JPH0479027A - ベリファイチェック装置 - Google Patents
ベリファイチェック装置Info
- Publication number
- JPH0479027A JPH0479027A JP19079390A JP19079390A JPH0479027A JP H0479027 A JPH0479027 A JP H0479027A JP 19079390 A JP19079390 A JP 19079390A JP 19079390 A JP19079390 A JP 19079390A JP H0479027 A JPH0479027 A JP H0479027A
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- light
- wavelength
- spot
- lambda2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光ディスクなどの光学的情報記録媒体を用い
た情報記録再生装置に関し、特に記録データが正しく記
録できたかどうかを検証するベリファイチェック装置に
関する。
た情報記録再生装置に関し、特に記録データが正しく記
録できたかどうかを検証するベリファイチェック装置に
関する。
[従来の技術]
従来、光ディスク、光磁気ディスクなどの光学的情報記
録媒体は、記憶容量が大きい反面、誤り率が大きいこと
が知られている。そのため、前述のような媒体を用いた
記録製雪では、データを記録した直後に記録データを再
生し、データが正しく記録できたかどうかを検証するベ
リファイチェック処理を行っている。
録媒体は、記憶容量が大きい反面、誤り率が大きいこと
が知られている。そのため、前述のような媒体を用いた
記録製雪では、データを記録した直後に記録データを再
生し、データが正しく記録できたかどうかを検証するベ
リファイチェック処理を行っている。
このようなベリファイチェックの方式としては、例えば
第5図に示すように、記録媒体の情報トラック上に、第
1の光スポット13と第2の光スポット14を前後して
走査するダイレクトベリファイ方式がある。
第5図に示すように、記録媒体の情報トラック上に、第
1の光スポット13と第2の光スポット14を前後して
走査するダイレクトベリファイ方式がある。
即ち、先行する第1の光スポット13により記録すべき
データに対応して記録ピット15を形成し、第2の光ス
ポット14によりその記録ピット15を再生するという
ものである。そして、この方式によれば、ディスクの1
回転で記録とベリファイチェックを行えるため、データ
の転送速度を著しく向上できる利点がある。
データに対応して記録ピット15を形成し、第2の光ス
ポット14によりその記録ピット15を再生するという
ものである。そして、この方式によれば、ディスクの1
回転で記録とベリファイチェックを行えるため、データ
の転送速度を著しく向上できる利点がある。
[発明が解決しようとしている課題]
しかしながら、上記従来例では、記録媒体の欠陥や、振
動などの外乱を原因とする記録データの読取誤り発生に
対して、僅かなマージンしか残っていない記録ピットが
形成された場合に、次のような不都合がある。即ち、記
録媒体の経時変化や装置の環境変化などにより、記録デ
ータが読み取れなくなり、ベリファイチェックの信頼性
が低下するという問題があった。
動などの外乱を原因とする記録データの読取誤り発生に
対して、僅かなマージンしか残っていない記録ピットが
形成された場合に、次のような不都合がある。即ち、記
録媒体の経時変化や装置の環境変化などにより、記録デ
ータが読み取れなくなり、ベリファイチェックの信頼性
が低下するという問題があった。
本発明は、このような問題点を解消するためになされた
もので、その目的は記録媒体の経時変化などに関係な(
、記録データの信頼性を高めるようにしたベリファイチ
ェック装置を提供することにある。
もので、その目的は記録媒体の経時変化などに関係な(
、記録データの信頼性を高めるようにしたベリファイチ
ェック装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、第1及び第2の光スポットを
光学的情報記録媒体の情報トラック上に前後して照射し
、先行する第1の光スポットにより情報を記録し、第2
の光スポットでその記録情報を再生してベリファイチェ
ックを行う装置において、前記第1及び第2の光スポッ
トを発する光源を互いに波長が異なる光源を用い、かつ
前記ベリファイ用の第2の光スポットの光源を前記第1
の光スポットの光源よりも短かい波長の光源としたこと
を特徴とするベリファイチェック装置が提供される。
光学的情報記録媒体の情報トラック上に前後して照射し
、先行する第1の光スポットにより情報を記録し、第2
の光スポットでその記録情報を再生してベリファイチェ
ックを行う装置において、前記第1及び第2の光スポッ
トを発する光源を互いに波長が異なる光源を用い、かつ
前記ベリファイ用の第2の光スポットの光源を前記第1
の光スポットの光源よりも短かい波長の光源としたこと
を特徴とするベリファイチェック装置が提供される。
[実施例]
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳
細に説明する。第1図は本発明に係るベリファイチェッ
ク装置の一実施例を示す構成図である。
細に説明する。第1図は本発明に係るベリファイチェッ
ク装置の一実施例を示す構成図である。
第1図において、1は光磁気ディスクからなる光学的情
報記録媒体であり、その中心軸を中心に回転できる構造
である。2は波長λ1の光束を発する半導体レーザ、3
は波長λ2の光束を発する半導体レーザであり、ん、と
ん2の関係はλ1〉え、となっている。4及び5は各々
半導体レーザ2.3の発散光束を平行光束に修正するコ
リメータレンズ、6は各半導体レーザ2,3の光束を合
成するビームスプリッタである。また、7は入射光と記
録媒体1からの反射光を分離するビームスプリッタ、8
は半導体レーザ2,3の各光束を微小スポットに集光す
る対物レンズである。更に、9は集光レンズ、10は波
長λ、とん、の光束を分離するグイクロイックビームス
プリッタである。波長λ、の光束は検光子17側へ導か
れ、波長λ2の光束は検光子18側へ導かれる。
報記録媒体であり、その中心軸を中心に回転できる構造
である。2は波長λ1の光束を発する半導体レーザ、3
は波長λ2の光束を発する半導体レーザであり、ん、と
ん2の関係はλ1〉え、となっている。4及び5は各々
半導体レーザ2.3の発散光束を平行光束に修正するコ
リメータレンズ、6は各半導体レーザ2,3の光束を合
成するビームスプリッタである。また、7は入射光と記
録媒体1からの反射光を分離するビームスプリッタ、8
は半導体レーザ2,3の各光束を微小スポットに集光す
る対物レンズである。更に、9は集光レンズ、10は波
長λ、とん、の光束を分離するグイクロイックビームス
プリッタである。波長λ、の光束は検光子17側へ導か
れ、波長λ2の光束は検光子18側へ導かれる。
記録媒体が光磁気記録媒体である場合、偏光を取扱うの
で、ん、、え2に対応した検光子17゜18が設けられ
ている。なお、11及び12は各検光子からの光束を受
光する受光素子である。
で、ん、、え2に対応した検光子17゜18が設けられ
ている。なお、11及び12は各検光子からの光束を受
光する受光素子である。
次に、前記実施例の動作について説明する。まず、半導
体レーザ2,3かも各波長の光束が発光され、各光束は
コリメータレンズで平行化された後、ビームスプリッタ
6で合成される。次いで、二つの光束はビームスプリッ
タ7を透過し、対物レンズ8によりそれぞれ微小スポッ
トに集光されて記録媒体1へ照射される。この場合、第
5図に示したように、半導体レーザ2の光束は第1の光
スポット13として照射され、半導体レーザ3の光束は
第2の光スポット14として照射される。
体レーザ2,3かも各波長の光束が発光され、各光束は
コリメータレンズで平行化された後、ビームスプリッタ
6で合成される。次いで、二つの光束はビームスプリッ
タ7を透過し、対物レンズ8によりそれぞれ微小スポッ
トに集光されて記録媒体1へ照射される。この場合、第
5図に示したように、半導体レーザ2の光束は第1の光
スポット13として照射され、半導体レーザ3の光束は
第2の光スポット14として照射される。
即ち、光学部品の位置を微調整することによって、第1
の光スポット13と第2の光スポット14が情報トラッ
ク上に前後して照射されるようになっている。また、第
1及び第2の光スポット13.14の位置関係としては
、記録媒体1の回転方向に対して第1の光スポット13
が先行し、これに所定間隔を置いて第2の光スポット1
4が続くようになっている。第1及び第2の光スポット
13.14は、図示しないサーボ制御系のトラッキング
制御及びフォーカシング制御により、合焦状態を保持し
ながらトラッキングトラック16に沿って情報トラック
上を走査される。
の光スポット13と第2の光スポット14が情報トラッ
ク上に前後して照射されるようになっている。また、第
1及び第2の光スポット13.14の位置関係としては
、記録媒体1の回転方向に対して第1の光スポット13
が先行し、これに所定間隔を置いて第2の光スポット1
4が続くようになっている。第1及び第2の光スポット
13.14は、図示しないサーボ制御系のトラッキング
制御及びフォーカシング制御により、合焦状態を保持し
ながらトラッキングトラック16に沿って情報トラック
上を走査される。
第1の光スポット13を発する半導体レーザ2の光強度
は、図示しない光変調回路により記録信号に応じて変調
される。従って、第1の光スポット13は光強度を変調
しながら情報トラック上を走査し、この結果第5図に示
すように記録情報に対応した記録ピット15が形成され
る。第2の光スポット14は、第1の光スポット13の
光強度よりも弱い一定強度の光スポットであり、先に記
録した記録ピット15上を走査される。このようにして
情報トラック上に照射された第1及び第2の光スポット
13.14の反射光は、再び対物レンズ8を通ってビー
ムスプリッタ7へ入射し、その分離作用によって集光レ
ンズ9側へ導かれる。
は、図示しない光変調回路により記録信号に応じて変調
される。従って、第1の光スポット13は光強度を変調
しながら情報トラック上を走査し、この結果第5図に示
すように記録情報に対応した記録ピット15が形成され
る。第2の光スポット14は、第1の光スポット13の
光強度よりも弱い一定強度の光スポットであり、先に記
録した記録ピット15上を走査される。このようにして
情報トラック上に照射された第1及び第2の光スポット
13.14の反射光は、再び対物レンズ8を通ってビー
ムスプリッタ7へ入射し、その分離作用によって集光レ
ンズ9側へ導かれる。
そして、集光レンズ9で集光されてダイクロイックビー
ムスプリッタ10へ入射し、ここで波長え、の光束と、
λ2の光束に分離される。波長λ1の光束は検光子17
を介して受光素子11で受光され、波長λ2の光束は検
光子18を介して受光素子】2で受光される。
ムスプリッタ10へ入射し、ここで波長え、の光束と、
λ2の光束に分離される。波長λ1の光束は検光子17
を介して受光素子11で受光され、波長λ2の光束は検
光子18を介して受光素子】2で受光される。
受光素子11及び12の受光信号は、図示しない再生回
路へ入力され、再生信号が生成される。
路へ入力され、再生信号が生成される。
即ち、第1の光スポット13の反射光である記録用スポ
ットと、第2の光スポット14の反射光であるベリファ
イチェック用スポットにより記録データと再生データが
それぞれが得られる。得られた各データは、図示しない
ベリファイチェック回路で比較され、情報ピット毎に記
録情報が正常に記録されているかどうかのベリファイチ
ェック処理が行われる。このベリファイチェック処理は
、例えばセクタ単位で行われる。チエツク結果は、図示
しない制御部へ送られ、合否判定が行われる。また、通
常の再生を行う場合は、第1の光スポット13が使用さ
れる。この場合、情報トラック上を第1の光スポット1
3で走査し、その反射光を前記と同様に受光素子11で
受光する。
ットと、第2の光スポット14の反射光であるベリファ
イチェック用スポットにより記録データと再生データが
それぞれが得られる。得られた各データは、図示しない
ベリファイチェック回路で比較され、情報ピット毎に記
録情報が正常に記録されているかどうかのベリファイチ
ェック処理が行われる。このベリファイチェック処理は
、例えばセクタ単位で行われる。チエツク結果は、図示
しない制御部へ送られ、合否判定が行われる。また、通
常の再生を行う場合は、第1の光スポット13が使用さ
れる。この場合、情報トラック上を第1の光スポット1
3で走査し、その反射光を前記と同様に受光素子11で
受光する。
この受光信号は図示しない再生回路へ入力され、再生信
号が得られる。なお、通常再生時においては、第2の光
スポット14は消灯しておけばよい。
号が得られる。なお、通常再生時においては、第2の光
スポット14は消灯しておけばよい。
一般に、記録媒体1の記録面の微細な凹凸に対する光学
系の検出感度は、波長の短かい方が光スポットの大きさ
が小さくなるためによく、第2図に示すように相対的に
波長λ1よりもえ2のどきの方がノイズレベルが上昇す
る。本実施例では、ベリファイチェック時に波長λ2の
第2の光スポット14で記録ピットを再生するので、波
長λ1で再生するときに比べ、SN比を小さくすること
ができる。
系の検出感度は、波長の短かい方が光スポットの大きさ
が小さくなるためによく、第2図に示すように相対的に
波長λ1よりもえ2のどきの方がノイズレベルが上昇す
る。本実施例では、ベリファイチェック時に波長λ2の
第2の光スポット14で記録ピットを再生するので、波
長λ1で再生するときに比べ、SN比を小さくすること
ができる。
また、一般に第3図に示す如(、SN比と誤り発生率と
の関係は、SN比が低いほど誤り発生率が高(なること
が知られている。本実施例にあっては、ベリファイチェ
ック時にSN比の低い、言換えれば誤り発生に対してマ
ージンの少ない波長え、の第2の光スポット14で記録
ピットを再生するので、波長λ1の第1の光スポット1
3で再生するときに比べ、より敏感に誤り発生に対して
マージンの少ない記録ピットを検出することができる。
の関係は、SN比が低いほど誤り発生率が高(なること
が知られている。本実施例にあっては、ベリファイチェ
ック時にSN比の低い、言換えれば誤り発生に対してマ
ージンの少ない波長え、の第2の光スポット14で記録
ピットを再生するので、波長λ1の第1の光スポット1
3で再生するときに比べ、より敏感に誤り発生に対して
マージンの少ない記録ピットを検出することができる。
そして、ベリファイチェックを合格した配録ピットを再
生する場合、即ち通常の再生においては、相対的にSN
比のよい波長ん、の第1の光スポット13で再生するた
め、より誤り発生を押えた状態でデータの再生を行うこ
とができる。以上により、記録データの信頼性を向上す
ることができる。
生する場合、即ち通常の再生においては、相対的にSN
比のよい波長ん、の第1の光スポット13で再生するた
め、より誤り発生を押えた状態でデータの再生を行うこ
とができる。以上により、記録データの信頼性を向上す
ることができる。
また、記録媒体が光磁気記録媒体である場合、第4図に
示すように磁気光学効果であるカー回転角θ、またはフ
ァラデー回転角θ、が波長依存性を示す。再生信号振幅
は、この08またはθ、の値に比例して太き(なるので
、SN比も増大する。従って、第4図に示す如く磁気光
学効果の相対的に小さい波長ん2を第2の光スポット1
4の波長に、波長λ1を第1の光スポット13の波長に
選ぶこにより、ベリファイチェック時のSN比を通常再
生時よりも低くでき、記録データの信頼性を向上するこ
とができる。更に、ベリファイチェック時において、通
常再生時に比べてエラーの訂正を行うエラー訂正回路の
エラー訂正能力を低下させる機能を併用すれば、より一
層記録データの信頼性を向上することができる。
示すように磁気光学効果であるカー回転角θ、またはフ
ァラデー回転角θ、が波長依存性を示す。再生信号振幅
は、この08またはθ、の値に比例して太き(なるので
、SN比も増大する。従って、第4図に示す如く磁気光
学効果の相対的に小さい波長ん2を第2の光スポット1
4の波長に、波長λ1を第1の光スポット13の波長に
選ぶこにより、ベリファイチェック時のSN比を通常再
生時よりも低くでき、記録データの信頼性を向上するこ
とができる。更に、ベリファイチェック時において、通
常再生時に比べてエラーの訂正を行うエラー訂正回路の
エラー訂正能力を低下させる機能を併用すれば、より一
層記録データの信頼性を向上することができる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、情報記録用の第1
の光スポットの波長に対し、ベリファイ用の第2の光ス
ポットの波長を短かくしたので、マージンの少ない記録
ピットを有効に検出して読取誤りを発生することにより
、記録データの信頼性を向上することができる。従って
、記録媒体の欠陥や振動などの外乱が生じた場合であっ
ても、マージンの少ない記録ピットは既に誤りとして検
出されているので、従来のようなデータの読取りができ
なるという問題点を解消することができる。
の光スポットの波長に対し、ベリファイ用の第2の光ス
ポットの波長を短かくしたので、マージンの少ない記録
ピットを有効に検出して読取誤りを発生することにより
、記録データの信頼性を向上することができる。従って
、記録媒体の欠陥や振動などの外乱が生じた場合であっ
ても、マージンの少ない記録ピットは既に誤りとして検
出されているので、従来のようなデータの読取りができ
なるという問題点を解消することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は波長
と雑音の関係を示す特性図、第3図はSN比と誤り発生
率との関係を示す特性図、第4図は波長と磁気光学効果
の関係を示す特性図、第5図は情報トラック上に照射さ
れた第1及び第2の光スポット及び情報トラック上に記
録された記録ピットを示す説明図である。 l:記録媒体 2.3二半導体レーザ4.5:コ
リメータレンズ 6.7:ビームスブリツタ 8:対物レンズ lO:グイクロイックビームスブリツタ11.12 :
受光素子 14:第2の光スボッ 15:記録ピット
と雑音の関係を示す特性図、第3図はSN比と誤り発生
率との関係を示す特性図、第4図は波長と磁気光学効果
の関係を示す特性図、第5図は情報トラック上に照射さ
れた第1及び第2の光スポット及び情報トラック上に記
録された記録ピットを示す説明図である。 l:記録媒体 2.3二半導体レーザ4.5:コ
リメータレンズ 6.7:ビームスブリツタ 8:対物レンズ lO:グイクロイックビームスブリツタ11.12 :
受光素子 14:第2の光スボッ 15:記録ピット
Claims (2)
- (1)第1及び第2の光スポットを光学的情報記録媒体
の情報トラック上に前後して照射し、先行する第1の光
スポットにより情報を記録し、第2の光スポットでその
記録情報を再生してベリファイチェックを行う装置にお
いて、 前記第1及び第2の光スポットを発する光源を互いに波
長が異なる光源を用い、かつ前記ベリファイ用の第2の
光スポットの光源を前記第1の光スポットの光源よりも
短かい波長の光源としたことを特徴とするベリファイチ
ェック装置。 - (2)通常の再生時は、前記第1の光スポットによって
記録ピットを再生する請求項1項記載のベリファイチェ
ック装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19079390A JPH0479027A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | ベリファイチェック装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19079390A JPH0479027A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | ベリファイチェック装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0479027A true JPH0479027A (ja) | 1992-03-12 |
Family
ID=16263835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19079390A Pending JPH0479027A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | ベリファイチェック装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0479027A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60187933A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-25 | Toshiba Corp | 光学的記録再生装置 |
-
1990
- 1990-07-20 JP JP19079390A patent/JPH0479027A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60187933A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-25 | Toshiba Corp | 光学的記録再生装置 |
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