JPH0412018A - Ti系超伝導材料 - Google Patents
Ti系超伝導材料Info
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Landscapes
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は配線、電磁波センサー 超伝導トランジスタ、
電流制御素子、超伝導マグネット等に用いる超伝導材料
に関する。
電流制御素子、超伝導マグネット等に用いる超伝導材料
に関する。
〔従来の技術]
現在安定性、再現性共にあり世界で公認されている最も
高い臨界温度を持つ超伝導物質はArkansas大学
のA、M、Hermannらの発見したTI−M−Cu
−0系(ここでMはアルカリ土類を示す)である。主た
る化合物の組成はTI2Ba2Ca2Cu30Xであり
詳細はPhycica Review Lette
rs Vol、60 No16 pp1657、
JapaneseJounal Of Appli
ed Physics Vol、27 No5
1988 ppL804等に述べられている。この物
質は120に以上の臨界温度を持つため液体窒素(77
K)を冷却剤として使用した場合Y系やBi系に較べ大
きなマージンがとれ幅広い応用が期待されている。
高い臨界温度を持つ超伝導物質はArkansas大学
のA、M、Hermannらの発見したTI−M−Cu
−0系(ここでMはアルカリ土類を示す)である。主た
る化合物の組成はTI2Ba2Ca2Cu30Xであり
詳細はPhycica Review Lette
rs Vol、60 No16 pp1657、
JapaneseJounal Of Appli
ed Physics Vol、27 No5
1988 ppL804等に述べられている。この物
質は120に以上の臨界温度を持つため液体窒素(77
K)を冷却剤として使用した場合Y系やBi系に較べ大
きなマージンがとれ幅広い応用が期待されている。
[発明が解法しようとする課題]
しかしながら前記超伝導材料の臨界電流密度は■多結晶
になり易い材料であると共に結晶粒界部に電流を阻害す
る第2相が析出し易い。
になり易い材料であると共に結晶粒界部に電流を阻害す
る第2相が析出し易い。
■コヒーレンス長さが短いため粒界部の影響を受は易い
。
。
■異方性が強い。 (結晶を配向させる必要がある)
等の理由により大変低いものであった。その値はコンス
タントに得られる値で薄膜は10’A/cm2台、線材
は10”A/Cm2台前半が一般的であった。 通常臨
界電流密度は薄膜を主体としたエレクトロニクスへの応
用で108A/cm2以上、線材を主体とした重電機器
への応用で10’A/am2以上必要と言われているが
この様に値はまだ2桁も差がある。これらの対策として
超伝導物質の単結晶化があるが単結晶化は大口径化が困
難であるだけでなくコストが非常に高くなるため実用化
に向けては多結晶に於て臨界電流密度を上げる必要があ
る。
タントに得られる値で薄膜は10’A/cm2台、線材
は10”A/Cm2台前半が一般的であった。 通常臨
界電流密度は薄膜を主体としたエレクトロニクスへの応
用で108A/cm2以上、線材を主体とした重電機器
への応用で10’A/am2以上必要と言われているが
この様に値はまだ2桁も差がある。これらの対策として
超伝導物質の単結晶化があるが単結晶化は大口径化が困
難であるだけでなくコストが非常に高くなるため実用化
に向けては多結晶に於て臨界電流密度を上げる必要があ
る。
また超伝導トランジスターやジョセフソン素子では数n
mと極めて薄い絶縁層を形成しなくてはならないため表
面は平滑であることが必要であるが現状は数十nmの凹
凸を持っていた・本発明はこの様な問題を解決するもの
であり、その目的とするところは製造コストの安い多結
晶体に於て高い臨界電流密度を持つと共に薄膜ではデバ
イス化に必要な表面モホロジーを確保したTI系超伝導
材料を得んとするものである。
mと極めて薄い絶縁層を形成しなくてはならないため表
面は平滑であることが必要であるが現状は数十nmの凹
凸を持っていた・本発明はこの様な問題を解決するもの
であり、その目的とするところは製造コストの安い多結
晶体に於て高い臨界電流密度を持つと共に薄膜ではデバ
イス化に必要な表面モホロジーを確保したTI系超伝導
材料を得んとするものである。
[課題を解決するための手段]
TI−M−Cu−0系超伝導物質(ここでMはアルカリ
土類元素を示す)にTiまたはZrを添加したこと、そ
の添加量は好ましくはTiとZrをAで表すときA /
Cuは0.005〜0.07の範囲内であること、ま
た超伝導材料の形態が好ましくは薄膜であることを特徴
とする。
土類元素を示す)にTiまたはZrを添加したこと、そ
の添加量は好ましくはTiとZrをAで表すときA /
Cuは0.005〜0.07の範囲内であること、ま
た超伝導材料の形態が好ましくは薄膜であることを特徴
とする。
[実施例コ
以下実施例に従い本発明の詳細な説明する。
実施例−1
最初にスパッタ法により作製した薄膜を例に説明する。
先ずターゲットを作る。所定量の酢酸第二銅、酢酸タリ
ウム、酢酸バリウム、酢酸カルシューム、テトラメトキ
シチタンを純水中に入れ溶解させた後150°Cに加熱
し水分を除去する。次に270°C空気中で有機を燃焼
させ酸化物の混合粉末を作る。ここで純水中に溶解させ
るのは市販の酸化物粉末を混合させるものより分散性が
良いためである。次にこの粉末を300 k g /
c m 2で加圧成形、800〜865°Cアルゴン酸
素混合ガス雰囲気中で1時間焼成、組成ずれの多い表面
層を除去し2インチ厚さ3mmのターゲットを得る。
ウム、酢酸バリウム、酢酸カルシューム、テトラメトキ
シチタンを純水中に入れ溶解させた後150°Cに加熱
し水分を除去する。次に270°C空気中で有機を燃焼
させ酸化物の混合粉末を作る。ここで純水中に溶解させ
るのは市販の酸化物粉末を混合させるものより分散性が
良いためである。次にこの粉末を300 k g /
c m 2で加圧成形、800〜865°Cアルゴン酸
素混合ガス雰囲気中で1時間焼成、組成ずれの多い表面
層を除去し2インチ厚さ3mmのターゲットを得る。
次にRFマグネトロンスパッタでMg0(100)単結
晶基板上に上g己ターゲットを用い薄膜を形成する。こ
の時の成膜条件は、初期真空度= 1= 8〜2.3*
10−’Torr、使用ガス: アルゴン(70%)酸
素(30%)の混合ガス、出力100〜155W、スパ
ッタ時のガス圧=1.5〜3. 2 * 10−”T
o r r、 基板温度= 150℃、成膜速度:
4〜8nm/min、膜厚3000〜3500Aであ
る。尚基板は表面粗さのバラツキによる臨界電流密度へ
の影響を押さえるため研磨面ではなくへきかい面を用い
た。
晶基板上に上g己ターゲットを用い薄膜を形成する。こ
の時の成膜条件は、初期真空度= 1= 8〜2.3*
10−’Torr、使用ガス: アルゴン(70%)酸
素(30%)の混合ガス、出力100〜155W、スパ
ッタ時のガス圧=1.5〜3. 2 * 10−”T
o r r、 基板温度= 150℃、成膜速度:
4〜8nm/min、膜厚3000〜3500Aであ
る。尚基板は表面粗さのバラツキによる臨界電流密度へ
の影響を押さえるため研磨面ではなくへきかい面を用い
た。
次に880°C酸素ガス雰囲気中で5分間アニル処理、
酸素プラズマ中で15時間酸素導入処理を行い酸化物超
伝導薄膜を得た。ここで酸素プラズマにより酸素を導入
しているのは加熱処理ではT1が飛び組成がずれるため
である。
酸素プラズマ中で15時間酸素導入処理を行い酸化物超
伝導薄膜を得た。ここで酸素プラズマにより酸素を導入
しているのは加熱処理ではT1が飛び組成がずれるため
である。
第1表
得られた超伝導薄膜をイオンビームエツチングによりバ
ターニングした後臨界電流密度を4端子法により測定し
た6 測定雰囲気はHeガス中(Heは熱伝導が良く試
料温度を均一化出来ると共に不活性であり試料の変質を
防ぐことが出来る)、測定温度は77にで冷却には極低
温冷凍機(ダイキン工業製)を用いた。結果を比較例(
Ti添加無し、添加量が適正範囲外のもの〉と共に第1
表に示した。
ターニングした後臨界電流密度を4端子法により測定し
た6 測定雰囲気はHeガス中(Heは熱伝導が良く試
料温度を均一化出来ると共に不活性であり試料の変質を
防ぐことが出来る)、測定温度は77にで冷却には極低
温冷凍機(ダイキン工業製)を用いた。結果を比較例(
Ti添加無し、添加量が適正範囲外のもの〉と共に第1
表に示した。
表より判るように実際の応用にはまだ僅か足りないもの
もあるがTニーM−Cu系超伝導材料(ここでMはアル
カリ土類を示す)にTiを添加することより顕著に臨界
電流密度が向上している。
もあるがTニーM−Cu系超伝導材料(ここでMはアル
カリ土類を示す)にTiを添加することより顕著に臨界
電流密度が向上している。
これはTiの添加により電流を阻害する第2相の析出を
抑制しているためと薄膜を平滑なものにしているためと
考えられる。尚添加量はTi、/CuO比で0.005
〜0.07の範囲内が好ましい。
抑制しているためと薄膜を平滑なものにしているためと
考えられる。尚添加量はTi、/CuO比で0.005
〜0.07の範囲内が好ましい。
添加量は少ないと効果はなく、多すぎると超伝導物質の
構造を破壊するため逆に臨界電流密度は低下する。
構造を破壊するため逆に臨界電流密度は低下する。
また臨界電流密度向上の上でも役立っている平滑性向上
は前にも述べたようにデバイス化の上でも良い結果をも
たらす。
は前にも述べたようにデバイス化の上でも良い結果をも
たらす。
実施例−2
実施例−1と同様な方法により酢酸第二銅、酢酸タリウ
ム、酢酸バリウム、酢酸カルシューム、テトラメトキシ
チタンまたはオキシ酢酸ジルコニウムから混合酸化物を
得る。次にこれらを白金坩堝中に入れ1050〜120
0℃酸素雰囲気中で溶融する6 尚蒸発し易い物質は予
め仕込量を最終的に化学!論組成に近くなるように補正
する。次にこの溶融物を固相と液相の混相状態になるま
で冷却した後線引き圧延を繰り返し行い線材化する。
ム、酢酸バリウム、酢酸カルシューム、テトラメトキシ
チタンまたはオキシ酢酸ジルコニウムから混合酸化物を
得る。次にこれらを白金坩堝中に入れ1050〜120
0℃酸素雰囲気中で溶融する6 尚蒸発し易い物質は予
め仕込量を最終的に化学!論組成に近くなるように補正
する。次にこの溶融物を固相と液相の混相状態になるま
で冷却した後線引き圧延を繰り返し行い線材化する。
次に表面にAgを溶射コーティングした後800〜88
0℃アルゴンー酸素混合ガス雰酸素中で5時間、500
℃酸素雰囲気中で10時間熱処理し超伝導線材を得る。
0℃アルゴンー酸素混合ガス雰酸素中で5時間、500
℃酸素雰囲気中で10時間熱処理し超伝導線材を得る。
得られた超伝導線材の臨界電流密度を4端子法により測
定した。測定雰囲気はHeガス中、測定温度は77K(
液体窒素温度)で冷却には極低温冷凍機(ダイキン工業
製)を用いた。結果を比較例と共に第2表と第3表に示
した。
定した。測定雰囲気はHeガス中、測定温度は77K(
液体窒素温度)で冷却には極低温冷凍機(ダイキン工業
製)を用いた。結果を比較例と共に第2表と第3表に示
した。
第2表
第3表
表より判るように線材(バルク材)にTiとZrを添加
しても実施例−1と同様に顕著に臨界電流密度が向上し
ている。実施例−1の薄膜より効果の少ないのは膜には
平滑化効果が加わったのに対して線材では第2相の析出
抑制効果だけであるためと考えられる。
しても実施例−1と同様に顕著に臨界電流密度が向上し
ている。実施例−1の薄膜より効果の少ないのは膜には
平滑化効果が加わったのに対して線材では第2相の析出
抑制効果だけであるためと考えられる。
[発明の効果コ
以上述べたように本発明によれば結晶の粒界部に析出し
電流を阻害する第2相を抑制できるため製造コストの安
い多結晶体でも高い臨界電流密度を得ることが出来る。
電流を阻害する第2相を抑制できるため製造コストの安
い多結晶体でも高い臨界電流密度を得ることが出来る。
また薄膜では膜の平滑化効果が加わるため臨界電流密度
はより顕著に向上すると共にデバイス化に必要な表面モ
ホロジーも良くなる。尚この材料は配線、電磁波センサ
ー 磁束メモリ、ジョセフソン素子、超伝導トランジス
タ、磁気シールド材、送電ケーブル、通信ケーブル、超
伝導モータ、超伝導マグネット等に応用できる。
はより顕著に向上すると共にデバイス化に必要な表面モ
ホロジーも良くなる。尚この材料は配線、電磁波センサ
ー 磁束メモリ、ジョセフソン素子、超伝導トランジス
タ、磁気シールド材、送電ケーブル、通信ケーブル、超
伝導モータ、超伝導マグネット等に応用できる。
以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)TI−M−Cu−O系超伝導物質(ここでMはアル
カリ土類元素を示す)にTiまたはZrを添加したこと
を特徴とするTI系超伝導材料。 2)TiとZrをAで表すときA/Cuは0.005〜
0.07の範囲内であることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のTI系超伝導材料。 3)超伝導材料が薄膜であることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載のTI系超伝導材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2110830A JPH0412018A (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Ti系超伝導材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2110830A JPH0412018A (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Ti系超伝導材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0412018A true JPH0412018A (ja) | 1992-01-16 |
Family
ID=14545744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2110830A Pending JPH0412018A (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Ti系超伝導材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0412018A (ja) |
-
1990
- 1990-04-26 JP JP2110830A patent/JPH0412018A/ja active Pending
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