JPH0474717A - Bi系超伝導材料 - Google Patents
Bi系超伝導材料Info
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は配線、電磁波センサー、超伝導トランジスタ、
電流制御素子、超伝導マグネット等に用いる超伝導材料
に関する。
電流制御素子、超伝導マグネット等に用いる超伝導材料
に関する。
[従来の技術]
超伝導の応用分野を広げるには超伝導材料が高臨界温度
であることは必要不可欠である。Hous ton大学
のC,W、Chuらの初めて臨界温度が液体窒素温度を
越えたY系超伝導物質の発見に続き金属材料技術研究所
の削口らにより臨界温度が100Kを越えるBi系超伝
導物物質発見されるにいたり超伝導市場は急激に拡大さ
れるものと考えられている。このBi系超伝導物質はB
ISr−Ca−Cu−0より構成されその化合物は数種
類ある。その主たる組成にはB i 2S r2Ca2
Cu30xが上げられる。また高臨界温度の単相化のた
め構成元素の一部をpbで置換する場合もある。
であることは必要不可欠である。Hous ton大学
のC,W、Chuらの初めて臨界温度が液体窒素温度を
越えたY系超伝導物質の発見に続き金属材料技術研究所
の削口らにより臨界温度が100Kを越えるBi系超伝
導物物質発見されるにいたり超伝導市場は急激に拡大さ
れるものと考えられている。このBi系超伝導物質はB
ISr−Ca−Cu−0より構成されその化合物は数種
類ある。その主たる組成にはB i 2S r2Ca2
Cu30xが上げられる。また高臨界温度の単相化のた
め構成元素の一部をpbで置換する場合もある。
これらの材料は非常に注目を集めているため詳細は最近
のPhysical Review Letter
sやJapanese Journal of
Applied Physicsのほとんどに述べら
れている。
のPhysical Review Letter
sやJapanese Journal of
Applied Physicsのほとんどに述べら
れている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら前記超伝導材料の臨界電流密度は■多結晶
になり易い材料であると共に結晶粒界部に電流を阻害す
る第2相が析出し易い。
になり易い材料であると共に結晶粒界部に電流を阻害す
る第2相が析出し易い。
■コヒーレンス長さが短いため粒界部の影響を受は易い
。
。
■異方性が強い。 (結晶を配向させる必要がある)
等の理由により大変低いものであった。その値はコンス
タントに得られる値で薄膜は10’A/cm2台、線材
は10”A/Cm2台前半が一般的であった。 通常臨
界電流密度は薄膜を主体としたエレクトロニクスへの応
用で10’A/cm2以上、線材を主体とした重電機器
への応用で105A / c m2以上必要と言われて
いるがこの様に値はまだ2桁も差がある。これらの対策
として超伝導物質の単結晶化があるが単結晶化は大口径
化が困難であるだけでなくコストが非常に高くなるため
実用化に向けては多結晶に於て臨界電流密度を上げる必
要がある。
タントに得られる値で薄膜は10’A/cm2台、線材
は10”A/Cm2台前半が一般的であった。 通常臨
界電流密度は薄膜を主体としたエレクトロニクスへの応
用で10’A/cm2以上、線材を主体とした重電機器
への応用で105A / c m2以上必要と言われて
いるがこの様に値はまだ2桁も差がある。これらの対策
として超伝導物質の単結晶化があるが単結晶化は大口径
化が困難であるだけでなくコストが非常に高くなるため
実用化に向けては多結晶に於て臨界電流密度を上げる必
要がある。
また超伝導トランジスターやジョセフソン素子では数n
mと極めて薄い絶縁層を形成しなくてはならないため表
面は平滑であることが必要であるが現状は数十nmの凹
凸を持っていた。
mと極めて薄い絶縁層を形成しなくてはならないため表
面は平滑であることが必要であるが現状は数十nmの凹
凸を持っていた。
本発明はこの様な問題を解決するものであり、その目的
とするところは製造コストの安い多結晶体に於て高い臨
界電流密度を持つと共に薄膜ではデバイス化に必要な表
面モホロジーを確保したBi系超伝導材料を得んとする
ものである。
とするところは製造コストの安い多結晶体に於て高い臨
界電流密度を持つと共に薄膜ではデバイス化に必要な表
面モホロジーを確保したBi系超伝導材料を得んとする
ものである。
[課題を解決するための手段]
B1−5r−Ca−Cu−0系またはB i −P b
−Sr−Ca−Cu−0系超伝導物質に■またはNb
を添加したこと、その添加量は好ましくはVとNbをA
で表すときA / Cuは0.005〜0.07の範囲
内であること、また超伝導材料の形態が好ましくは薄膜
であることを特徴とする。
−Sr−Ca−Cu−0系超伝導物質に■またはNb
を添加したこと、その添加量は好ましくはVとNbをA
で表すときA / Cuは0.005〜0.07の範囲
内であること、また超伝導材料の形態が好ましくは薄膜
であることを特徴とする。
[実施例]
以下実施例に従い本発明の詳細な説明する。
実施例−1
最初にスパッタ法により作製した薄膜を例に説明する。
先ずターゲットを作る。所定量の酢酸第二銅、酢酸ビス
マス、酢酸ストロンチウム、酢酸カルシューム、ペンタ
メトキシニオブを純水中に入れ溶解させた後200〜3
00°Cに加熱し水分を除去する。次に500°C空気
中で有機を燃焼させ酸化物の混合粉末を作る。ここで純
水中に溶解させるのは市販の酸化物粉末を混合させるも
のより分散性が良いためである。次にこの粉末を800
°Cアルゴン−酸素混合ガス雰囲気中で15時間仮焼、
300kg/Cm2で加圧成形、最後に865°Cアル
ゴン−酸素混合ガス雰囲気中で30時間−焼成し2イン
チ厚さ3mmのターゲットを得る。
マス、酢酸ストロンチウム、酢酸カルシューム、ペンタ
メトキシニオブを純水中に入れ溶解させた後200〜3
00°Cに加熱し水分を除去する。次に500°C空気
中で有機を燃焼させ酸化物の混合粉末を作る。ここで純
水中に溶解させるのは市販の酸化物粉末を混合させるも
のより分散性が良いためである。次にこの粉末を800
°Cアルゴン−酸素混合ガス雰囲気中で15時間仮焼、
300kg/Cm2で加圧成形、最後に865°Cアル
ゴン−酸素混合ガス雰囲気中で30時間−焼成し2イン
チ厚さ3mmのターゲットを得る。
次にRFマグネトロンスパッタでMgO(100)単結
晶基板上に上記ターゲットを用い薄膜を形成する。この
時の成膜条件は、初期真空度: 1= 8〜2.:13
klO−’Torr、使用ガス: アルゴン(70%)
酸素(30%)の混合ガス、出力100〜155W、ス
パッタ時のガス圧:1.5〜3. 2 * 10−”T
o r r、基板温度= 720℃、成膜速度: 4
〜8 n m / m i n、膜厚3000〜350
0Aである。尚基板は表面粗さのバラツキによる臨界電
流密度への影響を押さえるため研磨面ではなくへきかい
面を用いた。
晶基板上に上記ターゲットを用い薄膜を形成する。この
時の成膜条件は、初期真空度: 1= 8〜2.:13
klO−’Torr、使用ガス: アルゴン(70%)
酸素(30%)の混合ガス、出力100〜155W、ス
パッタ時のガス圧:1.5〜3. 2 * 10−”T
o r r、基板温度= 720℃、成膜速度: 4
〜8 n m / m i n、膜厚3000〜350
0Aである。尚基板は表面粗さのバラツキによる臨界電
流密度への影響を押さえるため研磨面ではなくへきかい
面を用いた。
次に845°Cアルゴン−酸素混合ガス雰囲気中で15
時間、500°C酸素雰囲気中30時間アニールし超伝
導薄膜を得る。
時間、500°C酸素雰囲気中30時間アニールし超伝
導薄膜を得る。
第1表
得られた超伝導薄膜をイオンビニムエッチングによりパ
ターニングした後臨界電流密度を4端子法により測定し
た。測定雰囲気はHeガス中(Heは熱伝導が良く試料
温度を均一化出来ると共に不活性であり試料の変質を防
ぐことが出来る)、測定温度は55にで冷却には極低温
冷凍機(ダイキン工業製)を用いた。結果を比較例(N
b 添加無し、添加量が適正範囲外のもの)と共に第
1表に示した。
ターニングした後臨界電流密度を4端子法により測定し
た。測定雰囲気はHeガス中(Heは熱伝導が良く試料
温度を均一化出来ると共に不活性であり試料の変質を防
ぐことが出来る)、測定温度は55にで冷却には極低温
冷凍機(ダイキン工業製)を用いた。結果を比較例(N
b 添加無し、添加量が適正範囲外のもの)と共に第
1表に示した。
表より判るように実際の応用にはまだ僅か足りないもの
もあるがB1−Sr−Ca−Cu系超伝導材料にNbを
添加することより顕著に臨界電流密度が向上している。
もあるがB1−Sr−Ca−Cu系超伝導材料にNbを
添加することより顕著に臨界電流密度が向上している。
これはNbの添加により電流を阻害する第2相の析出を
抑制しているためと薄膜を平滑なものにしているためと
考えられる。
抑制しているためと薄膜を平滑なものにしているためと
考えられる。
尚添加量はN b / Cuの比で0.005〜0.0
7の範囲内が好ましい。添加量は少ないと効果はなく、
多すぎると超伝導物質の構造を破壊するため逆に臨界電
流密度は低下する。
7の範囲内が好ましい。添加量は少ないと効果はなく、
多すぎると超伝導物質の構造を破壊するため逆に臨界電
流密度は低下する。
また臨界電流密度向上の上でも役立っている平滑性向上
は前にも述べたようにデバイス化の上でも良い結果をも
たらす。
は前にも述べたようにデバイス化の上でも良い結果をも
たらす。
実施例−2
実施例−1と同様な方法により酢酸鉛、酢酢酸第二銅、
酢酸ビスマス、酢酸ストロンチウム、酢酸カルシューム
、ペンタメトキシニオブまたはトリエトキシバナジルか
ら混合酸化物を得る。次にこれらを白金坩堝中に入れ1
050〜1200°C酸素雰囲気中で溶融する。尚蒸発
し易い物質は予め仕込量を最終的に化学量論組成に近く
なるように補正する。次にこの溶社物を870〜885
℃(固相と液相の混相状態)の温度に冷却した後線引き
、圧延を繰り返し行い線材化する。
酢酸ビスマス、酢酸ストロンチウム、酢酸カルシューム
、ペンタメトキシニオブまたはトリエトキシバナジルか
ら混合酸化物を得る。次にこれらを白金坩堝中に入れ1
050〜1200°C酸素雰囲気中で溶融する。尚蒸発
し易い物質は予め仕込量を最終的に化学量論組成に近く
なるように補正する。次にこの溶社物を870〜885
℃(固相と液相の混相状態)の温度に冷却した後線引き
、圧延を繰り返し行い線材化する。
次に840°Cアルゴン−酸素混合ガス雰囲気中で60
時間、500°C酸素雰囲気中で20時間熱処理し超伝
導線材を得る。
時間、500°C酸素雰囲気中で20時間熱処理し超伝
導線材を得る。
得られた超伝導線材の臨界電流密度を4端子法により測
定した。測定雰囲気はHeガス中、測定温度は77K(
液体窒素温度)で冷却には極低温冷凍機(ダイキン工業
製)を用いた。結果を比較例と共に第2表と第3表に示
した。
定した。測定雰囲気はHeガス中、測定温度は77K(
液体窒素温度)で冷却には極低温冷凍機(ダイキン工業
製)を用いた。結果を比較例と共に第2表と第3表に示
した。
第2表
第3表
表より判るようにB1−Pb−Sr−Ca −Cu系超
伝導材料にVとNbを添加しても実施例−1と同様に顕
著に臨界電流密度が向上している。
伝導材料にVとNbを添加しても実施例−1と同様に顕
著に臨界電流密度が向上している。
実施例−1の薄膜より効果の少ないのは膜には平滑化効
果が加わったのに対して線材では第2相の析出抑制効果
だけであるためと考えられる。
果が加わったのに対して線材では第2相の析出抑制効果
だけであるためと考えられる。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば結晶の粒界部に析出し
電流を阻害する第2相を抑制できるため製造コストの安
い多結晶体でも高い臨界電流密度を得ることが出来る。
電流を阻害する第2相を抑制できるため製造コストの安
い多結晶体でも高い臨界電流密度を得ることが出来る。
また薄膜では膜の平滑化効果が加わるため臨界電流密度
はより顕著に向上すると共にデバイス化に必要な表面モ
ホロジーも良くなる。尚この材料は配線、電磁波センサ
ー、磁束メモリ、ジョセフソン素子、超伝導トランジス
タ、磁気シールド材、送電ケーブル、逆信ケーブル、超
伝導モータ、超伝導マグネット等に応用できる。
はより顕著に向上すると共にデバイス化に必要な表面モ
ホロジーも良くなる。尚この材料は配線、電磁波センサ
ー、磁束メモリ、ジョセフソン素子、超伝導トランジス
タ、磁気シールド材、送電ケーブル、逆信ケーブル、超
伝導モータ、超伝導マグネット等に応用できる。
以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)Bi−Sr−Ca−Cu−O系またはBi−Pb−
Sr−Ca−Cu−O系超伝導物質にVまたはNbを添
加したことを特徴とするBi系超伝導材料。 2)VとNbをAで表すときA/Cuは0.005〜0
.07の範囲内であることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載のBi系超伝導材料。 3)超伝導材料が薄膜であることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載のBi系超伝導材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181207A JPH0474717A (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | Bi系超伝導材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181207A JPH0474717A (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | Bi系超伝導材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474717A true JPH0474717A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16096705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2181207A Pending JPH0474717A (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | Bi系超伝導材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0474717A (ja) |
-
1990
- 1990-07-09 JP JP2181207A patent/JPH0474717A/ja active Pending
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