JPH0474033A - エラー挿入回路 - Google Patents
エラー挿入回路Info
- Publication number
- JPH0474033A JPH0474033A JP18624390A JP18624390A JPH0474033A JP H0474033 A JPH0474033 A JP H0474033A JP 18624390 A JP18624390 A JP 18624390A JP 18624390 A JP18624390 A JP 18624390A JP H0474033 A JPH0474033 A JP H0474033A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- input data
- frames
- circuit
- frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
入力データのフレームパルスの数をカウンタで計数し、
所定数Aのフレームの中にエラーパルスを挿入した試験
信号を出力するエラー挿入回路に関し、 入力データの所定数へのフレームの任意の数Bのフレー
ムの中にエラーパルスを挿入しフレームエラーの試験信
号を発生する回路を目的とし、カウンタに入力データの
フレームパルスを所定数^だけ計数させる第1の設定器
と該所定数Aより少ない任意の数Bだけ計数させる第2
の設定器と該第1の設定器で設定し計数した数Aが該第
2の設定器で設定し計数した数Bより小さい時のみHレ
ベルの出力を出力する比較器を具え、該比較器の出力と
該入力データに挿入すべきエラーバルスとの論理積を取
るへND回路の出力と前記入力データとの排他的論理和
を取るEX−OR回路の出力を前記入力データの所定数
へのフレームの中の任意の数Bのフレームにエラーパル
スを挿入してフレームエラーの試験信号とするように構
成する。
所定数Aのフレームの中にエラーパルスを挿入した試験
信号を出力するエラー挿入回路に関し、 入力データの所定数へのフレームの任意の数Bのフレー
ムの中にエラーパルスを挿入しフレームエラーの試験信
号を発生する回路を目的とし、カウンタに入力データの
フレームパルスを所定数^だけ計数させる第1の設定器
と該所定数Aより少ない任意の数Bだけ計数させる第2
の設定器と該第1の設定器で設定し計数した数Aが該第
2の設定器で設定し計数した数Bより小さい時のみHレ
ベルの出力を出力する比較器を具え、該比較器の出力と
該入力データに挿入すべきエラーバルスとの論理積を取
るへND回路の出力と前記入力データとの排他的論理和
を取るEX−OR回路の出力を前記入力データの所定数
へのフレームの中の任意の数Bのフレームにエラーパル
スを挿入してフレームエラーの試験信号とするように構
成する。
本発明はデータ伝送に係り、特に入力データの成る所定
数へのフレームを監視し其の中のエラーフレームが成る
フレーム数B以上又は以下になったら、警報を発生又は
解除するフレームエラーの警報回路の試験をする場合の
試験信号の発生として、入力データにエラーパルスを挿
入するエラー挿入回路に関する。
数へのフレームを監視し其の中のエラーフレームが成る
フレーム数B以上又は以下になったら、警報を発生又は
解除するフレームエラーの警報回路の試験をする場合の
試験信号の発生として、入力データにエラーパルスを挿
入するエラー挿入回路に関する。
フレームエラー警報回路の試験信号としては、監視する
フレーム数Aと警報の発生又は解除の限界値を与えるエ
ラーフレーム数Bの設定が任意に出来て且つ容易に変更
できる事が必要である。
フレーム数Aと警報の発生又は解除の限界値を与えるエ
ラーフレーム数Bの設定が任意に出来て且つ容易に変更
できる事が必要である。
従来のフレームエラーの試験信号の発生回路は、第3図
の如(、入力データDiOフレームパルスFをカウンタ
23でカウントする事により、監視するフレーム数へを
定めて、設定器21で設定した数Aだけカウントする。
の如(、入力データDiOフレームパルスFをカウンタ
23でカウントする事により、監視するフレーム数へを
定めて、設定器21で設定した数Aだけカウントする。
カウンタ23は、設定された数へのフレーム数をカウン
トする毎に1個の桁上げキャリーアウトCaを出力し、
該キャリーアウトCaと、挿入すべきエラーパルスEと
の論理積をAND回路25でとり、そのAND出力と人
力データDiとの排他的論理和をEX−OR回路26で
とって、其の出力に、入力データDiにエラーパルスE
を挿入した試験信号Doaを発生していた。
トする毎に1個の桁上げキャリーアウトCaを出力し、
該キャリーアウトCaと、挿入すべきエラーパルスEと
の論理積をAND回路25でとり、そのAND出力と人
力データDiとの排他的論理和をEX−OR回路26で
とって、其の出力に、入力データDiにエラーパルスE
を挿入した試験信号Doaを発生していた。
上述の従来のフレームエラーの試験信号の発生回路は、
入力データロ1OフレームパルスFの数を計数するカウ
ンタ23に対して設定器21で設定した所定数へのフレ
ームの中の1フレームにしかエラーパルスEを挿入する
事が出来ないという問題が生じていた。
入力データロ1OフレームパルスFの数を計数するカウ
ンタ23に対して設定器21で設定した所定数へのフレ
ームの中の1フレームにしかエラーパルスEを挿入する
事が出来ないという問題が生じていた。
本発明の課題は、入力データDiの所定数へのフレーム
の任意の数Bのフレームの中に、エラーパルスを挿入し
て、フレームエラーの試験信号を発生させる回路の提供
にある。
の任意の数Bのフレームの中に、エラーパルスを挿入し
て、フレームエラーの試験信号を発生させる回路の提供
にある。
この課題は、第1図の原理図の如く、カウンタ3に入力
データDiOフレームパルスFを所定数Aだけ計数させ
る第1の設定器1と、該所定数へより少ない任意の数B
だけ計数させる第2の設定器2と、該第1の設定器で設
定し計数した数Aが第2の設定器2で設定し計数した数
Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する比較器
4を具え、該比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパル
スEとの論理積を取ったAND回路5の出力と、入力デ
ータDiとの排他的論理和を取るEX−OR回路6の出
力を、入力データDiの所定フレームへの任意の数Bの
フレームにエラーパルスEを挿入したフレームエラーの
試験信号Doとするように構成した本発明によって解決
される。
データDiOフレームパルスFを所定数Aだけ計数させ
る第1の設定器1と、該所定数へより少ない任意の数B
だけ計数させる第2の設定器2と、該第1の設定器で設
定し計数した数Aが第2の設定器2で設定し計数した数
Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する比較器
4を具え、該比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパル
スEとの論理積を取ったAND回路5の出力と、入力デ
ータDiとの排他的論理和を取るEX−OR回路6の出
力を、入力データDiの所定フレームへの任意の数Bの
フレームにエラーパルスEを挿入したフレームエラーの
試験信号Doとするように構成した本発明によって解決
される。
C作用〕
カウンタ3は、入力データDiOフレームパルスFを、
第1の設定器1で設定した数Aだけカウントし、其のカ
ウント値へと第2の設定器2で設定しカウントした数B
とを比較器4にて比較し前記第1の設定器1で設定しカ
ウントした数Aが第2の設定器2で設定しカウントした
数Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する。そ
して此の比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパルスE
との論理積をAND回路5で取った出力と、入力データ
Diとの排他的論理和をEX−OR回路6で取って、其
の出力を、入力データDiの所定フレームAの中の任意
の数BのフレームにエラーパルスEを挿入したフレーム
エラーの試験信号Doとする。
第1の設定器1で設定した数Aだけカウントし、其のカ
ウント値へと第2の設定器2で設定しカウントした数B
とを比較器4にて比較し前記第1の設定器1で設定しカ
ウントした数Aが第2の設定器2で設定しカウントした
数Bより小さい時のみレベルHの出力Cを出力する。そ
して此の比較器4の出力Cと挿入すべきエラーパルスE
との論理積をAND回路5で取った出力と、入力データ
Diとの排他的論理和をEX−OR回路6で取って、其
の出力を、入力データDiの所定フレームAの中の任意
の数BのフレームにエラーパルスEを挿入したフレーム
エラーの試験信号Doとする。
従って本発明のエラー挿入回路は、入力データDiの成
る所定数へのフレームの中の任意の数Bのフレームの中
にエラーパルスEを挿入してフレームエラーの試験信号
を発生するので1問題は解決される。
る所定数へのフレームの中の任意の数Bのフレームの中
にエラーパルスEを挿入してフレームエラーの試験信号
を発生するので1問題は解決される。
第2図は本発明の実施例のエラー挿入回路の構成を示す
ブロック図であり、カウンタ13は、先ず第1設定器1
1で設定した数Aをカウントするが、例えばA・100
として、設定器11によりカウンタ13を、100進カ
ウンタに設定したとすると、カウンタ13は、0から9
9迄をカウントして、入力データDiの100フレーム
分をカウントする。一方、第2設定器12では、エラー
パルスEを挿入するフレームの数Bを設定する。例えば
B・50とすると、コンパレータ14では、A<Bの間
、即ちカウンタ13の計数値が0〜49の間は、レベル
Hとなり、 AND回路15とEX−OR回路16を介
して、エラーパルスEを入力データDiに挿入する。カ
ウンタ13の計数値が50〜99の間は、A>Bとなる
ので、コンパレータ14の出力はレベルLとなり、エラ
ーパルスEは、AND回路15でマスクされ、入力デー
タDiにエラーパルスEは挿入されない。よって、入力
データDiの100フレーム中の50フレームに、エラ
ーパルスEを挿入することになる。
ブロック図であり、カウンタ13は、先ず第1設定器1
1で設定した数Aをカウントするが、例えばA・100
として、設定器11によりカウンタ13を、100進カ
ウンタに設定したとすると、カウンタ13は、0から9
9迄をカウントして、入力データDiの100フレーム
分をカウントする。一方、第2設定器12では、エラー
パルスEを挿入するフレームの数Bを設定する。例えば
B・50とすると、コンパレータ14では、A<Bの間
、即ちカウンタ13の計数値が0〜49の間は、レベル
Hとなり、 AND回路15とEX−OR回路16を介
して、エラーパルスEを入力データDiに挿入する。カ
ウンタ13の計数値が50〜99の間は、A>Bとなる
ので、コンパレータ14の出力はレベルLとなり、エラ
ーパルスEは、AND回路15でマスクされ、入力デー
タDiにエラーパルスEは挿入されない。よって、入力
データDiの100フレーム中の50フレームに、エラ
ーパルスEを挿入することになる。
以上の如く、第2図の本発明の実施例のエラー挿入回路
は、第1の設定器11と第2の設定器12により、カウ
ンタ13の設定値のAとBを、A<Bの関係の下で任意
に定めれば、入力データDiの成るフレーム数への任意
の数Bのフレームの中にエラーパルスEを挿入してフレ
ームエラーの試験信号を発生する事が可能となるので問
題は無い。
は、第1の設定器11と第2の設定器12により、カウ
ンタ13の設定値のAとBを、A<Bの関係の下で任意
に定めれば、入力データDiの成るフレーム数への任意
の数Bのフレームの中にエラーパルスEを挿入してフレ
ームエラーの試験信号を発生する事が可能となるので問
題は無い。
以上説明した如く、本発明によれば、カウンタに対して
計数周期を設定する第1の設定器と第2の設定器により
、任意のAフレーム中のBフレームにエラーパルスを挿
入して、任意のフレームエラーの試験信号を発生できる
効果が得られる。
計数周期を設定する第1の設定器と第2の設定器により
、任意のAフレーム中のBフレームにエラーパルスを挿
入して、任意のフレームエラーの試験信号を発生できる
効果が得られる。
第1図は本発明のエラー挿入回路の基本構成を示す原理
図、 第2図は本発明の実施例のエラー挿入回路の構成を示す
ブロック図、 第3図は従来のフレームエラーの試験信号の発生回路の
ブロック図である。 図において、1,11.21はフレーム数への設定器、
2.12はフレーム数Bの設定器、3,13.23はフ
レーム数を計数するカウンタ、4,14は比較器でコン
パレータ、5.15.25はエラーパルスをマスクする
AND回路、6,16.26はエラーパルスを挿入する
EX−OR回路である。
図、 第2図は本発明の実施例のエラー挿入回路の構成を示す
ブロック図、 第3図は従来のフレームエラーの試験信号の発生回路の
ブロック図である。 図において、1,11.21はフレーム数への設定器、
2.12はフレーム数Bの設定器、3,13.23はフ
レーム数を計数するカウンタ、4,14は比較器でコン
パレータ、5.15.25はエラーパルスをマスクする
AND回路、6,16.26はエラーパルスを挿入する
EX−OR回路である。
Claims (1)
- 入力データ(Di)のフレームパルス(F)の数をカウ
ンタ(3)で計数し所定数Aのフレームの中の任意の数
Bのフレームにエラーパルス(E)を挿入した信号(D
o)を出力するエラー挿入回路において、該カウンタ(
3)に該入力データ(Di)のフレームパルス(F)を
所定数Aだけ計数させる第1の設定器(1)と、該所定
数Aより少ない任意の数Bだけ計数させる第2の設定器
(2)と、該第1の設定器で設定し計数した数Aが該第
2の設定器で設定し計数した数Bより小さい時のみHレ
ベルの出力(C)を出力する比較器(4)を具え、該比
較器の出力(C)と該入力データ(Di)に挿入すべき
エラーパルス(E)との論理積を取るAND回路(5)
の出力と前記入力データ(Di)との排他的論理和を取
るEX−OR回路(6)の出力を、前記入力データ(D
i)の所定数Aのフレームの中の任意の数Bのフレーム
にエラーパルス(E)を挿入しフレームエラーの試験信
号(Do)とすることを特徴とするエラー挿入回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18624390A JPH0474033A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | エラー挿入回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18624390A JPH0474033A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | エラー挿入回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474033A true JPH0474033A (ja) | 1992-03-09 |
Family
ID=16184858
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18624390A Pending JPH0474033A (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | エラー挿入回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0474033A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5363379A (en) * | 1992-04-30 | 1994-11-08 | International Business Machines Corporation | FDDI network test adaptor error injection circuit |
| JP2020120249A (ja) * | 2019-01-23 | 2020-08-06 | アンリツ株式会社 | Fecエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びfecエラー付加方法 |
-
1990
- 1990-07-13 JP JP18624390A patent/JPH0474033A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5363379A (en) * | 1992-04-30 | 1994-11-08 | International Business Machines Corporation | FDDI network test adaptor error injection circuit |
| JP2020120249A (ja) * | 2019-01-23 | 2020-08-06 | アンリツ株式会社 | Fecエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びfecエラー付加方法 |
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