JPH048372Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案は、締付形試験端子用接続片、特にPT，
CT2次回路等の電圧、電流の測定及び配電盤、制
御盤等（以下盤と称す）に取付けられた機器の試
験を行なうために、予め試験端子間を接続する締
付形試験端子用接続片に関するものである。 〔考案の技術的背景〕 盤へ予め配置される各締付形試験端子間の取付
間隔寸法は、装置の常時運用時とPT，CT2次回
路等の電圧、電流測定時及び機器の試験時に、必
要に応じて各締付形試験端子間を接続片にて接続
したり、開放したりするように構成されている。 第５図はPT回路に使用されている電圧回路用
締付形試験端子の位置を示す結線図、第６図は
CT回路に使用されている電流回路用締付形試験
端子の位置を示す結線図であり、両者とも装置の
常時運用時の状態である。 第５図及び第６図において、１は電圧回路用締
付形試験端子（接続片を含めた記号）、４は電流
回路用締付形試験端子（接続片を含めた記号）
で、PT，CT2次回路は前記締付形試験端子１又
は４を介して盤用機器２に接続されている。な
お、３は締付形試験端子１，４及び盤用機器２が
取付く盤である。 第７図及び第８図は前記第５図及び第６図に示
す従来の接続片を使用した締付形試験端子の構成
を示す図であり、第７図ａは前記した第５図の電
圧回路用締付形試験端子（以下電圧用Ｔ，Ｔと称
す）１が盤３に取付いた状態を示す正面図、第７
図ｂは側面図である。第８図ａは前記した第６図
の電流回路用締付形試験端子（以下電流用Ｔ，Ｔ
と称す）４が盤３に取付いた状態を示す正面図、
第８図ｂは側面図である。 そして、電圧用Ｔ，Ｔ１は軸ネジ９に絶縁固定
ナツト１０及び絶縁固定ツマミ１２が固定され、
可動ツマミ１１が可動するように構成されて、接
続片５は絶縁固定ナツト金属部１０ａと可動ツマ
ミ金属部１１ａ間に締付け取付けられている。 又、電流用Ｔ，Ｔは軸ネジ１３に絶縁固定ナツ
ト１０，１４及び絶縁固定ツマミ１２が固定さ
れ、可動ツマミ１１，１５が可動するように構成
され、接続片５は絶縁固定ナツト金属部１０ａと
可動ツマミ金属部１１ａ間及び絶縁固定ナツト金
属部１４ａと可動ツマミ金属部１５ａ間に、夫々
締付け取付けられている。 第７図ａにおいて、電圧用Ｔ，Ｔ１はL₁＜L₂
の寸法関係となるように配置され、装置の常時運
用時は、接続片５により上、下の電圧用Ｔ，Ｔを
接続している。この状態では第７図ｂに示すよう
に、下側の電圧用Ｔ，ＴがPT2次回路へ接続さ
れ、上側の電圧用Ｔ，Ｔは盤用機器２へ接続され
ているので、接続片５でPT2次回路と盤用機器２
を電気的に接続している。 他方、電流用Ｔ，Ｔ４は第８図ａに示すよう
に、L₁＝L₃の寸法関係となるように配置され、
装置の常時運用時は、接続片５により上、下の電
流用Ｔ，Ｔを接続している。但し、第８図ｂに示
すように、上、下の電流用Ｔ，Ｔは接続片５を２
本使用して接続するように構成している。第８図
ｂにおいて下側の電流用Ｔ，ＴはCT2次回路へ接
続され、上側の電流用Ｔ，Ｔは盤用機器２へ接続
されているので、結果として接続片５はCT2次回
路と盤用機器２を電気的に接続している。 第９図に示すように従来の接続片５は、金属導
電部６，６′絶縁モ−ルド部７、及び金属導電部
６，６′に設けた切欠き円弧８，８′により構成さ
れ、前記切欠き円弧８と８′の寸法は、第７図ａ、
第８図ａに示す寸法L₁となつている。なお、全
長はL₄で示している。 第７図の電圧用Ｔ，Ｔの構成において、例えば
盤用機器２を図示しない別電源で試験する時に
は、接続片５を取り外して、PT2次回路を開放に
した状態で上側の電圧用Ｔ，Ｔに図示しない別電
源を接続して試験を実施する。 他方、第８図の電流用Ｔ，Ｔの構成において
は、第１０図ａ，ｂに示すように、一方の接続片
５を取り外して点線で示すようにＲ，Ｓ，Ｔ，Ｎ
間を短絡し、CT2次回路を一括短絡した後で、も
う一方の接続片５（実線で示す）を取り外して、
上側の電流用Ｔ，Ｔに図示しない別電源を接続し
て盤用機器２の試験を実施する。なお、第１０図
においてもL₁＝L₃の寸法関係となつている。 〔背景技術の問題点〕 上記構成を有する従来の接続片５を用いた第７
図の電圧用Ｔ，Ｔにおいて、盤面縮少の観点から
各電圧用Ｔ，Ｔ間の取付寸法間隔L₂を出来るだ
け小さくする必要があり、L₂はL₁寸法に近づく
傾向にある。よつて必然的に第１１図に示すよう
に左右の電圧用Ｔ，Ｔの可動ツマミ金属部１１ａ
間の寸法L₅も狭くなるので、接続片５の全長L₄
よりもL₅の方が小さくなつてくる。このために
前述した図示しない別電源による盤用機器２の試
験時に、接続片５を取り外した後で、接続片５を
落下させた場合等において、左右の電圧用Ｔ，Ｔ
間が接続片５の金属導電部６，６′で短絡される
ので（第１１図の点線で示す状態）、PT2次回路
の短絡事故を起す要因となつていた。 この対策として第１２図に示すように、締付形
Ｔ，Ｔへ締付けられる金属部１８を除いた部分を
絶縁物１７で覆つた接続片１６があるが、この場
合は左右の電圧用Ｔ，Ｔ間の短絡は防げるが、第
１０図に示す電流用Ｔ，Ｔにおいて、盤用機器２
を図示しない別電源で試験する場合には、下側の
電流用Ｔ，Ｔ間を連続して短絡する必要がある
が、本接続片１６では不可能である。したがつて
電圧用接続片１６（第１２図）と電流用接続片５
（第９図）の２種類が必要となるだけでなく、使
い分けによる間違いが生じる恐れがあり、抜本的
な対策とはなつていなかつた。 〔考案の目的） 本考案は上記問題点を解決するためになされた
ものであり、電圧用Ｔ，Ｔ間の不必要な短絡を防
止すると共に、電流用Ｔ，Ｔにおいても各電流用
Ｔ，Ｔ間を連続して一括短絡させることが可能な
締付形試験端子用接続片を提供することを目的と
している。 〔考案の概要〕 本考案では、接続片の金属導電部分を必要に応
じて絶縁物で覆い、その長手方向延長上に、開口
方向が互に直角になるような切欠き円弧をもうけ
て導電部位とし、電圧用Ｔ，Ｔ間短絡が不必要な
取付け寸法の時には、一方端を絶縁物で絶縁して
誤短絡を防止すると共に、電流用Ｔ，Ｔ間を連続
して短絡させたい場合には、確実な短絡動作を保
証するために、接続片の端部にある金属導電部分
を互に重ね合せることにより接触できるようにし
ようとするものである。 〔考案の実施例〕 以下図面を参照して実施例を説明する。第１図
は本考案による締付形試験端子用接続片の一実施
例構成図である。 第１図において、接続片２０は金属導電板２１
と絶縁モ−ルド部２２とからなり、これらは一体
構成されている。金属導電板２１には電圧用Ｔ，
Ｔの軸ネジ９及び電流用Ｔ，Ｔの軸ネジ１３の半
径より若干大きめの切欠き円弧２１ａ，２１ｂが
もうけられる。そして切欠き円弧２１ａ，２１ｂ
は切欠き円弧の中心延長線上において互の開口部
が直角方向となるようにもうけられ、かつ開口部
間の寸法は締付形Ｔ，Ｔ取付寸法L₁に対応して
いる。そして切欠円弧２１ｂにはその円弧の外周
に接する延長上に任意の角度で、切欠き２１ｃ及
び２１ｄを設けてある。２１ｅは金属導電板２１
の端部にある切欠き２１ａの開口部の端であり、
２１ｆは切欠き円弧２１ｂ側の金属導電板表面で
ある。又、絶縁モ−ルド部２２には前記した金属
導電板２１の切欠き円弧２１ｂの中心と同心円状
に、円弧２２ａがもうけられ、これは電圧用Ｔ，
Ｔ、電流用Ｔ，Ｔの可動ツマミ１１，１５の外周
より若干大きめとなつている。更に、金属導電板
２１の切欠き２１ｃと同角で切欠いた切欠き２２
ｃを有している。なお、切欠き２２ｃ、絶縁モ−
ルド部右端２２ｅ以外の絶縁モ−ルド部は、金属
導電板２１の外形を覆う形で施されており、絶縁
ふち２２ｂと突端部２２ｄを有している。絶縁モ
−ルド部溝幅T₂は金属導電板２１の幅T₁より若
干広くしてあり、T₂＞T₁となつている。又、溝
幅T₂部分の肉厚ｔは金属導電板２１の板厚と同
じになるように構成されている。更に寸法につい
ては全長をL₆とし、L₇とL₈の関係はL₇＞L₈とな
つている。 第２図ａは上記構成になる接続片を電圧用Ｔ，
Ｔに使用した場合の取付状態図であり、第２図ｂ
は側面図である。 先ず取付け時は第２図ａの点線で示すように、
接続片２０の金属導電板２１の端部にある切欠き
円弧２１ａを電圧用Ｔ，Ｔの軸ネジ９へ押圧し、
この状態から矢印方向に回動させ、更に上部にあ
る電圧用Ｔ，Ｔの軸ネジ９へ切欠き円弧２１ｂを
接触させた状態で、可動ツマミ１１をまわして絶
縁固定ナツト金属部１０ａと可動ツマミ金属部１
１ａ間に接続片２０を締付け固定する。 この状態を第２図ａの実線で示すが、上部の電
圧用Ｔ，Ｔの可動ツマミ１１と絶縁固定ナツト１
０は接続片２０の絶縁モ−ルド部２２の円弧２２
ａに若干沈んだ状態として金属導電板２１のみで
接続することになる。即ち、第２図ｂに示すよう
に、PT2次回路と盤用機器２とを接続片２０で電
気的に接続したことになる。 第３図は接続片を電圧用Ｔ，Ｔに使用した場合
に左右の電圧用Ｔ，Ｔ間の短絡が防止できること
を示す図である。即ち、盤用機器２を図示しない
別電源で試験するに際して、接続片２０を取外し
てPT2次回路を開放状態にした後で、例えば接続
片２０を誤つて落下させる場合が考えられる。こ
の場合は第３図の上部電圧用Ｔ，Ｔ間に接続片２
０が、点線で示す状態にひっかかることになり、
接続片２０の金属導電板２１の端部２１ｅは左側
の電圧用Ｔ，Ｔの可動ツマミ金属部１１ａ又は軸
ネジ９に接触しているが、右側の電圧用Ｔ，Ｔに
は絶縁モ−ルド部２２のふち２２ｂが当つている
ので、電圧用Ｔ，Ｔ間は絶対に短絡することはな
い。 同じく第３図の下方に示すように、下部電圧用
Ｔ，Ｔ間に接続片２０が点線の状態でひつかかる
場合も考えられる。この場合は左側の電圧用Ｔ，
Ｔの可動ツマミ金属部１１ａ又は軸ネジ９に金属
導電板２１の端部２１ｅが接触しているが、右側
の電圧用Ｔ，Ｔには絶縁モ−ルド部２２の突端２
２ｄが当ることになるので、電圧用Ｔ，Ｔ間は絶
対に短絡することはない。これは第３図の接続片
２０が逆向きであつても、又、接続片２０が上下
間の電圧用Ｔ，Ｔを接続した状態で取付いていて
も同じように、左右の電圧用Ｔ，Ｔ間の短絡はあ
り得ない。 第４図ａは接続片を電流用Ｔ，Ｔに使用した場
合の取付状態図であり、第４図ｂは正面図であ
る。 先ず盤用機器２を図示しない別電源で試験する
場合には、一方の接続片２０を取外し点線で示す
ように、Ｒ，Ｓ，Ｔ，Ｎ間を短絡して、CT2次回
路を一括短絡する必要がある。 ここで接続片２０は第１図に示したように、金
属導電板２１の幅T₁と絶縁モ−ルド部の溝幅T₂
とが、T₂＞T₁、又、溝幅T₂の肉厚ｔが金属導電
板２１の板厚と等しく、かつL₇＞L₈の各寸法関
係になつているので、金属導電板２１と絶縁モ−
ルド部溝幅T₂の金属導電板表面２１ｆが、隣り
合う各々の接続片同志間で互に重ね合さり、その
結果、可動ツマミ金属部１１ａと絶縁固定ナツト
金属部１０ａ間に締付け固定されるので、連続し
て左右の電流用Ｔ，Ｔ間を短絡できる。この後、
もう一方の接続片２０（実線で示す）を取外し
て、上側の電流用Ｔ，Ｔに図示しない別電源を接
ぎ込んで、盤用機器２の試験を実施する。なお、
第４図においても、L₁＝L₃の寸法関係になつて
いる。 上記各説明から明らかなように、一種類の接続
片２０のみで電圧用、電流用を兼用することがで
きると共に、従来の欠点を解決することができ
る。 〔考案の効果） 以上説明した如く、本考案によれば接続片を金
属導電板とこれを覆う絶縁モ−ルド部とによつて
構成し、この接続片の長手方向延長上に、開口方
向が互に直角方向となるように切欠き円弧をもう
けて、各円弧間の距離を締付形試験端子取付寸法
とし、かつ電圧用Ｔ，Ｔ端子間距離と電流用端子
間距離とを同一にして接続片を共用できるよう構
成したので、一種類だけの接続片でPT2次回路及
びCT2次回路で使い分けが不要となり、又、接続
片の取付け、取外しが容易で、しかも接続片の取
扱い時に細心の注意を払うことがなくなり、工数
低減及び工期短縮等の利点があり、高信頼度化及
び盤面縮小化等の可能な締付形試験端子用接続片
を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による締付形試験端子用接続片
の一実施例構成図、第２図ａは前記接続片を電圧
用Ｔ，Ｔに使用した場合の取付状態図、第２図ｂ
は側面図、第３図は接続片を電圧用Ｔ，Ｔに使用
した場合に左右の電圧用Ｔ，Ｔ間の短絡が防止で
きることを示す図、第４図ａは接続片を電流用
Ｔ，Ｔに使用した場合の取付状態図、第４図ｂは
正面図、第５図は電圧用Ｔ，Ｔの使用位置を示す
図、第６図は電流用Ｔ，Ｔの使用位置を示す図、
第７図ａは第５図の電圧用Ｔ，Ｔを盤に取付けた
正面図、第７図ｂは同じく側面図、第８図ａは第
６図の電流用Ｔ，Ｔを盤に取付けた正面図、第８
図ｂは同じく側面図、第９図は従来の接続片の斜
視図、第１０図ａ，ｂは第８図の状態から手前側
の電流用Ｔ，Ｔ間を連続して短絡した状態図、第
１１図は左右の電圧用Ｔ，Ｔ間が従来の接続片で
短絡された状態図、第１２図は従来の他の接続線
斜視図である。 １……電圧用Ｔ，Ｔ、２……盤用機器、３……
盤、４……電流用Ｔ，Ｔ、５，１６……従来の接
続片、６，６′……金属導電部、７，２２……絶
縁モ−ルド部、８，８′，２１ａ，２１ｂ……切
欠き円弧、９，１３……軸ネジ、１１，１５……
可動ツマミ、１０ａ，１４ａ……絶縁固定ナツト
金属部、１１ａ，１５ａ……可動ツマミ金属部、
１７……絶縁物、１８……金属部、２０……本考
案の接続片、２１……金属導電板、２１ｃ，２１
ｄ……切欠き、２１ｅ……金属導電板端部、２１
ｆ……金属導電板表面、２２ａ……円弧、２２ｂ
……絶縁ふち、２２ｃ……絶縁モ−ルド部切欠
き、２２ｄ……絶縁モ−ルド部突端。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 配電盤及び制御盤に取付けられた機器の試験を
   行なうために、予め前記各盤に設置されている締
   付形試験端子間を接続したり開放したりする接続
   片において、前記接続片は金属導電板とこれの一
   部分を除いた大部分を覆う絶縁モ−ルド部とによ
   つて形成し、この接続片の長手方向延長上の一方
   端に開口方向が長手方向に一致するよう設けた第
   １の切欠き円弧と、他方端側面に第２の切欠き円
   弧を設けて夫々開口方向が互に直角方向となるよ
   うにし、これらの円弧間の距離を前記締付形試験
   端子の取付間隔寸法に設定し、かつ前記第１、第
   ２の各切欠き円弧は締付形試験端子を構成する軸
   ネジの半径よりも若干大きくすると共に、前記絶
   縁モ−ルド範囲は、他方側面に設けた第２の切欠
   き円弧の中心と同心円状に後退して設け、第２の
   切欠き円弧側端部にある絶縁モ−ルド部溝幅部分
   の溝幅は第１の切欠き円弧を有する金属導電板の
   板幅よりも若干広くすると共に溝幅部分のモール
   ド肉厚はそれに続く金属導電板の板厚と同じに
   し、絶縁ふちと突端部を含めたその他の部分は第
   １の切欠き円弧端から所定長残して、絶縁モ−ル
   ドを段加工したことを特徴とする締付形試験端子
   用接続片。