JPH0476468A - コイル試験方法とその方法に用いる装置 - Google Patents
コイル試験方法とその方法に用いる装置Info
- Publication number
- JPH0476468A JPH0476468A JP19135290A JP19135290A JPH0476468A JP H0476468 A JPH0476468 A JP H0476468A JP 19135290 A JP19135290 A JP 19135290A JP 19135290 A JP19135290 A JP 19135290A JP H0476468 A JPH0476468 A JP H0476468A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- voltage
- coil
- measured
- damped oscillating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【 産業上の利用分野 】
本発明は、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加え
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
方法と装置に関する。
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
方法と装置に関する。
従来の、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加える
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、基準コイルと被測定コイルの両方に高圧イン
パルス電圧を印加し、前記基準コイルにおいて発生した
自己減衰振動波形と被測定コイルにおいて発生した自己
減衰振動波形とを比較して当該コイルの特性を知るよう
に構成したコイル試験方法があった。 また、特願平１−２３４１１９の明細書に開示したよう
に、基準コイルの波形データを一旦メモリに記憶させ、
読みだす時に上下に所定の偏差を持った上限波形と下限
波形とを生成して、測定波形がその間に収まっているが
否かをコンパレータによって比較することもできる。
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、基準コイルと被測定コイルの両方に高圧イン
パルス電圧を印加し、前記基準コイルにおいて発生した
自己減衰振動波形と被測定コイルにおいて発生した自己
減衰振動波形とを比較して当該コイルの特性を知るよう
に構成したコイル試験方法があった。 また、特願平１−２３４１１９の明細書に開示したよう
に、基準コイルの波形データを一旦メモリに記憶させ、
読みだす時に上下に所定の偏差を持った上限波形と下限
波形とを生成して、測定波形がその間に収まっているが
否かをコンパレータによって比較することもできる。
しかし、従来の方法では、基準コイルは、多数のコイル
を順次試験する度に高圧インパルス電圧が印加されるの
で劣化しゃすくなり、多数の被測定コイルの検査の途中
で基準コイルの特性が変化して正確な測定ができないと
いう問題がある。 加えて、劣化した基準コイルを新たな別の基準コイルに
取り替えると、い（ら特性の近い別のコイルを基準コイ
ルとして選定しても若干の相違があるので、同一仕様の
コイルの測定に異なる特性の基準コイルを使用すること
になり、正確な測定ができないという問題がある。
を順次試験する度に高圧インパルス電圧が印加されるの
で劣化しゃすくなり、多数の被測定コイルの検査の途中
で基準コイルの特性が変化して正確な測定ができないと
いう問題がある。 加えて、劣化した基準コイルを新たな別の基準コイルに
取り替えると、い（ら特性の近い別のコイルを基準コイ
ルとして選定しても若干の相違があるので、同一仕様の
コイルの測定に異なる特性の基準コイルを使用すること
になり、正確な測定ができないという問題がある。
【 課題を解決するための手段 ］
そこで、本発明では、基準コイルにインパルス電圧を印
加して発生させた減衰振動電圧波形と、被測定コイルに
インパルス電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形
とを比較して、当該被測定コイルの良否を判断するコイ
ル試験方法において、前記基準コイルに印加するインパ
ルス電圧を被測定コイルに印加するインパルス電圧より
も低い電圧とするようにした。 また、基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にンフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、これらの両波形を被測定コイルから得られ
る減衰振動電圧波形と同一表示装置に表示するようにし
ても良い。 また、基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にシフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、被測定コイルから得られる減衰振動電圧波
形を前記両波形に同期させて発生させ、前記減衰振動電
圧波形が前記上限波形以下且つ前記下限波形以上である
とき前記測定コイルが良品であると判定するようにして
も良い。 そして、本発明にかかるコイル試験装置においては、高
圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧インパルス電
圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧インパル
ス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り出す手段
と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印加して基
準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測定減衰振
動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基準減衰振
動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによって両波形
の振幅を整合させる振幅整合手段とを備えるという手段
を講じた。 また、高圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧イン
パルス電圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧
インパルス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り
出す手段と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印
加して基準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測
定減衰振動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基
準減衰振動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによっ
て両波形の振幅を整合させる振幅整合手段と、振幅が整
合された基準減衰振動電圧波形を振幅軸の正の方向に所
定偏差だけシフトさせて上限波形を生成する上限波形生
成手段と、振幅が整合された基準減衰振動電圧波形を振
幅軸の負の方向に所定偏差だけシフトさせて下限波形を
生成する下限波形生成手段と、振幅が整合された測定減
衰振動電圧波形が前記上限波形と前記下限波形との間に
あるか否かを比較する比較手段とを備えるという手段を
講しても良い。 【 作用 】 本発明は、良好なコイルにおいては、そのコイルから得
られる減衰振動電圧波形は、印加したインパルス電圧の
高低によらず振幅方向に拡大／縮小すれば一致するとい
う現象を利用することによって、基準コイルには低圧の
インパルス電圧を印加して基準となる減衰振動電圧波形
を得るようにしたのである。 即ち、被測定コイルには高圧のインパルス電圧を加えて
測定波形となる減衰振動電圧波形を発生させるが、基準
コイルには低圧のインパルス電圧を加えて基準波形とな
る減衰振動電圧波形を発生させ、前記基準波形と前記測
定波形とを振幅軸方向に拡大／縮小して振幅を一致させ
ることにより、両波形を比較するのである。 そこで、測定波形にレアショートやコロナ放電による波
形の乱れがあれば発見されるのである。 また、基準コイルの減衰振動電圧波形と被測定コイルの
減衰振動電圧波形を振幅整合させるとともに、基準減衰
振動電圧波形を上下にシフトさせることによって上限波
形と下限波形にはさまれたウィンドウを生成するので、
被測定コイルから得られた減衰振動電圧波形が前記ウィ
ンドウの中に収まっていれば当該被測定コイルは良品と
判定できる。 そして、本発明によるコイル試験装置によれば、高圧イ
ンパルス電圧を発生させて被測定コイルに印加して測定
減衰振動電圧波形を発生させ、低圧インパルス電圧を発
生させて基準コイルに印加して基準減衰振動電圧波形を
発生させ、振幅整合手段によって前記測定減衰振動電圧
波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基準減衰振動電圧
波形を振幅軸方向に拡大することによって両波形の振幅
を整合させるので、測定減衰振動電圧波形にレアショー
トやコロナ放電による波形の乱れがあれば基準減衰振動
電圧波形と異なることで発見されるのである。 また、測定減衰振動電圧波形が上限波形と下限波形の間
にあることを比較手段によって検知できるので、被測定
コイルの良否を判定できるのである。
加して発生させた減衰振動電圧波形と、被測定コイルに
インパルス電圧を印加して発生させた減衰振動電圧波形
とを比較して、当該被測定コイルの良否を判断するコイ
ル試験方法において、前記基準コイルに印加するインパ
ルス電圧を被測定コイルに印加するインパルス電圧より
も低い電圧とするようにした。 また、基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にンフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、これらの両波形を被測定コイルから得られ
る減衰振動電圧波形と同一表示装置に表示するようにし
ても良い。 また、基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にシフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、被測定コイルから得られる減衰振動電圧波
形を前記両波形に同期させて発生させ、前記減衰振動電
圧波形が前記上限波形以下且つ前記下限波形以上である
とき前記測定コイルが良品であると判定するようにして
も良い。 そして、本発明にかかるコイル試験装置においては、高
圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧インパルス電
圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧インパル
ス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り出す手段
と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印加して基
準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測定減衰振
動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基準減衰振
動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによって両波形
の振幅を整合させる振幅整合手段とを備えるという手段
を講じた。 また、高圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧イン
パルス電圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧
インパルス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り
出す手段と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印
加して基準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測
定減衰振動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基
準減衰振動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによっ
て両波形の振幅を整合させる振幅整合手段と、振幅が整
合された基準減衰振動電圧波形を振幅軸の正の方向に所
定偏差だけシフトさせて上限波形を生成する上限波形生
成手段と、振幅が整合された基準減衰振動電圧波形を振
幅軸の負の方向に所定偏差だけシフトさせて下限波形を
生成する下限波形生成手段と、振幅が整合された測定減
衰振動電圧波形が前記上限波形と前記下限波形との間に
あるか否かを比較する比較手段とを備えるという手段を
講しても良い。 【 作用 】 本発明は、良好なコイルにおいては、そのコイルから得
られる減衰振動電圧波形は、印加したインパルス電圧の
高低によらず振幅方向に拡大／縮小すれば一致するとい
う現象を利用することによって、基準コイルには低圧の
インパルス電圧を印加して基準となる減衰振動電圧波形
を得るようにしたのである。 即ち、被測定コイルには高圧のインパルス電圧を加えて
測定波形となる減衰振動電圧波形を発生させるが、基準
コイルには低圧のインパルス電圧を加えて基準波形とな
る減衰振動電圧波形を発生させ、前記基準波形と前記測
定波形とを振幅軸方向に拡大／縮小して振幅を一致させ
ることにより、両波形を比較するのである。 そこで、測定波形にレアショートやコロナ放電による波
形の乱れがあれば発見されるのである。 また、基準コイルの減衰振動電圧波形と被測定コイルの
減衰振動電圧波形を振幅整合させるとともに、基準減衰
振動電圧波形を上下にシフトさせることによって上限波
形と下限波形にはさまれたウィンドウを生成するので、
被測定コイルから得られた減衰振動電圧波形が前記ウィ
ンドウの中に収まっていれば当該被測定コイルは良品と
判定できる。 そして、本発明によるコイル試験装置によれば、高圧イ
ンパルス電圧を発生させて被測定コイルに印加して測定
減衰振動電圧波形を発生させ、低圧インパルス電圧を発
生させて基準コイルに印加して基準減衰振動電圧波形を
発生させ、振幅整合手段によって前記測定減衰振動電圧
波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基準減衰振動電圧
波形を振幅軸方向に拡大することによって両波形の振幅
を整合させるので、測定減衰振動電圧波形にレアショー
トやコロナ放電による波形の乱れがあれば基準減衰振動
電圧波形と異なることで発見されるのである。 また、測定減衰振動電圧波形が上限波形と下限波形の間
にあることを比較手段によって検知できるので、被測定
コイルの良否を判定できるのである。
以下に本発明にかかるコイル試験方法とその方法に用い
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳説する。 第１図は本発明のコイル試験装置の実施例のブロック構
成図である。 図面において、 ｌは高圧インパルス電圧発生回路、２は低圧インパルス
電圧発生回路、３は被測定コイル、４は基準コイル、５
は分圧回路（振幅整合手段）、６は切り換えスイッチ、
７は波形表示装置、８は制御部である。 前記高圧インパルス電圧発生回路１は、制御部８からの
タイミング信号Ｔｌに基づいて１０００ボルトの高圧イ
ンパルス電圧を発生させ、被測定コイル３に印加する。 被測定コイル３で発生した減衰振動電圧波形は分圧回路
５においてコンデンサによって１／１００に分圧されて
、切り換えスイッチ６の接点６１に接続される。 前記低圧インパルス電圧発生回路２は、制御部８からの
タイミング信号Ｔ１に続いて出力されるタイミング信号
Ｔ２に基づいて１０ボルトの低圧インパルス電圧を発生
させ、基準コイル４に印加する。基準コイル４で発生し
た減衰振動電圧波形は切り換えスイッチ６の接点６２に
接続される。 そして、タイミング信号ＴＩの入力で、切り換えスイッ
チ６を接点６１側に切り換えた状態で、高圧インパルス
電圧を被測定コイル３に印加して減衰振動電圧波形を得
てＣＲＴ表示装置７に表示させ、続くタイミング信号Ｔ
２の入力で、切り換えスイッチ６を接点６２側に切り換
えて、低圧インパルス電圧を基準コイル４に印加して減
衰振動電圧波形を得てＣＲＴ表示装置７に表示させる。 すると、両方の波形は極短時間で表示されるので、視覚
の残像現象によって同時に表示されるように見られる。 よって、両波形の相違は容易に発見できるのである。残
像時間の長いＣＲＴ表示管を用いても良い。 前記分圧回路５に代えて、基準波形の方を拡大してもよ
く、両波形の振幅を整合させて比較すればよいのである
。 このとき、前記基準波形を所定幅で上下にシフトさせて
所定幅のウィンドウを発生させ、このウィンドウの中に
前記測定波形が納まっているか否かを確認するようにし
てもよい。 このとき、被測定コイル３に高圧インパルス電圧を印加
した時の減衰振動電圧波形にコロナ放電やレアショート
が発生すれば、測定波形を分圧回路５で分圧して振幅を
整合させても基準波形とは一致しなくなるので、当該被
測定コイル３が不良品であることが判断できる。 更に、この装置に併せて抵抗測定装置を加えれば完璧な
コイル総合試験装置を提供できる。 第２図は、上限波形と下限波形とを生成して被測定コイ
ルの良否を判定するコイル試験装置の実施例のブロック
図である。 １１は高圧インパルス電圧発生回路、１２は低圧インパ
ルス電圧発生回路、１３は被測定コイル、１４は基準コ
イル、Ｉ５は分圧回路（振幅整合手段）、】７は波形表
示装置であり、上述の構成とほぼ同等の機能を備えてい
る。 そして、２１は基準減衰振動電圧波形を正の方向にシフ
トさせて上限波形を生成するシフトアップ回路、２２は
基準減衰振動電圧波形を負の方向にシフトさせて下限波
形を生成するシフトダウン回路、２３は測定減衰振動電
圧波形が前記上限波形と下限波形の範囲に収まっている
とき合格信号を出力し、上記範囲を逸脱したとき不合格
信号を出力するウィンドウコンパレータ、２４は該ウィ
ンドウコンパレータ２３からの信号に基ついて合格／不
合格の表示を行う判定表示装置である。 ここで、前記高圧インパルス電圧発生回路ＩＩと低圧イ
ンパルス電圧発生回路１２は、制御回路１８からのタイ
ミング信号に基づいて位相の揃ったインパルス電圧を出
力する。また、前記波形表示装置１７は３現象波形表示
機能を備えており、同一画面に前記上限波形と前記測定
減衰振動電圧波形と前記下限波形を同時に表示するので
、だれでもが容易に正確な良否判断をすることが可能で
ある。また、両インパルス電圧発生回路のチャージコン
デンサの特性を吟味して両インパルス電圧の位相が同期
するように設定する。また、上限波形と下限波形はシフ
ト操作でなく、振幅方向への拡大／縮小操作によって得
ることも可能である。
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳説する。 第１図は本発明のコイル試験装置の実施例のブロック構
成図である。 図面において、 ｌは高圧インパルス電圧発生回路、２は低圧インパルス
電圧発生回路、３は被測定コイル、４は基準コイル、５
は分圧回路（振幅整合手段）、６は切り換えスイッチ、
７は波形表示装置、８は制御部である。 前記高圧インパルス電圧発生回路１は、制御部８からの
タイミング信号Ｔｌに基づいて１０００ボルトの高圧イ
ンパルス電圧を発生させ、被測定コイル３に印加する。 被測定コイル３で発生した減衰振動電圧波形は分圧回路
５においてコンデンサによって１／１００に分圧されて
、切り換えスイッチ６の接点６１に接続される。 前記低圧インパルス電圧発生回路２は、制御部８からの
タイミング信号Ｔ１に続いて出力されるタイミング信号
Ｔ２に基づいて１０ボルトの低圧インパルス電圧を発生
させ、基準コイル４に印加する。基準コイル４で発生し
た減衰振動電圧波形は切り換えスイッチ６の接点６２に
接続される。 そして、タイミング信号ＴＩの入力で、切り換えスイッ
チ６を接点６１側に切り換えた状態で、高圧インパルス
電圧を被測定コイル３に印加して減衰振動電圧波形を得
てＣＲＴ表示装置７に表示させ、続くタイミング信号Ｔ
２の入力で、切り換えスイッチ６を接点６２側に切り換
えて、低圧インパルス電圧を基準コイル４に印加して減
衰振動電圧波形を得てＣＲＴ表示装置７に表示させる。 すると、両方の波形は極短時間で表示されるので、視覚
の残像現象によって同時に表示されるように見られる。 よって、両波形の相違は容易に発見できるのである。残
像時間の長いＣＲＴ表示管を用いても良い。 前記分圧回路５に代えて、基準波形の方を拡大してもよ
く、両波形の振幅を整合させて比較すればよいのである
。 このとき、前記基準波形を所定幅で上下にシフトさせて
所定幅のウィンドウを発生させ、このウィンドウの中に
前記測定波形が納まっているか否かを確認するようにし
てもよい。 このとき、被測定コイル３に高圧インパルス電圧を印加
した時の減衰振動電圧波形にコロナ放電やレアショート
が発生すれば、測定波形を分圧回路５で分圧して振幅を
整合させても基準波形とは一致しなくなるので、当該被
測定コイル３が不良品であることが判断できる。 更に、この装置に併せて抵抗測定装置を加えれば完璧な
コイル総合試験装置を提供できる。 第２図は、上限波形と下限波形とを生成して被測定コイ
ルの良否を判定するコイル試験装置の実施例のブロック
図である。 １１は高圧インパルス電圧発生回路、１２は低圧インパ
ルス電圧発生回路、１３は被測定コイル、１４は基準コ
イル、Ｉ５は分圧回路（振幅整合手段）、】７は波形表
示装置であり、上述の構成とほぼ同等の機能を備えてい
る。 そして、２１は基準減衰振動電圧波形を正の方向にシフ
トさせて上限波形を生成するシフトアップ回路、２２は
基準減衰振動電圧波形を負の方向にシフトさせて下限波
形を生成するシフトダウン回路、２３は測定減衰振動電
圧波形が前記上限波形と下限波形の範囲に収まっている
とき合格信号を出力し、上記範囲を逸脱したとき不合格
信号を出力するウィンドウコンパレータ、２４は該ウィ
ンドウコンパレータ２３からの信号に基ついて合格／不
合格の表示を行う判定表示装置である。 ここで、前記高圧インパルス電圧発生回路ＩＩと低圧イ
ンパルス電圧発生回路１２は、制御回路１８からのタイ
ミング信号に基づいて位相の揃ったインパルス電圧を出
力する。また、前記波形表示装置１７は３現象波形表示
機能を備えており、同一画面に前記上限波形と前記測定
減衰振動電圧波形と前記下限波形を同時に表示するので
、だれでもが容易に正確な良否判断をすることが可能で
ある。また、両インパルス電圧発生回路のチャージコン
デンサの特性を吟味して両インパルス電圧の位相が同期
するように設定する。また、上限波形と下限波形はシフ
ト操作でなく、振幅方向への拡大／縮小操作によって得
ることも可能である。
本発明にかかるコイル試験方法によれば、基準コイルに
印加するインパルス電圧を低圧としたので基準コイルが
劣化しにくくなり、単一の基準コイルをもとにして多（
の被測定コイルを試験できる。よって、正確なコイル試
験ができるという効果が得られる。 また、このコイル試験装置によれば、基準コイルが劣化
しにくくなるので上記効果が得られる装置を提供でき、
コイル試験作業を正確且つ能率よくできるという効果も
得られる。 また、基準波形から上下限の波形を生成して所定幅のウ
ィンドウを生成し、測定波形とともに同一表示装置に表
示するので、前記ウィンドウからはみ出していないかど
うかた゛けをチエツクすればよいので、経験が浅くても
コイルの良否判断を容易且つ正確にでき、判断する人間
の個人差に影響を受けずに判断できるので、信頼性の高
い安定したコイルの良否判定が可能となるという効果が
得られる。 また、比較手段によって自動判定も可能となるので、コ
イル試験の作業効率と信頼性が極めて向上するという効
果も得られる。
印加するインパルス電圧を低圧としたので基準コイルが
劣化しにくくなり、単一の基準コイルをもとにして多（
の被測定コイルを試験できる。よって、正確なコイル試
験ができるという効果が得られる。 また、このコイル試験装置によれば、基準コイルが劣化
しにくくなるので上記効果が得られる装置を提供でき、
コイル試験作業を正確且つ能率よくできるという効果も
得られる。 また、基準波形から上下限の波形を生成して所定幅のウ
ィンドウを生成し、測定波形とともに同一表示装置に表
示するので、前記ウィンドウからはみ出していないかど
うかた゛けをチエツクすればよいので、経験が浅くても
コイルの良否判断を容易且つ正確にでき、判断する人間
の個人差に影響を受けずに判断できるので、信頼性の高
い安定したコイルの良否判定が可能となるという効果が
得られる。 また、比較手段によって自動判定も可能となるので、コ
イル試験の作業効率と信頼性が極めて向上するという効
果も得られる。
第１図、第２図は本発明のコイル試験装置の実施例のブ
ロック構成図である。 ■、１１・・・高圧インパルス電圧発生回路、２，１２
・・・低圧インパルス電圧発生回路、３，１３・・・被
測定コイル、４，１４・・・基準コイル、５，１５・・
・分圧回路（振幅整合手段）、６・・・切り替え回路、
７．１７・・・波形表示装置、２１・・・シフトアップ
回路（上限波形生成手段）、２２・・・シフトダウン回
路（下限波形生成手段）、２３・・・ウィンドウコンパ
レータ（比較手段）。
ロック構成図である。 ■、１１・・・高圧インパルス電圧発生回路、２，１２
・・・低圧インパルス電圧発生回路、３，１３・・・被
測定コイル、４，１４・・・基準コイル、５，１５・・
・分圧回路（振幅整合手段）、６・・・切り替え回路、
７．１７・・・波形表示装置、２１・・・シフトアップ
回路（上限波形生成手段）、２２・・・シフトダウン回
路（下限波形生成手段）、２３・・・ウィンドウコンパ
レータ（比較手段）。
Claims (5)
- （１）基準コイルにインパルス電圧を印加して発生させ
た減衰振動電圧波形と、被測定コイルにインパルス電圧
を印加して発生させた減衰振動電圧波形とを比較して、
当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法にお
いて、 前記基準コイルに印加するインパルス電圧を被測定コイ
ルに印加するインパルス電圧よりも低い電圧とすること
を特徴とするコイル試験方法。 - （２）基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にシフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、これらの両波形を被測定コイルから得られ
る減衰振動電圧波形と同一表示装置に表示することを特
徴とするコイル試験方法。 - （３）基準コイルから得られた減衰振動電圧波形を振幅
軸方向の上方にシフト若しくは拡大して上限波形を得、
同減衰振動電圧波形を下方にシフト若しくは縮小して下
限波形を得、被測定コイルから得られる減衰振動電圧波
形を前記両波形に同期させて発生させ、前記減衰振動電
圧波形が前記上限波形以下且つ前記下限波形以上である
とき前記測定コイルが良品であると判定することを特徴
とするコイル試験方法。 - （４）高圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧イン
パルス電圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧
インパルス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り
出す手段と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印
加して基準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測
定減衰振動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基
準減衰振動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによっ
て両波形の振幅を整合させる振幅整合手段とを備えてい
ることを特徴とするコイル試験装置。 - （５）高圧インパルス電圧を発生する手段と、低圧イン
パルス電圧を発生する手段と、被測定コイルに前記高圧
インパルス電圧を印加して測定減衰振動電圧波形を取り
出す手段と、基準コイルに前記低圧インパルス電圧を印
加して基準減衰振動電圧波形を取り出す手段と、前記測
定減衰振動電圧波形を振幅軸方向に縮小もしくは前記基
準減衰振動電圧波形を振幅軸方向に拡大することによっ
て両波形の振幅を整合させる振幅整合手段と、振幅が整
合された基準減衰振動電圧波形を振幅軸の正の方向に所
定偏差だけシフトさせて上限波形を生成する上限波形生
成手段と、振幅が整合された基準減衰振動電圧波形を振
幅軸の負の方向に所定偏差だけシフトさせて下限波形を
生成する下限波形生成手段と、振幅が整合された測定減
衰振動電圧波形が前記上限波形と前記下限波形との間に
あるか否かを比較する比較手段とを備えていることを特
徴とするコイル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19135290A JPH0476468A (ja) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19135290A JPH0476468A (ja) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0476468A true JPH0476468A (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=16273151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19135290A Pending JPH0476468A (ja) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0476468A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0843477A (ja) * | 1994-07-27 | 1996-02-16 | Haruyoshi Matsubara | コイル耐圧試験機のインパルス発生回路およびコイル耐圧試験機 |
| JP2017040629A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 学校法人 芝浦工業大学 | 電子部品試験装置、電子部品試験方法 |
-
1990
- 1990-07-18 JP JP19135290A patent/JPH0476468A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0843477A (ja) * | 1994-07-27 | 1996-02-16 | Haruyoshi Matsubara | コイル耐圧試験機のインパルス発生回路およびコイル耐圧試験機 |
| JP2017040629A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 学校法人 芝浦工業大学 | 電子部品試験装置、電子部品試験方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4914394A (en) | Pocket-size time domain reflectometer | |
| US20050088197A1 (en) | Pin driver for AC and DC semiconductor device testing | |
| US6865698B2 (en) | Method and apparatus for testing semiconductor devices | |
| JP3309158B2 (ja) | ディジタル信号の品質評価装置 | |
| JP6752617B2 (ja) | コイル試験装置 | |
| JPH0465683A (ja) | コイル試験方法とその方法に用いる装置 | |
| CA2157417A1 (en) | Peak current detection in a test instrument for ensuring validity of component test output | |
| JP4819386B2 (ja) | シングルエンド信号をシリアル併合して分析する測定回路及びその方法 | |
| JPH0688849A (ja) | コイル試験方法とその方法に用いる装置 | |
| JPS61162755A (ja) | インパルスコイル試験器 | |
| JP3598643B2 (ja) | 半導体集積回路測定装置および半導体集積回路装置 | |
| JP3180435B2 (ja) | 液晶駆動ドライバｉｃ試験装置 | |
| JPH11142468A (ja) | 集積回路の故障検出装置及びその検出方法並びにその検出制御プログラムを記録した記録媒体 | |
| JPH0396872A (ja) | コイル試験方法とその方法に用いる装置 | |
| JP3376924B2 (ja) | レヤーコロナ試験回路 | |
| EP0053487B1 (en) | Test apparatus for signal timing measurement | |
| JPH05190637A (ja) | 半導体集積回路の試験方法 | |
| US20020180414A1 (en) | Tester and testing method for differential data drivers | |
| US3201686A (en) | Corona test set calibrator having a mercury wetted relay switch for providing a square wave calibration signal | |
| JPS6153577A (ja) | 部分放電測定装置 | |
| US20240274222A1 (en) | Technique to analyze and report accurate data, synchronizing multiple signals in a memory chip | |
| KR20000011796A (ko) | 메모리시험장치 | |
| RU2014626C1 (ru) | Способ климатических испытаний электронной аппаратуры | |
| JPS60119474A (ja) | ダイナミツク・フイルタの試験装置 | |
| KR900000986B1 (ko) | 부분방전 펄스 계수겸용 부분방전량 측정기 |