JPH0470763B2 - - Google Patents
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- JPH0470763B2 JPH0470763B2 JP63309378A JP30937888A JPH0470763B2 JP H0470763 B2 JPH0470763 B2 JP H0470763B2 JP 63309378 A JP63309378 A JP 63309378A JP 30937888 A JP30937888 A JP 30937888A JP H0470763 B2 JPH0470763 B2 JP H0470763B2
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Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Description
[産業上の利用分野]
本発明は粒界絶縁型半導体磁器組成物に係り、
特にチタン酸ストロンチウムとチタン酸マグネシ
ウムとを主成分とする、極めて高い誘電率を有
し、かつ誘電損失、誘電率の温度変化が少ない高
特性粒界絶縁型半導体磁器組成物に関する。 [従来の技術] 粒界絶縁型半導体磁器組成物は、従来よりIC
回路のコンデンサ素子材料として広く利用されて
いる。しかして、従来、粒界絶縁型半導体磁器組
成物としては、例えばチタン酸バリウムを主成分
とし、原子価制御剤等の微量添加物を配合した半
導体磁器の結晶粒界を酸化第二銅(CuO)等を熱
拡散させて絶縁化したものが知られている。この
組成物は、誘電率が50000と大きい反面、誘電損
失も5%と大きく、誘電率の温度変化も−25℃〜
+85℃の範囲において、±15%を超えるという欠
点を有していた。 近年、上記粒界絶縁型半導体磁器組成物の欠点
を改良した粒界絶縁型半導体磁器組成物として、
チタン酸ストロンチウムを主成分とするものが数
多く報告されている。例えば、特公昭60−46811
号公報には、チタン酸ストロンチウム97.7〜
99.85重量%、二酸化マンガン0.05〜0.8重量%、
及び酸化ランタン0.1〜1.5重量%からなる半導体
磁器の結晶粒界に酸化ビスマス等を拡散させて絶
縁体化した組成物が開示されている。組成物は、
誘電率が50000、誘電損失が0.8%、誘電率の温度
変化率が−30〜+85℃の範囲で+8%以下という
特性を有しており、上記組成物に対して誘電損
失、誘電率の温度変化が改善されている。 [発明が解決しようとする課題] 近年、回路のIC化が急速に進み、コンデンサ
の小型大容量化への要望は更に高くなつており、
誘電損失や誘電率の温度変化がより少なく、しか
もよい高い誘電率を有する粒界絶縁型半導体磁器
組成物の開発が強く要求されている。 本発明は上記実情に鑑みてなされたものであつ
て、極めて高い誘電率を有し、かつ誘電損失、誘
電率の温度変化が著しく小さい、高特性粒界絶縁
型半導体磁器組成物を提供することを目的とす
る。 [課題が解決しようとする手段及び作用] 請求項1の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、チ
タン酸ストロンチウム92〜80モル%及びチタン酸
マグネシウム8〜20モル%からなる主成分に、該
主成分に対するとモル比で、酸化第二銅0.01〜
0.5モル%と、酸化珪素0.01〜1.0モル%、酸化ニ
オブ、酸化ランタン、酸化イツトリウム、酸化タ
ンタル及び酸化タングステンよりなる群から選ば
れる少なくとも1種を0.05〜0.8モル%とが添加
された組成を有し、半導体磁器の結晶粒界を絶縁
化してなることを特徴とする。 請求項2の粒界絶縁型半導体磁器組成物は請求
項1において、半導体磁器の表面にビスマス及
び/又は銅の酸化物又は硝酸塩を含む絶縁化剤を
塗布して熱拡散することにより、該半導体磁器の
結晶粒界を絶縁化したことを特徴とする。 以下に本発明を詳細に説明する。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、チタ
ン酸ストロンチウム(SrTiO3)及びチタン酸マ
グネシウム(MgTiO3)を主成分とし、これに諸
特性改善のための各種添加剤を加えたものであ
る。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物におい
て、MgTiO3は、結晶粒子成長を適度に抑制し、
磁器に粒子の均一かつ安定な成長をもたらし、誘
電率の温度変化を低減する機能を有するものであ
る。MgTiO3の添加量が8モル%未満でSrTiO3
の添加量が92モル%を超えると、誘電率の温度変
化率が±8%程度と比較的大きくするため、十分
な改善効果が得られない。逆にMgTiO3が20モル
%を超え、SrTiO3が80モル%未満では、結晶粒
子の成長が極度に抑制されて誘電率が低下し、誘
電損失も増大する。従つて、主成分である
SrTiO3及びMgTiO3の配合割合は、SrTiO392〜
80モル%、MgTiO38〜20モル%とする。 SrTiO3及びMgTiO3よりなる主成分に添加す
る添加剤のうち、酸化第二銅(CuO)は、結晶粒
子の成長を制御する機能を有し、上記主成分に対
するCuOの添加量が、0.01モル%未満では、粒子
成長が不均一となり誘電率が低下し、誘電損失が
増加する。逆に0.5モル%を超えると粒子成長が
抑制され誘電率が低下する。従つて、CuOの添加
量は主成分に対して0.01〜0.5モル%とする。 酸化珪素(SiO2)は結晶粒子を成長させる機
能を有し、主成分に対するSiO2の添加量が0.01モ
ル%未満では粒子成長が不十分となり、誘電率の
低下、誘電率の温度変化の増大を招く。逆に1.0
モル%を超えると、粒子成長が抑制されて誘電率
が低下する。従つて、SiO2の添加量は主成分に
対して0.01〜1.0モル%とする。 酸化ニオブ、酸化ランタン、酸化イツトリウ
ム、酸化タンタル、酸化タングステンは、原子価
制御剤として添加されるものであつて、酸化スト
ロンチウムの半導体化を促進する作用を奏する。
これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を
併用しても良いが、その添加量(2種以上を併用
する場合は合計の添加量)が、前記主成分に対し
て0.05モル%未満では、半導体の体積抵抗率が高
くなつて誘電率が低下する。逆に、0.8モル%を
超えると、結晶粒子の成長が抑制されて誘電率が
低下するとともに誘電損失も増加する。従つて、
これらの原子制御剤の添加量は主成分に対して
0.05〜0.8モル%とする。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、上記
主成分及び各種添加剤の所定量を配合して得られ
る半導体磁器の結晶粒界を絶縁化してなるもので
あるが、この絶縁化方法としては、ビスマスの酸
化物、硝酸塩及び銅の酸化物、硝酸塩よりなる群
から選ばれる1種又は2種以上を絶縁化剤として
用い、これを半導体磁器表面に塗布して熱拡散す
る方法が好適である。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、例え
ば次のようにして製造することができる。 即ち、まず、SrTiO3、MgTiO3、CuO、SiO2
及び原子価制御剤の所定量を湿式ボールミル等で
十分に混合粉砕する。この場合、SrTiO3は、炭
酸ストロンチウム(SrCO3)と二酸化チタン
(TiO2)とを配合することにより、MgTiO3は炭
酸マグネシウム(MgCO3)と二酸化チタン
(TiO2)とを配合することにより調製することが
できる。得られた混合物を乾燥後、大気中で1000
〜1200℃にて2〜3時間程度仮焼し、冷却後粉砕
する。得られた粉末にバインダーを加えて常法に
従つて加圧成形した後、大気中、700〜1000℃に
て2〜3時間程度仮焼してバインダーを除去し、
その後水素1〜10容量%の窒素又はアルゴン気流
中で1400〜1450℃で4〜6時間程度焼成して焼結
する。 得られた焼結体の表面に、前記絶縁化剤をアル
コール等の溶液として塗布し、900〜1250℃で30
分〜2時間熱処理することによりこれを結晶粒界
に熱拡散させて、絶縁化する。 このようにして得られる本発明の粒界絶縁型半
導体磁器組成物は、通常の場合、誘電率が40000
〜50000と高く、誘電損失が0.8%以下、誘電率の
温度変化が−25℃〜+85℃の範囲で±2%以内と
極めて低いものである。 [実施例] 以下に実施例及び比較例を挙げて、本発明をよ
り具体的に説明するが、本発明はその要旨を超え
ない限り、以下の実施例に限定されるものではな
い。 実施例1〜6、比較例1、2 チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)とチタン
酸マグネシウム(MgTiO3)が第1表に示す割合
となるように、炭酸ストロンチウム(SrCO3)、
炭酸マグネシウム(MgCO3)、二酸化チタン
(TiO2)をそれぞれ秤量した。また、チタン酸ス
トロンチウムとチタン酸マグネシウムの合計100
モルに対し、五酸化ニオブ(Nb2O5)、酸化第二
銅(CuO)、酸化珪素(SiO2)を第1表の配合割
合となるように秤量した。 これらを湿式ボールミルで20時間混合粉砕処理
を行なつた後、乾燥した。この混合物を大気中
1100℃で3時間仮焼し、冷却後、微粉砕した。得
られた粉末にバインダーを加え、圧力1ton/cm2で
直径10mmの円盤に成形した。成形品は、大気中
1000℃で2時間仮焼してバインダーを除いた後、
水素1〜10容量%の窒素気流中にて1440℃の温度
で5時間焼結した。 得られた焼結体の表面に、絶縁化剤として酸化
ビスマス(Bi2O3)及び酸化第二銅(CuO)のア
ルコール溶液(Bi2O395重量%、CuO5重量%)
を約0.2mg/mm2塗布した後、1000℃で2時間拡散
処理し、粒界層の絶縁化を行なつた。 このようにして得られた粒界絶縁型半導体磁器
の両面に銀電極を塗布焼付し、これを用いて、諸
特性の測定を行なつた。なお、誘電率と誘電損失
は、1kHz、25℃で測定した。また、絶縁抵抗は、
25℃において直流電圧25Vを印加し、60秒後の抵
抗値で測定した。誘電率の温度特性は、−25℃〜
+85℃の温度範囲で25℃を基準とし算出した。 結果を第2表に示す。 第2表より、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組
成物は、著しく誘電率が高く、誘電損失は非常に
小さく、特に誘電率の温度変化が著しく小さい、
高特性粒界絶縁型半導体磁器組成物であることが
明らかである。
特にチタン酸ストロンチウムとチタン酸マグネシ
ウムとを主成分とする、極めて高い誘電率を有
し、かつ誘電損失、誘電率の温度変化が少ない高
特性粒界絶縁型半導体磁器組成物に関する。 [従来の技術] 粒界絶縁型半導体磁器組成物は、従来よりIC
回路のコンデンサ素子材料として広く利用されて
いる。しかして、従来、粒界絶縁型半導体磁器組
成物としては、例えばチタン酸バリウムを主成分
とし、原子価制御剤等の微量添加物を配合した半
導体磁器の結晶粒界を酸化第二銅(CuO)等を熱
拡散させて絶縁化したものが知られている。この
組成物は、誘電率が50000と大きい反面、誘電損
失も5%と大きく、誘電率の温度変化も−25℃〜
+85℃の範囲において、±15%を超えるという欠
点を有していた。 近年、上記粒界絶縁型半導体磁器組成物の欠点
を改良した粒界絶縁型半導体磁器組成物として、
チタン酸ストロンチウムを主成分とするものが数
多く報告されている。例えば、特公昭60−46811
号公報には、チタン酸ストロンチウム97.7〜
99.85重量%、二酸化マンガン0.05〜0.8重量%、
及び酸化ランタン0.1〜1.5重量%からなる半導体
磁器の結晶粒界に酸化ビスマス等を拡散させて絶
縁体化した組成物が開示されている。組成物は、
誘電率が50000、誘電損失が0.8%、誘電率の温度
変化率が−30〜+85℃の範囲で+8%以下という
特性を有しており、上記組成物に対して誘電損
失、誘電率の温度変化が改善されている。 [発明が解決しようとする課題] 近年、回路のIC化が急速に進み、コンデンサ
の小型大容量化への要望は更に高くなつており、
誘電損失や誘電率の温度変化がより少なく、しか
もよい高い誘電率を有する粒界絶縁型半導体磁器
組成物の開発が強く要求されている。 本発明は上記実情に鑑みてなされたものであつ
て、極めて高い誘電率を有し、かつ誘電損失、誘
電率の温度変化が著しく小さい、高特性粒界絶縁
型半導体磁器組成物を提供することを目的とす
る。 [課題が解決しようとする手段及び作用] 請求項1の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、チ
タン酸ストロンチウム92〜80モル%及びチタン酸
マグネシウム8〜20モル%からなる主成分に、該
主成分に対するとモル比で、酸化第二銅0.01〜
0.5モル%と、酸化珪素0.01〜1.0モル%、酸化ニ
オブ、酸化ランタン、酸化イツトリウム、酸化タ
ンタル及び酸化タングステンよりなる群から選ば
れる少なくとも1種を0.05〜0.8モル%とが添加
された組成を有し、半導体磁器の結晶粒界を絶縁
化してなることを特徴とする。 請求項2の粒界絶縁型半導体磁器組成物は請求
項1において、半導体磁器の表面にビスマス及
び/又は銅の酸化物又は硝酸塩を含む絶縁化剤を
塗布して熱拡散することにより、該半導体磁器の
結晶粒界を絶縁化したことを特徴とする。 以下に本発明を詳細に説明する。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、チタ
ン酸ストロンチウム(SrTiO3)及びチタン酸マ
グネシウム(MgTiO3)を主成分とし、これに諸
特性改善のための各種添加剤を加えたものであ
る。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物におい
て、MgTiO3は、結晶粒子成長を適度に抑制し、
磁器に粒子の均一かつ安定な成長をもたらし、誘
電率の温度変化を低減する機能を有するものであ
る。MgTiO3の添加量が8モル%未満でSrTiO3
の添加量が92モル%を超えると、誘電率の温度変
化率が±8%程度と比較的大きくするため、十分
な改善効果が得られない。逆にMgTiO3が20モル
%を超え、SrTiO3が80モル%未満では、結晶粒
子の成長が極度に抑制されて誘電率が低下し、誘
電損失も増大する。従つて、主成分である
SrTiO3及びMgTiO3の配合割合は、SrTiO392〜
80モル%、MgTiO38〜20モル%とする。 SrTiO3及びMgTiO3よりなる主成分に添加す
る添加剤のうち、酸化第二銅(CuO)は、結晶粒
子の成長を制御する機能を有し、上記主成分に対
するCuOの添加量が、0.01モル%未満では、粒子
成長が不均一となり誘電率が低下し、誘電損失が
増加する。逆に0.5モル%を超えると粒子成長が
抑制され誘電率が低下する。従つて、CuOの添加
量は主成分に対して0.01〜0.5モル%とする。 酸化珪素(SiO2)は結晶粒子を成長させる機
能を有し、主成分に対するSiO2の添加量が0.01モ
ル%未満では粒子成長が不十分となり、誘電率の
低下、誘電率の温度変化の増大を招く。逆に1.0
モル%を超えると、粒子成長が抑制されて誘電率
が低下する。従つて、SiO2の添加量は主成分に
対して0.01〜1.0モル%とする。 酸化ニオブ、酸化ランタン、酸化イツトリウ
ム、酸化タンタル、酸化タングステンは、原子価
制御剤として添加されるものであつて、酸化スト
ロンチウムの半導体化を促進する作用を奏する。
これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を
併用しても良いが、その添加量(2種以上を併用
する場合は合計の添加量)が、前記主成分に対し
て0.05モル%未満では、半導体の体積抵抗率が高
くなつて誘電率が低下する。逆に、0.8モル%を
超えると、結晶粒子の成長が抑制されて誘電率が
低下するとともに誘電損失も増加する。従つて、
これらの原子制御剤の添加量は主成分に対して
0.05〜0.8モル%とする。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、上記
主成分及び各種添加剤の所定量を配合して得られ
る半導体磁器の結晶粒界を絶縁化してなるもので
あるが、この絶縁化方法としては、ビスマスの酸
化物、硝酸塩及び銅の酸化物、硝酸塩よりなる群
から選ばれる1種又は2種以上を絶縁化剤として
用い、これを半導体磁器表面に塗布して熱拡散す
る方法が好適である。 本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物は、例え
ば次のようにして製造することができる。 即ち、まず、SrTiO3、MgTiO3、CuO、SiO2
及び原子価制御剤の所定量を湿式ボールミル等で
十分に混合粉砕する。この場合、SrTiO3は、炭
酸ストロンチウム(SrCO3)と二酸化チタン
(TiO2)とを配合することにより、MgTiO3は炭
酸マグネシウム(MgCO3)と二酸化チタン
(TiO2)とを配合することにより調製することが
できる。得られた混合物を乾燥後、大気中で1000
〜1200℃にて2〜3時間程度仮焼し、冷却後粉砕
する。得られた粉末にバインダーを加えて常法に
従つて加圧成形した後、大気中、700〜1000℃に
て2〜3時間程度仮焼してバインダーを除去し、
その後水素1〜10容量%の窒素又はアルゴン気流
中で1400〜1450℃で4〜6時間程度焼成して焼結
する。 得られた焼結体の表面に、前記絶縁化剤をアル
コール等の溶液として塗布し、900〜1250℃で30
分〜2時間熱処理することによりこれを結晶粒界
に熱拡散させて、絶縁化する。 このようにして得られる本発明の粒界絶縁型半
導体磁器組成物は、通常の場合、誘電率が40000
〜50000と高く、誘電損失が0.8%以下、誘電率の
温度変化が−25℃〜+85℃の範囲で±2%以内と
極めて低いものである。 [実施例] 以下に実施例及び比較例を挙げて、本発明をよ
り具体的に説明するが、本発明はその要旨を超え
ない限り、以下の実施例に限定されるものではな
い。 実施例1〜6、比較例1、2 チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)とチタン
酸マグネシウム(MgTiO3)が第1表に示す割合
となるように、炭酸ストロンチウム(SrCO3)、
炭酸マグネシウム(MgCO3)、二酸化チタン
(TiO2)をそれぞれ秤量した。また、チタン酸ス
トロンチウムとチタン酸マグネシウムの合計100
モルに対し、五酸化ニオブ(Nb2O5)、酸化第二
銅(CuO)、酸化珪素(SiO2)を第1表の配合割
合となるように秤量した。 これらを湿式ボールミルで20時間混合粉砕処理
を行なつた後、乾燥した。この混合物を大気中
1100℃で3時間仮焼し、冷却後、微粉砕した。得
られた粉末にバインダーを加え、圧力1ton/cm2で
直径10mmの円盤に成形した。成形品は、大気中
1000℃で2時間仮焼してバインダーを除いた後、
水素1〜10容量%の窒素気流中にて1440℃の温度
で5時間焼結した。 得られた焼結体の表面に、絶縁化剤として酸化
ビスマス(Bi2O3)及び酸化第二銅(CuO)のア
ルコール溶液(Bi2O395重量%、CuO5重量%)
を約0.2mg/mm2塗布した後、1000℃で2時間拡散
処理し、粒界層の絶縁化を行なつた。 このようにして得られた粒界絶縁型半導体磁器
の両面に銀電極を塗布焼付し、これを用いて、諸
特性の測定を行なつた。なお、誘電率と誘電損失
は、1kHz、25℃で測定した。また、絶縁抵抗は、
25℃において直流電圧25Vを印加し、60秒後の抵
抗値で測定した。誘電率の温度特性は、−25℃〜
+85℃の温度範囲で25℃を基準とし算出した。 結果を第2表に示す。 第2表より、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組
成物は、著しく誘電率が高く、誘電損失は非常に
小さく、特に誘電率の温度変化が著しく小さい、
高特性粒界絶縁型半導体磁器組成物であることが
明らかである。
【表】
【表】
[発明の効果]
以上詳述した通り、本発明の粒界絶縁型半導体
磁器組成物は、著しく誘電率が高く、誘電損失は
非常に小さく、また誘電率の温度変化は著しく小
さい、高特性粒界絶縁型半導体磁器組成物である
ため、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物によ
れば、優れた特性を有するコンデンサの提供が可
能となり、IC回路の小型化、高容量化を図り信
頼性の高い製品を提供することができる。 特に、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物
は、誘電率の温度変化率が著しく小さいため、温
度補償用コンデンサとして、静電容量の高いコン
デンサの提供が可能となり、回路の小型化、高信
頼性の面で工業上極めて有用である。
磁器組成物は、著しく誘電率が高く、誘電損失は
非常に小さく、また誘電率の温度変化は著しく小
さい、高特性粒界絶縁型半導体磁器組成物である
ため、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物によ
れば、優れた特性を有するコンデンサの提供が可
能となり、IC回路の小型化、高容量化を図り信
頼性の高い製品を提供することができる。 特に、本発明の粒界絶縁型半導体磁器組成物
は、誘電率の温度変化率が著しく小さいため、温
度補償用コンデンサとして、静電容量の高いコン
デンサの提供が可能となり、回路の小型化、高信
頼性の面で工業上極めて有用である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 チタン酸ストロンチウム92〜80モル%及びチ
タン酸マグネシウム8〜20モル%からなる主成分
に、該主成分に対するモル比で、酸化第二銅0.01
〜0.5モル%と、酸化珪素0.01〜1.0モル%と、酸
化ニオブ、酸化ランタン、酸化イツトリウム、酸
化タンタル及び酸化タングステンよりなる群から
選ばれる少なくとも1種を0.05〜0.8モル%とが
添加された組成を有し、半導体磁器の結晶粒界を
絶縁化してなることを特徴とする粒界絶縁型半導
体磁器組成物。 2 半導体磁器の表面にビスマス及び/又は銅の
酸化物又は硝酸塩を含む絶縁化剤を塗布して熱拡
散することにより、該半導体磁器の結晶粒界を絶
縁化したことを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の粒界絶縁型半導体磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63309378A JPH02155210A (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 粒界絶縁型半導体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63309378A JPH02155210A (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 粒界絶縁型半導体磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02155210A JPH02155210A (ja) | 1990-06-14 |
| JPH0470763B2 true JPH0470763B2 (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=17992283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63309378A Granted JPH02155210A (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 粒界絶縁型半導体磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02155210A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111908914B (zh) * | 2020-07-16 | 2021-06-18 | 广州天极电子科技股份有限公司 | 一种晶界层陶瓷材料、晶界层陶瓷基片的制备方法及其应用 |
-
1988
- 1988-12-07 JP JP63309378A patent/JPH02155210A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02155210A (ja) | 1990-06-14 |
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