JPH0468562B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0468562B2 JPH0468562B2 JP216987A JP216987A JPH0468562B2 JP H0468562 B2 JPH0468562 B2 JP H0468562B2 JP 216987 A JP216987 A JP 216987A JP 216987 A JP216987 A JP 216987A JP H0468562 B2 JPH0468562 B2 JP H0468562B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- distance sensor
- coating film
- coated
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 28
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
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- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 4
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、被塗物の表面に形成された乾燥前の
濡れた状態の塗膜の厚さを測定する装置に関す
る。
濡れた状態の塗膜の厚さを測定する装置に関す
る。
従来の技術及び発明が解決しようとする問題点
例えば、コンベアで搬送される被塗物に連続的
に塗装を施す自動塗装ラインにおいて、乾燥前の
濡れ状態の塗膜の厚さを知ることは、塗料吐出量
を制御したり、補正塗装を行なう上で重要なこと
であり、この濡れた塗膜の厚さを測定する場合
は、乾燥後の塗膜厚を測定する場合のように、例
えば、鉄心入りのコイルを塗膜上に接触させ、コ
イルのインダクタンスの変化により被塗物の表面
までの距離を取出して塗膜厚を測定する電磁膜厚
計のような接触式の膜厚計を使用することができ
ないから、従来は、濡れ塗膜専用として、偏心輪
を利用したロータリ型、あるいは、歯型の刻みで
測定するくし型等のウエツトゲージを用いていた
が、輪あるいはくしの歯を塗膜中に押し込む構造
であることから、塗膜に大きな測定の痕跡が残る
不具合があつた。
に塗装を施す自動塗装ラインにおいて、乾燥前の
濡れ状態の塗膜の厚さを知ることは、塗料吐出量
を制御したり、補正塗装を行なう上で重要なこと
であり、この濡れた塗膜の厚さを測定する場合
は、乾燥後の塗膜厚を測定する場合のように、例
えば、鉄心入りのコイルを塗膜上に接触させ、コ
イルのインダクタンスの変化により被塗物の表面
までの距離を取出して塗膜厚を測定する電磁膜厚
計のような接触式の膜厚計を使用することができ
ないから、従来は、濡れ塗膜専用として、偏心輪
を利用したロータリ型、あるいは、歯型の刻みで
測定するくし型等のウエツトゲージを用いていた
が、輪あるいはくしの歯を塗膜中に押し込む構造
であることから、塗膜に大きな測定の痕跡が残る
不具合があつた。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決するための手段として、本
発明の塗膜厚測定装置は、金属材料からなる被塗
膜の表面までの距離を測定するリング状をなす渦
電流式または電磁式の第1の距離センサの中心に
検知光線を発する発光体を配置するとともに、前
記第1の距離センサの周りに、前記被塗物の表面
に形成された塗膜の表面で反射した前記検知光線
を受光して該塗膜の表面までの距離を測定する、
互いに測定範囲の異なる2以上の光学式の第2の
距離センサを配置し、かつ、該第2の距離センサ
の測定値と前記第1の距離センサの測定値の差を
演算して表示する演算表示装置を設けた構成とし
た。
発明の塗膜厚測定装置は、金属材料からなる被塗
膜の表面までの距離を測定するリング状をなす渦
電流式または電磁式の第1の距離センサの中心に
検知光線を発する発光体を配置するとともに、前
記第1の距離センサの周りに、前記被塗物の表面
に形成された塗膜の表面で反射した前記検知光線
を受光して該塗膜の表面までの距離を測定する、
互いに測定範囲の異なる2以上の光学式の第2の
距離センサを配置し、かつ、該第2の距離センサ
の測定値と前記第1の距離センサの測定値の差を
演算して表示する演算表示装置を設けた構成とし
た。
発明の作用及び効果
本発明は上記構成になり、濡れた塗膜を表面に
形成した金属材料からなる被塗物に測定装置を対
応させると、第1の距離センサにより被塗物の表
面までの距離が測定されるとともに、何れかの第
2の距離センサにより塗膜の表面までの距離が測
定され、演算表示装置によつて、その第2の距離
センサの測定値と、第1の距離センサの測定値の
差が演算されて、その演算値が塗膜厚として表示
されるのであつて、塗膜に何ら接触させない構造
であるから、測定の痕跡を全く残すことく濡れ状
態の塗膜の厚さを測定することができ、しかも、
その塗膜厚が表示されるから、塗膜厚を簡単にか
つ確実に認識することができ、また、第1の距離
センサの中心に、第2の距離センサの検知光線発
光用の発光体を配置した構造となつているから、
被塗物の表面までの距離と塗膜の表面までの距離
とを同じ位置で測定することができて、塗膜厚を
誤差なく測定することができ、さらに、互いに測
定範囲の異なる2以上の第2の距離センサを配置
したから、測定範囲の狭い高精度のセンサを用い
ることにより、測定範囲の広い1個のセンサを用
いる場合に比べて、塗膜厚を大小広範囲にわたつ
て精密に測定し得る効果がある。
形成した金属材料からなる被塗物に測定装置を対
応させると、第1の距離センサにより被塗物の表
面までの距離が測定されるとともに、何れかの第
2の距離センサにより塗膜の表面までの距離が測
定され、演算表示装置によつて、その第2の距離
センサの測定値と、第1の距離センサの測定値の
差が演算されて、その演算値が塗膜厚として表示
されるのであつて、塗膜に何ら接触させない構造
であるから、測定の痕跡を全く残すことく濡れ状
態の塗膜の厚さを測定することができ、しかも、
その塗膜厚が表示されるから、塗膜厚を簡単にか
つ確実に認識することができ、また、第1の距離
センサの中心に、第2の距離センサの検知光線発
光用の発光体を配置した構造となつているから、
被塗物の表面までの距離と塗膜の表面までの距離
とを同じ位置で測定することができて、塗膜厚を
誤差なく測定することができ、さらに、互いに測
定範囲の異なる2以上の第2の距離センサを配置
したから、測定範囲の狭い高精度のセンサを用い
ることにより、測定範囲の広い1個のセンサを用
いる場合に比べて、塗膜厚を大小広範囲にわたつ
て精密に測定し得る効果がある。
実施例
以下、本発明の一実施例を添付図面に基づいて
説明する。
説明する。
第1図及び第2図においては、1は、環形をな
す測定装置本体であつて、濡れた状態の塗膜bを
形成した金属材料からなる被塗物aの前面に対応
して配置されるようになつており、この本体1の
中心孔2内に、被塗物aの表面までの距離を測定
する渦電流式の第1の距離センサ3が嵌着され、
この渦電流式の距離センサ3は、リング形のコア
4の外周にコイル5が巻回され、コイル5に通電
したときに生ずる磁束によつて被塗物aの表面に
誘起される渦電流の大きさが、第1の距離センサ
3と被塗物aとの対応距離に応じて変化するのを
利用して、第1の距離センサ3から被塗物aの表
面までの距離Aを測定するようになつており、こ
の第1の距離センサ3のコア4の中心孔6内に、
検知光線を発する発光体8が嵌着されているとと
もに、本体1の第1の距離センサ3の周りに、塗
膜bの表面までの距離を測定する3個の光学式の
第2の距離センサ11a,11b及び11cが、
120度間隔で取付けられている。
す測定装置本体であつて、濡れた状態の塗膜bを
形成した金属材料からなる被塗物aの前面に対応
して配置されるようになつており、この本体1の
中心孔2内に、被塗物aの表面までの距離を測定
する渦電流式の第1の距離センサ3が嵌着され、
この渦電流式の距離センサ3は、リング形のコア
4の外周にコイル5が巻回され、コイル5に通電
したときに生ずる磁束によつて被塗物aの表面に
誘起される渦電流の大きさが、第1の距離センサ
3と被塗物aとの対応距離に応じて変化するのを
利用して、第1の距離センサ3から被塗物aの表
面までの距離Aを測定するようになつており、こ
の第1の距離センサ3のコア4の中心孔6内に、
検知光線を発する発光体8が嵌着されているとと
もに、本体1の第1の距離センサ3の周りに、塗
膜bの表面までの距離を測定する3個の光学式の
第2の距離センサ11a,11b及び11cが、
120度間隔で取付けられている。
この光学式の距離センサ11は、三角測距方式
を採用したものであつて、第3図に示すように、
前記の発光体8おいて、半導体レーザ9からのレ
ーザ光線を投光レンズ10を通して検知光線とし
て発して、測距対象物である塗膜bの表面に当
て、その反射光を、受光レンズ12を通してフオ
トダイオードからなる位置検出素子13上にスポ
ツト光として受け、例えば、塗膜bの表面がY点
にあるときの反射光が位置検出素子13の中心y
で受光される場合に、それよりも近距離のX点で
は反射光が中心yから一側にずれたx点で受光さ
れ、逆に、遠距離のZ点では反射光が反対側にず
れたz点で受光され、その反射光の位置検出素子
13上の受光位置により発光体8の先端から塗膜
bの表面までの距離Bを測定するようになつてお
り、塗膜bの表面の位置が、Y点から一定範囲を
超えた近距離及び遠距離にあるときは、反射光が
位置検出素子13の端から外れて位置検出素子1
3上で受光されないことから、限られた一定範囲
内においてのみ精密に測定できるようになつてい
る。
を採用したものであつて、第3図に示すように、
前記の発光体8おいて、半導体レーザ9からのレ
ーザ光線を投光レンズ10を通して検知光線とし
て発して、測距対象物である塗膜bの表面に当
て、その反射光を、受光レンズ12を通してフオ
トダイオードからなる位置検出素子13上にスポ
ツト光として受け、例えば、塗膜bの表面がY点
にあるときの反射光が位置検出素子13の中心y
で受光される場合に、それよりも近距離のX点で
は反射光が中心yから一側にずれたx点で受光さ
れ、逆に、遠距離のZ点では反射光が反対側にず
れたz点で受光され、その反射光の位置検出素子
13上の受光位置により発光体8の先端から塗膜
bの表面までの距離Bを測定するようになつてお
り、塗膜bの表面の位置が、Y点から一定範囲を
超えた近距離及び遠距離にあるときは、反射光が
位置検出素子13の端から外れて位置検出素子1
3上で受光されないことから、限られた一定範囲
内においてのみ精密に測定できるようになつてい
る。
そして、各第2の距離センサ11a,11b及
び11cは、夫々のレンズ12及び位置検出素子
13の傾斜角度が異なつていて、夫々の測距範囲
を、第2図に示すように、被塗物aの表面に近い
側から順に範囲、及びに分けて受け持つよ
うになつており、その範囲乃至の一部が重な
るように設定されており、前記した第1の距離セ
ンサ3と、第2の距離センサ11a乃至11c
に、第1の距離センサ3の測定値Aと、第2の距
離センサ11a乃至11cの測定値Bに基づいて
演算を行なつて、その演算値を表示する演算表示
装置15が接続されている。
び11cは、夫々のレンズ12及び位置検出素子
13の傾斜角度が異なつていて、夫々の測距範囲
を、第2図に示すように、被塗物aの表面に近い
側から順に範囲、及びに分けて受け持つよ
うになつており、その範囲乃至の一部が重な
るように設定されており、前記した第1の距離セ
ンサ3と、第2の距離センサ11a乃至11c
に、第1の距離センサ3の測定値Aと、第2の距
離センサ11a乃至11cの測定値Bに基づいて
演算を行なつて、その演算値を表示する演算表示
装置15が接続されている。
本実施例はこのような構造になり、第1の距離
センサ3で被塗物aの表面までの距離Aが測定さ
れ、一方、塗膜bの表面までの距離Bについて
は、塗膜bの表面に位置によつて、例えば、範囲
乃至のいずれかの重なり合わない部分にある
ときには、その範囲を受け持つ第2の距離センサ
11a乃至11cのいずれか1つでその距離Bが
測定され、また、範囲乃至の重なつた部分に
あるときには、重なり合つた隣り同士の範囲のう
ちで、塗膜bの表面の位置がより範囲の中心に近
い方の範囲を受け持つ第2の距離センサ11a乃
至11cからの信号が優先的に取出されてその距
離Bが測定され、演算表示装置15において、測
定値Aから測定値Bを引く演算が行なわれて、そ
の演算結果が塗膜bの厚さとして表示される。
センサ3で被塗物aの表面までの距離Aが測定さ
れ、一方、塗膜bの表面までの距離Bについて
は、塗膜bの表面に位置によつて、例えば、範囲
乃至のいずれかの重なり合わない部分にある
ときには、その範囲を受け持つ第2の距離センサ
11a乃至11cのいずれか1つでその距離Bが
測定され、また、範囲乃至の重なつた部分に
あるときには、重なり合つた隣り同士の範囲のう
ちで、塗膜bの表面の位置がより範囲の中心に近
い方の範囲を受け持つ第2の距離センサ11a乃
至11cからの信号が優先的に取出されてその距
離Bが測定され、演算表示装置15において、測
定値Aから測定値Bを引く演算が行なわれて、そ
の演算結果が塗膜bの厚さとして表示される。
なお、互いに測定範囲を異にするの光学式の第
2の距離センサ11の数は、上記実施例の3個に
限らず2個以上任意であつて、その数が多いほ
ど、塗膜厚を大小広範囲にわたつて測定すること
が可能となる。
2の距離センサ11の数は、上記実施例の3個に
限らず2個以上任意であつて、その数が多いほ
ど、塗膜厚を大小広範囲にわたつて測定すること
が可能となる。
また、被塗物aが金属のうちでも鉄等の磁性材
料の場合は、第1の距離センサ3に、コイルを巻
回したリング形のコアを被塗物aに対応させて、
その対応距離に応じてコイルのインダクタンスが
変化するのを利用して測距する電磁式の距離セン
サをいても良い。
料の場合は、第1の距離センサ3に、コイルを巻
回したリング形のコアを被塗物aに対応させて、
その対応距離に応じてコイルのインダクタンスが
変化するのを利用して測距する電磁式の距離セン
サをいても良い。
第1図は本発明の一実施例の正面図及びブロツ
ク図、第2図はその測定状態の説明図、第3図は
その光学式距離センサの測距原理説明図である。 a……被塗物、b……塗膜、3……第1の距離
センサ、8……発光体、11a,11b,11c
……第2の距離センサ、15……演算表示装置。
ク図、第2図はその測定状態の説明図、第3図は
その光学式距離センサの測距原理説明図である。 a……被塗物、b……塗膜、3……第1の距離
センサ、8……発光体、11a,11b,11c
……第2の距離センサ、15……演算表示装置。
Claims (1)
- 1 金属材料からなる被塗物の表面までの距離を
測定するリング状をなす渦電流式または電磁式の
第1の距離センサの中心に検知光線を発する発光
体を配置するとともに、前記第1の距離センサの
周りに、前記被塗物の表面に形成された塗膜の表
面で反射した前記検知光線を受光して該塗膜の表
面までの距離を測定する、互いに測定範囲の異な
る2以上の光学式の第2の距離センサを配置し、
かつ、該第2の距離センサの測定値と前記第1の
距離センサの測定値の差を演算して表示する演算
表示装置を設けたことを特徴とする塗膜厚測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP216987A JPS63169514A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP216987A JPS63169514A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63169514A JPS63169514A (ja) | 1988-07-13 |
| JPH0468562B2 true JPH0468562B2 (ja) | 1992-11-02 |
Family
ID=11521862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP216987A Granted JPS63169514A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63169514A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4110727C2 (de) * | 1991-04-03 | 1995-06-29 | Micro Epsilon Messtechnik | Drehmomentgeber |
| JP2026023716A (ja) * | 2024-08-01 | 2026-02-13 | 横河電機株式会社 | 測定機器、測定装置及び測定方法 |
-
1987
- 1987-01-08 JP JP216987A patent/JPS63169514A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63169514A (ja) | 1988-07-13 |
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