JPH0476041B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0476041B2 JPH0476041B2 JP59186407A JP18640784A JPH0476041B2 JP H0476041 B2 JPH0476041 B2 JP H0476041B2 JP 59186407 A JP59186407 A JP 59186407A JP 18640784 A JP18640784 A JP 18640784A JP H0476041 B2 JPH0476041 B2 JP H0476041B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- magnetic field
- signal
- medium
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気信号検出装置、例えば磁気スケー
ルに対し相対変位可能で面対向に配置される無バ
イアスの強磁性磁気抵抗薄膜ヘツドによつて磁気
スケール信号を検出するための装置に関する。
ルに対し相対変位可能で面対向に配置される無バ
イアスの強磁性磁気抵抗薄膜ヘツドによつて磁気
スケール信号を検出するための装置に関する。
磁気スケールの磁性媒体面に対して面対向で相
対変位可能に配置される強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドによつて磁気スケール信号を検出する従来の装
置としては、例えば特開昭55−59314号に開示さ
れたものがある。
対変位可能に配置される強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドによつて磁気スケール信号を検出する従来の装
置としては、例えば特開昭55−59314号に開示さ
れたものがある。
この装置は検出方向の信号磁界、該信号磁界の
方向に対して略垂直方向（電流方向）に位置され
る強磁性磁気抵抗素子（薄膜ヘツド）及び上記電
流方向に上記素子に印加するバイアス磁界を基本
構成要素としている。信号磁界とバイアス磁界と
の合成磁界は検出方向の位置的変化に対してその
ベクトル方向が変わるので、強磁性磁気抵抗素子
はこの方向変化に感磁して磁気スケール信号を検
出する。
方向に対して略垂直方向（電流方向）に位置され
る強磁性磁気抵抗素子（薄膜ヘツド）及び上記電
流方向に上記素子に印加するバイアス磁界を基本
構成要素としている。信号磁界とバイアス磁界と
の合成磁界は検出方向の位置的変化に対してその
ベクトル方向が変わるので、強磁性磁気抵抗素子
はこの方向変化に感磁して磁気スケール信号を検
出する。
なお、上記バイアス磁界は、通常、信号磁界の
振幅変化に対してより安定な出力信号を得ること
と外来ノイズに対する影響を少なくするためのも
のである（例えば1981年６月発行「精密機械」第
47巻第６号第681頁乃至第687頁参照）。
振幅変化に対してより安定な出力信号を得ること
と外来ノイズに対する影響を少なくするためのも
のである（例えば1981年６月発行「精密機械」第
47巻第６号第681頁乃至第687頁参照）。
上述した所から明らかなように従来の磁気スケ
ール信号検出装置では強磁性磁気抵抗薄膜ヘツド
に対してバイヤス磁界を印加する手段を必要とし
ているため、部品点数の削減及びコスト低下の点
で未だ改良の余地がある。
ール信号検出装置では強磁性磁気抵抗薄膜ヘツド
に対してバイヤス磁界を印加する手段を必要とし
ているため、部品点数の削減及びコスト低下の点
で未だ改良の余地がある。
本発明はかかる従来技術の問題点を解決するた
め、磁気記録された磁性媒体のエツジ近傍に、該
媒体に対し無バイアスの強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドを面対向で相対変位可能に配設したことを特徴
とする。
め、磁気記録された磁性媒体のエツジ近傍に、該
媒体に対し無バイアスの強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドを面対向で相対変位可能に配設したことを特徴
とする。
磁性媒体のエツジ近傍における漏洩磁界は検出
方向の信号磁界成分とこれに垂直な方向の磁界成
分とから成り、この垂直方向の磁界成分は薄膜ヘ
ツドの電流方向に作用するので、バイアス磁界を
印加することなく、信号磁界を検出できる。
方向の信号磁界成分とこれに垂直な方向の磁界成
分とから成り、この垂直方向の磁界成分は薄膜ヘ
ツドの電流方向に作用するので、バイアス磁界を
印加することなく、信号磁界を検出できる。
本発明によればバイアス磁界を印加することな
く、磁性媒体面に対して強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドを面対向させて信号磁界を検出できる。従つて
上記ヘツドに対するバイアス磁界印加手段は不要
で、部品点数の削減及びコスト低下を計ることが
可能である。
く、磁性媒体面に対して強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドを面対向させて信号磁界を検出できる。従つて
上記ヘツドに対するバイアス磁界印加手段は不要
で、部品点数の削減及びコスト低下を計ることが
可能である。
以下図面に示す実施例を参照して本発明を更に
説明すると、第１図において、１は所定ピツチで
磁気格子が記録されている磁気スケールの磁性媒
体、２は強磁性磁気抵抗薄膜ヘツドで基板３上に
載置され、リード線４を介して検出出力が取出さ
れるようになつている。上記磁気スケール及びヘ
ツドは、例えば、前記特開昭55−59314号に開示
されたように構成するが、これのみに限定されな
いこと勿論である。
説明すると、第１図において、１は所定ピツチで
磁気格子が記録されている磁気スケールの磁性媒
体、２は強磁性磁気抵抗薄膜ヘツドで基板３上に
載置され、リード線４を介して検出出力が取出さ
れるようになつている。上記磁気スケール及びヘ
ツドは、例えば、前記特開昭55−59314号に開示
されたように構成するが、これのみに限定されな
いこと勿論である。
而してヘツド２は第１図に示す如く磁性媒体１
のエツジ近傍に面対向で配設されている。
のエツジ近傍に面対向で配設されている。
周知の如く磁気格子の記録方法としては、第２
図に示すような面内（横）磁化と第３図に示す如
き垂直（縦）磁化の方法があるが、何れにおいて
も、磁性媒体１のエツジ近傍における漏洩磁界
B1には、第４図から明らかな如く、検出方向の
信号磁界成分B2とこれに垂直な方向の磁界成分
B3が存在する。
図に示すような面内（横）磁化と第３図に示す如
き垂直（縦）磁化の方法があるが、何れにおいて
も、磁性媒体１のエツジ近傍における漏洩磁界
B1には、第４図から明らかな如く、検出方向の
信号磁界成分B2とこれに垂直な方向の磁界成分
B3が存在する。
そこで第１図に示すようにして信号磁界B2を
検出する場合、B2に垂直方向の磁界成分B3がヘ
ツド２の磁気抵抗素子における電流方向に作用す
るので、従来のようにバイアス磁界を印加する必
要はない。
検出する場合、B2に垂直方向の磁界成分B3がヘ
ツド２の磁気抵抗素子における電流方向に作用す
るので、従来のようにバイアス磁界を印加する必
要はない。
上述した磁性媒体のエツジ近傍における上記磁
界性分B3は直線状の磁性媒体だけでなく、第５
図ａ，ｂに示す如くリング状の磁性媒体のエツジ
近傍においても存在するので、かかる場合の強磁
性磁気抵抗素子による信号磁界検出に際してもバ
イアス磁界の印加は不要である。
界性分B3は直線状の磁性媒体だけでなく、第５
図ａ，ｂに示す如くリング状の磁性媒体のエツジ
近傍においても存在するので、かかる場合の強磁
性磁気抵抗素子による信号磁界検出に際してもバ
イアス磁界の印加は不要である。
なお、本発明は磁気スケール信号検出だけでな
く、磁気記録された磁気媒体の磁気信号検出手段
として広く適用できる。
く、磁気記録された磁気媒体の磁気信号検出手段
として広く適用できる。
第１図は本発明の一実施例を示す概略図、第２
図及び第３図は夫々磁気スケールの磁性媒体の磁
化状態を示す概略図、第４図はこれら磁性媒体の
Ａ−A′線で示す部分のエツジ近傍の磁界成分を
示す概略図、第５図はリング状磁性媒体のエツジ
近傍における磁界成分を示す概略図である。 １……磁性媒体、２……強磁性磁気抵抗薄膜ヘ
ツド、B1……漏洩磁界、B2……信号磁界、B3…
…垂直方向磁界。
図及び第３図は夫々磁気スケールの磁性媒体の磁
化状態を示す概略図、第４図はこれら磁性媒体の
Ａ−A′線で示す部分のエツジ近傍の磁界成分を
示す概略図、第５図はリング状磁性媒体のエツジ
近傍における磁界成分を示す概略図である。 １……磁性媒体、２……強磁性磁気抵抗薄膜ヘ
ツド、B1……漏洩磁界、B2……信号磁界、B3…
…垂直方向磁界。
Claims (1)
- １ 磁気記録された磁性媒体のエツジ近傍に、該
媒体に対し無バイアスの強磁性磁気抵抗薄膜ヘツ
ドを面対向で相対変位可能にかつ、上記エツジ近
傍における漏洩磁界の信号磁界成分に垂直な磁界
成分が上記ヘツドの電流方向に作用するような位
置に設けたことを特徴とする磁気信号検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59186407A JPS6165102A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | 磁気信号検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59186407A JPS6165102A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | 磁気信号検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6165102A JPS6165102A (ja) | 1986-04-03 |
| JPH0476041B2 true JPH0476041B2 (ja) | 1992-12-02 |
Family
ID=16187869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59186407A Granted JPS6165102A (ja) | 1984-09-07 | 1984-09-07 | 磁気信号検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6165102A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02176586A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-09 | Tokai Rika Co Ltd | 磁界測定方法 |
| CN115210537A (zh) * | 2020-03-10 | 2022-10-18 | 三菱电机株式会社 | 磁式线性位置检测器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5923219A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-06 | Hitachi Ltd | 回転角検出計 |
-
1984
- 1984-09-07 JP JP59186407A patent/JPS6165102A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6165102A (ja) | 1986-04-03 |
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