JPH0481838B2 - - Google Patents

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JPH0481838B2
JPH0481838B2 JP59215867A JP21586784A JPH0481838B2 JP H0481838 B2 JPH0481838 B2 JP H0481838B2 JP 59215867 A JP59215867 A JP 59215867A JP 21586784 A JP21586784 A JP 21586784A JP H0481838 B2 JPH0481838 B2 JP H0481838B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
wiring
line
decoder
gate circuits
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59215867A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6194291A (ja
Inventor
Tomoharu Awaya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS6194291A publication Critical patent/JPS6194291A/ja
Publication of JPH0481838B2 publication Critical patent/JPH0481838B2/ja
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  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体記憶装置、特にそのワード線又
はビツト線選択用ゲート回路の信号入力部に関す
る。
〔従来の技術〕
バイポーラ・スタテイツクRAMのワード線選
択用ゲート回路には、第3図に示す構成のものが
ある。MCAはメモリセルアレイで、図示しない
が縦、横に延びる各々一対のワード線及びビツト
線と、これらのワード線とビツト線の各交点に配
設されるフリツプフロツプ型メモリセルからな
る。G1,G2,……はワード線(ビツト線でも
同様であるが、こゝではワード線を取り上げる)
選択用のゲート回路であり、デコーダラインDL
より入力信号を受けてワード線選択出力を生じる
(ワード線をHレベルにする)。このデコーダライ
ンDLはA群とB群の2群に分けられており、各
群内に複数本の配線があつてその中の1本のみが
L(ロー)レベル、残りはH(ハイ)レベルにされ
る。
ゲート回路G1,G2,……は2入力ノアゲー
トであり、一方の入力はA群、他方の入力はB群
に接続され、両入力はLレベルであるゲート回路
がHレベルのワード線選択出力を生じる。本例で
はA,B群内の配線は各2本であり、これに図示
のように1,2,3,4の番号を付けると、ゲー
ト回路G1は2と4がLのとき、同様にゲート回
路G2,G3,G4は1と4,2と3,1と3が
Lのとき当該ワード線を選択するHレベル出力を
生じる。
この方式では群内の1配線をLとし、両入力が
共にLのものがワード線選択出力を生じるので、
群内の配線数をmとするとm×m本のワード線の
1本を選択することができ、デコーダラインはm
+m本であるから、mが大になる程デコーダライ
ンの節減効果が大になる(デコーダラインをグル
ープ化せずゲート回路G1,G2,……を1入力
型とするならデコーダラインの必要本数はm×m
本)。
アドレス信号を受けてデコーダラインDLを駆
動する回路は第5図の如き構成を有する。本回路
は4本の配線を有するA群駆動用で、これに用い
られるアドレス信号はA1,A2の2ビツトであ
る。Q1〜Q6はトランジスタ、R1,R2はト
ランジスタ、CSは定電流源で、このような回路
がアドレス信号の各ビツトに設けられる。Q7,
Q8は、ビツトA2に対する該回路の出力トラン
ジスタで、A1に対するそれのQ5,Q6に相当
する。この回路で、基準電圧VRに対してA1が
HであるとトランジスタQ1がオン、Q2がオフ
になり、トランジスタQ5はH、Q6はLレベル
の入力を受け、A群デコーダラインの1,2をH
レベル、3,4をLレベルにする。アドレス信号
ビツトA2もHとすると同様にQ7がH、Q8が
L入力を受け、A群デコーダラインの1と3を
H、2と4をLレベルにする。これらはワイヤー
ドオアの構成になつているので結局1〜3はH、
4がLとなり、群内1配線のみがLになる。A1
=L,A2=Hなら2が、A1=H,A2=Lな
ら3が、A1=A2=Lなら1がLとなる。B群
駆動回路も同様である。
ノアゲートG1,G2,……は第6図aに示す
ようにトランジスタQ11〜Q13、抵抗R、定
電流源CSからなり、トランジスタQ11,Q1
2のベースがb図に示すA群、B群の配線の1つ
に接続され、信号VA,VBを受ける。基準電圧VR
に対してVA及びVBがLならQ11,Q12はオ
フ、Q13がオンとなり、出力VoはHとなる。
これが、メモリセルアレイMCAのワード線の1
つを駆動する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
デコーダラインDLとゲート回路G1,G2,
……の各2入力端との間は第3図に示すように配
線l11,l12,l21,l22,……により接続されるが、
配線は分布容量Cを持ち、配線の抵抗と時定数を
作つて高速動作の妨げになる。この配線寄生容量
を低減すべく第4図に示すように隣り合う各ゲー
トの一方の入力端は互いに短絡し、共通配線l13
によりデコーダラインDLの該当配線へ接続する
方式が考えられている。この配線l13は第3図の
配線l12とl22に相当するものであるから、1本に
共通すれば寄生容量は半分で済む。なおゲートG
1,G2間の間隔は微小なので、ゲートG1,G
2の入力端を短絡するための配線l14の寄生容量
は無視できる。
この第4図の方式により配線寄生容量の低減が
可能であるが、ゲート回路のもう一方の入力端に
対する配線l11,l21,……は第3図と同じである
からこの配線の寄生容量は不変であり、寄生容量
低減対策が不充分である。本発明はかゝる点を改
善し、配線容量の一層の低減を図り、メモリ高速
動作化に寄与しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、2群に分けられ、各群内の配線は1
つのみが他と異なるレベルにされるデコーダライ
ンの各群の1配線より入力信号を受け、ワード線
又はビツト線選択出力を生じる複数のゲート回路
を備える半導体記憶装置において、該ゲート回路
とデコーダラインの接続は、隣り合うゲート回路
の信号入力端を互いに短絡し共通配線により前記
デコーダラインの各群の1配線に接続することに
より行なつてなることを特徴とするものである。
第1図で説明すると、この図で第3図、第4図
と同じ部分には同じ符号が付してある。これらの
図を対比すれば明らかなように本発明では隣り合
うゲート回路G1とG2,G2とG3,G3とG
4,……の入力端の各一方を配線l14,l24,……
で短絡しかつこれらを共通配線l13,l23,……に
よりデコーダラインDLの該当配線へ接続する。
このようにすれば、第3図の配線l11,l21,……
についても寄生容量の半減が可能となり、全体と
して大きな寄生容量低減効果が得られる。
勿論ゲート回路を第1図のように結線しても、
ワード線選択に支障はない。即ち、図から明らか
なようにG1は2と4,G2は2と3,G3は1
と3,G4は1と4がLのときHレベル出力を生
じ、第3図、第4図と同様である。唯、隣り合う
ゲート回路の入力端を短絡して共通配線によりデ
コーダラインへ接続するという条件から、アドレ
ス信号ビツトA1,A2,……が変るにつれて選
択されるワード線の順序は、第1図と第3図、第
4図では異なる。例えば第3図ではアドレス信号
ビツトA1,B1が00でG1が選択出力を生じる
とすると、10ではG2,01でG3,11でG4が選
択出力を生じ、この点は第4図も同じであるが、
第1図では00でG1,01でG2,11でG3,10で
G4が選択出力を生じることになる。しかしメモ
リでは一般にアドレス信号ビツト群と選択される
ワード線とは一対一対応しているというだけで、
実際にどのワード線が選択されるかはマスクパタ
ーン設計者の手に委ねられており、アドレスが00
……00,00……01,00……10,00……11,……と
変るときワード線が端から1番目、2番目、3番
目、4番目、……と順序よく選択される、必ずそ
のようになつている、というものではない。従つ
て選択順が変るということは、格別問題にならな
い。
隣り合うゲート回路の入力端を短絡し、共通配
線でデコーダラインの該当する配線へ接続する、
ということはゲート回路数が多くなつても可能で
ある。第2図はA,B群が各々4本の配線からな
り、従つて4×4=16本のワード線選択が可能な
回路におけるゲート回路G1,G2,……の結線
状態を示す。各ゲート回路共A群、B群から1入
力を得、隣り合う入力端は短絡して共通配線によ
りデコーダラインの該当配線へ接続している。図
面から明らかなように各ノアゲートG1,G2,
……は次のときHレベル出力を生じる。
G1:1と8がL G9:3と8がL G2:1と7がL G10:3と7がL G3:2と7がL G11:4と7がL G4:2と6がL G12:4と6がL G5:1と6がL G13:3と6がL G6:1と5がL G14:3と5がL G7:2と5がL G15:4と5がL G8:2と8がL G16:4と8がL なお両端のゲートG1とG16の外側入力端の
みは、短絡すべき相手がなく、それぞれ独立配線
になる。ゲート回路数が32,64,……でも同様に
拡張できる。またゲート回路はLレベル入力でH
レベル選択出力を生じるが、これはHレベル入力
でHレベル選択出力を生じるようにしてもよく、
この場合は当然ゲート回路G1,G2,……はア
ンドゲートになり、デコーダラインは群内の1配
線のみがHで残りはLとなる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によればゲート回路
とデコーダラインとを接続する配線の寄生容量を
一層低減することができ、メモリ高速動作化に寄
与することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の説明図、第3図
〜第6図は従来回路の説明図である。 図面でDLはデコーダライン、G1,G2,…
…はゲート回路、MCAはメモリセルアレイ、
l14,l24,……は短絡用の配線、l13,l23,……は
共通配線である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 2群に分けられ、各群内の配線は1つのみが
    他と異なるレベルにされるデコーダラインの各群
    の1配線より入力信号を受け、ワード線又はビツ
    ト線選択出力を生じる複数のゲート回路を備える
    半導体記憶装置において、 該ゲート回路とデコーダラインの接続は、隣り
    合うゲート回路の信号入力端を互いに短絡し共通
    配線により前記デコーダラインの各群の1配線に
    接続することにより行なつてなることを特徴とす
    る半導体記憶装置。
JP59215867A 1984-10-15 1984-10-15 半導体記憶装置 Granted JPS6194291A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59215867A JPS6194291A (ja) 1984-10-15 1984-10-15 半導体記憶装置

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JP59215867A JPS6194291A (ja) 1984-10-15 1984-10-15 半導体記憶装置

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Publication Number Publication Date
JPS6194291A JPS6194291A (ja) 1986-05-13
JPH0481838B2 true JPH0481838B2 (ja) 1992-12-25

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JP59215867A Granted JPS6194291A (ja) 1984-10-15 1984-10-15 半導体記憶装置

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JP3013855B2 (ja) * 1988-09-14 2000-02-28 株式会社日立製作所 半導体メモリ
TWI224651B (en) 2001-11-30 2004-12-01 Yamaha Motor Co Ltd Engine controller

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JPS6194291A (ja) 1986-05-13

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