JPH08334543A - 耐電圧試験装置 - Google Patents
耐電圧試験装置Info
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- JPH08334543A JPH08334543A JP14015595A JP14015595A JPH08334543A JP H08334543 A JPH08334543 A JP H08334543A JP 14015595 A JP14015595 A JP 14015595A JP 14015595 A JP14015595 A JP 14015595A JP H08334543 A JPH08334543 A JP H08334543A
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 コロナ発生量を的確に検出する。
【構成】 被試験体２に印加される試験電圧に基づき該
被試験体２に発生するコロナ電圧を検出する耐電圧試験
装置において、被試験体２の端子間に発生した電圧をデ
ジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換手段３と、該Ａ／Ｄ
変換手段３で変換したデジタルデータから試験電圧に重
畳されたコロナ量を抽出するコロナ量抽出手段４とを備
え、さらに、コロナ量抽出手段４は、試験電圧の各周期
で差を計算してコロナ量と定義し、その最大値をコロナ
電圧の最大値として検出し、或いはコロナ電圧の最大値
を検出し該最大値と試験電圧との比を求める。この構成
により、コロナ発生量を的確に検出することができ、耐
電圧不良の判定を正確に行うことができる。
被試験体２に発生するコロナ電圧を検出する耐電圧試験
装置において、被試験体２の端子間に発生した電圧をデ
ジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換手段３と、該Ａ／Ｄ
変換手段３で変換したデジタルデータから試験電圧に重
畳されたコロナ量を抽出するコロナ量抽出手段４とを備
え、さらに、コロナ量抽出手段４は、試験電圧の各周期
で差を計算してコロナ量と定義し、その最大値をコロナ
電圧の最大値として検出し、或いはコロナ電圧の最大値
を検出し該最大値と試験電圧との比を求める。この構成
により、コロナ発生量を的確に検出することができ、耐
電圧不良の判定を正確に行うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験電源から被試験体
に試験電圧を印加して被試験体に発生するコロナ電圧を
検出する耐電圧試験装置に関する。
に試験電圧を印加して被試験体に発生するコロナ電圧を
検出する耐電圧試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５及び図６は従来の層間耐電圧試験装
置の回路構成を示す図、図７はコロナの発生を説明する
ためのモデル回路を示す図である。従来、トランスやチ
ョークコイル等を被試験体としてその層間耐電圧を試験
する場合には、例えば図５に示すように高圧出力トラン
スＴから被試験体Ｓの層間に高電圧を印加し、その両端
からハイパスフィルタＦを通してブラウン管Ｖによりコ
ロナ電圧を検出している。また、被試験体のインピーダ
ンスが小さい場合には、例えば図６に示すようにコンデ
ンサＣに試験電圧を予め充電しておき、スイッチＫを閉
じることにより被試験体Ｓにインパルス電圧を印加して
電圧波形をブラウン管等で目視或いはこれに準ずる方法
で観測し、良品の電圧波形との比較により被試験体の良
否を判定している。例えば被試験体Ｓがフラッシュオー
バして完全に短絡状態に至るメカニズムを考察すると、
絶縁体のモデルとしては図７に示すように被試験体を微
小間隙の複数個のコンデンサＣ1 〜Ｃn の直列接続回路
からなる。したがって、その両端に高電圧が印加される
と、直列接続されたコンデンサの１乃至複数個における
局部的な耐圧不良ではコロナが散発的に発生するように
なる。しかし、コンデンサの全部が耐圧不良になればフ
ラッシュオーバとなり、完全に耐電圧不良となる。
置の回路構成を示す図、図７はコロナの発生を説明する
ためのモデル回路を示す図である。従来、トランスやチ
ョークコイル等を被試験体としてその層間耐電圧を試験
する場合には、例えば図５に示すように高圧出力トラン
スＴから被試験体Ｓの層間に高電圧を印加し、その両端
からハイパスフィルタＦを通してブラウン管Ｖによりコ
ロナ電圧を検出している。また、被試験体のインピーダ
ンスが小さい場合には、例えば図６に示すようにコンデ
ンサＣに試験電圧を予め充電しておき、スイッチＫを閉
じることにより被試験体Ｓにインパルス電圧を印加して
電圧波形をブラウン管等で目視或いはこれに準ずる方法
で観測し、良品の電圧波形との比較により被試験体の良
否を判定している。例えば被試験体Ｓがフラッシュオー
バして完全に短絡状態に至るメカニズムを考察すると、
絶縁体のモデルとしては図７に示すように被試験体を微
小間隙の複数個のコンデンサＣ1 〜Ｃn の直列接続回路
からなる。したがって、その両端に高電圧が印加される
と、直列接続されたコンデンサの１乃至複数個における
局部的な耐圧不良ではコロナが散発的に発生するように
なる。しかし、コンデンサの全部が耐圧不良になればフ
ラッシュオーバとなり、完全に耐電圧不良となる。
【０００３】このようにコロナは、被試験体Ｓの絶縁体
がフラッシュオーバして完全に短絡状態になる手前の電
圧で発生するものであり、耐電圧不良になる前兆であ
る。そのため、耐電圧試験では、このコロナの発生を確
実に検出することが極めて重要であり、的確な評価方法
の確立が要求されている。
がフラッシュオーバして完全に短絡状態になる手前の電
圧で発生するものであり、耐電圧不良になる前兆であ
る。そのため、耐電圧試験では、このコロナの発生を確
実に検出することが極めて重要であり、的確な評価方法
の確立が要求されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の耐電圧
試験装置では、ブラウン管等で目視或いはこれに準ずる
方法で散発的なコロナの発生を正確に検出するのは困難
であり、そのコロナの発生量や程度の評価を的確に行え
ないという問題があった。
試験装置では、ブラウン管等で目視或いはこれに準ずる
方法で散発的なコロナの発生を正確に検出するのは困難
であり、そのコロナの発生量や程度の評価を的確に行え
ないという問題があった。
【０００５】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、コロナ発生量を的確に検出することができる耐電
圧試験装置を提供することを目的とするものである。
って、コロナ発生量を的確に検出することができる耐電
圧試験装置を提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、被
試験体に印加される試験電圧に基づき該被試験体に発生
するコロナ電圧を検出する耐電圧試験装置において、被
試験体の端子間に発生した電圧をデジタルデータに変換
するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段で変換したデ
ジタルデータから試験電圧に重畳されたコロナ量を抽出
するコロナ量抽出手段とを備えたことを特徴とし、さら
に、コロナ量抽出手段は、試験電圧の各周期で差を計算
してコロナ量と定義し、その最大値をコロナ電圧の最大
値として検出し、或いはコロナ電圧の最大値を検出し該
最大値と試験電圧との比を求めることを特徴とするもの
である。
試験体に印加される試験電圧に基づき該被試験体に発生
するコロナ電圧を検出する耐電圧試験装置において、被
試験体の端子間に発生した電圧をデジタルデータに変換
するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段で変換したデ
ジタルデータから試験電圧に重畳されたコロナ量を抽出
するコロナ量抽出手段とを備えたことを特徴とし、さら
に、コロナ量抽出手段は、試験電圧の各周期で差を計算
してコロナ量と定義し、その最大値をコロナ電圧の最大
値として検出し、或いはコロナ電圧の最大値を検出し該
最大値と試験電圧との比を求めることを特徴とするもの
である。
【０００７】
【作用】本発明の耐電圧試験装置では、被試験体の端子
間に発生した電圧をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変
換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段で変換したデジタルデータ
から試験電圧に重畳されたコロナ電圧の最大値を検出す
ることによって、コロナ発生量を的確に検出することが
でき、耐電圧不良の判定を正確に行うことができる。
間に発生した電圧をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変
換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段で変換したデジタルデータ
から試験電圧に重畳されたコロナ電圧の最大値を検出す
ることによって、コロナ発生量を的確に検出することが
でき、耐電圧不良の判定を正確に行うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説
明する。図１は本発明に係る耐電圧試験装置の１実施例
を示す図、図２は試験電圧とコロナ電圧が重畳された電
圧波形の例を示す図、図３はコロナ量の求め方を説明す
るための図である。図中、１は試験電源、２は被試験
体、３はＡ／Ｄコンバータ、４はデータ処理装置、５は
入力装置、６は表示装置、７はプリンタ、８は外部入出
力装置を示す。
明する。図１は本発明に係る耐電圧試験装置の１実施例
を示す図、図２は試験電圧とコロナ電圧が重畳された電
圧波形の例を示す図、図３はコロナ量の求め方を説明す
るための図である。図中、１は試験電源、２は被試験
体、３はＡ／Ｄコンバータ、４はデータ処理装置、５は
入力装置、６は表示装置、７はプリンタ、８は外部入出
力装置を示す。
【０００９】図１において、試験電源１は、試験電圧を
被試験体２に印加するものであり、Ａ／Ｄコンバータ３
は、被試験体２の端子間で観測される波形をデジタルデ
ータに変換するものである。データ処理装置４は、Ａ／
Ｄコンバータ３で変換したデジタルデータから印加され
た電圧とコロナ電圧の最大値とを検出し、試験電圧とコ
ロナ電圧との比を求めて耐電圧不良の判定を行うもので
ある。入力装置５は、データ処理装置４に対して指令や
耐電圧不良の判定を行うために基準値（閾値）の設定値
の入力等を行うものである。表示装置６及びプリンタ７
は、入力装置５の入力情報やデータ処理装置４の判定情
報その他の処理情報を表示或いはプリント出力するもの
である。外部入出力装置８は、データ処理装置４の入力
情報、判定情報、その他の処理情報を外部と入出力する
ものである。
被試験体２に印加するものであり、Ａ／Ｄコンバータ３
は、被試験体２の端子間で観測される波形をデジタルデ
ータに変換するものである。データ処理装置４は、Ａ／
Ｄコンバータ３で変換したデジタルデータから印加され
た電圧とコロナ電圧の最大値とを検出し、試験電圧とコ
ロナ電圧との比を求めて耐電圧不良の判定を行うもので
ある。入力装置５は、データ処理装置４に対して指令や
耐電圧不良の判定を行うために基準値（閾値）の設定値
の入力等を行うものである。表示装置６及びプリンタ７
は、入力装置５の入力情報やデータ処理装置４の判定情
報その他の処理情報を表示或いはプリント出力するもの
である。外部入出力装置８は、データ処理装置４の入力
情報、判定情報、その他の処理情報を外部と入出力する
ものである。
【００１０】上記構成の耐電圧試験装置において、被試
験体２の端子間、つまりＡ／Ｄコンバータ３の入力で観
測される波形は、試験電圧が正弦波であれば図２
（ａ）、パルス電圧であれば図２（ｂ）、直流であれば
図２（ｃ）のようなものであり、試験電圧と発生したコ
ロナ電圧が重畳されている。このコロナ電圧は、ランダ
ムに発生するので、１周期（Ｔ1 、Ｔ2 、……）毎に波
形を対応させて差を求めると、発生したコロナ電圧に比
例した電圧を取り出すことができる。したがって、Ａ／
Ｄコンバータ３で高速にデジタルデータに変換して、こ
れをデータ処理装置４でメモリに記録し、その周期と前
の周期と差を逐次計算すると、コロナ電圧を取り出すこ
とができる。そこで、このコロナ電圧の最大値と試験電
圧との比をコロナ量としてこれを表示、或いはプリント
出力し、さらに、基準値（閾値）より大きいか否かによ
り耐電圧不良の判定を行うことができる。
験体２の端子間、つまりＡ／Ｄコンバータ３の入力で観
測される波形は、試験電圧が正弦波であれば図２
（ａ）、パルス電圧であれば図２（ｂ）、直流であれば
図２（ｃ）のようなものであり、試験電圧と発生したコ
ロナ電圧が重畳されている。このコロナ電圧は、ランダ
ムに発生するので、１周期（Ｔ1 、Ｔ2 、……）毎に波
形を対応させて差を求めると、発生したコロナ電圧に比
例した電圧を取り出すことができる。したがって、Ａ／
Ｄコンバータ３で高速にデジタルデータに変換して、こ
れをデータ処理装置４でメモリに記録し、その周期と前
の周期と差を逐次計算すると、コロナ電圧を取り出すこ
とができる。そこで、このコロナ電圧の最大値と試験電
圧との比をコロナ量としてこれを表示、或いはプリント
出力し、さらに、基準値（閾値）より大きいか否かによ
り耐電圧不良の判定を行うことができる。
【００１１】コロナ量としては、図３（ａ）に示すよう
に試験電圧の最大値Ａとコロナ電圧の最大値Ｂとの比＝
Ｂ／Ａを求め、これを出力し周期毎に更新してもよい
が、図３（ｂ）に示すように試験電圧とコロナ電圧が重
畳された電圧の最大値Ａ′とコロナ電圧の最大値Ｂとの
比でもよいし、最大値ではなく、平均値や実効値を用い
てもよい。また、複数周期の波形を平均化することによ
ってスムージング処理を行い、ランダムなコロナ成分を
低減させ、この波形を基準に各波形の差をとってコロナ
成分の抽出を行うようにしてもよい。
に試験電圧の最大値Ａとコロナ電圧の最大値Ｂとの比＝
Ｂ／Ａを求め、これを出力し周期毎に更新してもよい
が、図３（ｂ）に示すように試験電圧とコロナ電圧が重
畳された電圧の最大値Ａ′とコロナ電圧の最大値Ｂとの
比でもよいし、最大値ではなく、平均値や実効値を用い
てもよい。また、複数周期の波形を平均化することによ
ってスムージング処理を行い、ランダムなコロナ成分を
低減させ、この波形を基準に各波形の差をとってコロナ
成分の抽出を行うようにしてもよい。
【００１２】図４は本発明に係る耐電圧試験装置に接続
される試験電源を示す図であり、図１に示す試験電源１
としては、例えば図４（ａ）〜（ｃ）に示すように外部
から交流やパルス、直流の試験電圧を直接印加する場合
と、図４（ｄ）に示すように被試験体がインダクタＬで
あればスイッチＫをオフにしたときに発生する逆起電力
を利用して被試験体自身から試験電圧を発生させる場合
がある。被試験体に印加する試験電圧は、正弦波であっ
ても、単発のパルスであってもよいが、単発のパルスの
場合には、複数回にわたって単発のパルス電圧を発生し
なければならない。勿論、直流であってもよい。
される試験電源を示す図であり、図１に示す試験電源１
としては、例えば図４（ａ）〜（ｃ）に示すように外部
から交流やパルス、直流の試験電圧を直接印加する場合
と、図４（ｄ）に示すように被試験体がインダクタＬで
あればスイッチＫをオフにしたときに発生する逆起電力
を利用して被試験体自身から試験電圧を発生させる場合
がある。被試験体に印加する試験電圧は、正弦波であっ
ても、単発のパルスであってもよいが、単発のパルスの
場合には、複数回にわたって単発のパルス電圧を発生し
なければならない。勿論、直流であってもよい。
【００１３】なお、本発明は、上記の実施例に限定され
るものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記
の実施例では、コロナ電圧の最大値と試験電圧との比を
コロナ量としてとらえ、表示及び良否の判定を行うよう
にしたが、コロナ電圧の最大値だけでなく、コロナ電圧
を積算した平均値等を採用してもよいことはいうまでも
ない。
るものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記
の実施例では、コロナ電圧の最大値と試験電圧との比を
コロナ量としてとらえ、表示及び良否の判定を行うよう
にしたが、コロナ電圧の最大値だけでなく、コロナ電圧
を積算した平均値等を採用してもよいことはいうまでも
ない。
【００１４】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、試験電圧を印加した被試験体の端子からＡ／
Ｄ変換器を通して電圧を観測データとして取り出してデ
ータ処理装置で保持し、データ処理装置により複数個の
繰り返し電圧印加により得られる観測データ間の差を求
めるので、この差によって試験電圧の波形に制限がなく
試験電圧を除いたコロナ電圧を検出することができる。
また、コロナ電圧の最大値と試験電圧との比をコロナ量
とし、これを表示、或いはプリント出力し、さらに、基
準値（閾値）にり大きいか否かにより耐電圧不良の判定
を行うので、試験者からみて具体的で判りやすい耐電圧
不良の判定を行うことができる。
によれば、試験電圧を印加した被試験体の端子からＡ／
Ｄ変換器を通して電圧を観測データとして取り出してデ
ータ処理装置で保持し、データ処理装置により複数個の
繰り返し電圧印加により得られる観測データ間の差を求
めるので、この差によって試験電圧の波形に制限がなく
試験電圧を除いたコロナ電圧を検出することができる。
また、コロナ電圧の最大値と試験電圧との比をコロナ量
とし、これを表示、或いはプリント出力し、さらに、基
準値（閾値）にり大きいか否かにより耐電圧不良の判定
を行うので、試験者からみて具体的で判りやすい耐電圧
不良の判定を行うことができる。
【図１】 本発明に係る耐電圧試験装置の１実施例を示
す図である。
す図である。
【図２】 試験電圧とコロナ電圧が重畳された電圧波形
の例を示す図である。
の例を示す図である。
【図３】 コロナ量の求め方を説明するための図であ
る。
る。
【図４】 本発明に係る耐電圧試験装置に使用される試
験電源を示す図である。
験電源を示す図である。
【図５】 従来の層間耐電圧試験装置の回路構成を示す
図である。
図である。
【図６】 従来の層間耐電圧試験装置の回路構成を示す
図である。
図である。
【図７】 コロナの発生を説明するためのモデル回路を
示す図である。
示す図である。
１…試験電源、２…被試験体、３…Ａ／Ｄコンバータ、
４…データ処理装置、５…入力装置、６…表示装置、７
…プリンタ、８…外部入出力装置
４…データ処理装置、５…入力装置、６…表示装置、７
…プリンタ、８…外部入出力装置
Claims (3)
- 【請求項１】 被試験体に印加される試験電圧に基づき
該被試験体に発生するコロナ電圧を検出する耐電圧試験
装置において、被試験体の端子間に発生した電圧をデジ
タルデータに変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換
手段で変換したデジタルデータから試験電圧に重畳され
たコロナ量を抽出するコロナ量抽出手段とを備えたこと
を特徴とする耐電圧試験装置。 - 【請求項２】 コロナ量抽出手段は、試験電圧の各周期
で差を計算してコロナ量と定義し、その最大値をコロナ
電圧の最大値として検出することを特徴とする請求項１
記載の耐電圧試験装置。 - 【請求項３】 コロナ量抽出手段は、コロナ電圧の最大
値を検出し該最大値と試験電圧との比を求めることを特
徴とする請求項１記載の耐電圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015595A JPH08334543A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015595A JPH08334543A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 耐電圧試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334543A true JPH08334543A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15262154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14015595A Pending JPH08334543A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08334543A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104101822A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-10-15 | 国家电网公司 | 无线式试验变控制装置 |
-
1995
- 1995-06-07 JP JP14015595A patent/JPH08334543A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104101822A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-10-15 | 国家电网公司 | 无线式试验变控制装置 |
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