JPH0481262A - 光ビームはんだ付け装置 - Google Patents

光ビームはんだ付け装置

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JPH0481262A
JPH0481262A JP19584290A JP19584290A JPH0481262A JP H0481262 A JPH0481262 A JP H0481262A JP 19584290 A JP19584290 A JP 19584290A JP 19584290 A JP19584290 A JP 19584290A JP H0481262 A JPH0481262 A JP H0481262A
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JP
Japan
Prior art keywords
light source
soldered
optical system
optical axis
parts
Prior art date
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Pending
Application number
JP19584290A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Suzuki
清 鈴木
Takao Takahashi
孝夫 高橋
Teruo Okano
輝男 岡野
Junichi Onozaki
純一 小野崎
Nobutaka Kobayashi
小林 伸任
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tamura Corp
Original Assignee
Tamura Corp
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Publication date
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Publication of JPH0481262A publication Critical patent/JPH0481262A/ja
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、光ビームの熱を利用してはんだ付けを行う光
ビームはんだ付け装置に関するものである。
(従来の技術) 第3図に示されるように、従来の光ビームはんだ付け装
置は、光源(ハロゲンランプまたはキセノンランプ)1
1と、この光源11の周囲に配置されたランプハウス(
楕円反射鏡)12と、このランプハウス12の開口側に
配置された第1平面ミラー13、第2平面ミラー14お
よび集光レンズ(シリンドリカルレンズ)15からなる
光学系16と、この光学系16と基板17との間に配置
されたマスク(自動マスク)18とによって構成されて
いる。前記基板17上には被はんだ付けワークとしての
電子部品19が搭載されている。
そうして、一つの光源11から周囲に発光された光が、
ランプハウス12の内面での反射により下方に方向(=
Iけされ、複数の光学系IGにより複数の光ビームに分
岐され、マスク18を経て電子部品19の複数の被はん
だ付け部に照射され、光ビームの熱により単一部品の複
数箇所における局所はんだ付けが一括して行われる。
(発明が解決しようとする課題) この第3図に示されるように、一つの光源11から発光
された光が、複数の光学系16により複数の光ビームに
分岐されて、単一電子部品19の複数の被はんだイ1け
部に照射される場合、例えば、第4図に示されるように
、一つの光源11で電子部品(フォード・フラット・パ
ッケージ集積回路)19の4辺リード群19a 、 1
9b 、 19c 、 ]!Nを同時加熱する場合、そ
の各辺リード群19a 、 19b 、  19c 。
+9dの中央部に位置する光軸に近い照射領域(斜線部
分)の温度が高温であるのに対し、光軸から離れた照射
領域の温度が低温となるようなエネルギー密度分布が示
される。したがって、各辺リード群19a 、 19b
 、 19c 、 19dの両端部では、中央部に比べ
て放熱エリアが大きいこともあって、熱エネルギーが不
足しやすい。また、一つの光源11で電子部品19の4
辺リード群19a 、 19b 、 19c 。
+96を同時加熱したとき、その4辺間の熱エネルギー
に不均一が生じた場合は、各辺間の熱エネルギーが均一
となるように光学系16を調整するが、この光学系16
の調整は容易でない。
また、電子部品19のサイズが変化した場合、従来は第
1平面ミラー13、第2平面ミラー14および集光レン
ズ(シリンドリカルレンズ)15の角度を変えて対応し
ているが、このようにして光学系16の光軸角度を変化
させる場合は、マスク18との関係でエネルギー密度が
変化し、エネルギー密度の均一化が困難であるとともに
、ミラー等の角度を制御する制御機構が必要になり、光
学系16の構成が複雑になる問題もある。
さらに、従来の光源11は、ハロゲンランプまたはキセ
ノンランプを使用しているが、これらのランプは、赤外
線により基板温度を必要以上に高めてしまったり、局所
はんだ付け部の周囲に良くない熱影響を与える問題もあ
る。
本発明は、このような様々な問題点を解決することを目
的とするものである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 請求項1の発明は、光源21と、この光源21の周囲に
配置されたランプハウス22と、このランプハウス22
の開口側に配置された光学系23と、この光学系23と
被はんだ付けワーク27との間に配置されたマスク26
とを備えた光ビームはんだ付け装置において、前記光源
21、ランプハウス22および光学系23からなる光源
ユニット24が、単一ワークにおける複数の被はんだ付
け部278.27b 、 27c 。
27dに対応して複数組設けられたものである。
請求項2の発明は、請求項1の光ビームはんだ付け装置
において、光源ユニット24が移動自在に設けられたも
のである。
請求項3の発明は、請求項1または請求項2記載の光ビ
ームはんだイ」け装置において、光源21としてメタル
ハライドランプが設けられたものである。
(作用) 請求項1の発明は、複数の光源ユニット24が個々の被
はんだ付け部27a 、 27b 、 2’lc 、 
27+]を同時加熱する。その際、個々の被はんだ付け
部では、光軸から離れた照射領域で高熱が得られるエネ
ルギー密度分布となる。また、各被はんだ付け部間の熱
エネルギーに不均一が生じた場合は、複数の光源ユニッ
ト24の光源21等を独立に調整する。
請求項2の発明は、被はんだ付けワーク27のサイズが
変化した場合、光源ユニット24を全体的に移動させる
ことにより、光学系23の光軸角度を変化させることな
く前記サイズ変化に対応する。
請求項3の発明は、メタルハライドランプからは赤外線
放射が少ないため、基板温度や周囲への熱影響を抑制で
きる。
(実施例) 以下、本発明を第1図および第2図に示される実施例を
参照して詳細に説明する。
第1図に示されるように、光源21と、この光源21の
周囲に配置されたランプハウス22と、このランプハウ
ス22の開口側に配置された光学系23とによって、光
源ユニット24が構成されている。光源21、ランプハ
ウス22および光学系23の位置関係は固定されている
が、光源ユニット24は、水平方向に移動自在に設けら
れているので、ユニット全体を動かして照射位置を変化
させることができる。
前記光源21としては、ハロゲンランプ、キセノンラン
プまたはメタルハライドランプを使用する。メタルハラ
イドランプは、水銀とハロゲン化金属とを封入した放電
ランプであり、このメタルハライドランプから出る光は
、紫外線から可視光線(400〜800 nm)までの
波長領域が主であり、赤外線放射が少ない点で好ましい
。さらに、このメタルハライドランプは、他のランプよ
り効率が良く小型化が図れるので、複数設ける場合に有
利である。
前記ランプハウス22としては楕円反射鏡を使用する。
前記光学系23では、セグメントミラー シリンドリカ
ルレンズまたは非球面レンズを用いて、エネルギーを均
一にする。
さらに、前記光学系23と基板25との間には、光ビー
ム照射範囲を限定するマスク(自動マスク)26が配置
されている。このマスク26にはシャッターが設けられ
ており、必要な時点で必要な時間だけ開口制御され、光
ビームが透過される。このマスク26は、光源ユニット
24と一体構造となっていてもかまわない。
基板25上には被はんだ付けワークとしての電子部品2
7が搭載されている。この電子部品27には複数の被は
んだ付け部が設けられている。
前記光源ユニット24は、単一電子部品27における複
数の被はんだ付け部に対応して複数組設けられている。
前記マスク26は、図示されるように複数枚設けてもよ
いが、1枚でも良い。このマスク位置は、自動的にセッ
トまたは変更される。
そうして、複数の光源ユニット24から照射された光ビ
ーム28がマスク26を経て複数の被はんだ付け部を同
時加熱し、単一部品の複数箇所における局所リフローは
んだ付けが一括して行われる。
例えば、第2図に示されるフォード・フラット・パッケ
ージ・タイプ集積回路のような電子部品27の4辺の被
はんだ付け部(リード群) 27a 。
27b 、 27c 、 27dを同時加熱する場合は
、個々の被はんだ付け部(リード群) 27a 、 2
7b 、 27c 。
27dにおいて、光軸から離れた照射領域(斜線部分)
で高熱が得られるエネルギー密度分布となる。
したがって、放熱エリアの大きな各辺の被はんだ付け部
(リード群) 27a 、 27b 、 27c 、 
27+Iの両端部でも十分な熱エネルギーが得られる。
電子部品27の個々の被はんだ付け部間に熱エネルギー
の不均一性が生じた場合は、個々の光源21を調整する
などして対応する。
また、電子部品27のサイズが変化した場合は、個々の
被はんだ付け部27g 、 27b 、 27c 、 
2Ldの位置も変化するので、光源ユニット24を全体
的に水平移動させるとともに、マスク26の位置も移動
させて、照射位置を追従変化させる。したがって、光学
系23の光軸角度を変化させることなくサイズ変化に対
応できる。
〔発明の効果〕
請求項1の発明によれば、光源、ランプハウスおよび光
学系からなる光源ユニットが、単一ワークにおける複数
の被はんだ付け部に対応して複数組設けられたから、個
々の被はんだ付け部では、光軸から離れた照射領域でも
高熱となるエネルギー密度分布が得られる。また、被は
んだ付け部間の熱エネルギーに不均一が生じた場合は、
個々の光源ユニットの光源等を調整して容易に対応でき
る。
請求項2の発明によれば、光源ユニットが移動自在に設
けられたから、被はんだ付けワークのサイズが変化した
場合、光源ユニットを全体的に移動させることによって
、光学系の光軸角度を変化させることなく前記サイズ変
化に容易に対応でき、光軸角度を変化させるときの問題
が生じない。
すなわち、エネルギー密度の均一性を維持できるととも
に、光源ユニットを単に移動させればよいから、光学系
等の複雑化を防止できる。
請求項3の発明によれば、光源としてのメタルハライド
ランプからは赤外線放射が少ないため、はんだ付け時の
基板温度を抑制できるとともに、周囲への熱影響を抑制
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光ビームはんだ付け装置の一実施例を
示す概略図、第2図はその光ビーム照射部の平面図、第
3図は従来の光ビームはんだ付け装置を示す概略図、第
4図はその光ビーム照射部の平面図である。 21・・光源、22・・ランプハウス、23・・光学系
、24・・光源ユニット、26・・マスク、27・・被
はんだ付けワーク、27a 、 27b 、 27c 
、 2N・・被はんだ付け部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源と、この光源の周囲に配置されたランプハウ
    スと、このランプハウスの開口側に配置された光学系と
    、この光学系と被はんだ付けワークとの間に配置された
    マスクとを備えた光ビームはんだ付け装置において、 前記光源、ランプハウスおよび光学系からなる光源ユニ
    ットが、単一ワークにおける複数の被はんだ付け部に対
    応して複数組設けられたことを特徴とする光ビームはん
    だ付け装置。
  2. (2)光源ユニットが移動自在に設けられたことを特徴
    とする請求項1記載の光ビームはんだ付け装置。
  3. (3)光源としてメタルハライドランプが設けられたこ
    とを特徴とする請求項1または請求項2記載の光ビーム
    はんだ付け装置。
JP19584290A 1990-07-24 1990-07-24 光ビームはんだ付け装置 Pending JPH0481262A (ja)

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