JPH0489558A - ガスクロマトグラフの自己診断方法 - Google Patents
ガスクロマトグラフの自己診断方法Info
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- JPH0489558A JPH0489558A JP20393890A JP20393890A JPH0489558A JP H0489558 A JPH0489558 A JP H0489558A JP 20393890 A JP20393890 A JP 20393890A JP 20393890 A JP20393890 A JP 20393890A JP H0489558 A JPH0489558 A JP H0489558A
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- gain
- thermal conductivity
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、キャリアガスによって移送されてくるサンプ
ルガスの濃度を熱伝導度検出器により検出するガスクロ
マトグラフ装置に関し、特にこの装置が異常時に自己診
断を行うようにしたガスクロマトグラフの自己診断方法
に関するものである。
ルガスの濃度を熱伝導度検出器により検出するガスクロ
マトグラフ装置に関し、特にこの装置が異常時に自己診
断を行うようにしたガスクロマトグラフの自己診断方法
に関するものである。
[従来の技術]
従来のこの種のガスクロマトグラフ装置の要部の構成を
第2図に示す。
第2図に示す。
同図において、1は被計測用のサンプルガス、2は移動
相であるキャリアガス、3,4は到来するガスの濃度、
すなわちその温度を抵抗値の変化により検出する熱伝導
度検出器(以下、TCDセンサ)、5はこれらTCDセ
ンサヘ一定電流を供給する定電流源、6はゲインアンプ
部、7はゲイン部、R1,rは抵抗、aはゲイン切換信
号、■はゲインアンプ部6の出力電圧信号である。
相であるキャリアガス、3,4は到来するガスの濃度、
すなわちその温度を抵抗値の変化により検出する熱伝導
度検出器(以下、TCDセンサ)、5はこれらTCDセ
ンサヘ一定電流を供給する定電流源、6はゲインアンプ
部、7はゲイン部、R1,rは抵抗、aはゲイン切換信
号、■はゲインアンプ部6の出力電圧信号である。
そして、従来の装置は、TCDセンサ3.4としてフィ
ラメントやサーミスタを用い、これらTCDセンサ3,
4と抵抗R1,rとを第2図に示すようなブリッジ構成
にしてサンプルガス1の濃度を検出している。すなわち
、TCDセンサ4は常時キャリアガス2を検出しており
、また、TCDセンサ3も、通常は、キャリアガス2を
検出している。この場合、このブリッジ回路は平衡状態
となっており、従ってゲインアンプ部6の2つの入力電
圧間に電位差が生じないことから、このゲインアンプ部
6の出力電圧はOVとなっている。
ラメントやサーミスタを用い、これらTCDセンサ3,
4と抵抗R1,rとを第2図に示すようなブリッジ構成
にしてサンプルガス1の濃度を検出している。すなわち
、TCDセンサ4は常時キャリアガス2を検出しており
、また、TCDセンサ3も、通常は、キャリアガス2を
検出している。この場合、このブリッジ回路は平衡状態
となっており、従ってゲインアンプ部6の2つの入力電
圧間に電位差が生じないことから、このゲインアンプ部
6の出力電圧はOVとなっている。
その後、キャリアガス2に続きサンプルガス1が移送さ
れてくると、TCDセンサ3においてこのサンプルガス
1の温度が検出され、この結果、TCDセンサ3の抵抗
値が変化することから、ブリッジ回路が不平衡となって
ゲインアンプ部6の2つの入力電圧間に電位差が生じ、
従って、第3図のグラフに示されるように、ゲインアン
プ部6の出力電圧■は0■から上昇し、このサンプルガ
ス1がTCDセンサ3を通過すると低下して再びOVに
なる。第3図のグラフは、このようなサンプルガスが3
種、成る時間間隔でTCDセンサ3に移送されてきた場
合のゲインアンプ部6の出力電圧を示している。
れてくると、TCDセンサ3においてこのサンプルガス
1の温度が検出され、この結果、TCDセンサ3の抵抗
値が変化することから、ブリッジ回路が不平衡となって
ゲインアンプ部6の2つの入力電圧間に電位差が生じ、
従って、第3図のグラフに示されるように、ゲインアン
プ部6の出力電圧■は0■から上昇し、このサンプルガ
ス1がTCDセンサ3を通過すると低下して再びOVに
なる。第3図のグラフは、このようなサンプルガスが3
種、成る時間間隔でTCDセンサ3に移送されてきた場
合のゲインアンプ部6の出力電圧を示している。
[発明が解決しようとする課題]
上述した従来のガスクロマトグラフ装置は、ブリッジ回
路により構成されているとともに、オンラインでゲイン
アンプ部6への入力電圧値を自在に設定できないので、
ゲインアンプ部6からの出力電圧のゼロ点やスパンのド
リフトおよび異常電圧が発生した場合、ゲインアンプ部
6の正否の判定が行えず、従って異常の原因がTCDセ
ンサ3.4側にあるか、またはゲインアンプ部6側にあ
るかの特定を迅速に行うことができないという問題があ
った。
路により構成されているとともに、オンラインでゲイン
アンプ部6への入力電圧値を自在に設定できないので、
ゲインアンプ部6からの出力電圧のゼロ点やスパンのド
リフトおよび異常電圧が発生した場合、ゲインアンプ部
6の正否の判定が行えず、従って異常の原因がTCDセ
ンサ3.4側にあるか、またはゲインアンプ部6側にあ
るかの特定を迅速に行うことができないという問題があ
った。
[課題を解決するための手段]
このような課題を解決するために本発明に係るガスクロ
マトグラフの自己診断方法は、TCDセンサへの供給電
流をオフするとともに、ゲインアンプ部のゲインの切換
えを行うゲイン選択部のゲインをそれぞれ選択し、この
選択されたゲインにおいてTCDセンサの出力電圧から
ベースライン電圧をキャンセルするためのベースライン
キャンセル電圧をそれぞれの値に設定し、この設定され
た値に応じたディジタル信号をそれぞれ読み取ってその
差分と、選択されたゲインにそれぞれのベースラインキ
ャンセル電圧の差分を乗じた値とを比較することにより
ゲインアンプ部の自己診断を行うようにした方法である
。
マトグラフの自己診断方法は、TCDセンサへの供給電
流をオフするとともに、ゲインアンプ部のゲインの切換
えを行うゲイン選択部のゲインをそれぞれ選択し、この
選択されたゲインにおいてTCDセンサの出力電圧から
ベースライン電圧をキャンセルするためのベースライン
キャンセル電圧をそれぞれの値に設定し、この設定され
た値に応じたディジタル信号をそれぞれ読み取ってその
差分と、選択されたゲインにそれぞれのベースラインキ
ャンセル電圧の差分を乗じた値とを比較することにより
ゲインアンプ部の自己診断を行うようにした方法である
。
[作用]
TCDセンサへの供給電流をオフしてゲインアンプ部の
正否を判定しているので、ゲインアンプ部の出力が異常
となった場合、異常の原因がTCDセンサ側にあるか、
またはゲインアンプ部側にあるかの特定が容易に行える
。
正否を判定しているので、ゲインアンプ部の出力が異常
となった場合、異常の原因がTCDセンサ側にあるか、
またはゲインアンプ部側にあるかの特定が容易に行える
。
[実施例]
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明のガスクロマトグラフの自己診断方法
を適用した装置の一実施例を示すブロック図である。同
図において、第2図の従来の構成図と同等部分は同一符
号を付してその説明を省略する。
を適用した装置の一実施例を示すブロック図である。同
図において、第2図の従来の構成図と同等部分は同一符
号を付してその説明を省略する。
第1図において、10は恒温漕であり、この恒温漕10
の中は、アナライザバルブ11、サンプルガス1とキャ
リアガス2とを通過させるカラム12、サンプルガス1
の濃度、すなわちその温度を抵抗の値の変化により検出
するTCDセンサ13から構成される。また、14はT
CDセンサ13へ供給される定電流を切り換える電流切
換部、15は加算回路、16はベースライン電圧をキャ
ンセルするベースラインキャンセル電圧発生部、17は
ゲインアンプ部6のゲインを選択して切り換えるゲイン
選択部、18は電圧信号を周波数に変換してディジタル
のカウント値として送出する電圧・周波数変換部、20
はCPUである。
の中は、アナライザバルブ11、サンプルガス1とキャ
リアガス2とを通過させるカラム12、サンプルガス1
の濃度、すなわちその温度を抵抗の値の変化により検出
するTCDセンサ13から構成される。また、14はT
CDセンサ13へ供給される定電流を切り換える電流切
換部、15は加算回路、16はベースライン電圧をキャ
ンセルするベースラインキャンセル電圧発生部、17は
ゲインアンプ部6のゲインを選択して切り換えるゲイン
選択部、18は電圧信号を周波数に変換してディジタル
のカウント値として送出する電圧・周波数変換部、20
はCPUである。
そして、所定のサンプルガス1の濃度を検出するために
、CPU20は、まず、このサンプルガス1の検出に適
合するようにTCDセンサ13への供給電流を電流切換
部14を切り換えることにより供給しておく、そして、
TCDセンサ13へキャリアガス2が到来している間は
、TCDセンサ13の出力電圧は、一定値となって加算
回路15の一方の入力端子へ供給されており、この電圧
信号は加算回路15により加算され、さらにゲインアン
プ部6により所定のゲインで増幅されて電圧・周波数変
換部18に送出される。一方、電圧・周波数変換部18
においては、この入力した電圧信号に応じた周波数の信
号を生成するとともにこの生成された周波数信号を計数
しこのディジタルの計数値をCPU20に伝達する。
、CPU20は、まず、このサンプルガス1の検出に適
合するようにTCDセンサ13への供給電流を電流切換
部14を切り換えることにより供給しておく、そして、
TCDセンサ13へキャリアガス2が到来している間は
、TCDセンサ13の出力電圧は、一定値となって加算
回路15の一方の入力端子へ供給されており、この電圧
信号は加算回路15により加算され、さらにゲインアン
プ部6により所定のゲインで増幅されて電圧・周波数変
換部18に送出される。一方、電圧・周波数変換部18
においては、この入力した電圧信号に応じた周波数の信
号を生成するとともにこの生成された周波数信号を計数
しこのディジタルの計数値をCPU20に伝達する。
CPU20は、ディジタルの計数値を入力し、このキャ
リアガス2の到来による電圧値(ベースライン電圧値)
を判定し、ベースラインキャンセル電圧発生部16を駆
動して上記において判定した電圧値だけ加算回路15か
ら減じる制御を行う、こうして、キャリアガス2の到来
中には、ベースライン電圧がキャンセルされているので
、CPU20への入力電圧はO■に設定されている。
リアガス2の到来による電圧値(ベースライン電圧値)
を判定し、ベースラインキャンセル電圧発生部16を駆
動して上記において判定した電圧値だけ加算回路15か
ら減じる制御を行う、こうして、キャリアガス2の到来
中には、ベースライン電圧がキャンセルされているので
、CPU20への入力電圧はO■に設定されている。
その後、サンプルガス1がTCDセンサ13上に移送さ
れてくると、TCDセンサ13においては、その抵抗値
がキャリアガス2の到来時よりも大きく変動し、この結
果、TCDセンサ13からの出力電圧も大となって加算
回路15の一方の入力端子に送出される。
れてくると、TCDセンサ13においては、その抵抗値
がキャリアガス2の到来時よりも大きく変動し、この結
果、TCDセンサ13からの出力電圧も大となって加算
回路15の一方の入力端子に送出される。
一方、加算回路15においては、ベースライン電圧がキ
ャンセルされているので、サンプルガス1に相当するだ
けの電圧信号を出力し、この出力された電圧信号は、上
記したと同様に、ゲインアンプ部6.電圧・周波数変換
部18を介し、ディジタルの計数値としてCPU20に
伝達される。
ャンセルされているので、サンプルガス1に相当するだ
けの電圧信号を出力し、この出力された電圧信号は、上
記したと同様に、ゲインアンプ部6.電圧・周波数変換
部18を介し、ディジタルの計数値としてCPU20に
伝達される。
そして、CPU20ではこの伝達された計数値に基づい
てサンプルガス1の濃度分析が行われる。
てサンプルガス1の濃度分析が行われる。
また、ゲインアンプ部6の出力電圧が低くサンプルガス
1を検出が不可能になる場合は、CPU20によりゲイ
ン選択部17が制御されることによってより高いゲイン
が選択され、この結果、ゲインアンプ部6からより高い
電圧信号が出力されてサンプルガス1を確実に検出する
ことができる。なお、ゲイン選択部17中の01は8倍
のゲインを選択するスイッチ、G2は40倍のゲインを
選択するスイッチ、G3は200倍のゲインを選択する
スイッチ、またGOは0倍のゲインを選択するスイッチ
である。
1を検出が不可能になる場合は、CPU20によりゲイ
ン選択部17が制御されることによってより高いゲイン
が選択され、この結果、ゲインアンプ部6からより高い
電圧信号が出力されてサンプルガス1を確実に検出する
ことができる。なお、ゲイン選択部17中の01は8倍
のゲインを選択するスイッチ、G2は40倍のゲインを
選択するスイッチ、G3は200倍のゲインを選択する
スイッチ、またGOは0倍のゲインを選択するスイッチ
である。
このようにして行われる各種のガスの濃度分析中に異常
な電圧信号、すなわち異常なディジタルの計数値をCP
U20が入力した場合、この原因がTCDセンサ13側
にあるのか、または、TCDセンサ13からの電圧信号
をCPU20へ伝達する電気回路側にあるのかを特定す
るために、CPU20は、まず、電流切換部14を制御
してTCDセンサ13への供給電流をオフして電気回路
側とTCDセンサ13側とを切り離す。
な電圧信号、すなわち異常なディジタルの計数値をCP
U20が入力した場合、この原因がTCDセンサ13側
にあるのか、または、TCDセンサ13からの電圧信号
をCPU20へ伝達する電気回路側にあるのかを特定す
るために、CPU20は、まず、電流切換部14を制御
してTCDセンサ13への供給電流をオフして電気回路
側とTCDセンサ13側とを切り離す。
次に、CPU20は、ゲイン選択部17を制御して8倍
のゲインを選択するスイッチG1を閉成させ、ベースラ
インキャンセル電圧発生部16を駆動してベースライン
・キャンセル電圧をV、に設定し、次に電圧・周波数変
換部18からの計数値を入力してこの計数値VFC1を
記憶する。その後、ベースライン・キャンセル電圧を■
2に設定し、電圧・周波数変換部18からの計数値を再
入力してこの計数値■FC2を記憶する0次に、CPU
20は、これらの計数値の差(VFC2−VFCl)が
G(V2 Vl)に等しいが否かを判断する。なお、
ここで、Gはゲインを示しこの場合は「8」である。こ
うして、これら双方の値が等しい場合は電気回路側は正
常であるのでTCDセンサ13側に異常が発生している
と判定し、双方の値が等しくない場合は電気回路側に異
常が発生していると判定する。
のゲインを選択するスイッチG1を閉成させ、ベースラ
インキャンセル電圧発生部16を駆動してベースライン
・キャンセル電圧をV、に設定し、次に電圧・周波数変
換部18からの計数値を入力してこの計数値VFC1を
記憶する。その後、ベースライン・キャンセル電圧を■
2に設定し、電圧・周波数変換部18からの計数値を再
入力してこの計数値■FC2を記憶する0次に、CPU
20は、これらの計数値の差(VFC2−VFCl)が
G(V2 Vl)に等しいが否かを判断する。なお、
ここで、Gはゲインを示しこの場合は「8」である。こ
うして、これら双方の値が等しい場合は電気回路側は正
常であるのでTCDセンサ13側に異常が発生している
と判定し、双方の値が等しくない場合は電気回路側に異
常が発生していると判定する。
このような試験が終了すると、次にCPU20は、次の
ゲインを選択するスイッチG2を閉成させて上記と同様
な試験を行い、以下順次G3.GOを閉成させて同様に
試験を行うものとなっている。
ゲインを選択するスイッチG2を閉成させて上記と同様
な試験を行い、以下順次G3.GOを閉成させて同様に
試験を行うものとなっている。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係るガスクロマトグラフの
自己診断方法は、熱伝導度検出器への供給電流をオフし
てゲインアンプ部の正否を判定しているので、ゲインア
ンプ部からの出力電圧のゼロ点やスパンのドリフトおよ
び異常電圧の発生を検出した場合、異常の原因が熱伝導
度検出器側にあるか、またはゲインアンプ部側にあるか
の特定が容易に迅速に行えるという効果がある。
自己診断方法は、熱伝導度検出器への供給電流をオフし
てゲインアンプ部の正否を判定しているので、ゲインア
ンプ部からの出力電圧のゼロ点やスパンのドリフトおよ
び異常電圧の発生を検出した場合、異常の原因が熱伝導
度検出器側にあるか、またはゲインアンプ部側にあるか
の特定が容易に迅速に行えるという効果がある。
第1図は本発明に係るガスクロマトグラフの自己診断方
法を適用した装置のブロック図、第2図は従来のガスク
ロマトグラフの装置の構成図、第3図はこの装置により
検出されたガスの濃度状況を示すグラフである。 1・・・・サンプルガス、2−・・・キャリアガス、6
・・・−ゲインアンプ部、10・・・・恒温漕、11・
・・・アナライザバルブ、12・・・・カラム、13・
・・・熱伝導度検出器(TCDセンサ)、14・・−・
電流切換部、15・・・・加算回路、16・・・・ベー
スラインキャンセル電圧発生部、17・・・・ゲイン選
択部、18−・・・電圧−周波数変換部、20・・・−
cpu。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社
法を適用した装置のブロック図、第2図は従来のガスク
ロマトグラフの装置の構成図、第3図はこの装置により
検出されたガスの濃度状況を示すグラフである。 1・・・・サンプルガス、2−・・・キャリアガス、6
・・・−ゲインアンプ部、10・・・・恒温漕、11・
・・・アナライザバルブ、12・・・・カラム、13・
・・・熱伝導度検出器(TCDセンサ)、14・・−・
電流切換部、15・・・・加算回路、16・・・・ベー
スラインキャンセル電圧発生部、17・・・・ゲイン選
択部、18−・・・電圧−周波数変換部、20・・・−
cpu。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 キャリアガスによって移送されるサンプルガスの濃度を
熱伝導度検出器の抵抗値の変化により検出して分析を行
うガスクロマトグラフ装置において、 前記熱伝導度検出器への供給電流をオン・オフする電流
切換部と、前記熱伝導度検出器の出力電圧からベースラ
イン電圧をキャンセルするためのベースラインキャンセ
ル電圧発生部と、このベースライン電圧がキャンセルさ
れた前記熱伝導度検出器の出力電圧を増幅するゲインア
ンプ部と、ゲインアンプ部のゲインの切換を行うゲイン
選択部と、前記ゲインアンプ部の出力電圧をディジタル
信号へ変換するための電圧・周波数変換部と、電圧・周
波数変換部のディジタル信号を入力して前記サンプルガ
スの濃度を分析するCPUとを備え、 前記熱伝導度検出器への供給電流をオフするとともに、
前記ゲイン選択部のゲインをそれぞれ選択し、この選択
されたゲインにおける前記ベースラインキャンセル電圧
をそれぞれの値に設定し、この設定された値に応じたデ
ィジタル信号をそれぞれ読み取つてその差分と、選択さ
れたゲインにそれぞれのベースラインキャンセル電圧の
差分を乗じた値とを比較することにより前記ゲインアン
プ部の自己診断を行うようにしたことを特徴とするガス
クロマトグラフの自己診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20393890A JPH07101208B2 (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | ガスクロマトグラフの自己診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20393890A JPH07101208B2 (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | ガスクロマトグラフの自己診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0489558A true JPH0489558A (ja) | 1992-03-23 |
| JPH07101208B2 JPH07101208B2 (ja) | 1995-11-01 |
Family
ID=16482170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20393890A Expired - Lifetime JPH07101208B2 (ja) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | ガスクロマトグラフの自己診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07101208B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115144518A (zh) * | 2021-03-29 | 2022-10-04 | 横河电机株式会社 | 解析装置、解析方法以及计算机可读取的记录介质 |
| CN118936770A (zh) * | 2024-07-23 | 2024-11-12 | 深圳市希立仪器设备有限公司 | 一种用于氦质谱气密性检测设备中的灯丝故障诊断系统 |
-
1990
- 1990-08-02 JP JP20393890A patent/JPH07101208B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115144518A (zh) * | 2021-03-29 | 2022-10-04 | 横河电机株式会社 | 解析装置、解析方法以及计算机可读取的记录介质 |
| CN118936770A (zh) * | 2024-07-23 | 2024-11-12 | 深圳市希立仪器设备有限公司 | 一种用于氦质谱气密性检测设备中的灯丝故障诊断系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07101208B2 (ja) | 1995-11-01 |
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