JPH0482780A - 光記録媒体 - Google Patents
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- JPH0482780A JPH0482780A JP2194779A JP19477990A JPH0482780A JP H0482780 A JPH0482780 A JP H0482780A JP 2194779 A JP2194779 A JP 2194779A JP 19477990 A JP19477990 A JP 19477990A JP H0482780 A JPH0482780 A JP H0482780A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザビーム等の光ビームを記録材料層へ照
射してその照射部位の光学的性質を変化させ、この光学
的性質の変化を利用して情報の記録・再生、又は記録・
再生・消去を行う書換え可能な光記録媒体に係り、特に
、情報の書込み若しくは書換えを高速で行え、かつ、こ
の記録情報を長期に亘って保持できると共に、記録感度
の向上か図れる光記録媒体の改良に関するものである。
射してその照射部位の光学的性質を変化させ、この光学
的性質の変化を利用して情報の記録・再生、又は記録・
再生・消去を行う書換え可能な光記録媒体に係り、特に
、情報の書込み若しくは書換えを高速で行え、かつ、こ
の記録情報を長期に亘って保持できると共に、記録感度
の向上か図れる光記録媒体の改良に関するものである。
従来、レーザビーム等の光ビームを利用して情報の記録
を行う書換え可能な光記録媒体として光磁気記録媒体が
あり一部において実用化されている。すなわち、この方
式は光エネルギと磁界を印加し、記録材料層の磁化方向
を反転させて情報の書込みを行う一方、磁化方向による
ファラデー回転角あるいはカー回転角の違いを検出して
再生信号を求める方式である。
を行う書換え可能な光記録媒体として光磁気記録媒体が
あり一部において実用化されている。すなわち、この方
式は光エネルギと磁界を印加し、記録材料層の磁化方向
を反転させて情報の書込みを行う一方、磁化方向による
ファラデー回転角あるいはカー回転角の違いを検出して
再生信号を求める方式である。
しかし、この方式においては少なくともlセクタ以内で
書換えを行うための実用的な方法がないため限られた分
野に応用されているに過ぎないものであった。
書換えを行うための実用的な方法がないため限られた分
野に応用されているに過ぎないものであった。
一方、書換え可能なもう一つの光記録媒体として「結晶
−アモルファス」間の相変化を利用する、所謂、相変化
型の光記録媒体が研究途上にある。
−アモルファス」間の相変化を利用する、所謂、相変化
型の光記録媒体が研究途上にある。
すなわち、この方式は、第2図に示すように結晶質状態
(cr)にある記録材料層(a)の一部へ高出力のレー
ザビームを照射し、その部位の記録材料層(a)を溶融
後急冷することでアモルファス状態(am)に変化させ
、通常、これを記録状態に対応させる一方、消去に際し
ては第3図に示すようにその記録部位へ低出力のレーザ
ビームを照射し、溶融後、徐冷することで結晶質状態(
cr)に戻すという方法で行われている。
(cr)にある記録材料層(a)の一部へ高出力のレー
ザビームを照射し、その部位の記録材料層(a)を溶融
後急冷することでアモルファス状態(am)に変化させ
、通常、これを記録状態に対応させる一方、消去に際し
ては第3図に示すようにその記録部位へ低出力のレーザ
ビームを照射し、溶融後、徐冷することで結晶質状態(
cr)に戻すという方法で行われている。
そして、この方式においては2つの光ビームを用いて1
セクタ一以内での書換え(すなわち、記録されている情
報を先行ビームで消去した後、次の光ビームで記録を行
う)ができるほか、結晶化時間の短い記録材料を適用し
た場合には1つの光ビームによるオーバーライド(すな
わち、ビームの出力を選択的に切換えながら記録又は消
去を行う情報の同時書換え)が可能となるため、様々な
分野において応用できる利点を有している。
セクタ一以内での書換え(すなわち、記録されている情
報を先行ビームで消去した後、次の光ビームで記録を行
う)ができるほか、結晶化時間の短い記録材料を適用し
た場合には1つの光ビームによるオーバーライド(すな
わち、ビームの出力を選択的に切換えながら記録又は消
去を行う情報の同時書換え)が可能となるため、様々な
分野において応用できる利点を有している。
ところで、この相変化型の光記録媒体に適用される記録
材料としては、光学系の簡素化あるいは転送速度の向上
を図る観点からその結晶化時間か短いものが好ましく、
かつ、記録された情報を長期に亘って保持させる観点か
らそのアモルファス相における安定性が高いもの(通常
、記録材料の結晶化温度により評価される)が好ましく
、上記結晶化時間については100 ns以下、好まし
くは50ns以下であることが、一方、結晶化温度につ
いては最低140℃以上必要であるとされていた。
材料としては、光学系の簡素化あるいは転送速度の向上
を図る観点からその結晶化時間か短いものが好ましく、
かつ、記録された情報を長期に亘って保持させる観点か
らそのアモルファス相における安定性が高いもの(通常
、記録材料の結晶化温度により評価される)が好ましく
、上記結晶化時間については100 ns以下、好まし
くは50ns以下であることが、一方、結晶化温度につ
いては最低140℃以上必要であるとされていた。
そして、これ等2つの要求を満たす材料として[信学会
CPM87−88 :1987]並びに特開昭63−2
25934号公報においてはGe−8b−Teの3元系
記録材料が開示されている。すなわち、この3元系記録
材料は、結晶化時間は短い(30ns)がアモルファス
相の安定性が充分でない(結晶化温度:100℃) 5
b2Teiと、アモルファス相の安定性は充分である(
結晶化温度:200°C)が結晶化時間の長い(100
ns以上) GeTeとを混合して合成されているもの
で、上記3b2Te+とGeTeとの中間的な性質を具
備するものであるとされていた。
CPM87−88 :1987]並びに特開昭63−2
25934号公報においてはGe−8b−Teの3元系
記録材料が開示されている。すなわち、この3元系記録
材料は、結晶化時間は短い(30ns)がアモルファス
相の安定性が充分でない(結晶化温度:100℃) 5
b2Teiと、アモルファス相の安定性は充分である(
結晶化温度:200°C)が結晶化時間の長い(100
ns以上) GeTeとを混合して合成されているもの
で、上記3b2Te+とGeTeとの中間的な性質を具
備するものであるとされていた。
しかし、このGeTeは上述したようにその結晶化時間
が長< (100ns以上)、その混合比が高くなるに
つれてGe−3b−Teの結晶化時間も長くなる欠点が
あり、140℃以上の結晶化温度を確保する組成のGe
−3b−Teにおいてはその結晶化時間が50ns以上
になってしまうため、その実用化は可能であるものの特
性的には十分なものでなかった。
が長< (100ns以上)、その混合比が高くなるに
つれてGe−3b−Teの結晶化時間も長くなる欠点が
あり、140℃以上の結晶化温度を確保する組成のGe
−3b−Teにおいてはその結晶化時間が50ns以上
になってしまうため、その実用化は可能であるものの特
性的には十分なものでなかった。
一方、上記2つの要求を満たす他の記録材料として特開
昭62−241145号公報においてはGa−3b−T
eの3元系記録材料が挙げられている。
昭62−241145号公報においてはGa−3b−T
eの3元系記録材料が挙げられている。
すなわち、このGa−3b−Teは、[APPLIED
0PTICS:Vol、 26. No、 22:1
5/Nov、 /’ 87]で報告されているように結
晶化時間が短< (20ns)、アモルファス相の安定
性も高い(結晶化温度:350’C)がそのアモルファ
ス化に難のあるGaSbに、アモルファス化し易いTe
を添加してそのアモルファス化の改良を図った記録材料
で、上記Ge−3b−Teと同様、結晶化時間とアモル
ファス相の安定性に関する2つの要求を具備する材料と
されていた。
0PTICS:Vol、 26. No、 22:1
5/Nov、 /’ 87]で報告されているように結
晶化時間が短< (20ns)、アモルファス相の安定
性も高い(結晶化温度:350’C)がそのアモルファ
ス化に難のあるGaSbに、アモルファス化し易いTe
を添加してそのアモルファス化の改良を図った記録材料
で、上記Ge−3b−Teと同様、結晶化時間とアモル
ファス相の安定性に関する2つの要求を具備する材料と
されていた。
ところで、上記GaSbについてそのアモルファス化の
改善を図るためには、上記Teを、望ましくは10at
%(原子%)以上添加する必要があった。
改善を図るためには、上記Teを、望ましくは10at
%(原子%)以上添加する必要があった。
しかし、Ga−3b−Te中のTeの割合が10at%
を越えた場合、アモルファス化の改善は図れるものの特
開昭62−241145号公報においても述べられてい
るように上記Ga−3b−Teの結晶化時間が著しく長
くなってしまう(すなわち、結晶化速度が著しく遅くな
ってしまう)問題点があり、かつ、Teの結晶化温度は
10°Cと低いことからTeの割合が増えるに伴いGa
−3b−Teの結晶化温度も急激に低下しそのアモルフ
ァス相の安定性も劣化する問題点があった。
を越えた場合、アモルファス化の改善は図れるものの特
開昭62−241145号公報においても述べられてい
るように上記Ga−3b−Teの結晶化時間が著しく長
くなってしまう(すなわち、結晶化速度が著しく遅くな
ってしまう)問題点があり、かつ、Teの結晶化温度は
10°Cと低いことからTeの割合が増えるに伴いGa
−3b−Teの結晶化温度も急激に低下しそのアモルフ
ァス相の安定性も劣化する問題点があった。
このため、上記Ge−5b−Teと同様、その実用化は
可能であるものの特性的には未だ充分でない問題点があ
った。
可能であるものの特性的には未だ充分でない問題点があ
った。
本発明は以上の問題点に着目してなされたちので、その
課題とするところは、アモルファス化に難はあるものの
結晶化時間が短くアモルファス相の安定性も高いGaS
bと、このGaSbと結晶構造が同一で光学的バンドギ
ャップがGaSbより小さいInSbと、結晶化時間が
短く、そのアモルファス化も容易で、しかも結晶化温度
がTeより高いVb2vtb、とて上記記録材料を構成
することにより、情報の書込み若しくは書換えを高速で
行え、かつ、この記録情報を長期に亘って保持できると
共に、記録感度の向上が図れる光記録媒体を提供するこ
とにある。
課題とするところは、アモルファス化に難はあるものの
結晶化時間が短くアモルファス相の安定性も高いGaS
bと、このGaSbと結晶構造が同一で光学的バンドギ
ャップがGaSbより小さいInSbと、結晶化時間が
短く、そのアモルファス化も容易で、しかも結晶化温度
がTeより高いVb2vtb、とて上記記録材料を構成
することにより、情報の書込み若しくは書換えを高速で
行え、かつ、この記録情報を長期に亘って保持できると
共に、記録感度の向上が図れる光記録媒体を提供するこ
とにある。
すなわち本発明は、
光、熱等の手段により可逆的に相変化する記録材料層を
基板上に備え、この相変化に伴う光学的性質の変化を利
用して情報の記録・再生、又は記録・再生・消去を行う
光記録媒体を前提とし、上記記録材料が、 [(GaSb)1oo−y(InSb)y]1oo−、
(Vb2VIbi)。
基板上に備え、この相変化に伴う光学的性質の変化を利
用して情報の記録・再生、又は記録・再生・消去を行う
光記録媒体を前提とし、上記記録材料が、 [(GaSb)1oo−y(InSb)y]1oo−、
(Vb2VIbi)。
(但し、V b 2 VT、 b hは周期表上のVb
族元素とVIb族元素とで構成されその化学式がVb2
v’xb、で表現される化学量論化合物又はこの化学量
論化合物の2種以上の混合物であり、また、x、yの範
囲は、7molX≦ X ≦85molX 5molX≦ y ≦70molXである)で示される
組成物にて構成されていることを特徴とするものである
。
族元素とVIb族元素とで構成されその化学式がVb2
v’xb、で表現される化学量論化合物又はこの化学量
論化合物の2種以上の混合物であり、また、x、yの範
囲は、7molX≦ X ≦85molX 5molX≦ y ≦70molXである)で示される
組成物にて構成されていることを特徴とするものである
。
このような技術的手段おいて上記V b 2VT b
hとしては、As、 Sb、 Bi等のVb族元素と、
S 、 Se、 Te等のVIb族元素で構成されその
化学式がVb2VIblで表現される5b2Tea、B
i2Te5、Sb+Se+、Bi2Te5、Sb+S+
、B+2St、AS2Sel、及び、AstTe+等の
化学量論化合物があり、またこれ等化学量論化合物を2
種以上混合した混合物、例えば、Bi25Te2等の化
学量論化合物や、その他の固溶体、混合体等か適用でき
る。
hとしては、As、 Sb、 Bi等のVb族元素と、
S 、 Se、 Te等のVIb族元素で構成されその
化学式がVb2VIblで表現される5b2Tea、B
i2Te5、Sb+Se+、Bi2Te5、Sb+S+
、B+2St、AS2Sel、及び、AstTe+等の
化学量論化合物があり、またこれ等化学量論化合物を2
種以上混合した混合物、例えば、Bi25Te2等の化
学量論化合物や、その他の固溶体、混合体等か適用でき
る。
一方、GaSb、 InSb、及び■b2VIb、とで
合成され、一般式[(GaSb)!oo−y(InSb
)y]100−(Vb+VIb+)−で示される組成物
には、上記Vb2’VIblの構成元素の種類、並びに
、GaSb、 InSb、及びVb、vhb、の合成割
合により、例えば、化学量論化合物を構成するもの、固
溶体を構成するもの、及び、混合体がある。
合成され、一般式[(GaSb)!oo−y(InSb
)y]100−(Vb+VIb+)−で示される組成物
には、上記Vb2’VIblの構成元素の種類、並びに
、GaSb、 InSb、及びVb、vhb、の合成割
合により、例えば、化学量論化合物を構成するもの、固
溶体を構成するもの、及び、混合体がある。
また、上記Vb2VIb、の合成割合、すなわち一般式
[(GaSb)too−、(InSb)y]1oo−、
(VbxVIbx)、におけるXの適用範囲は、X≦7
molXの場合、GaSbにおけるアモルファス化の改
善が不十分で、上記材料[(GaSb)1no−y(I
nSb)yLoo−(VbzVIb+Lのアモルファス
化が困難となり、一方、X≧85molXの場合には、
[(GaSb)too−y(InSb)i100−、(
Vb+VIbs)。
[(GaSb)too−、(InSb)y]1oo−、
(VbxVIbx)、におけるXの適用範囲は、X≦7
molXの場合、GaSbにおけるアモルファス化の改
善が不十分で、上記材料[(GaSb)1no−y(I
nSb)yLoo−(VbzVIb+Lのアモルファス
化が困難となり、一方、X≧85molXの場合には、
[(GaSb)too−y(InSb)i100−、(
Vb+VIbs)。
の結晶化速度が遅くなり、かつ結晶化温度が下がってア
モルファス相の安定性も劣化する危険性があるため、(
7molX≦ X ≦85molX )の範囲内に設定
する必要がある。
モルファス相の安定性も劣化する危険性があるため、(
7molX≦ X ≦85molX )の範囲内に設定
する必要がある。
他方、上記(InSb)の合成割合、すなわち−紋穴%
式% yの適用範囲は、y≦5molXの場合、記録感度の向
上に寄与する上記InSbの作用が不十分となり、また
、y≧10molXの場合には、 [(GaSb)100−y(InSb)y]100−−
(Vb+VIbs)−の結晶化速度が遅くなる危険性が
あるため、 (5molX≦ y ≦70molX )の範囲内に設
定する必要がある。
式% yの適用範囲は、y≦5molXの場合、記録感度の向
上に寄与する上記InSbの作用が不十分となり、また
、y≧10molXの場合には、 [(GaSb)100−y(InSb)y]100−−
(Vb+VIbs)−の結晶化速度が遅くなる危険性が
あるため、 (5molX≦ y ≦70molX )の範囲内に設
定する必要がある。
次に、上述した記録材料を適用した光記録媒体の基本構
造は、原則として光透過性の基板とこの面上に形成され
た記録材料層とで構成される。
造は、原則として光透過性の基板とこの面上に形成され
た記録材料層とで構成される。
また、記録材料層が溶融後固化するまでに変形すること
を防止する目的、あるいは、記録材料層の機械的損傷、
酸化等を防止する目的で上記記録材料層上に保護層を設
けることも可能である。
を防止する目的、あるいは、記録材料層の機械的損傷、
酸化等を防止する目的で上記記録材料層上に保護層を設
けることも可能である。
そして、上記光透過性の基板としてはガラスの他、アク
リノペポリカーボネート、エポキシ等の樹脂材料が利用
できる。ここで、基板として樹脂材料を適用した場合、
樹脂材料の熱的損傷を防ぐため記録材料層と基板間に、
例えばSiO□、Zn5Zr02等、あるいはこれ等の
混合物等で構成される基板保護層を設けてもよい。尚、
基板の反対側から光ビームを照射して記録・再生・消去
を行う光記録媒体においては、アルミニウム等の光不透
過性の材料により基板を構成しても当然のことながらよ
い。
リノペポリカーボネート、エポキシ等の樹脂材料が利用
できる。ここで、基板として樹脂材料を適用した場合、
樹脂材料の熱的損傷を防ぐため記録材料層と基板間に、
例えばSiO□、Zn5Zr02等、あるいはこれ等の
混合物等で構成される基板保護層を設けてもよい。尚、
基板の反対側から光ビームを照射して記録・再生・消去
を行う光記録媒体においては、アルミニウム等の光不透
過性の材料により基板を構成しても当然のことながらよ
い。
また、上記保護層を構成する材料としては、上記基板保
護層を構成する材料と同様の材料の他、紫外線硬化樹脂
、アクリル、ポリカーボネート、エポキシ等の樹脂材料
、及び、ガラス等を挙げることかできる。また、上記保
護層はこれ等材料の単一層で構成してもよく、あるいは
上記材料を複数積層して構成してもよく任意である。ま
た、冷却速度を速めることを目的として、Au、 AI
、Ag等熱伝導率の高い金属より成る熱拡散層や、Sl
、Ge、GaAs、 BeO、AIN 、 TiC、C
r、 FeXRh、 Be、 Ir等高温になる程その
熱伝導率か低下する材料より成る熱伝導制御層等を設け
てもよい。
護層を構成する材料と同様の材料の他、紫外線硬化樹脂
、アクリル、ポリカーボネート、エポキシ等の樹脂材料
、及び、ガラス等を挙げることかできる。また、上記保
護層はこれ等材料の単一層で構成してもよく、あるいは
上記材料を複数積層して構成してもよく任意である。ま
た、冷却速度を速めることを目的として、Au、 AI
、Ag等熱伝導率の高い金属より成る熱拡散層や、Sl
、Ge、GaAs、 BeO、AIN 、 TiC、C
r、 FeXRh、 Be、 Ir等高温になる程その
熱伝導率か低下する材料より成る熱伝導制御層等を設け
てもよい。
更に、上記記録材料層の形成方法としてはスパッタリン
グ法や真空蒸着法か利用できる。すなわち、上記スパッ
タリング法としては複数のターゲットを用い夫々のター
ゲットに加える電力量を適宜調整することにより目的の
組成物を合成すると同時にこの組成物を基板に着膜させ
る同時スパッタリングの他、目的の組成物に対応した一
つの合金ターゲットを用いてスパッタリングを行うこと
も可能である。また、上記真空蒸着法としては、複数の
蒸着源を使用し夫々の蒸着速度を調整することにより目
的の組成物を得ると同時にこれを基板に着膜させる共蒸
着法が利用できる。
グ法や真空蒸着法か利用できる。すなわち、上記スパッ
タリング法としては複数のターゲットを用い夫々のター
ゲットに加える電力量を適宜調整することにより目的の
組成物を合成すると同時にこの組成物を基板に着膜させ
る同時スパッタリングの他、目的の組成物に対応した一
つの合金ターゲットを用いてスパッタリングを行うこと
も可能である。また、上記真空蒸着法としては、複数の
蒸着源を使用し夫々の蒸着速度を調整することにより目
的の組成物を得ると同時にこれを基板に着膜させる共蒸
着法が利用できる。
尚、この技術的手段の光記録媒体においては、従来と同
様に記録材料層のアモルファス相を記録状態に対応させ
その結晶相を消去状態に対応させてもよく、この反対に
、記録材料層のアモルファス相を消去状態に対応させそ
の結晶相を記録状態に対応させてもよ(その選択は任意
である。
様に記録材料層のアモルファス相を記録状態に対応させ
その結晶相を消去状態に対応させてもよく、この反対に
、記録材料層のアモルファス相を消去状態に対応させそ
の結晶相を記録状態に対応させてもよ(その選択は任意
である。
上述したような技術的手段によれば、
記録材料が、
アモルファス化に難はあるものの結晶化時間か短< (
20ns)、かつ、アモルファス相の安定性も高い(結
晶化温度:350℃) GaSbと、このGaSbと結
晶構造が同一(閃亜鉛鉱型構造)で光学的バンドキャッ
プがGaSb (0,7eV)より小さいInSb (
0,2eV)と 結晶化時間が短く、アモルファス化も容易で、しかも結
晶化温度がTeより高いV b 2 VI bh、とて
合成された下記一般式、 [(GaSb)too−y(lnsb)y]1ao−、
(VblVIbl)、で表示される組成物にて構成され
ているため、結晶化速度の低下と結晶化温度の低下を引
起こさずにそのアモルファス化の改善が図れ、かつ、そ
のアモルファス相を記録状態に対応させた場合に記録感
度の向上を図ることが可能となる。
20ns)、かつ、アモルファス相の安定性も高い(結
晶化温度:350℃) GaSbと、このGaSbと結
晶構造が同一(閃亜鉛鉱型構造)で光学的バンドキャッ
プがGaSb (0,7eV)より小さいInSb (
0,2eV)と 結晶化時間が短く、アモルファス化も容易で、しかも結
晶化温度がTeより高いV b 2 VI bh、とて
合成された下記一般式、 [(GaSb)too−y(lnsb)y]1ao−、
(VblVIbl)、で表示される組成物にて構成され
ているため、結晶化速度の低下と結晶化温度の低下を引
起こさずにそのアモルファス化の改善が図れ、かつ、そ
のアモルファス相を記録状態に対応させた場合に記録感
度の向上を図ることが可能となる。
ここで、上記一般式、すなわち、
f(GaSb)lQa−r(InSb)r)100−f
(VblVIbl)−中におけるTe等VIb族元素の
構成割合か10at%を超えた場合においても、特開昭
62−241145号公報に開示された手段と較べて結
晶化速度の低下と結晶化温度の低下が起こり難い理由に
ついて本発明者は以下のように推論している。
(VblVIbl)−中におけるTe等VIb族元素の
構成割合か10at%を超えた場合においても、特開昭
62−241145号公報に開示された手段と較べて結
晶化速度の低下と結晶化温度の低下が起こり難い理由に
ついて本発明者は以下のように推論している。
すなわち、「結晶化速度」については、I(GaSb)
1ao−y(JnSb)i100−、(VbpVIb、
)tが、化学量論化合物であるGaSbとInSb、及
び化学量論化合物であるVb、VIb、間の合成、又は
、化学量論化合物であるGaSbとInSb、及び化学
量論化合物であるV b 2VI b hの2種以上の
混合物間の合成により求められ、 かつ、上記GarbとInSbとは共に閃亜鉛鉱型構造
でその結晶構造が同一であることと、 上記GaSb並びにVblVIblの結晶化速度が共に
速いためであると推論している。
1ao−y(JnSb)i100−、(VbpVIb、
)tが、化学量論化合物であるGaSbとInSb、及
び化学量論化合物であるVb、VIb、間の合成、又は
、化学量論化合物であるGaSbとInSb、及び化学
量論化合物であるV b 2VI b hの2種以上の
混合物間の合成により求められ、 かつ、上記GarbとInSbとは共に閃亜鉛鉱型構造
でその結晶構造が同一であることと、 上記GaSb並びにVblVIblの結晶化速度が共に
速いためであると推論している。
一方、「結晶化温度jについては、
[(GaSb)100−y(InSb)y]1oa−(
Vb2VIb+)、の一部を構成するV b 2VI
b !の結晶化温度が上述したようにTeに較べて高く
、かつ、上記GaSbとInSbの結晶構造が同一であ
るため、Vb2VIb、並びにInSbの添加に伴う結
晶化温度への影響が少ないためであると推論している。
Vb2VIb+)、の一部を構成するV b 2VI
b !の結晶化温度が上述したようにTeに較べて高く
、かつ、上記GaSbとInSbの結晶構造が同一であ
るため、Vb2VIb、並びにInSbの添加に伴う結
晶化温度への影響が少ないためであると推論している。
また、[(GaSb)+co−y(InSb)y]10
0−x(Vb2VIEl+)。
0−x(Vb2VIEl+)。
の記録感度、すなわちアモルファス感度が向上する理由
については、 上記GaSbと一部置換するInSbの光学的バンドギ
ャップが0.2eVでGaSbの数値(0,7eV)に
較べて著しく小さいため、このInSbの一部置換に伴
い上記[(GaSb)100−y(InSb)yl!a
o−、(Vb2VIba)−における光ビームの吸収率
が高められるためであると推論している。
については、 上記GaSbと一部置換するInSbの光学的バンドギ
ャップが0.2eVでGaSbの数値(0,7eV)に
較べて著しく小さいため、このInSbの一部置換に伴
い上記[(GaSb)100−y(InSb)yl!a
o−、(Vb2VIba)−における光ビームの吸収率
が高められるためであると推論している。
以下、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
◎第一実施例
この実施例に係る光記録媒体は、第1図に示すように厚
さ1.2mmのアクリル製の基板(1)と、この基板(
1)上にRFマグネトロンスパッタリング法により形成
された厚さ1100nの5iOt製の基板保護層(2)
と、この基板保護層(2)上に同様のRFマグネトロン
スパッタリング法にて形成された厚さ40nmの[(G
aSb)g o (InSb)+ o] + i (S
b2Tei L i製の記録材料層(3)と、この記録
材料層(3)上に同様の方法にて形成された厚さ110
0nのSiO3製の保護層(4)と、この保護層(4)
上に同様の方法にて形成された厚さ1100nのA1合
金製の熱拡散層(5)と、この熱拡散層(5)上に紫外
線硬化型樹脂の接着層(6)を介して積層された厚さ1
.2mmのアクリル製の保護板(7)とでその主要部が
構成されるものである。
さ1.2mmのアクリル製の基板(1)と、この基板(
1)上にRFマグネトロンスパッタリング法により形成
された厚さ1100nの5iOt製の基板保護層(2)
と、この基板保護層(2)上に同様のRFマグネトロン
スパッタリング法にて形成された厚さ40nmの[(G
aSb)g o (InSb)+ o] + i (S
b2Tei L i製の記録材料層(3)と、この記録
材料層(3)上に同様の方法にて形成された厚さ110
0nのSiO3製の保護層(4)と、この保護層(4)
上に同様の方法にて形成された厚さ1100nのA1合
金製の熱拡散層(5)と、この熱拡散層(5)上に紫外
線硬化型樹脂の接着層(6)を介して積層された厚さ1
.2mmのアクリル製の保護板(7)とでその主要部が
構成されるものである。
尚、この光記録媒体における光吸収は可視光から近赤外
光中にわたっており、少なくとも400〜860 nm
の範囲で光記録媒体として使用可能であった。
光中にわたっており、少なくとも400〜860 nm
の範囲で光記録媒体として使用可能であった。
そして、この光記録媒体の使用に際しては、従来と同様
、その記録材料のアモルファス相を記録状態に対応させ
る一方、記録材料の結晶相を消去状態に対応させて使用
した。
、その記録材料のアモルファス相を記録状態に対応させ
る一方、記録材料の結晶相を消去状態に対応させて使用
した。
以下、この光記録媒体を適用した記録法について説明す
ると、まず、上記光記録媒体を1800rpmの速度で
回転させながら780 nmの半導体レーザを一様に照
射し光記録媒体の初期化を行った。
ると、まず、上記光記録媒体を1800rpmの速度で
回転させながら780 nmの半導体レーザを一様に照
射し光記録媒体の初期化を行った。
次に、初期化された光記録媒体を1800rpmの速度
で回転させ、この状態でその出力か選択的に切換わる単
一の記録消去用ビーム(記録時の出力、7mW、消去時
の出カニ3mW)を照射してオーバーライドによる情報
の記録・消去を行った。
で回転させ、この状態でその出力か選択的に切換わる単
一の記録消去用ビーム(記録時の出力、7mW、消去時
の出カニ3mW)を照射してオーバーライドによる情報
の記録・消去を行った。
一方、情報が書込まれた光記録媒体を1800rpmの
速度で回転させ、この状態で出力1mWのレーザビーム
をその記録材料層(3)へ照射すると共に、この反射ビ
ームを受光素子により読取らせて記録情報の再生を行っ
た。
速度で回転させ、この状態で出力1mWのレーザビーム
をその記録材料層(3)へ照射すると共に、この反射ビ
ームを受光素子により読取らせて記録情報の再生を行っ
た。
そして、この光記録媒体を適用した記録法においてはそ
の記録・消去時間が50ns以下となり、従来の光記録
媒体を適用した方法に較べて記録・消去速度の著しい改
善が図れ、かつ、その消去率も25dB以上の実用的な
値が得られた。
の記録・消去時間が50ns以下となり、従来の光記録
媒体を適用した方法に較べて記録・消去速度の著しい改
善が図れ、かつ、その消去率も25dB以上の実用的な
値が得られた。
一方、上記記録材料層(3)を加熱しながらその反射率
をモニターし、その反射率が急激に変化し始める温度を
「結晶化温度Aと定義してこの光記録媒体に適用された
記録材料の結晶化温度を求めたところ140°C以上あ
り、そのアモルファス相の安定性も充分であった。
をモニターし、その反射率が急激に変化し始める温度を
「結晶化温度Aと定義してこの光記録媒体に適用された
記録材料の結晶化温度を求めたところ140°C以上あ
り、そのアモルファス相の安定性も充分であった。
また、上述したように記録消去用ビームの出力はその記
録時が7 mW、消去時が3mWであり、GaSbの一
部がInSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)s(Sb2Tea)esが適用サレ
テいル光記録媒体の場合(この場合、記録時が12mW
、消去時が5mWであった)に較べてその記録感度の向
上か確認された。
録時が7 mW、消去時が3mWであり、GaSbの一
部がInSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)s(Sb2Tea)esが適用サレ
テいル光記録媒体の場合(この場合、記録時が12mW
、消去時が5mWであった)に較べてその記録感度の向
上か確認された。
更に、104回まで情報の書換え試験を行ったか記録材
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
◎第二実施例
この実施例に係る光記録媒体は、上記記録材料層(3)
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)no(InSb)to]1o(Sb2Tea)
ioて構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5
)が設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録
媒体と路間−である。
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)no(InSb)to]1o(Sb2Tea)
ioて構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5
)が設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録
媒体と路間−である。
そして、第一実施例と同様に初期化した光記録媒体を1
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出ノJ
が選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の
出カニ9mW、消去時の出カニ5mW)を照射してオー
バーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込ま
れた光記録媒体を180Orpmの速度で回転させ、こ
の状態で出力1+nWのレーサビームをその記録材料層
(3)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子に
より読取らせて記録情報の再生を行った。
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出ノJ
が選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の
出カニ9mW、消去時の出カニ5mW)を照射してオー
バーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込ま
れた光記録媒体を180Orpmの速度で回転させ、こ
の状態で出力1+nWのレーサビームをその記録材料層
(3)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子に
より読取らせて記録情報の再生を行った。
この結果、第二実施例に係る光記録媒体を適用した記録
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
また、上述したように記録消去用ビームの出力はその記
録時か9mW、消去時が5mWであり、GaSbの一部
が1nsbで置換されていない以下の記録材料、すなわ
ち、(GaSb)io(Sb2Te+ン、。が適用され
ている光記録媒体の場合(この場合、記録時が15mW
、消去時が7mWであった。但し、この光記録媒体はA
u製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録感度
の向上が確認された。
録時か9mW、消去時が5mWであり、GaSbの一部
が1nsbで置換されていない以下の記録材料、すなわ
ち、(GaSb)io(Sb2Te+ン、。が適用され
ている光記録媒体の場合(この場合、記録時が15mW
、消去時が7mWであった。但し、この光記録媒体はA
u製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録感度
の向上が確認された。
更に、この記録材料の結晶化温度を求めたところ、16
0°C以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり
、かつ、20’回まで情報の書換え試験を行ったが記録
材料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられ
なかった。
0°C以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり
、かつ、20’回まで情報の書換え試験を行ったが記録
材料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられ
なかった。
◎第三実施例
この実施例に係る光記録媒体は、上記記録材料層(3)
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)*1(InSb)t]as(SbzTe+)i
で構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5)が
設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録媒体
と路間−である。
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)*1(InSb)t]as(SbzTe+)i
で構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5)が
設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録媒体
と路間−である。
そして、第一実施例と同様に初期化した光記録媒体を1
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出力が
選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の出
カニ11mW、消去時の出力・5 mW)を照射してオ
ーバーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込
まれた光記録媒体を1800rpmの速度で回転させ、
この状態で出力1mWのレーザビームをその記録材料層
(3)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子に
より読取らせて記録情報の再生を行った。
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出力が
選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の出
カニ11mW、消去時の出力・5 mW)を照射してオ
ーバーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込
まれた光記録媒体を1800rpmの速度で回転させ、
この状態で出力1mWのレーザビームをその記録材料層
(3)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子に
より読取らせて記録情報の再生を行った。
この結果、第三実施例に係る光記録媒体を適用した記録
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
また、上述したように記録消去用ビームの出力はその記
録時が11mW、消去時が5mWであり、GaSbの一
部がInSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)9o(Sb+Te+)toが適用さ
れている光記録媒体の場合(この場合、記録時が18m
W、消去時が10mWであった。但し、この光記録媒体
はAu製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録
感度の向上が確認された。
録時が11mW、消去時が5mWであり、GaSbの一
部がInSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)9o(Sb+Te+)toが適用さ
れている光記録媒体の場合(この場合、記録時が18m
W、消去時が10mWであった。但し、この光記録媒体
はAu製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録
感度の向上が確認された。
更に、この記録材料の結晶化温度を求めたところ、20
0℃以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり、
かつ、10”回まで情報の書換え試験を行ったが記録材
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
0℃以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり、
かつ、10”回まで情報の書換え試験を行ったが記録材
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
◎第四実施例
この実施例に係る光記録媒体は、上記記録材料層(3)
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)ao(InSb)tolsa(Bi+Te+)
soで構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5
)が設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録
媒体と路間−である。
が真空蒸着法にて成膜された厚さ100 nmの[(G
aSb)ao(InSb)tolsa(Bi+Te+)
soで構成されている点と、A1合金製の熱拡散層(5
)が設けられていない点を除き第一実施例に係る光記録
媒体と路間−である。
そして、第一実施例と同様に初期化した光記録媒体を1
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出力が
選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の出
カニ9mW、消去時の出カニ5mW)を照射してオーバ
ーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込まれ
た光記録媒体を1800rpmの速度で回転させ、この
状態で出力1mWのレーザビームをその記録材料層(3
)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子により
読取らせて記録情報の再生を行った。
800rpmの速度で回転させ、この状態でその出力が
選択的に切換わる単一の記録消去用ビーム(記録時の出
カニ9mW、消去時の出カニ5mW)を照射してオーバ
ーライドによる情報の記録・消去を行う一方、書込まれ
た光記録媒体を1800rpmの速度で回転させ、この
状態で出力1mWのレーザビームをその記録材料層(3
)へ照射すると共に、この反射ビームを受光素子により
読取らせて記録情報の再生を行った。
この結果、第四実施例に係る光記録媒体を適用した記録
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
法においてもその記録・消去時間が50ns以下となり
、記録・消去速度の著しい改善が図れ、かつ、その消去
率も25dB以上の実用的な値が得られた。
また、上述したように記録消去用ビームの出力はその記
録時が9 mW、消去時が5mWであり、GaSbの一
部カ月nSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)so(Bj2Tes)soが適用さ
れている光記録媒体の場合(この場合、記録時が15m
W、消去時が7mWであった。但し、この光記録媒体は
Au製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録感
度の向上が確認された。
録時が9 mW、消去時が5mWであり、GaSbの一
部カ月nSbで置換されていない以下の記録材料、すな
わち、(GaSb)so(Bj2Tes)soが適用さ
れている光記録媒体の場合(この場合、記録時が15m
W、消去時が7mWであった。但し、この光記録媒体は
Au製の熱拡散層を具備している)に較べてその記録感
度の向上が確認された。
更に、この記録材料の結晶化温度を求めたところ、16
0℃以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり、
かつ、105回まで情報の書換え試験を行ったが記録材
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
0℃以上でそのアモルファス相の安定性も充分であり、
かつ、105回まで情報の書換え試験を行ったが記録材
料の偏析等は起こらず記録特性に大きな劣化はみられな
かった。
本発明によれば、
記録材料が、
アモルファス化に難はあるものの結晶化時間が短くアモ
ルファス相の安定性も高いGaSbと、このGaSbと
結晶構造が同一で、Garbより光学的バンドギャップ
が小さいInSbと 結晶化時間が短く、アモルファス化も容易で、しかも結
晶化温度がTeより高いV b r VI b +、と
で合成された下記−紋穴、 [(casbLoo−、(InSbLLoo−x(Vb
’2VIb+)xで表示される組成物にて構成されてい
るため、結晶化速度の低下と結晶化温度の低下を引起こ
さずにそのアモルファス化の改善と記録感度の向上を図
ることが可能となる。
ルファス相の安定性も高いGaSbと、このGaSbと
結晶構造が同一で、Garbより光学的バンドギャップ
が小さいInSbと 結晶化時間が短く、アモルファス化も容易で、しかも結
晶化温度がTeより高いV b r VI b +、と
で合成された下記−紋穴、 [(casbLoo−、(InSbLLoo−x(Vb
’2VIb+)xで表示される組成物にて構成されてい
るため、結晶化速度の低下と結晶化温度の低下を引起こ
さずにそのアモルファス化の改善と記録感度の向上を図
ることが可能となる。
従って、情報の書込み若しくは書換えを高速で行え、か
つ、この記録情報を長期に亘って保持てきる効果を有し
ている。
つ、この記録情報を長期に亘って保持てきる効果を有し
ている。
更に、記録感度の向上に伴い書込み時における光ビーム
の出力低減が図れるため、光記録媒体に加わる熱的スト
レスが少なくなって繰り返し書換え耐性が向上する効果
を有している。
の出力低減が図れるため、光記録媒体に加わる熱的スト
レスが少なくなって繰り返し書換え耐性が向上する効果
を有している。
第1図は実施例に係る光記録媒体の構成を示す断面図、
第2図〜第3図は「相変化方式1における記録・消去の
原理説明図である。 〔符号説明〕 (z)・・・基板 (3)・・・記録材料層 特 許 出 願 人 富士ゼロックス株式会社代 理
人 弁理士 中 村 智 廣(外2名)記録材料層
第2図〜第3図は「相変化方式1における記録・消去の
原理説明図である。 〔符号説明〕 (z)・・・基板 (3)・・・記録材料層 特 許 出 願 人 富士ゼロックス株式会社代 理
人 弁理士 中 村 智 廣(外2名)記録材料層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光、熱等の手段により可逆的に相変化する記録材料層を
基板上に備え、この相変化に伴う光学的性質の変化を利
用して情報の記録・再生、又は記録・再生・消去を行う
光記録媒体において、上記記録材料が、 [(GaSb)_1_0_0_−_y(InSb)_y
]_1_0_0_−_x(Vb_2VIb_3)_x(但
し、Vb_2VIb_3は周期表上のVb族元素とVIb族
元素とで構成されその化学式がVb_2VIb_3で表現
される化学量論化合物又はこの化学量論化合物の2種以
上の混合物であり、また、x、yの範囲は、7mol%
≦x≦85mol% 5mol%≦y≦70mol%である) で示される組成物にて構成されていることを特徴とする
光記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194779A JPH0482780A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2194779A JPH0482780A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 光記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0482780A true JPH0482780A (ja) | 1992-03-16 |
Family
ID=16330118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2194779A Pending JPH0482780A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0482780A (ja) |
-
1990
- 1990-07-25 JP JP2194779A patent/JPH0482780A/ja active Pending
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