JPS6254939A - モノリシツク集積回路 - Google Patents
モノリシツク集積回路Info
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- JPS6254939A JPS6254939A JP60196241A JP19624185A JPS6254939A JP S6254939 A JPS6254939 A JP S6254939A JP 60196241 A JP60196241 A JP 60196241A JP 19624185 A JP19624185 A JP 19624185A JP S6254939 A JPS6254939 A JP S6254939A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- wiring
- circuit
- supply potential
- type
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はモノリシック集積回路に関し、特に基本セルを
行列に配置して内部セルアレイ領域を構成するゲートア
レイ型マスタスライス方式のモノリシック集積回路に関
する。
行列に配置して内部セルアレイ領域を構成するゲートア
レイ型マスタスライス方式のモノリシック集積回路に関
する。
従来、基本セルを行列に配置して内部セルアレイ領域を
構成するゲートアレイ型マスタスライス方式集積回路(
以下ゲートアレイと記す)の内部セルアレイ領域に対し
外部電源電位を供給する場合には、内部セルアレイ領域
内の基本セルに供給する必要がある。総ての外部電源電
位の種類が−本づつ各基本セル上に位置するように内部
セルアレイ領域上を縦貫する電源電位供給配線を布設し
、各基本セル部においてその基本セルが必要とする外部
電源電位を供給する方法を採っていた。
構成するゲートアレイ型マスタスライス方式集積回路(
以下ゲートアレイと記す)の内部セルアレイ領域に対し
外部電源電位を供給する場合には、内部セルアレイ領域
内の基本セルに供給する必要がある。総ての外部電源電
位の種類が−本づつ各基本セル上に位置するように内部
セルアレイ領域上を縦貫する電源電位供給配線を布設し
、各基本セル部においてその基本セルが必要とする外部
電源電位を供給する方法を採っていた。
従来の大規模ゲートアレイはそのほとんどがCMOSゲ
ートアレイである。CMOSゲートアレイの場合、回路
そのもののノイズマージンが大きいことと、回路の定常
的な電流が小さいことから内部セルアレイ領域内に従来
の方法でごく細い電源電位供給配線を布設しても何ら問
題は生じなかった。また、従来のバイポーラ系ゲートア
レイの場合、その規模が比較的小さく、回路そのものの
ノイズマージンが小さく、回路の定常的な電流が大きい
ECLゲートアレイにおいても内部セルアレイ領域内に
従来の方法で比較的太い電源電位供給配線を布設するこ
とによシ充分に所望の電気的特性を得ることができてい
た。しかし、CMOSゲートアレイの電気的特性、特に
高速化が進んで来た今日、ECLゲートアレイに対し大
規模かつよシ高速化を要求されるに至シ内部セルアレイ
領域内に従来の方法で電源電位供給配線を布設すること
による不都合が目立って来た。ECLゲートアレイの高
速性は回路の駆動インピーダンスと負荷容量に大きく依
存する。よって回路動作に最低限必要なノイズマージン
を確保する論理振幅を持たせかつ駆動インピーダンスを
低く抑えるため、ECL回路の定常電流は必然的に大き
なものとなる。
ートアレイである。CMOSゲートアレイの場合、回路
そのもののノイズマージンが大きいことと、回路の定常
的な電流が小さいことから内部セルアレイ領域内に従来
の方法でごく細い電源電位供給配線を布設しても何ら問
題は生じなかった。また、従来のバイポーラ系ゲートア
レイの場合、その規模が比較的小さく、回路そのものの
ノイズマージンが小さく、回路の定常的な電流が大きい
ECLゲートアレイにおいても内部セルアレイ領域内に
従来の方法で比較的太い電源電位供給配線を布設するこ
とによシ充分に所望の電気的特性を得ることができてい
た。しかし、CMOSゲートアレイの電気的特性、特に
高速化が進んで来た今日、ECLゲートアレイに対し大
規模かつよシ高速化を要求されるに至シ内部セルアレイ
領域内に従来の方法で電源電位供給配線を布設すること
による不都合が目立って来た。ECLゲートアレイの高
速性は回路の駆動インピーダンスと負荷容量に大きく依
存する。よって回路動作に最低限必要なノイズマージン
を確保する論理振幅を持たせかつ駆動インピーダンスを
低く抑えるため、ECL回路の定常電流は必然的に大き
なものとなる。
ゲートアレイの規模が大きくなると、通常、内部セルア
レイ領域内を縦貫し基本セルに外部電源電位を供給する
電源電位供給配置1!1本当りの供給対象基本セル数は
増加する。高速性を要求される大規模ECLゲートアレ
イの場合、各基本セルの定常電流が多いため、従来の電
源電位供給配線布設方法を用いた場合、電源電位のレベ
ルシフトによるノイズマージン減少を極力小さく抑える
ために、内部セルアレイ領域内を縦貫する電源電位供給
配線1本当シの配線布設幅をかなシ太く設定することが
必要となる。しかし、電源電位供給配線幅を太く設定す
ることは、ゲートアレイにおいては、配線布設領域が限
られているため信号配線布設領域を削減することになシ
、信号配線の布設自拡大させることが必要で、この場合
はチップサイズが増大し基本セル間を結ぶ信号配線の平
均配線長が増し集積回路全体としての電気的特性、特に
高速性が損なわれかつ製造歩留シは低下する。また、電
源電位供給配線の布設配線幅を太く設定した場合、電源
電位供給配線が形成される配線層と異なる配線層で形成
され電源電位供給配線と交差する信号配線のその交差面
積が増加し、その信号配線に付加する寄生容量が増加し
これによシやはシ回路動作の高速性が損われる結果とな
る。
レイ領域内を縦貫し基本セルに外部電源電位を供給する
電源電位供給配置1!1本当りの供給対象基本セル数は
増加する。高速性を要求される大規模ECLゲートアレ
イの場合、各基本セルの定常電流が多いため、従来の電
源電位供給配線布設方法を用いた場合、電源電位のレベ
ルシフトによるノイズマージン減少を極力小さく抑える
ために、内部セルアレイ領域内を縦貫する電源電位供給
配線1本当シの配線布設幅をかなシ太く設定することが
必要となる。しかし、電源電位供給配線幅を太く設定す
ることは、ゲートアレイにおいては、配線布設領域が限
られているため信号配線布設領域を削減することになシ
、信号配線の布設自拡大させることが必要で、この場合
はチップサイズが増大し基本セル間を結ぶ信号配線の平
均配線長が増し集積回路全体としての電気的特性、特に
高速性が損なわれかつ製造歩留シは低下する。また、電
源電位供給配線の布設配線幅を太く設定した場合、電源
電位供給配線が形成される配線層と異なる配線層で形成
され電源電位供給配線と交差する信号配線のその交差面
積が増加し、その信号配線に付加する寄生容量が増加し
これによシやはシ回路動作の高速性が損われる結果とな
る。
従来のゲートアレイ型集積回路について図面を参照して
説明する。
説明する。
第2図は従来のゲートアレイ型集積回路の一例のレイア
ウト図である。
ウト図である。
この集積回路は基本セル11′を20行10列の行列に
並べて内部セルアレイ領域25を形成し、その対辺に外
部電源電位供給配線23を設け、この外部電源電位供給
配線23に外部端子21 、22を設けることにより構
成されている。
並べて内部セルアレイ領域25を形成し、その対辺に外
部電源電位供給配線23を設け、この外部電源電位供給
配線23に外部端子21 、22を設けることにより構
成されている。
外部端子21には外部より最高電位の外部電源電位が供
給され、その電位は内部セルアレイ領域25に対し、外
部電源電位供給配線23を通して供給される。外部端子
22には同様に外部よシ最低電位の外部電源電位が供給
され、その電位は電源電位供給配線24を通して同様に
内部セルアレイ領域25に供給される。
給され、その電位は内部セルアレイ領域25に対し、外
部電源電位供給配線23を通して供給される。外部端子
22には同様に外部よシ最低電位の外部電源電位が供給
され、その電位は電源電位供給配線24を通して同様に
内部セルアレイ領域25に供給される。
第3図は第2図に示す基本セルのレイアウト図である。
基本セル11′の下層には回路構成要素が形成され、上
層には電源電位供給配線領域32.33が設けられる。
層には電源電位供給配線領域32.33が設けられる。
電源電位供給配線領域32は、第2図において上下に連
接する隣りの基本セル11′の外部電源電位供給配線3
2と接続する。電源電位供給配線領域33も同様に第2
図における外部電源電位供給配線24に接続する。この
ようにして第2図における電源電位供給配線23.24
はそれぞれ結果的に内部セルアレイ領域25の各基本セ
ル11′上を縦貫している。 ゛第4図は従来のEC
L基本回路の回路図である。
接する隣りの基本セル11′の外部電源電位供給配線3
2と接続する。電源電位供給配線領域33も同様に第2
図における外部電源電位供給配線24に接続する。この
ようにして第2図における電源電位供給配線23.24
はそれぞれ結果的に内部セルアレイ領域25の各基本セ
ル11′上を縦貫している。 ゛第4図は従来のEC
L基本回路の回路図である。
ECL基本回路はカレント・スイッチ部45とエミッタ
・7才ロア部46の2つの回路構成要素から成シ、カレ
ント・スイッチ部45ではトランジスタQ3と抵抗R,
にょシ定電流部を構成しその定電流をトランジスタQ1
とトランジスタQ2のスイッチング動作によシ抵抗R1
あるいは抵抗R8に流す。抵抗R1と抵抗R2の片端は
高電位の外部電源電位が印加された電源電位供給配線4
1に接続され、抵抗R3の片端は低電位の外部電源電位
が印加された電源電位供給配線43に接続される。
・7才ロア部46の2つの回路構成要素から成シ、カレ
ント・スイッチ部45ではトランジスタQ3と抵抗R,
にょシ定電流部を構成しその定電流をトランジスタQ1
とトランジスタQ2のスイッチング動作によシ抵抗R1
あるいは抵抗R8に流す。抵抗R1と抵抗R2の片端は
高電位の外部電源電位が印加された電源電位供給配線4
1に接続され、抵抗R3の片端は低電位の外部電源電位
が印加された電源電位供給配線43に接続される。
抵抗R1あるいは抵抗R2のトランジスタQ!あるいは
トランジスタQ2のコレクタ端子に接続する片端には抵
抗R,あるいはR1に電流が流れない時に高レベル電位
、流れる時には低レベル電位が発生され、この電位がエ
ミッタ・7才ロア部46のトランジスタQsあるいはト
ランジスタQ4のペース端子に入力される。前記高レベ
ル電位と低レベル電位の差を論理振幅と呼ぶ。エミッタ
・フォロア部46ではトランジスタQ4あるいはトラン
ジスタQ5のペース端子c′C入力されたレベルよシそ
れぞれのトランジスタのペース・エミッタ間順方向電圧
分レベルシフトした高レベル電位あるいは低レベル電位
をエミッタ端子に出力する。エミッタ拳7オロア部46
のトランジスタQ4とトランジスタQsのコレクタ端子
は高電位の外部電源電位が印加された電源電位供給配線
42に接続され、抵抗R4と抵抗R6の片端は低電位の
外部電源電位が印加された電源電位供給配線44に接続
される。
トランジスタQ2のコレクタ端子に接続する片端には抵
抗R,あるいはR1に電流が流れない時に高レベル電位
、流れる時には低レベル電位が発生され、この電位がエ
ミッタ・7才ロア部46のトランジスタQsあるいはト
ランジスタQ4のペース端子に入力される。前記高レベ
ル電位と低レベル電位の差を論理振幅と呼ぶ。エミッタ
・フォロア部46ではトランジスタQ4あるいはトラン
ジスタQ5のペース端子c′C入力されたレベルよシそ
れぞれのトランジスタのペース・エミッタ間順方向電圧
分レベルシフトした高レベル電位あるいは低レベル電位
をエミッタ端子に出力する。エミッタ拳7オロア部46
のトランジスタQ4とトランジスタQsのコレクタ端子
は高電位の外部電源電位が印加された電源電位供給配線
42に接続され、抵抗R4と抵抗R6の片端は低電位の
外部電源電位が印加された電源電位供給配線44に接続
される。
このECL基本回路が第3図の基本セルの中に組込まれ
る。
る。
今、第4図におけるカレント・スイッチ部45の電流が
1mA、エミッタ・フォロア部46の全電流が2mA、
カレント・スイッチ部45の論理振幅が50QmVであ
るとし、第2図の基本セル11′の各々に第4図で示す
回路が2組入っている場合を考える。説明を簡略にする
ため最高電位の外部電源電位系のみを説明する。第2図
の外部端子21に印加された最高電位は第3図の電源電
位供給配線領域32内の配線に接続されるが、今、基本
セル11′の電源電位供給配線領域32内の配線の幅が
100μm、長さが250μm、配線層抵抗が0.03
Ω/口であ石ものとする。従来の方法を採った場合、基
本セル11′上の最高電位供給配線は電源電位供給配線
領域32のみであるので電源電位供給配線41.42は
ともに電源電位供給配線領域32内の配線に接続する。
1mA、エミッタ・フォロア部46の全電流が2mA、
カレント・スイッチ部45の論理振幅が50QmVであ
るとし、第2図の基本セル11′の各々に第4図で示す
回路が2組入っている場合を考える。説明を簡略にする
ため最高電位の外部電源電位系のみを説明する。第2図
の外部端子21に印加された最高電位は第3図の電源電
位供給配線領域32内の配線に接続されるが、今、基本
セル11′の電源電位供給配線領域32内の配線の幅が
100μm、長さが250μm、配線層抵抗が0.03
Ω/口であ石ものとする。従来の方法を採った場合、基
本セル11′上の最高電位供給配線は電源電位供給配線
領域32のみであるので電源電位供給配線41.42は
ともに電源電位供給配線領域32内の配線に接続する。
この結果第2図の同列上の基本セル11′の内部も電源
電位供給配線23に近いセル位置の基本セル11′のレ
ベルシフト量をQmVとしたとき、最も遠いセル位置の
基本セル11’のレベルシフト量は85.5mVとなる
。異なる列間の基本的なレベルシフト差が、120mV
あるとすると内部セルアレイ領域25内の全基本セル1
1’間のレベルシフトiの差ハ105.5mVとなる。
電位供給配線23に近いセル位置の基本セル11′のレ
ベルシフト量をQmVとしたとき、最も遠いセル位置の
基本セル11’のレベルシフト量は85.5mVとなる
。異なる列間の基本的なレベルシフト差が、120mV
あるとすると内部セルアレイ領域25内の全基本セル1
1’間のレベルシフトiの差ハ105.5mVとなる。
ECLゲートアレイの場合、高電位の電源電位のレベル
シフトは直接ノイズマージンの減少につながる。低電位
の電源電位のレベルシフトは通常論理振幅の減少となっ
て現われるのでノイズマージンの減少にはその1/2が
関与する。
シフトは直接ノイズマージンの減少につながる。低電位
の電源電位のレベルシフトは通常論理振幅の減少となっ
て現われるのでノイズマージンの減少にはその1/2が
関与する。
今簡略化のためその値を高電位の電源電位のレベルシフ
トによるノイズマージン減少分の1/2としその値を5
2.5mN’とする。
トによるノイズマージン減少分の1/2としその値を5
2.5mN’とする。
論理振幅を50omvとしたとき、その1/2の所をし
きい値とし、伝達特性における微分利得が1である点即
ちユニティ−〇ゲイン・ポイントがしきい値よシ100
mVであるとするとノイズマージンとして許されるのは
150mVとなる。その他諸々のノイズマージンを減少
させる要素による分を30mVとすると上述の例におけ
るノイズマージン減少分の総和は188mVとなシュニ
ティー・ゲイン参ポイントを割ってしまい、回路の安定
動作を保障できない値となる。今、ノイズマージン減少
分の総和を150mv以内にするためには第3図におけ
る電源電位供給配線領域32内の配線の幅を128μm
以上に設定しなければならない。このとき低電位側の電
源電位供給配線領域33内の配線も同様に配線幅を拡大
する必要があシ基本セル11′内の総計の電源配線幅増
加幅は56μm以上必要となる。
きい値とし、伝達特性における微分利得が1である点即
ちユニティ−〇ゲイン・ポイントがしきい値よシ100
mVであるとするとノイズマージンとして許されるのは
150mVとなる。その他諸々のノイズマージンを減少
させる要素による分を30mVとすると上述の例におけ
るノイズマージン減少分の総和は188mVとなシュニ
ティー・ゲイン参ポイントを割ってしまい、回路の安定
動作を保障できない値となる。今、ノイズマージン減少
分の総和を150mv以内にするためには第3図におけ
る電源電位供給配線領域32内の配線の幅を128μm
以上に設定しなければならない。このとき低電位側の電
源電位供給配線領域33内の配線も同様に配線幅を拡大
する必要があシ基本セル11′内の総計の電源配線幅増
加幅は56μm以上必要となる。
上述したように、基本セル当シの定常電流が大きい大規
模ゲートアレイ、特にECLゲートアレイの内部セルア
レイ領域内に外部電源電位を供給する電源電位供給配線
を布設する際に従来の布設方法を採用した場合には電源
電位供給配線幅を回路のノイズマージンを確保できる程
度に太く設定することが必要となり、大幅の電源電位供
給配線と異なる配線層で形成されこれと交差する信号配
線の寄生配線容量が増加し、集積回路全体としての電気
的特性、特に高速性が損なわれるという第1の欠点があ
る。また、内部セルアレイ領域を拡大せずに電源電位供
給配線幅を太く設定する場合には限られた配線布設領域
内において信号配線の布設自由度を低下させるという第
2の欠点がある。
模ゲートアレイ、特にECLゲートアレイの内部セルア
レイ領域内に外部電源電位を供給する電源電位供給配線
を布設する際に従来の布設方法を採用した場合には電源
電位供給配線幅を回路のノイズマージンを確保できる程
度に太く設定することが必要となり、大幅の電源電位供
給配線と異なる配線層で形成されこれと交差する信号配
線の寄生配線容量が増加し、集積回路全体としての電気
的特性、特に高速性が損なわれるという第1の欠点があ
る。また、内部セルアレイ領域を拡大せずに電源電位供
給配線幅を太く設定する場合には限られた配線布設領域
内において信号配線の布設自由度を低下させるという第
2の欠点がある。
また、内部セルアレイ領域を拡大し信号配線の布設自由
度を増す場合には、基本セル間を結ぶ信号配線の平均配
線長が増加し、配線に付加する寄生容量が増し集積回路
全体としての電気的特性、特に高速化を損なうという第
3の欠点とチップサイズが拡大し、製造歩留シが量子す
るというflL4の欠点がある。
度を増す場合には、基本セル間を結ぶ信号配線の平均配
線長が増加し、配線に付加する寄生容量が増し集積回路
全体としての電気的特性、特に高速化を損なうという第
3の欠点とチップサイズが拡大し、製造歩留シが量子す
るというflL4の欠点がある。
本発明の目的は、対象回路別に電源電位供給線を2本に
し、回路のノイズマージンを抑え、チップサイズを拡大
することなく、信号配線の自由度を増し、高速性を発揮
するモノリシック集積回路を提供することにをする。
し、回路のノイズマージンを抑え、チップサイズを拡大
することなく、信号配線の自由度を増し、高速性を発揮
するモノリシック集積回路を提供することにをする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のモノリシック集積回路は、回路構成要素と電源
電位供給配線とを有する基本セルを行列に配置した内部
セルアレイ領域と、該内部セルアレイ領域に電源電位を
供給する外部電源電位供給配線と外部端子とを有するモ
ノリンツク集積回路され、前記電源電位供給配線が前記
第1の種類の回路構成要素部を主たる供給対象として前
記基本セル上を縦貫する第1の電源電位供給配線と前記
第2の種類の回路構成要素部を主たる供給対象として前
記基本セル上を縦貫する第2の電源電位供給配線とに分
けられかつ前記第1と第2の電源電位供給配線が前記内
部セルアレイ領域外で接続されたものである。
電位供給配線とを有する基本セルを行列に配置した内部
セルアレイ領域と、該内部セルアレイ領域に電源電位を
供給する外部電源電位供給配線と外部端子とを有するモ
ノリンツク集積回路され、前記電源電位供給配線が前記
第1の種類の回路構成要素部を主たる供給対象として前
記基本セル上を縦貫する第1の電源電位供給配線と前記
第2の種類の回路構成要素部を主たる供給対象として前
記基本セル上を縦貫する第2の電源電位供給配線とに分
けられかつ前記第1と第2の電源電位供給配線が前記内
部セルアレイ領域外で接続されたものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例のレイアウト図である。基本
セル11の上層に第1の種類の電源電位供給配線領域1
3と第2の種類の電源電位供給配線領域15が配置され
、下層に第1及び第2の種類の回路構成要素(図示され
ていない)が設けられる。
セル11の上層に第1の種類の電源電位供給配線領域1
3と第2の種類の電源電位供給配線領域15が配置され
、下層に第1及び第2の種類の回路構成要素(図示され
ていない)が設けられる。
第1の種類の回路構成要素を第4図のカレントスイッチ
部4tl’s第2の種類の回路構成要素をエミッタフォ
ロア部46に分ける。そして、第1の種類の電源電位供
給配線領域11.12に第1の種類の回路構成要素であ
るカレントスイッチ部44に電位を供給する配線を、第
2の種類の電源電位供給配線領域に第2の種類の回路構
成要素であるエミツタ7オロア部46に電位を供給する
配線をそれぞれ設ける。また、第1の種類の電源電位供
給配線領域12に設けられる配線はカレント・スイッチ
部44に最高電位を供給するものであり、電源電位供給
線flj41に接続される。第1の電源電位供給配線領
域13に設けられる配線はカレント・スイッチ部44に
最低電位を供給するものであり、電源電位供給配線43
に接続する。第2の電源電位供給配線領域14に設けら
れる配線はエミッタ・フォロア部46に最高電位を供給
するものであシミ源電位供給配線42に接続される。
部4tl’s第2の種類の回路構成要素をエミッタフォ
ロア部46に分ける。そして、第1の種類の電源電位供
給配線領域11.12に第1の種類の回路構成要素であ
るカレントスイッチ部44に電位を供給する配線を、第
2の種類の電源電位供給配線領域に第2の種類の回路構
成要素であるエミツタ7オロア部46に電位を供給する
配線をそれぞれ設ける。また、第1の種類の電源電位供
給配線領域12に設けられる配線はカレント・スイッチ
部44に最高電位を供給するものであり、電源電位供給
線flj41に接続される。第1の電源電位供給配線領
域13に設けられる配線はカレント・スイッチ部44に
最低電位を供給するものであり、電源電位供給配線43
に接続する。第2の電源電位供給配線領域14に設けら
れる配線はエミッタ・フォロア部46に最高電位を供給
するものであシミ源電位供給配線42に接続される。
第2の電源電位供給配線領域15に設けられる配線はエ
ミッターフォロア部46に最低電位を供給するものであ
り電源電位供給配線44に接続される。
ミッターフォロア部46に最低電位を供給するものであ
り電源電位供給配線44に接続される。
第1の電源電位供給配線領域12.13に設けられる配
線は基本セル11内で幅が60μm、長さが250μm
電源電位供給配線領域14.15に設けられる配線は@
が3ONm、長さが25011mの寸法でちゃ、総ての
配線層抵抗は0.030/口であるとする。電源電位供
給配線領域12.14内の配線はともに最高電位であり
、第2図の電源電位供給配線23に接続することにより
内部セルアレイ領域25の端部で短絡する。同様に電源
電位供給配線領域13.15内の配線はともに最低電位
で6B、外部電源電位供給配線24に接続し短絡する。
線は基本セル11内で幅が60μm、長さが250μm
電源電位供給配線領域14.15に設けられる配線は@
が3ONm、長さが25011mの寸法でちゃ、総ての
配線層抵抗は0.030/口であるとする。電源電位供
給配線領域12.14内の配線はともに最高電位であり
、第2図の電源電位供給配線23に接続することにより
内部セルアレイ領域25の端部で短絡する。同様に電源
電位供給配線領域13.15内の配線はともに最低電位
で6B、外部電源電位供給配線24に接続し短絡する。
これら電源電位供給配線領域12,13゜14.15は
第2図の内部セルアレイ領域25の基本セル11′上を
縦貫することになる。今、最高電位側を説明すると、第
2図の同列上の基本セル11′の内部も外部電源電位供
給配線23に近いセル位置の基本セル11′上の電源電
位のレベルシフト量をOmvとしたとき、最も遠い基本
セル位置11′に対応する基本セル11の電源電位供給
配線領域12内の配線のレベルシフト量は475mV、
電源電位供給配線領域14内の配線のレベルシフトiは
190mVとなる。従来例と同様に異なる列間のレベル
シフト量の差が20mVであるとすると、カレント・ス
イッチ部45の内部セルアレイ領域25内の全基本セル
11′間の最大レベルシフト量差は67.5mV、また
エミッタ・7才ロア部46の内部セルアレイ領域25内
の全基本セル間の最大レベルシフト量差は210mVと
なる。
第2図の内部セルアレイ領域25の基本セル11′上を
縦貫することになる。今、最高電位側を説明すると、第
2図の同列上の基本セル11′の内部も外部電源電位供
給配線23に近いセル位置の基本セル11′上の電源電
位のレベルシフト量をOmvとしたとき、最も遠い基本
セル位置11′に対応する基本セル11の電源電位供給
配線領域12内の配線のレベルシフト量は475mV、
電源電位供給配線領域14内の配線のレベルシフトiは
190mVとなる。従来例と同様に異なる列間のレベル
シフト量の差が20mVであるとすると、カレント・ス
イッチ部45の内部セルアレイ領域25内の全基本セル
11′間の最大レベルシフト量差は67.5mV、また
エミッタ・7才ロア部46の内部セルアレイ領域25内
の全基本セル間の最大レベルシフト量差は210mVと
なる。
最低電位側も同一の結果となるので説明は省略する0
従来例で述べたように、第4図に示すカレントφスイッ
チ部45においては最高電位の電源電位のレベルシフト
量は直接ノイズマージンの減少につながる。最低電位の
電源電位のレベルシフト量がノイズマージンに影響する
量は従来例と同じその1/2とするとその値は33.5
rnVである。従来例と同様に、論理振幅500mVの
1/2の所にしきい値があシ、そこから100mVの所
がユニティ−・ゲイン・ポイントとし、その他諸々のノ
イズマージンを減少させる要素による分を3Qrr:V
とすると、本実施例におけるノイズマージン減少分の総
和は131mVとなり、ユニティ−・ゲイン・ポイント
まで19mVの余裕がある。第4図のエミッタ・フォロ
ア部46に供給される電源電位は210mVのレベルシ
フトを生じているが、この程度のレベルシフトはエミッ
ター7オロアの回路動作に対し何ら問題を生じない。こ
のように、本実施例においては、最高電位あるいは最低
電位を供給する基本セル11内に設けられる電源電位供
給配線の幅の合計が180μmであるにもかかわらず、
従来例の場合の電源電位供給配線の幅の合計が256μ
mのものよシノイズマージンに余裕があシかつ電気的特
性も何ら損なわれるものがないという結果が得られた。
チ部45においては最高電位の電源電位のレベルシフト
量は直接ノイズマージンの減少につながる。最低電位の
電源電位のレベルシフト量がノイズマージンに影響する
量は従来例と同じその1/2とするとその値は33.5
rnVである。従来例と同様に、論理振幅500mVの
1/2の所にしきい値があシ、そこから100mVの所
がユニティ−・ゲイン・ポイントとし、その他諸々のノ
イズマージンを減少させる要素による分を3Qrr:V
とすると、本実施例におけるノイズマージン減少分の総
和は131mVとなり、ユニティ−・ゲイン・ポイント
まで19mVの余裕がある。第4図のエミッタ・フォロ
ア部46に供給される電源電位は210mVのレベルシ
フトを生じているが、この程度のレベルシフトはエミッ
ター7オロアの回路動作に対し何ら問題を生じない。こ
のように、本実施例においては、最高電位あるいは最低
電位を供給する基本セル11内に設けられる電源電位供
給配線の幅の合計が180μmであるにもかかわらず、
従来例の場合の電源電位供給配線の幅の合計が256μ
mのものよシノイズマージンに余裕があシかつ電気的特
性も何ら損なわれるものがないという結果が得られた。
上記実施例では第1の種類の回路構成要素をカレント・
スイッチ型回路、第2の種類の回路構成要素をエミッタ
・7オロアとしたECLゲートアレイを例として説明し
たが、本発明は第1の種類の回路構成要素をTTL論理
回路部、第2の種類の回路構成要素を出力バッファ回路
としたTTLゲートアレイ、第1の種類の回路構成要素
をCMO8回路部、第2の種類の回路構成要素をバイポ
ーラ回路部としたバイポーラ・0MO8混在ゲートアレ
イ等に適用でき、一方の回路構成要素を他方の回路構成
要素によるノイズから隔離しノイズマージンが確保され
るという効果が得られる。
スイッチ型回路、第2の種類の回路構成要素をエミッタ
・7オロアとしたECLゲートアレイを例として説明し
たが、本発明は第1の種類の回路構成要素をTTL論理
回路部、第2の種類の回路構成要素を出力バッファ回路
としたTTLゲートアレイ、第1の種類の回路構成要素
をCMO8回路部、第2の種類の回路構成要素をバイポ
ーラ回路部としたバイポーラ・0MO8混在ゲートアレ
イ等に適用でき、一方の回路構成要素を他方の回路構成
要素によるノイズから隔離しノイズマージンが確保され
るという効果が得られる。
以上説明したように、本発明は、ゲートアレイの内部セ
ルアレイ領域に外部電源電位を供給する際にノイズマー
ジンに余裕がある回路構成要素に対する電源電位供給配
線とノイズマージンに余裕がない回路構成要素に対する
電源電位供給配線とを分離して外部電源電位を供給する
ことにより内部セルアレイ領域内に布設する電源電位配
線領域を極力小さくしつつ回路のノイズマージンを確保
することが可能であり、その結果チップサイズ及び内部
セルアレイ領域を拡げることなく、信号配線の布設自由
度を増し、かつ電気的特性、特に高速性を発揮できる集
積回路を提供できるという効果がある。また本発明を用
いた場合過渡的に電流変化がある回路構成要素をノイズ
に弱い回路構成要素と分離することもでき集積回路自体
の電気的特性および信頼性を向上することが可能となる
。
ルアレイ領域に外部電源電位を供給する際にノイズマー
ジンに余裕がある回路構成要素に対する電源電位供給配
線とノイズマージンに余裕がない回路構成要素に対する
電源電位供給配線とを分離して外部電源電位を供給する
ことにより内部セルアレイ領域内に布設する電源電位配
線領域を極力小さくしつつ回路のノイズマージンを確保
することが可能であり、その結果チップサイズ及び内部
セルアレイ領域を拡げることなく、信号配線の布設自由
度を増し、かつ電気的特性、特に高速性を発揮できる集
積回路を提供できるという効果がある。また本発明を用
いた場合過渡的に電流変化がある回路構成要素をノイズ
に弱い回路構成要素と分離することもでき集積回路自体
の電気的特性および信頼性を向上することが可能となる
。
第1図は本発明の実施例のレイアウト図、第2図は従来
のゲートアレイ型集積回路のレイアウト図、第3図は第
2図に示す基本セルのレイアウト図、第4図は従来のE
CL基本回路の回路図である。 11.11’・・曲基本セル、12,13・・・・・・
第1の種類の電源電位供給配線領域、14.15・・・
・・・第2の種類の電源電位供給配線領域、21,22
・・・・・・外部端子、23.24・・・・・・外部電
源電位供給配線、25・・・・・・内部セルアレイ領域
、32.33・・・・・・電源電位供給配線領域、41
,42,43.44・・・・・・電源電位供給配線、4
5・・・・・・カレント・スイッチ部、46・・・・・
・エミッタ・フォロア部、Qt、Qt。 Qs * Q4 e Qs−−)ランジスタ、R+1.
R,、R+、。 R4,R,・・・・・・抵抗器。 代理人 弁理士 内 原 晋1.二′”j”、、
”’。 \、′J 牛1 図 車3 図
のゲートアレイ型集積回路のレイアウト図、第3図は第
2図に示す基本セルのレイアウト図、第4図は従来のE
CL基本回路の回路図である。 11.11’・・曲基本セル、12,13・・・・・・
第1の種類の電源電位供給配線領域、14.15・・・
・・・第2の種類の電源電位供給配線領域、21,22
・・・・・・外部端子、23.24・・・・・・外部電
源電位供給配線、25・・・・・・内部セルアレイ領域
、32.33・・・・・・電源電位供給配線領域、41
,42,43.44・・・・・・電源電位供給配線、4
5・・・・・・カレント・スイッチ部、46・・・・・
・エミッタ・フォロア部、Qt、Qt。 Qs * Q4 e Qs−−)ランジスタ、R+1.
R,、R+、。 R4,R,・・・・・・抵抗器。 代理人 弁理士 内 原 晋1.二′”j”、、
”’。 \、′J 牛1 図 車3 図
Claims (2)
- (1)回路構成要素と電源電位供給配線とを有する基本
セルを行列に配置した内部セルアレイ領域と、該内部セ
ルアレイ領域に外部電源電位を供給する外部電源電位供
給配線と外部端子とを有するモノリシック集積回路にお
いて、前記回路構成要素が第1の種類の回路構成要素部
と第2の種類の回路構成要素部とで構成され、前記電源
電位供給配線が前記第1の種類の回路構成要素部を主た
る供給対象として前記基本セル上を縦貫する第1の電源
電位供給配線と前記第2の種類の回路構成要素部を主た
る供給対象として前記基本セル上を縦貫する第2の電源
電位供給配線とに分けられかつ前記第1と第2の電源電
位供給配線が前記内部セルアレイ領域外で接続されてい
ることを特徴とするモノリシック集積回路。 - (2)回路構成要素がECL型であり、第一の種類の回
路構成要素がカレントスイッチ型回路であり、第二の種
類の回路構成要素がエミッタフォロアである特許請求の
範囲第(1)項記載のモノリシック集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196241A JPS6254939A (ja) | 1985-09-04 | 1985-09-04 | モノリシツク集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196241A JPS6254939A (ja) | 1985-09-04 | 1985-09-04 | モノリシツク集積回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6254939A true JPS6254939A (ja) | 1987-03-10 |
| JPH0587018B2 JPH0587018B2 (ja) | 1993-12-15 |
Family
ID=16354539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60196241A Granted JPS6254939A (ja) | 1985-09-04 | 1985-09-04 | モノリシツク集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6254939A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05179692A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-07-20 | Hokushiyou Cement Kogyosho:Kk | 側溝用桝 |
| JPH0627981U (ja) * | 1992-09-09 | 1994-04-15 | 有限会社友和開発 | 簡易下水道装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5420680A (en) * | 1977-07-18 | 1979-02-16 | Hitachi Ltd | Large scale integrated circuit |
| JPS58107649A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-27 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1985
- 1985-09-04 JP JP60196241A patent/JPS6254939A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5420680A (en) * | 1977-07-18 | 1979-02-16 | Hitachi Ltd | Large scale integrated circuit |
| JPS58107649A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-27 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05179692A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-07-20 | Hokushiyou Cement Kogyosho:Kk | 側溝用桝 |
| JPH0627981U (ja) * | 1992-09-09 | 1994-04-15 | 有限会社友和開発 | 簡易下水道装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0587018B2 (ja) | 1993-12-15 |
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