JPH0497524A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPH0497524A JPH0497524A JP21608690A JP21608690A JPH0497524A JP H0497524 A JPH0497524 A JP H0497524A JP 21608690 A JP21608690 A JP 21608690A JP 21608690 A JP21608690 A JP 21608690A JP H0497524 A JPH0497524 A JP H0497524A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rear surface
- photoresist
- tape
- grinding
- film
- Prior art date
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- Pending
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- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置の製造方法に関し、特に素子が形成
された半導体基板の裏面研削方法に関する。
された半導体基板の裏面研削方法に関する。
従来、半導体装置の製造方法において、素子形成後の半
導体基板の上にレジストを塗布して裏面研削を行なう工
程があるが、研削時に半導体基板の割れが多発する場合
がある。この割れを防止する為、半導体基板表面に裏面
研削用テープをはりつける方法が提案され実施されてい
る。以下、第2図及び第3図を用いて更に説明する。
導体基板の上にレジストを塗布して裏面研削を行なう工
程があるが、研削時に半導体基板の割れが多発する場合
がある。この割れを防止する為、半導体基板表面に裏面
研削用テープをはりつける方法が提案され実施されてい
る。以下、第2図及び第3図を用いて更に説明する。
まず第3図(a)に示すように、シリコン基板1の上に
、アルミニウムからなるポンディングパッド2を0.5
〜1.7μmの厚さに形成する。
、アルミニウムからなるポンディングパッド2を0.5
〜1.7μmの厚さに形成する。
次で全面に厚さ0.2〜1.0μmの窒化膜3を形成し
たのち、その上にパッシベーション膜として有機M4を
厚さ1.0〜5.0μm程度に形成する。ホンディング
パッド部の開口方法は、はじめにフォトレジストを用い
たパターン形成により有機膜4をウェットエツチングで
開口させ、次に窒化膜3をドライエツチングして開口し
、ポンディングパッド2を露出させる。このドライエツ
チングの際、有機膜4と窒化膜3の接する点からもエツ
チングが進行し、ポンディングパッド2と窒化膜3と有
機膜4との間にアンダーカット部11が形成される。
たのち、その上にパッシベーション膜として有機M4を
厚さ1.0〜5.0μm程度に形成する。ホンディング
パッド部の開口方法は、はじめにフォトレジストを用い
たパターン形成により有機膜4をウェットエツチングで
開口させ、次に窒化膜3をドライエツチングして開口し
、ポンディングパッド2を露出させる。このドライエツ
チングの際、有機膜4と窒化膜3の接する点からもエツ
チングが進行し、ポンディングパッド2と窒化膜3と有
機膜4との間にアンダーカット部11が形成される。
このように構成された半導体素子を有する半導体基板表
面に、第2図に示す基材フィルム8と糊9からなる裏面
研削用テープをセパレータ10からはがしてはりつけ、
裏面研削を行なうと、アンダーカット部11に糊9が入
り込んでしまい、裏面研削後テープを剥ぎ取った後も第
3図(b)の様に糊9がポンディングパッド2上に残る
という不都合があった。
面に、第2図に示す基材フィルム8と糊9からなる裏面
研削用テープをセパレータ10からはがしてはりつけ、
裏面研削を行なうと、アンダーカット部11に糊9が入
り込んでしまい、裏面研削後テープを剥ぎ取った後も第
3図(b)の様に糊9がポンディングパッド2上に残る
という不都合があった。
上述した従来の半導体装置の製造方法では、裏面研削後
に糊残りが発生し、ポンディングパッドに接続されるワ
イヤの接着強度が低下し、半導体装置の信頼性を低下さ
せるという欠点がある。基材フィルム9糊及びセパレー
タの材質、厚さ、硬さ、粘着力、糊付の混合比等の変更
によっても糊残りを防止することは困難であった。
に糊残りが発生し、ポンディングパッドに接続されるワ
イヤの接着強度が低下し、半導体装置の信頼性を低下さ
せるという欠点がある。基材フィルム9糊及びセパレー
タの材質、厚さ、硬さ、粘着力、糊付の混合比等の変更
によっても糊残りを防止することは困難であった。
本発明の半導体装置の製造方法は、素子が形成された半
導体基板の表面にフォトレジストを塗布し、その上に裏
面研削用テープを貼り付けた後半導体基板の裏面研削を
行なうものである。
導体基板の表面にフォトレジストを塗布し、その上に裏
面研削用テープを貼り付けた後半導体基板の裏面研削を
行なうものである。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を説明するための半導体チッ
プの断面図である。
プの断面図である。
素子が形成されたシリコン基板1の上にアルミニウムか
らなるポンディングパッド2を0.5〜1.7μmの厚
さに形成し、次で厚さ0.2〜1.0μmの窒化WA3
とパッシベーション膜としての厚さ1.O〜5.0μm
程度の有機膜4を形成する。次で、ウェットエツチング
法により、有機膜4を、そしてドライエツチング法によ
り窒化膜3をエツチングしてポンディングパッド2の表
面を露出させる。次でフォトレジスト5をQ、 2〜5
,0μmの厚さに塗布しエツチングにより形成されたア
ンダーカット部を埋め、その上に裏面研削用テープ6を
貼付けたのちシリコン基板1の裏面7を研削する。次に
裏面研削用テープ6を剥き取り、フォトレジスト5を除
去し、水洗を行なう。
らなるポンディングパッド2を0.5〜1.7μmの厚
さに形成し、次で厚さ0.2〜1.0μmの窒化WA3
とパッシベーション膜としての厚さ1.O〜5.0μm
程度の有機膜4を形成する。次で、ウェットエツチング
法により、有機膜4を、そしてドライエツチング法によ
り窒化膜3をエツチングしてポンディングパッド2の表
面を露出させる。次でフォトレジスト5をQ、 2〜5
,0μmの厚さに塗布しエツチングにより形成されたア
ンダーカット部を埋め、その上に裏面研削用テープ6を
貼付けたのちシリコン基板1の裏面7を研削する。次に
裏面研削用テープ6を剥き取り、フォトレジスト5を除
去し、水洗を行なう。
このように本実施例によれば、エツチングにより形成さ
れた有機Jll(4と窒化膜3の接する部分に形成され
るアンダーカット部をフォトレジストで埋めることがで
きるため、裏面研削用テープを貼り付けても、その糊が
残ることはなくなる。
れた有機Jll(4と窒化膜3の接する部分に形成され
るアンダーカット部をフォトレジストで埋めることがで
きるため、裏面研削用テープを貼り付けても、その糊が
残ることはなくなる。
以上説明したように本発明は、ポンディングパッドと窒
化膜と有機膜の接点部にエツチングによって出来たアン
ダーカット部をフォトレジストを塗布して埋込んだのち
裏面研削用テープを貼り、半導体基板の裏面研削を行う
ことにより、糊残りを防止できるため、半導体装置の信
頼性を向上させることができるという効果がある。
化膜と有機膜の接点部にエツチングによって出来たアン
ダーカット部をフォトレジストを塗布して埋込んだのち
裏面研削用テープを貼り、半導体基板の裏面研削を行う
ことにより、糊残りを防止できるため、半導体装置の信
頼性を向上させることができるという効果がある。
3・・・窒化膜、4・・・有機膜、5・・・フォトレジ
スト、6・・・裏面研削用テープ、7・・・裏面、8・
・・基材フィルム、9・・・糊、10・・・セパレータ
、11・・・アンダーカット部。
スト、6・・・裏面研削用テープ、7・・・裏面、8・
・・基材フィルム、9・・・糊、10・・・セパレータ
、11・・・アンダーカット部。
Claims (1)
- 素子が形成された半導体基板の表面にフォトレジスト
を塗布し、その上に裏面研削用テープを貼り付けた後半
導体基板の裏面研削を行なうことを特徴とする半導体装
置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21608690A JPH0497524A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21608690A JPH0497524A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0497524A true JPH0497524A (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=16683031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21608690A Pending JPH0497524A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0497524A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008159848A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Denso Corp | 半導体装置の製造方法 |
| DE102013021536A1 (de) | 2012-12-19 | 2014-06-26 | Makita Corporation | Motorantriebseinrichtung und elektrische Mähmaschine |
-
1990
- 1990-08-16 JP JP21608690A patent/JPH0497524A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008159848A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Denso Corp | 半導体装置の製造方法 |
| DE102013021536A1 (de) | 2012-12-19 | 2014-06-26 | Makita Corporation | Motorantriebseinrichtung und elektrische Mähmaschine |
| DE102013021536B4 (de) * | 2012-12-19 | 2019-05-23 | Makita Corporation | Motorantriebseinrichtung und elektrische Mähmaschine |
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