 kg/ mm2と高硬度を有しているので。
フカ−ボン層(23)はヌープ硬度が2000〜300
0 kg/ mm2と高硬度を有しているので。
この反射防止膜には耐磨耗性など耐久性に優れている。
なお、上記の反射防止膜(2)の各層の厚さを約1/2
.5にすると波長範囲3〜5μmにおいても上記と同様
の低残留反射が得られる。
.5にすると波長範囲3〜5μmにおいても上記と同様
の低残留反射が得られる。
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来の光学干渉膜では耐久性の向上を図る
ため最外層(3)をダイヤモンドライクカーボン層(2
3)としているが、このダイヤモンドライクカーボン膜
は第9図に示す透過特性のように、波長範囲3〜5μm
あるいは波長範囲8〜O13μmにおいて正常な曲線か
ら落ち込んでおり、これらの波長範囲に吸収があるため
、上記波長範囲で使用する赤外光学系のレンズや光学窓
に適用した場合には吸収によって信号光が損失するとい
う問題点があった。
ため最外層(3)をダイヤモンドライクカーボン層(2
3)としているが、このダイヤモンドライクカーボン膜
は第9図に示す透過特性のように、波長範囲3〜5μm
あるいは波長範囲8〜O13μmにおいて正常な曲線か
ら落ち込んでおり、これらの波長範囲に吸収があるため
、上記波長範囲で使用する赤外光学系のレンズや光学窓
に適用した場合には吸収によって信号光が損失するとい
う問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
のであり、波長範囲3〜5μmの赤外光学系のレンズや
光学窓などに適用できる。吸収による信号光の損失のな
い、耐磨耗性など耐久性に優れた光学干渉膜を得ること
を目的とする。
のであり、波長範囲3〜5μmの赤外光学系のレンズや
光学窓などに適用できる。吸収による信号光の損失のな
い、耐磨耗性など耐久性に優れた光学干渉膜を得ること
を目的とする。
[課題を解決するための手段1
この発明に係わる光学干渉膜は、赤外透過材料の表面上
に形成された光学干渉膜において、少なくとも一部分に
窒化シリコン膜、窒化ボロン膜。
に形成された光学干渉膜において、少なくとも一部分に
窒化シリコン膜、窒化ボロン膜。
あるいは、窒化アルミニウム膜を設けたものである。
[作用]
上記のように構成された光学干渉膜においては、窒化シ
リコン膜、窒化ボロン膜、あるいは。
リコン膜、窒化ボロン膜、あるいは。
窒化アルミニウム膜が高い硬度を有するとともに波長範
囲3〜5μmにおける吸収がないため、信号光の損失と
ならずに耐磨耗性など耐久性を発揮する。
囲3〜5μmにおける吸収がないため、信号光の損失と
ならずに耐磨耗性など耐久性を発揮する。
[実施例]
第1図はこの発明の光学干渉膜の一実施例の構成を示す
断面図である。図において、(1)はゲルマニウムから
なる基板、(2)は硫化亜鉛層(21)。
断面図である。図において、(1)はゲルマニウムから
なる基板、(2)は硫化亜鉛層(21)。
ゲルマニウム層(22)、および、窒化シリコン層(2
4)からなる反射防止膜、(3)は窒化シリコン層(2
4)の最外層、(4)は空気である。
4)からなる反射防止膜、(3)は窒化シリコン層(2
4)の最外層、(4)は空気である。
反射防止膜(2)は、低屈折率である硫化亜鉛層(21
)と高屈折率層であるゲルマニウム層(22)が交互に
積層されており、最外層(3)の硫化亜鉛層(21)が
窒化シリコン層(24)に置き換わった構造をしている
。
)と高屈折率層であるゲルマニウム層(22)が交互に
積層されており、最外層(3)の硫化亜鉛層(21)が
窒化シリコン層(24)に置き換わった構造をしている
。
各層の厚さは、第7図に示した従来の反射防止膜と同様
、空気(4)と最外層(3)の間、各層間。
、空気(4)と最外層(3)の間、各層間。
基板(1)と反射防止膜(2)の間の各境界面における
反射光が互いに干渉しあって、所定の波長範囲にわたっ
て基板(1)の表面における反射を抑制するように設定
されている。
反射光が互いに干渉しあって、所定の波長範囲にわたっ
て基板(1)の表面における反射を抑制するように設定
されている。
第2図は上記のように設定された第1図に示したこの発
明による反射防止膜の一例の各層の厚さを示す図である
。第2図に示すように設定した時の反射防止膜の残留反
射率の波長依存性を第3図に示す。残留反射率は波長範
囲3〜5μmにおいて5%以下であり、この反射防止膜
により波長範囲3〜5μmわたって基板(1)の表面に
おける反射が良好に抑制できることがわかる。
明による反射防止膜の一例の各層の厚さを示す図である
。第2図に示すように設定した時の反射防止膜の残留反
射率の波長依存性を第3図に示す。残留反射率は波長範
囲3〜5μmにおいて5%以下であり、この反射防止膜
により波長範囲3〜5μmわたって基板(1)の表面に
おける反射が良好に抑制できることがわかる。
また、第4図は真空、第32巻、第1号、P14〜19
に示されている窒化シリコン膜の赤外領域における透過
特性である。これは、シリコン・基板両面に反応性イオ
ンビームスパッタリング法で成膜したものである。波長
10μm以下の赤外光に高い透過性を示しており、波長
範囲3〜5μmにおいては本質的な吸収がない、。さら
に。
に示されている窒化シリコン膜の赤外領域における透過
特性である。これは、シリコン・基板両面に反応性イオ
ンビームスパッタリング法で成膜したものである。波長
10μm以下の赤外光に高い透過性を示しており、波長
範囲3〜5μmにおいては本質的な吸収がない、。さら
に。
窒化シリコン(化学記号:5i3N4)はヌープ硬度が
2500〜,3000kg/nun2と硬質材料である
。
2500〜,3000kg/nun2と硬質材料である
。
従って、窒化シリコン層(24)を最外層(3)に用い
ているこの発明による反射防止膜を波長範囲3〜5μm
帯の赤外光学系のレンズや光学窓に適用すれば、信号光
に対して吸収損失のない、耐磨耗性など耐久性に優れた
反射防止膜を形成できる。
ているこの発明による反射防止膜を波長範囲3〜5μm
帯の赤外光学系のレンズや光学窓に適用すれば、信号光
に対して吸収損失のない、耐磨耗性など耐久性に優れた
反射防止膜を形成できる。
なお、上記実施例では反射防止膜(2)の最外層(3)
に窒化シリコン層(24)を用いた場合について説明し
たが、窒化シリコン以外にも、ヌープ硬度が4500
kg/ mm2である窒化ボロン(化学記号:BN)や
、ヌープ硬度が1000〜1500kg/mm2である
窒化アルミニウム(化学記号:AIN)のような高硬度
を有する材料を上記反射防止膜(2)の最外層(3)に
用いることができる。
に窒化シリコン層(24)を用いた場合について説明し
たが、窒化シリコン以外にも、ヌープ硬度が4500
kg/ mm2である窒化ボロン(化学記号:BN)や
、ヌープ硬度が1000〜1500kg/mm2である
窒化アルミニウム(化学記号:AIN)のような高硬度
を有する材料を上記反射防止膜(2)の最外層(3)に
用いることができる。
次(乙窒化ポロン膜および窒化アルミニウム膜の赤外領
域における透過特性について示す。
域における透過特性について示す。
第5図は真空、第31巻、第12号、P968〜976
に示されている窒化ボロン膜の赤外領域における透過特
性である。これは、シリコン基板に反応性イオンブレー
ティング法で成膜したものである。上記透過性において
波長6μm以下では顕著な吸収は見られず、波長範囲3
〜5μm帯でほぼ良好な透過特性を示している。
に示されている窒化ボロン膜の赤外領域における透過特
性である。これは、シリコン基板に反応性イオンブレー
ティング法で成膜したものである。上記透過性において
波長6μm以下では顕著な吸収は見られず、波長範囲3
〜5μm帯でほぼ良好な透過特性を示している。
第6図は、第50回応物予稿集27p−G−8に示され
ている窒化アルミニウム膜の赤外領域における透過特性
である。これは、プラズマCVD法で成膜したものであ
る。上記透過特性において波長10μm以下では顕著な
吸収は見られず、波長範囲3〜5μm帯でほぼ良好な透
過特性を示している。
ている窒化アルミニウム膜の赤外領域における透過特性
である。これは、プラズマCVD法で成膜したものであ
る。上記透過特性において波長10μm以下では顕著な
吸収は見られず、波長範囲3〜5μm帯でほぼ良好な透
過特性を示している。
従って、窒化シリコン層(24)にかえて窒化ボロン層
あるいは窒化アルミニウム層を最外層(3)に用いた反
射防止膜を波長範囲3〜5μm帯の赤外光学系のレンズ
や光学窓に適用しても、信号光に対して吸収損失のない
、耐磨耗性など耐久性に優れた反射防止膜を形成できる
。
あるいは窒化アルミニウム層を最外層(3)に用いた反
射防止膜を波長範囲3〜5μm帯の赤外光学系のレンズ
や光学窓に適用しても、信号光に対して吸収損失のない
、耐磨耗性など耐久性に優れた反射防止膜を形成できる
。
なお、上記実施例においては、窒化シリコン層、窒化ボ
ロン層、あるいは、窒化アルミニウム層を最外層(3)
に−要用いた反射防止膜を示したが、この−層に限らず
その他の硫化亜鉛層(21)窒化シリコン層に置き換え
た構造としても良い。また、窒化シリコン膜、窒化ボロ
ン膜、あるいは。
ロン層、あるいは、窒化アルミニウム層を最外層(3)
に−要用いた反射防止膜を示したが、この−層に限らず
その他の硫化亜鉛層(21)窒化シリコン層に置き換え
た構造としても良い。また、窒化シリコン膜、窒化ボロ
ン膜、あるいは。
窒化アルミニウム膜は一層全面に設けた場合を示したが
、所定の部分のみに設けても良い。
、所定の部分のみに設けても良い。
ところで1以上の説明では、この発明をゲルマニウム基
板用3〜5μm帯反射防止膜に適用する場合について述
べたが、波長範囲3〜5μm帯の赤外光学系用の光学部
品に用いられるシリコン。
板用3〜5μm帯反射防止膜に適用する場合について述
べたが、波長範囲3〜5μm帯の赤外光学系用の光学部
品に用いられるシリコン。
硫化亜鉛、硫化セレン、あるいは、フッ化マグネシウム
などの赤外透過材料用の反射防止膜にも適用できること
は言うまでもなく、さらに、ロングパスフィルタやショ
ートバスフィルタやバンドパスフィルタなどの各種光学
干渉膜にも適用でき。
などの赤外透過材料用の反射防止膜にも適用できること
は言うまでもなく、さらに、ロングパスフィルタやショ
ートバスフィルタやバンドパスフィルタなどの各種光学
干渉膜にも適用でき。
上記同様の効果を奏する。
なお、上記の窒化シリコン膜、窒化ボロン膜。
あるいは、窒化アルミニウム膜は耐湿性にも優れており
、潮解性の基板の溶解防止や光学干渉膜の特性の安定化
にも効果を奏する。
、潮解性の基板の溶解防止や光学干渉膜の特性の安定化
にも効果を奏する。
F発明の効果コ
以上のようにこの発明によれば、赤外透過材料の表面上
に形成された光学干渉膜において、少な(とも一部分に
窒化シリコン膜、窒化ボロン膜。
に形成された光学干渉膜において、少な(とも一部分に
窒化シリコン膜、窒化ボロン膜。
あるいは、窒化アルミニウム膜を設けたので、波長範囲
3〜5μm帯の光に対して吸収損失のない、耐磨耗性な
ど耐久性に優れた光学干渉膜を形成できるという効果が
ある。
3〜5μm帯の光に対して吸収損失のない、耐磨耗性な
ど耐久性に優れた光学干渉膜を形成できるという効果が
ある。
第1図はこの発明の光学干渉膜の一実施例の構成を示す
断面図、第2図はこの発明による反射防止膜の一例の各
層の厚さを示す図、第3図はこの発明の一実施例の反射
防止膜の残留反射率の波長依存性を示す特性図、第4図
は窒化シリコン膜の赤外領域における透過特性を示す特
性図、第5図は窒化ボロン膜の赤外領域における透過特
性を示す特性図、第6図は窒化アルミニウム膜の赤外領
域における透過特性を示す特性図、第7図は従来のゲル
マニウム用反射防止膜の構成を示す断面図、第8図は従
来のゲルマニウム用反射防止膜の残留反射率の波長依存
性を示す特性図、第9図はダイヤモンドライクカーボン
膜の透過特性を示す特性図である。 図において、(1)は基板、(2)は反射防止膜。 (3)は最外層、(4)は空気、 (21)は硫化亜鉛
層。 (22)はゲルマニウム層は、 (23)はダイヤモン
ドライクカーボン層、 (24)は窒化シリコン層であ
る。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
断面図、第2図はこの発明による反射防止膜の一例の各
層の厚さを示す図、第3図はこの発明の一実施例の反射
防止膜の残留反射率の波長依存性を示す特性図、第4図
は窒化シリコン膜の赤外領域における透過特性を示す特
性図、第5図は窒化ボロン膜の赤外領域における透過特
性を示す特性図、第6図は窒化アルミニウム膜の赤外領
域における透過特性を示す特性図、第7図は従来のゲル
マニウム用反射防止膜の構成を示す断面図、第8図は従
来のゲルマニウム用反射防止膜の残留反射率の波長依存
性を示す特性図、第9図はダイヤモンドライクカーボン
膜の透過特性を示す特性図である。 図において、(1)は基板、(2)は反射防止膜。 (3)は最外層、(4)は空気、 (21)は硫化亜鉛
層。 (22)はゲルマニウム層は、 (23)はダイヤモン
ドライクカーボン層、 (24)は窒化シリコン層であ
る。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 赤外透過材料の表面上に形成された光学干渉膜において
、少なくとも一部分に窒化シリコン膜、窒化ボロン膜、
あるいは、窒化アルミニウム膜を設けたことを特徴する
光学干渉膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2108207A JPH046503A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | 光学干渉膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2108207A JPH046503A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | 光学干渉膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH046503A true JPH046503A (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=14478736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2108207A Pending JPH046503A (ja) | 1990-04-24 | 1990-04-24 | 光学干渉膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH046503A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010169918A (ja) * | 2009-01-23 | 2010-08-05 | Alps Electric Co Ltd | 光学素子アレイ及びその製造方法 |
| WO2020153046A1 (ja) * | 2019-01-22 | 2020-07-30 | 三菱電機株式会社 | 光学部品およびレーザ加工機 |
-
1990
- 1990-04-24 JP JP2108207A patent/JPH046503A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010169918A (ja) * | 2009-01-23 | 2010-08-05 | Alps Electric Co Ltd | 光学素子アレイ及びその製造方法 |
| WO2020153046A1 (ja) * | 2019-01-22 | 2020-07-30 | 三菱電機株式会社 | 光学部品およびレーザ加工機 |
| TWI732427B (zh) * | 2019-01-22 | 2021-07-01 | 日商三菱電機股份有限公司 | 光學構件及雷射加工機 |
| JPWO2020153046A1 (ja) * | 2019-01-22 | 2021-11-04 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工機用保護窓およびレーザ加工機 |
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