JPH0467888B2 - - Google Patents
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- JPH0467888B2 JPH0467888B2 JP60223259A JP22325985A JPH0467888B2 JP H0467888 B2 JPH0467888 B2 JP H0467888B2 JP 60223259 A JP60223259 A JP 60223259A JP 22325985 A JP22325985 A JP 22325985A JP H0467888 B2 JPH0467888 B2 JP H0467888B2
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- voltage
- comparator
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Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、高温の金属塊の幅方向位置を検出す
る際に検出器の視野中を水や水蒸気等の外乱が遮
つた場合でも、良好な精度で金属塊の幅端位置を
検出し得るようにした、金属塊の幅方向位置検出
方法及びその装置に関するものである。
る際に検出器の視野中を水や水蒸気等の外乱が遮
つた場合でも、良好な精度で金属塊の幅端位置を
検出し得るようにした、金属塊の幅方向位置検出
方法及びその装置に関するものである。
［従来の技術］
圧延又は連続加工では、製品歩留りを向上する
うえで精密な板幅管理が望まれる。特に熱間圧延
の場合は、圧延機で水平圧下すると圧延材に幅広
がりが生じるが、これを放置したまま圧延を繰返
すと、製品板幅が設定値よりも極めて大きいもの
となり、後工程のサイドトリミング等で切捨てる
部分が増大し、歩留りの低下を招来する。
うえで精密な板幅管理が望まれる。特に熱間圧延
の場合は、圧延機で水平圧下すると圧延材に幅広
がりが生じるが、これを放置したまま圧延を繰返
すと、製品板幅が設定値よりも極めて大きいもの
となり、後工程のサイドトリミング等で切捨てる
部分が増大し、歩留りの低下を招来する。
一方、シングルスタンドにおけるリバース圧
延、連続スタンドにおける先後端部通過時等の無
張力圧延においては、蛇行が生じ易いため、圧延
材の蛇行量を検出して、左右のロールギヤツプの
調整を行う必要がある。ところが、従来の圧延荷
重差に基づいて蛇行を検出して制御する方式で
は、圧延材の端折れによる端部２枚噛みや先後端
の不規則形状部の圧延時に発生する圧延荷重差等
を蛇行現象と判断し、圧下レベル調整を狂わし、
かえつて圧延作業を中断させる、等の致命的な欠
陥があつた。
延、連続スタンドにおける先後端部通過時等の無
張力圧延においては、蛇行が生じ易いため、圧延
材の蛇行量を検出して、左右のロールギヤツプの
調整を行う必要がある。ところが、従来の圧延荷
重差に基づいて蛇行を検出して制御する方式で
は、圧延材の端折れによる端部２枚噛みや先後端
の不規則形状部の圧延時に発生する圧延荷重差等
を蛇行現象と判断し、圧下レベル調整を狂わし、
かえつて圧延作業を中断させる、等の致命的な欠
陥があつた。
そこで、最近では、熱間圧延材、連鋳材等の加
熱金属塊の板幅或いは蛇行等を高精度で制御する
ことが望まれ、その基になる板幅或いは蛇行等の
検出手段として光学的幅方向位置検出器が開発さ
れている。この装置は第４図に示す原理に基づい
ている。
熱金属塊の板幅或いは蛇行等を高精度で制御する
ことが望まれ、その基になる板幅或いは蛇行等の
検出手段として光学的幅方向位置検出器が開発さ
れている。この装置は第４図に示す原理に基づい
ている。
すなわち、圧延材１の下方から投光器２により
圧延材１を投光し、上方、つまり圧延材１の表面
方向部位に設けた受光器３によつて圧延材１に遮
蔽されない部分の受光量を測定し、板幅を検出す
るものである。受光器３には、光電素子（フオト
ダイオード）を利用したもの、テレビカメラ式撮
像管を利用したもの等があるが、以下、光電素子
を利用したものについて説明する。テレビカメラ
式撮像管を用いた場合も原理的には変らない。光
電素子４は投光器２と平行に、複数個、直線状に
配列され（個数単位として一般に「ビツト」を用
いる）、レンズ５を通して集光した像の受光量に
比例した電気信号６を発する。この受光量を所定
の変換器により一定レベルでスレツシユホールド
することにより、電気信号をオン、オフ２種類の
同期信号７に変換する。１ビツト当りの集光距離
はレンズ５の集光角度2α（又は集光範囲Ｌ）及び
被測定物としての圧延材１とレンズ５との間の距
離Ｈによつて定まるので、全光電素子数をＮビツ
トとすると、板幅Ｗは次式で求めることができ
る。
圧延材１を投光し、上方、つまり圧延材１の表面
方向部位に設けた受光器３によつて圧延材１に遮
蔽されない部分の受光量を測定し、板幅を検出す
るものである。受光器３には、光電素子（フオト
ダイオード）を利用したもの、テレビカメラ式撮
像管を利用したもの等があるが、以下、光電素子
を利用したものについて説明する。テレビカメラ
式撮像管を用いた場合も原理的には変らない。光
電素子４は投光器２と平行に、複数個、直線状に
配列され（個数単位として一般に「ビツト」を用
いる）、レンズ５を通して集光した像の受光量に
比例した電気信号６を発する。この受光量を所定
の変換器により一定レベルでスレツシユホールド
することにより、電気信号をオン、オフ２種類の
同期信号７に変換する。１ビツト当りの集光距離
はレンズ５の集光角度2α（又は集光範囲Ｌ）及び
被測定物としての圧延材１とレンズ５との間の距
離Ｈによつて定まるので、全光電素子数をＮビツ
トとすると、板幅Ｗは次式で求めることができ
る。
Ｗ＝Ｌ×｛Ｎ−（N1＋N2）｝／Ｎ
＝2H tanα×｛Ｎ−（N1＋N2）｝／Ｎ
……（） 而して、このような板幅検出手段を圧延材等の
蛇行検出に適用することも考えられ、既に一部で
は実施されているが、特に熱間圧延では圧延材自
体が800℃前後の高温であるため、第４図に示す
投光器２を廃して圧延材自体の光を検知する方式
が有効である。この場合の原理を第５図により説
明すると、圧延材１の左右両側、すなわち、ワー
クサイドとドライブサイドの夫夫に受光器８，９
を設け、該受光器８，９により圧延材１の光を検
知するようにする。検知時には、受光素子１０，
１１の各ビツトごとに集光が行われ、各ビツトご
とに集光された光の強さに比例する電圧が発生す
る。例えば、受光素子１０で検出された電圧と受
光素子１０の各ビツトとの関係を図示すると第６
図に示すようになり、電圧差が発生し始めた位置
が圧延材１のワークサイド側端部として検知され
る。なお、第６図を映像信号と称する。第６図に
おいて、tsは夫々の受光素子１０，１１の全ビツ
トの走査に要する走査周期、Ｖは圧延材幅端光量
差を表わす電圧である。
……（） 而して、このような板幅検出手段を圧延材等の
蛇行検出に適用することも考えられ、既に一部で
は実施されているが、特に熱間圧延では圧延材自
体が800℃前後の高温であるため、第４図に示す
投光器２を廃して圧延材自体の光を検知する方式
が有効である。この場合の原理を第５図により説
明すると、圧延材１の左右両側、すなわち、ワー
クサイドとドライブサイドの夫夫に受光器８，９
を設け、該受光器８，９により圧延材１の光を検
知するようにする。検知時には、受光素子１０，
１１の各ビツトごとに集光が行われ、各ビツトご
とに集光された光の強さに比例する電圧が発生す
る。例えば、受光素子１０で検出された電圧と受
光素子１０の各ビツトとの関係を図示すると第６
図に示すようになり、電圧差が発生し始めた位置
が圧延材１のワークサイド側端部として検知され
る。なお、第６図を映像信号と称する。第６図に
おいて、tsは夫々の受光素子１０，１１の全ビツ
トの走査に要する走査周期、Ｖは圧延材幅端光量
差を表わす電圧である。
ところで、一般的には圧延材の種類によつて温
度が異なるため、第５図に示す受光器８，９へ入
る光量に温度による差が生じる。すなわち、温度
の高い圧延材で走査時間tsを大きくすると、受光
素子１０，１１への入光時間が長くなり、圧延材
から発せられるローラーテーブル等に反射した弱
い光も多量に受光素子１０，１１に受光される結
果、第７図のイに示すように、電圧Ｖが圧延材１
から離れた位置で急激に立上り、幅端部の検出精
度が悪化する。又逆に走査時間tsが短かすぎる
と、受光素子１０，１１の各ビツトへの入光時間
が短くなり、光が十分に受光素子１０，１１に受
光されない結果、第７図のロに示すように電圧Ｖ
のレベルが低下し、板幅端部検出の信号が基準と
なるスレツシユホールド電圧VLに達せず、検出
が不可能となる虞れがある。従つて、走査時間ts
を自動的にコントロールし、受光素子１０，１１
に受光される光量を常に一定に保持し、電圧Ｖを
第７図のハに示すように調節することが必要とな
る。
度が異なるため、第５図に示す受光器８，９へ入
る光量に温度による差が生じる。すなわち、温度
の高い圧延材で走査時間tsを大きくすると、受光
素子１０，１１への入光時間が長くなり、圧延材
から発せられるローラーテーブル等に反射した弱
い光も多量に受光素子１０，１１に受光される結
果、第７図のイに示すように、電圧Ｖが圧延材１
から離れた位置で急激に立上り、幅端部の検出精
度が悪化する。又逆に走査時間tsが短かすぎる
と、受光素子１０，１１の各ビツトへの入光時間
が短くなり、光が十分に受光素子１０，１１に受
光されない結果、第７図のロに示すように電圧Ｖ
のレベルが低下し、板幅端部検出の信号が基準と
なるスレツシユホールド電圧VLに達せず、検出
が不可能となる虞れがある。従つて、走査時間ts
を自動的にコントロールし、受光素子１０，１１
に受光される光量を常に一定に保持し、電圧Ｖを
第７図のハに示すように調節することが必要とな
る。
そこで、本願発明者は、例えば特願昭59−
77214号明細書に示すように、加熱された金属塊
の発する光を受光する受光素子群とレンズとより
構成された検出器により金属塊幅端位置を検出す
る際に、受光素子を金属塊の中央側より幅端方向
へ走査し、該走査により得られた映像信号中、予
め設定されたレベルの電圧を発生する受光素子近
傍の受光素子が受けている光量から走査周期を決
定し、前記検出器の受光素子を金属塊の中央側よ
り幅方向へ、決定された走査周期により走査を行
ない、予め設定されたレベルの電圧を発生する受
光素子の番地を求めて金属塊の幅方向位置を正確
に検出する方法及びその装置について提案を行つ
た。
77214号明細書に示すように、加熱された金属塊
の発する光を受光する受光素子群とレンズとより
構成された検出器により金属塊幅端位置を検出す
る際に、受光素子を金属塊の中央側より幅端方向
へ走査し、該走査により得られた映像信号中、予
め設定されたレベルの電圧を発生する受光素子近
傍の受光素子が受けている光量から走査周期を決
定し、前記検出器の受光素子を金属塊の中央側よ
り幅方向へ、決定された走査周期により走査を行
ない、予め設定されたレベルの電圧を発生する受
光素子の番地を求めて金属塊の幅方向位置を正確
に検出する方法及びその装置について提案を行つ
た。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、上述の金属塊の幅方向位置検出
方法及びその装置にあつては、検出器の視野中を
水蒸気、水、酸化スケール等の外乱により遮られ
ると、正確に金属塊の幅端位置を検出することが
できないという問題がある。
方法及びその装置にあつては、検出器の視野中を
水蒸気、水、酸化スケール等の外乱により遮られ
ると、正確に金属塊の幅端位置を検出することが
できないという問題がある。
本発明は、上記実情に鑑み、金属塊の幅端位置
を外乱の影響を受けずに正確に検出し得るように
することを目的としてなしたものである。
を外乱の影響を受けずに正確に検出し得るように
することを目的としてなしたものである。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、加熱された金属塊の発する光を受光
する受光素子群とレンズとから成る検出器により
金属塊の幅端位置を検出する際に、受光素子を金
属塊の幅方向へ走査して得られた１ビツトごとの
映像信号の電圧差を演算すると共に、１ビツトご
とに映像信号を予め定められたスレツシユホール
ド電圧と比較し、その差に符号変化が起こつた時
点の番地を記憶しておき、現時点の映像信号の電
圧差と一時点前の映像信号の電圧差とを比較演算
して数時点内でその時点の映像信号の電圧差の差
と一時点前の映像信号の電圧差の差の正負の符号
に変化が生じた場合には、前記記憶していた受光
素子の番地を棄却し、前記その時点の映像信号の
電圧差の差と一時点前の映像信号の電圧差の差の
正負の符号に変化が生じない場合には映像信号電
圧が予め定められたスレツシユホールド電圧より
も低くなつた時点の前記記憶していた受光素子の
番地を金属塊の幅端位置と認定する構成を備えて
いる。
する受光素子群とレンズとから成る検出器により
金属塊の幅端位置を検出する際に、受光素子を金
属塊の幅方向へ走査して得られた１ビツトごとの
映像信号の電圧差を演算すると共に、１ビツトご
とに映像信号を予め定められたスレツシユホール
ド電圧と比較し、その差に符号変化が起こつた時
点の番地を記憶しておき、現時点の映像信号の電
圧差と一時点前の映像信号の電圧差とを比較演算
して数時点内でその時点の映像信号の電圧差の差
と一時点前の映像信号の電圧差の差の正負の符号
に変化が生じた場合には、前記記憶していた受光
素子の番地を棄却し、前記その時点の映像信号の
電圧差の差と一時点前の映像信号の電圧差の差の
正負の符号に変化が生じない場合には映像信号電
圧が予め定められたスレツシユホールド電圧より
も低くなつた時点の前記記憶していた受光素子の
番地を金属塊の幅端位置と認定する構成を備えて
いる。
［作用］
従つて、本発明では受光素子は金属塊の幅方向
へ走査されて１ビツトごとに映像信号の電圧とス
レツシユホールド電圧との比較演算が行なわれ、
且つ、１ビツトごとの映像信号の電圧差が演算さ
れ、現時点の映像信号の電圧差の差と一時点前の
映像信号の電圧差の正負の符号に変化が生じた場
合には、その時点の番地は金属塊の幅端位置とは
されず、前記電圧差の正負の符号に変化が生じな
い場合には、その時点の映像信号の電圧が予め設
定されたスレツシユホールド電圧よりも低くなつ
た番地が金属塊の幅端位置とされる。
へ走査されて１ビツトごとに映像信号の電圧とス
レツシユホールド電圧との比較演算が行なわれ、
且つ、１ビツトごとの映像信号の電圧差が演算さ
れ、現時点の映像信号の電圧差の差と一時点前の
映像信号の電圧差の正負の符号に変化が生じた場
合には、その時点の番地は金属塊の幅端位置とは
されず、前記電圧差の正負の符号に変化が生じな
い場合には、その時点の映像信号の電圧が予め設
定されたスレツシユホールド電圧よりも低くなつ
た番地が金属塊の幅端位置とされる。
［実施例］
以下、本発明の実施例を添付図面を参照しつつ
説明する。
説明する。
先ず、本発明の原理を第２図及び第３図により
説明すると、第２図に示す映像信号は水蒸気、
水、酸化スケール等の外乱の影響を受けていない
もの、第３図に示す映像信号は外乱の影響を受け
ているものであり、何れも例えばフオトダイオー
ドを使用した光電素子を圧延材１の幅方向に所定
の走査周期で走査し、得られたものである。な
お、走査の仕方、走査周期の調節の仕方は特願昭
58−238540号明細書、特願昭59−77214号明細書
等に開示してあるので説明は省略する。
説明すると、第２図に示す映像信号は水蒸気、
水、酸化スケール等の外乱の影響を受けていない
もの、第３図に示す映像信号は外乱の影響を受け
ているものであり、何れも例えばフオトダイオー
ドを使用した光電素子を圧延材１の幅方向に所定
の走査周期で走査し、得られたものである。な
お、走査の仕方、走査周期の調節の仕方は特願昭
58−238540号明細書、特願昭59−77214号明細書
等に開示してあるので説明は省略する。
今、第２図において、映像信号を圧延材１の中
央から幅方向へ走査するとして、予む設定された
スレツシユホールド電圧VLと各番地の電圧を順
次比較してゆき、VLより小さくなつた電圧VEを
与える受光素子の番地NEを板幅端と判定する。
央から幅方向へ走査するとして、予む設定された
スレツシユホールド電圧VLと各番地の電圧を順
次比較してゆき、VLより小さくなつた電圧VEを
与える受光素子の番地NEを板幅端と判定する。
ところで、第３図に示すように、例えば圧延材
１にスケール１２が載つてその部分から受光素子
へ入光する光量が減少した場合、対応する受光素
子の映像信号の電圧が降下する。この状態で、圧
延材１の幅端位置を第２図で説明した方法で求め
ると、スケール１２の載つた部分を幅端位置とし
て求めてしまうので、検出に大きなエラーが生じ
ることになる。
１にスケール１２が載つてその部分から受光素子
へ入光する光量が減少した場合、対応する受光素
子の映像信号の電圧が降下する。この状態で、圧
延材１の幅端位置を第２図で説明した方法で求め
ると、スケール１２の載つた部分を幅端位置とし
て求めてしまうので、検出に大きなエラーが生じ
ることになる。
本発明では、これを防止するために、各番地と
その１番地手前の映像信号の電圧差、すなわち
ΔVi+1＝Vi−Vi+1を順次求めてゆき、得られた
ΔVi+1の各時点ごとの符号変化を調べ、符号変化
が生じた場合、その時点で得られている映像信号
中のスレツシユホールドより小さい電圧を与える
番地を棄却する。すなわち、第３図において、ｉ
＝ｋ＋１の時点で ΔVk+1＝Vk−Vi+1＞０ を求め、又Vk+1＜VLであるので、番地Nk+1を幅
端位置と判定する。しかし、次のｉ＝ｋ＋２時点
目では、 ΔVk+2＝Vk+1−Vk+2＜０ となり、符号が正から負へ変化する。第３図を見
ても分るように、このような符号変化は幅端位置
及び幅端位置よりも外側では決して起こらない。
なぜなら、受光素子群を有する検出器は、第７図
のハに示すように幅端位置近傍で映像信号の電圧
が減少し、幅端位置から２〜３ビツト外側では電
圧が零になるよう絞りを適正に調整してあるう
え、幅端位置の外側での反射光の強さは金属塊の
発する光の強さの数十分の一〜数百分の一と非常
に弱く、検出されることはあまりないからであ
る。
その１番地手前の映像信号の電圧差、すなわち
ΔVi+1＝Vi−Vi+1を順次求めてゆき、得られた
ΔVi+1の各時点ごとの符号変化を調べ、符号変化
が生じた場合、その時点で得られている映像信号
中のスレツシユホールドより小さい電圧を与える
番地を棄却する。すなわち、第３図において、ｉ
＝ｋ＋１の時点で ΔVk+1＝Vk−Vi+1＞０ を求め、又Vk+1＜VLであるので、番地Nk+1を幅
端位置と判定する。しかし、次のｉ＝ｋ＋２時点
目では、 ΔVk+2＝Vk+1−Vk+2＜０ となり、符号が正から負へ変化する。第３図を見
ても分るように、このような符号変化は幅端位置
及び幅端位置よりも外側では決して起こらない。
なぜなら、受光素子群を有する検出器は、第７図
のハに示すように幅端位置近傍で映像信号の電圧
が減少し、幅端位置から２〜３ビツト外側では電
圧が零になるよう絞りを適正に調整してあるう
え、幅端位置の外側での反射光の強さは金属塊の
発する光の強さの数十分の一〜数百分の一と非常
に弱く、検出されることはあまりないからであ
る。
従つて、この符号変化を検出してそれが生じた
場合には、それまでに得ているVk+1＜VLである
番地Nk+1を棄却する。こうすることによつて、
スケール等の外乱の影響を受けずに精度良く受光
素子上の圧延材幅端位置に相当する番地を求める
ことができる。第２図、第３図では、走査方向を
圧延材１の中央から幅端方向へ走査する場合を示
しているが、逆に幅端から中央方向へ走査する場
合も同様に適用できる。この場合には、先の電圧
差の符号変化は負から正となると共に、スレツシ
ユホールド電圧VLよりも始めて大きくなつた時
点の番地が幅端位置である。従つて、どちらの方
向から走査するにしても、映像信号とスレツシユ
ホールド電圧とを比較し、これに符号変化が生じ
た時点の映像信号の番地を求めれば良い。
場合には、それまでに得ているVk+1＜VLである
番地Nk+1を棄却する。こうすることによつて、
スケール等の外乱の影響を受けずに精度良く受光
素子上の圧延材幅端位置に相当する番地を求める
ことができる。第２図、第３図では、走査方向を
圧延材１の中央から幅端方向へ走査する場合を示
しているが、逆に幅端から中央方向へ走査する場
合も同様に適用できる。この場合には、先の電圧
差の符号変化は負から正となると共に、スレツシ
ユホールド電圧VLよりも始めて大きくなつた時
点の番地が幅端位置である。従つて、どちらの方
向から走査するにしても、映像信号とスレツシユ
ホールド電圧とを比較し、これに符号変化が生じ
た時点の映像信号の番地を求めれば良い。
次に第１図を参照しつつ中央側から幅端方向へ
走査する場合について本発明の具体例につき説明
する。
走査する場合について本発明の具体例につき説明
する。
図中Ａは上述の既出願明細書に開示したよう検
出器の光電素子を圧延材幅方向へ走査させること
により得られた映像信号、１３はクロツクパルス
Ｃの１パルスごとに現在走査中の番地の受光素子
で得られた映像信号の電圧Vi+1とシフトレジスタ
１４から送られて来た１番地手前の受光素子で得
られた映像信号の電圧Viとを比較演算する比較
器、１５は比較器１３から送られて来た電圧差
ΔVi+1＝Vi+1−Viとシフトレジスタ１６から送ら
れて来た一時点前の電圧差ΔVi＝Vi−Vi-1とを比
較演算する比較器、１７は比較器１５の演算結果
の符号を判別する符号判別回路、１８は映像信号
Ａの電圧Vi+1とスレツシユホールド電圧VLとを
比較する比較器、１９は比較器１８で比較された
スレツシユホールド電圧VLより小さい電圧を与
える映像信号の番地を記憶し且つ符号判別回路１
７からのクリアパルスCEが入力されると記憶し
ている番地を棄却する記憶回路、２０はクロツク
パルスＣの数をカウントしその数を番地として記
憶回路１９に送るカウンタである。
出器の光電素子を圧延材幅方向へ走査させること
により得られた映像信号、１３はクロツクパルス
Ｃの１パルスごとに現在走査中の番地の受光素子
で得られた映像信号の電圧Vi+1とシフトレジスタ
１４から送られて来た１番地手前の受光素子で得
られた映像信号の電圧Viとを比較演算する比較
器、１５は比較器１３から送られて来た電圧差
ΔVi+1＝Vi+1−Viとシフトレジスタ１６から送ら
れて来た一時点前の電圧差ΔVi＝Vi−Vi-1とを比
較演算する比較器、１７は比較器１５の演算結果
の符号を判別する符号判別回路、１８は映像信号
Ａの電圧Vi+1とスレツシユホールド電圧VLとを
比較する比較器、１９は比較器１８で比較された
スレツシユホールド電圧VLより小さい電圧を与
える映像信号の番地を記憶し且つ符号判別回路１
７からのクリアパルスCEが入力されると記憶し
ている番地を棄却する記憶回路、２０はクロツク
パルスＣの数をカウントしその数を番地として記
憶回路１９に送るカウンタである。
圧延材幅端位置の検出に際しては、圧延材の映
像信号Ａの電圧Vi+1及びシフトレジスタ１４に記
憶されていた１番地手前の映像信号の電圧Ｖがク
ロツクパルスＣの１パルスごとに比較器１３に送
られ、両者の差がΔVi+1＝Vi−Vi+1として比較演
算され、電圧差ΔVi+1が比較器１３から比較器１
５及びシフトレジスタ１６へ出力される。又シフ
トレジスタ１４ではクロツクパルスＣの１パルス
ごとに映像信号Ａの値が更改される。
像信号Ａの電圧Vi+1及びシフトレジスタ１４に記
憶されていた１番地手前の映像信号の電圧Ｖがク
ロツクパルスＣの１パルスごとに比較器１３に送
られ、両者の差がΔVi+1＝Vi−Vi+1として比較演
算され、電圧差ΔVi+1が比較器１３から比較器１
５及びシフトレジスタ１６へ出力される。又シフ
トレジスタ１４ではクロツクパルスＣの１パルス
ごとに映像信号Ａの値が更改される。
比較器１３から出力された電圧差ΔVi+1は比較
器１３において、シフトレジスタ１６に記憶され
ていた一時点前の電圧差ΔViとΔVi−ΔVi+1によ
り比較演算され、その信号は符号判別回路１７に
出力され、該符号判別器１７で比較器１５からの
出力の正負が判別される。
器１３において、シフトレジスタ１６に記憶され
ていた一時点前の電圧差ΔViとΔVi−ΔVi+1によ
り比較演算され、その信号は符号判別回路１７に
出力され、該符号判別器１７で比較器１５からの
出力の正負が判別される。
一方、映像信号Ａの電圧Vi+1はスレツシユホー
ルド電圧VLと比較器１８で時々刻々と比較され
て記憶回路１９へ送られているが、Nk番地でVL
＞Vk+1となるので、このときNk番地の値は記憶
回路１９へ残る。而して、このままではNk番地
を圧延材幅端部と認識してしまうことになるが、
比較器１５の出力が負になつた場合は先の符号判
別回路１７よりクリアパルスCEが記憶回路１９
へ送られて来、番地Nkが棄却される。斯かる操
作によつて圧延材１の真の幅位置を表わす受光素
子の番地NEが記憶回路１９に残る。又シフトレ
ジスタ１６では、クロツクパルスＣの１パルスご
とに電圧差の値が更改される。
ルド電圧VLと比較器１８で時々刻々と比較され
て記憶回路１９へ送られているが、Nk番地でVL
＞Vk+1となるので、このときNk番地の値は記憶
回路１９へ残る。而して、このままではNk番地
を圧延材幅端部と認識してしまうことになるが、
比較器１５の出力が負になつた場合は先の符号判
別回路１７よりクリアパルスCEが記憶回路１９
へ送られて来、番地Nkが棄却される。斯かる操
作によつて圧延材１の真の幅位置を表わす受光素
子の番地NEが記憶回路１９に残る。又シフトレ
ジスタ１６では、クロツクパルスＣの１パルスご
とに電圧差の値が更改される。
上述のようにして、検出器の視野中が部分的に
水蒸気や水等に遮られたり、圧延材に水や酸化ス
ケール等が残つても正確に圧延材の幅端部が求め
られる。
水蒸気や水等に遮られたり、圧延材に水や酸化ス
ケール等が残つても正確に圧延材の幅端部が求め
られる。
なお、本発明の実施例においては、圧延材幅端
部の位置を検出する場合について説明したが、圧
延材に限らず高温の金属塊ならいかなる金属に対
しても適用可能なこと、本発明装置はコンピユー
タにより構成することもできるし、或いは電子回
路等のハードウエアで構成することもできるこ
と、その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で
種々変更を加え得ること、等は勿論である。
部の位置を検出する場合について説明したが、圧
延材に限らず高温の金属塊ならいかなる金属に対
しても適用可能なこと、本発明装置はコンピユー
タにより構成することもできるし、或いは電子回
路等のハードウエアで構成することもできるこ
と、その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で
種々変更を加え得ること、等は勿論である。
［発明の効果］
本発明の金属塊の幅方向位置検出方法及びその
装置によれば、水蒸気、水、酸化スケール等、加
熱金属塊の端部位置を光学式検出器で測定する際
に咲けることのできない外乱の影響を除去し、精
度の高い測定が可能となるという優れた効果を奏
し得る。
装置によれば、水蒸気、水、酸化スケール等、加
熱金属塊の端部位置を光学式検出器で測定する際
に咲けることのできない外乱の影響を除去し、精
度の高い測定が可能となるという優れた効果を奏
し得る。
第１図は本発明の金属塊の幅方向位置検出方法
及びその装置を具体化した例の説明図、第２図及
び第３図は本発明の金属塊の幅方向位置検出方法
及びその装置の原理の説明図、第４図は金属塊等
の材料の幅方向位置を検出する原理の説明図、第
５図は加熱された金属塊の幅方向位置を検出する
原理の説明図、第６図は第５図で示す幅方向位置
検出の場合に幅端部に生じる光量差を表わす信号
と走査時間との関係を示すグラフ、第７図は加熱
された金属塊の幅端部を検出する場合に走査時間
の変更による出力信号の変化を示す説明図であ
る。 図中１３は比較器、１４はシフトレジスタ、１
５は比較器、１６はシフトレジスタ、１７は符号
判別回路、１８は比較器、１９は記憶回路、２０
はカウンタを示す。
及びその装置を具体化した例の説明図、第２図及
び第３図は本発明の金属塊の幅方向位置検出方法
及びその装置の原理の説明図、第４図は金属塊等
の材料の幅方向位置を検出する原理の説明図、第
５図は加熱された金属塊の幅方向位置を検出する
原理の説明図、第６図は第５図で示す幅方向位置
検出の場合に幅端部に生じる光量差を表わす信号
と走査時間との関係を示すグラフ、第７図は加熱
された金属塊の幅端部を検出する場合に走査時間
の変更による出力信号の変化を示す説明図であ
る。 図中１３は比較器、１４はシフトレジスタ、１
５は比較器、１６はシフトレジスタ、１７は符号
判別回路、１８は比較器、１９は記憶回路、２０
はカウンタを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 加熱された金属塊の発する光を受光する受光
素子群とレンズとから成る検出器により金属塊の
幅端位置を検出する際に、受光素子を金属塊の幅
方向へ走査して得られた１ビツトごとの映像信号
電圧と予め定められたスレツシユホールド電圧と
を比較し、これに符号変化が生じた時点での映像
信号の番地を記録すると共に、１ビツトごとに現
時点の映像信号と１時点前の映像信号との電圧差
を演算し、その電圧差に符号変化が生じた場合は
前記記憶されていた番地を棄却することを特徴と
する金属塊の幅方向位置検出方法。 ２ 加熱された金属塊の発する光を受光する受光
素子群とレンズとから成る金属塊を幅方向へ走査
し得るようにした検出器と、検出された所定番地
の映像信号と一番地前の映像信号の電圧差を比較
演算する比較器と、該比較器から送られて来た現
時点の映像信号の電圧差と一時点前の映像信号の
電圧差を比較演算する比較器と、現時点の映像信
号の電圧差と一時点前の映像信号の電圧差の正負
の符号を判別し符号が変化した場合には、クリア
パルスを出す符号判別回路と、前記各時点の映像
信号の電圧と予め設定されたスレツシユホールド
電圧との差を比較演算する比較器と、該比較器の
出力に符号変化が起つたときにはその時点の受光
素子の番地を記憶し前記符号判別回路からクリア
パルスが送られて来た場合には前記記憶している
受光素子の番地を棄却する記憶回路を設けたこと
を特徴とする金属塊の幅方向位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22325985A JPS6282306A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 金属塊の幅方向位置検出方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22325985A JPS6282306A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 金属塊の幅方向位置検出方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6282306A JPS6282306A (ja) | 1987-04-15 |
| JPH0467888B2 true JPH0467888B2 (ja) | 1992-10-29 |
Family
ID=16795297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22325985A Granted JPS6282306A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 金属塊の幅方向位置検出方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6282306A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5335569A (en) * | 1976-09-14 | 1978-04-03 | Asahi Glass Co Ltd | Method of measuring outer diameter of transparent substance |
| JPS57146103A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-09 | Fujitsu Ltd | Measuring system for size |
-
1985
- 1985-10-07 JP JP22325985A patent/JPS6282306A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6282306A (ja) | 1987-04-15 |
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