JPH0476888A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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Publication number
JPH0476888A
JPH0476888A JP2190270A JP19027090A JPH0476888A JP H0476888 A JPH0476888 A JP H0476888A JP 2190270 A JP2190270 A JP 2190270A JP 19027090 A JP19027090 A JP 19027090A JP H0476888 A JPH0476888 A JP H0476888A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
noise
address
address signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2190270A
Other languages
English (en)
Inventor
Mikio Koike
小池 幹夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0476888A publication Critical patent/JPH0476888A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体記憶装置に関し、特に非同期型の半導体
記憶装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体記憶装置の回路動作には、非同期型の同期
型があり、一方の非同期型動作の回路はアドレス信号の
変化に従って各種回路が変化しデータを出力する。
この非同期型回路は基本信号からのタイミング調整が不
要で基本回路の高速化が容易であるため、また設計が容
易であるので、多く使用されている。
他方の同期型動作回路はアドレス信号の変化により発生
する信号を基本信号としてアドレス信号をラッチし、各
種回路を逐次動作させデータ出力信号をラッチして次の
アドレス信号の変化まで保持するものである。
第3図は従来の半導体記憶回路の一例のブロック図、第
4図は第3図のブロックの各部信号のりイミング図であ
る。
第3図及び第4図において、今アドレス入力信号端子A
Oの信号に起因してセンスアンプ4が時点t1において
′L“からH”に変化した後、“H”から“L ”のノ
イズが発生した場合、センスアンプ5の出力信号1には
vN誤動作波形が出力され、その後のデータ出力回路D
OCを経てOUTにも同様な誤動作波形Nが出力され、
“′H°“レベルの保持が一時的に中断され、実効的に
出力信号の立上りスピードが遅れる事になる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし従来の非同期型動作回路は、アドレス信号の変化
にしたがって各種回路が動作してデータ出力を変化させ
るので、データ出力変化による瞬時の大電流により電源
、GNDにノイズ信号が生じ、そのノイズ信号がアドレ
ス入力信号回路にあるいはセンスアンプ回路に帰還され
、あたかもアドレス信号あるいはセンスアンプ回路のデ
ータが変化した動作として誤動作しやすいという欠点が
あった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明による半導体記憶装置は、複数のアドレス入力信
号を入力してメモリセルの読出しデータをセンスアンプ
とインバータを介して出力する半導体記憶装置において
、前記アドレス入力信号を入力して変化に対応して所定
パルスを前記インバータのラッチ部に゛供給する少くと
も一つのアドレス入力信号変化検出回路を設けて構成さ
れている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図のブロックの動作を説明するための各信号のタイ
ミング図である。
AO,Alはアドレス信号端子、ACO,AClはアド
レス信号入力回路、INVIはATD信号の立下りにて
データをラッチするラッチ付インバータ、INV2はイ
ンバータ、pocはデータ出力回路である。この半導体
記憶装置は、第3図の半導体記憶装置のインバータIN
V3をラッチ付インバータINVIに置換し、アドレス
信号入力回路ACOの出力を入力してアドレスの変化に
より検出パルス2を発生するアドレス信号変化検出回路
ATDを設けた点が従来例と異っている。
アドレス信号変化検出回路ATDがノイズvNの発生期
間TNを含む“H“レベルの間はラッチ付インバータI
NVIはATD信号2により制゛御され、ノイズ電圧v
Nを含むセンスアンプ出力信号lは取込まれず、ノイズ
が回復した時点t2の後に、ATD信号2が立下り、イ
ンバータINV1には正しいデータがY−セレクタから
取込まれ、その後の時点t3にはデータ出力回路DOC
を経てOUTにはノイズに影響されない出力データが出
力される。
一般にアドレス信号によるノイズ発生は特定のアドレス
信号にある事が多いので、必要なセンスアンプの信号を
ATDに入力すればよい。
また、各アドレス信号入力端子Act (i=1〜n)
と各センスアンプ41との間にアドレス信号変化検出回
路ATD iを設け、それらの動作・非動作を制御する
こともできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ノイズ発生に起因するア
ドレス信号入力回路にアドレス信号変化検出回路を設け
、その信号によるラッチ回路によりノイズ発生期間゛中
のノイズ信号を取り除き回路の誤動作が生じないという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図のブロックの動作を説明するための各信号のタイミン
グ図、第3図は従来の半導体記憶装置の一例のブロック
図、第4図は第3図のブロックの動作を説明するための
各信号のタイミング図である。 INVI・・・ラッチ付インバータ、INV2゜INV
3・・・インバータ、AO,Al・・・アドレス信号端
子、ACI、ACI・・・アドレス信号人カ回路、AT
D・・・アドレス信号変化検出回路、DOC・・・デー
タ出力回路、OUT・・・データ出力端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数のアドレス入力信号を入力してメモリセルの読
    出しデータをセンスアンプとインバータを介して出力す
    る半導体記憶装置において、前記アドレス入力信号を入
    力して変化に対応して所定パルスを前記インバータのラ
    ッチ部に供給する少くとも一つのアドレス入力信号変化
    検出回路を設けたことを特徴とする半導体記憶装置。 2、前記アドレス変化検出回路をそれぞれのアドレス入
    力信号に対応してそれぞれ具備し、前記アドレス変化検
    出回路の使用または未使用を各々のアドレス信号毎に選
    択できる制御手段を有することを特徴とする請求項1記
    載の半導体記憶装置。
JP2190270A 1990-07-18 1990-07-18 半導体記憶装置 Pending JPH0476888A (ja)

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JPH0476888A true JPH0476888A (ja) 1992-03-11

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ID=16255361

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100556179B1 (ko) * 1998-03-30 2006-03-03 산요덴키가부시키가이샤 어드레스 천이 검출 회로

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100556179B1 (ko) * 1998-03-30 2006-03-03 산요덴키가부시키가이샤 어드레스 천이 검출 회로

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